Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Схемы для измерения Ev при импульсах

Рис. 61. Схема измерения импульса силы Рис. 61. Схема измерения импульса силы

Рис. 9.5. Схема прохождения импульсов и структурная схема установки для измерения скорости звука методом импульсной интерференции Рис. 9.5. Схема прохождения импульсов и <a href="/info/228939">структурная схема установки</a> для <a href="/info/422499">измерения скорости звука</a> <a href="/info/320626">методом импульсной</a> интерференции
Схема измерений при оценке точности подачи в металлообрабатывающих станках приведена на рис. 146. Угловое положение подающего шпинделя прямо или косвенно определяется с помощью сельсина-датчика 4, а линейное перемещение, соответствующее угловому, измеряется лазерным интерферометром. В процессе измерения регистрируется разность фаз между двумя последовательностями импульсов. Обе импульсные последовательности таковы, что при полной согласованности углового и линейного перемещений их разность фаз остается постоянной. Результаты оценки погрешности подачи шпинделя могут быть представлены как в угловых, так и в линейных величинах, и на их основе может быть получена кривая коррекции, характеризующая поведение усредненной суммарной погрешности при заданной температуре.  [c.247]

При согласовании сопротивлений датчика, линии задержки и осциллографа в цепь датчика включали генератор прямоугольных импульсов 26-И, после чего прямоугольные импульсы длительностью 2. .. 5 мкс проходили через схему практически без искажений. Это указывает на то, что диапазон рабочей полосы частот схемы измерений вполне достаточен для пропускания импульсов разрушения длительностью 10. .. 50 МКС, о чем, в частности, свидетельствует резкий задний фронт импульсов разрушения (рис. 5.42).  [c.152]

При определении формы отдельных или редко повторяющихся импульсов необходимо полностью снять корреляционную функцию за время следования отдельного импульса. В этом случае высокое временное разрешение и большая чувствительность достигаются при применении метода двухфотонной люминесценции. Типовая схема измерений показана на рис. 3.12. Молекулы возбуждаются одновременным поглощением двух фотонов— двухфотонным поглощением, после чего имеет место люминесцентное излучение света, длина волны которого может быть короче длины волны возбуждающего света. Процесс поглощения может считаться безынерционным при условии, что обратная ширина однородно уширенной линии мала по сравнению с длительностью импульса. При двухфотонном поглощении вероятность перехода пропорциональна квадрату интенсивности света в месте расположения молекулы, т. е. четвертой степени напряженности поля. Для сред, время жизни которых в возбужденном состоянии велико по сравнению с длительностью импульса, населенность верхнего уровня 2 как функция координаты 2 при двухфотонном поглощении определяется следующим выражением  [c.120]


Запись производилась на ленте фотобумаги шириной 120 мм. Электрическое сопротивление регистрировалось одновременно пятью шлейфами осциллографа, три из которых были включены по схеме измерения напряжения на столбике ртути и два — по схеме измерения тока. Использованная схема включения (рис. 3) позволяла измерять сопротивление столбика ртути с погрешностью не выше 3% в пределах от 0,1 до 10 ом. Мощность у-излучения фиксировалась на ленте осциллографа путем записи каждого тысячного импульса сцинтилляционного счетчика с одновременным нанесением на ленту меток времени от часового устройства.  [c.202]

Электроконтактными датчиками фиксируются моменты прохождения ударной волны или поверхности тела через реперные точки базы измерения О или и. При замыкании электроконтактного датчика простейшей электрической схемой вырабатывается импульс тока, который регистрируется электронным осциллографом. По полученным осциллограммам определяются промежутки времени между моментами срабатывания нескольких датчиков, установленных на пути ударной волны в образце или на пути движения свободной поверхности. Расстояние между датчиками измеряется с высокой точностью, поэтому по измеренным интервалам времени легко находится скорость ударной волны или скорость движения поверх-ности образца либо ударника. Установкой многих датчиков в одном опыте обеспечивается фиксация возможных перекоса и искривления волнового фронта, что после введения соответствующих поправок повышает точность измерений. В зависимости от конструкции датчиков разброс моментов их срабатывания может составлять 1 — 10 не. Дополнительную погрешность в результаты измерений вносит искажение сигналов в регистрирующей аппаратуре и соединительных кабелях.  [c.53]

Схемы измерений и условия рассеяния. Чтобы вычислить передаваемый импульс, запишем вектор состояния Ф), найденный в предыдущем разделе, в импульсном представлении. Для этого используем полный набор собственных состояний р ) импульса и получим  [c.620]

При определенном угле поворота, зависящем от размера детали, т. е. положения рычага 4, происходит замыкание контактов б и 7. Вращение сервомотора 5 прекращается и на счетную схему подается импульс. Счетная схема выдает номер сортировочной группы, который определяется числом контактов, пройденных ползуном 8 от нулевого положения до момента замыкания контактов 6 и 7. Вращение контактного кулачка 7 осуществляется синхронным электродвигателем СД-60, продолжительность периода измерения до 1 сек, предел измерения до 1 мм, предельная погрешность 0,3 мкм, измерительное усилие 2,5—3,5 н, габариты датчика 155 X 133 X 120 мм.  [c.139]

Выше указывалось, что частота электрического сигнала может измеряться с помощью конденсаторного частотомера или мостовых схем. В последние годы для этих целей все шире стал использоваться счетный метод. Этот метод основан на подсчете числа импуль-сов (периодов) сигнала и предусматривает наличие генератора образцовой частоты. Возможны два основных варианта построения схемы измерения. По одному варианту производится подсчет числа импульсов измеряемого сигнала в течение промежутка времени, задаваемого с помощью образцового генератора, по другому — подсчет числа импульсов сигнала образцового генератора за время, равное или кратное периоду измеряемого сигнала. Общая для обоих вариантов блок-схема частотомера приведена на рис. 78.  [c.252]

При дискретной схеме измерения величина подналадочного импульса должна быть не меньше йта.т, т. е. максимальной величины изменения функциональной погрешности обработки, приходящейся на одну деталь. В противном случае подналадчик пе сможет компенсировать изменяющиеся во времени функциональные погрешности обработки, даже если подналадочные импульсы будут возникать при измерении каждой детали. В случае равномерного изменения функциональных погрешностей идеальной  [c.102]

Одно из условий возбуждения дуги в исследуемой трубке сводится к тому, что разрядный ток поджигающего импульса должен превосходить некоторое пороговое значение, лежащее около 0,4 а. Чтобы зажигание дуги носило вполне регулярный характер, при измерениях были использованы такие параметры схемы, вырабатывающей импульсы, при которых максимальное значение разрядного тока поджигающего импульса составляло 5—10 а. Осуществление таких условий поджигания не обеспечивало, однако, регулярного подхватывания дуги главным анодом трубки при некоторых условиях опыта. Так, например, в присутствии магнитного поля разряд не подхватывался в значительном проценте случаев, если импульс имел форму полуволны синусоиды, характерную для формирующей цепи, составленной из емкости, тиратрона и индуктивной нагрузки. Эти пропуски в подхватывании, по всей вероятности, были связаны с обратным током тиратрона и резко изменяли статистическое распределение жизненных циклов дуги. Они искажали результаты измерений средней продолжительности ее существования. Пропусков в подхватывании дуги и связанных с ними искажений не наблюдалось при использовании чисто апериодического импульса, получавшегося в результате разрядки емкости через тиратрон и достаточно большое активное сопротивление. По этим соображениям при выполнении основной массы измерений употреблялся поджигающий импульс чисто апериодического типа. Длительность импульса оказывалась несущественной при условии, что она оставалась заведомо меньше естественной продолжительности существования исследуемой дуги. Постоянная времени разрядки емкости через нагрузочное сопротивление импульсной цепи составляла в первых опытах около 10 сек, а в последующем была уменьшена до 5 10 сек, причем длительность импульсов по порядку величины составляла 10" сек. 58  [c.88]


Метод циклограмм может быть применен для экспериментального исследования характеристик разрядов в газовых включениях изоляции только при повышении чувствительности электрической схемы установки благодаря введению в нее усовершенствований [60]. Мостовой метод также является недостаточно чувствительным для изучения зависимости tg 6 = / ( /эфф). сли размеры газовых включений сравнительно невелики. Поэтому при изучении характеристик разрядов в газовых включениях сравнительно небольших размеров, что и имеет место в диэлектриках промышленных изделий, широко применяются индикаторы частичных разрядов ИЧР [61]. Наиболее распространены ИЧР, регистрирующие электрические импульсы (сигналы), возникающие в цепи вследствие разрядов в воздушных включениях диэлектрика. Сюда относятся а — схема измерения высокочастотных составляющих тока б — схема с конденсатором связи в-— мостовая схема (рис. 3-11). В этих индикаторах электрические сигналы, возникающие при разрядах, усиливаются и отмечаются регистрирующим устройством (осциллографом, стрелочным прибором или счетчиком импульсов). При таких исследованиях возникают следующие затруднения  [c.98]

Нагрузка на соприкасающиеся детали создается съемными грузами 15, помещаемыми на равновеликие плечи седла. Сила трения фиксируется по величине прогиба упругой балочки, который измеряется с помощью датчиков сопротивления, наклеенных на балочку. Электрические импульсы усиливаются промежуточным усилителем и регистрируются шлейфовым осциллографом. Принципиальная схема измерения сил трения ясна из фиг. 18.  [c.305]

Для получения максимальной чувствительности дефектоскопа к выявляемости дефектов необходимо построить схемы измерения, обработки и регистрации импульсов излучения бетатрона так, чтобы оба канала дифференциального дефектоскопа были идентичными.  [c.116]

В качестве выходного сигнала используют отрицательные импульсы в системе зажигания двигателя. Схема измерения аналогична схеме автомобильного тахометра (см. рис. 56).  [c.119]

Одноточечные безрычажные устройства применяют и для контроля высот деталей на плоскошлифовальном станке е вращающимся столом (табл. 10). При сферическом наконечнике горизонтальное смещение детали не вносит погрешности измерения. В одном из подобных устройств типа БВ-1005 (рис. 48) шток 1 через промежуточный наконечник 2, подвешенный на плоских пружинах 3 и 4 к корпусу 5, соприкасается с деталью 6. Шток через пластину 7 воздействует на датчик 8 и индикатор. В электрической схеме подача импульса производится  [c.484]

Организация автоматической подналадки бесцентровых круглошлифовальных станков после правки при шлифовании напроход. При проведении правки шлифовального круга в системе автоматического регулирования бесцентровый круглошлифовальный станок - контрольный автомат происходит глубокое рассогласование. Для приведения его к нулевому значению контрольный автомат дает команду на подачу шлифовальной бабки на определенное значение. На контрольном автомате применяют дискретную схему измерения. В этом случае подналадочный импульс  [c.316]

Кристаллические счетчики. Кристаллический счетчик — это прибор для регистрации отдельных ионизирующих частиц путем измерения импульса проводимости, вызываемого прохождением частицы через кристаллическую пластинку. Первый кристаллический счетчик применялся для регистрации бета-лучей, проходящих через кристалл хлористого серебра. Принципиальная схема кристаллического счетчика показана на рис. 18.2 .  [c.653]

Вторая схема измерений основана на определении времени затухания колебаний вибратора после его возбуждения электрич. импульсом (рис. 4). Импульсный генератор 1 питает возбуждающую обмотку датчика 2. С преобразователя сигнал, пропорциональный амплитуде колебаний, подаётся на линейный усилитель с компаратором 3. После импульсного возбуждения амплитуда колебаний виб-  [c.62]

Датчики касания связаны с устройством ЧПУ специальной интерфейсной платой, которая содержит программно-доступные счетчики перемещения (по одному на координату). Каждая координата имеет датчик обратной связи, который дает импульс (сигнал) на вход соответствующего счетчика перемещения. Схема передачи импульсов в систему ЧПУ станка при измерении датчиком касания диаметра обрабатываемых заготовок на токарном станке с ЧПУ приведен на рис. 4.18. Таким образом, точность измерения при использовании датчиков касания зависит от погрешностей их срабатывания, измерительной системы станка, системы обратной связи станка, от тепловых деформаций и некоторых других причин. Такой способ контроля приводит к погрешностям измерения и вызывает необходимость корректировки.  [c.193]

Как видоизменение вышеприведенных схем измерения проводят также и при импульсном прозвучивании (рис. 33.11). Поскольку здесь тоже сопоставляются между собой многократные эхо-импульсы и весь процесс протекает в ближнем поле, по  [c.645]

За рубежом считают, что воздействию помех подвержены лазерные дальномеры [104]. Если в дальномере для защиты от помех вызванных отражением от облаков, используется логическая схема измерения дальности по последнему отраженному импульсу, то специальный от-  [c.70]

Широкое распространение в бетатрон-ной и рентгеновской дефектоскопии получили схемы, основанные на измерении разности усредненных с помощью диодов и интегрирующих звеньев импульсов первого и второго сцинтилля-ционных детекторов (рис. 7). Существенным недостатком этих схем является необходимость выбора параметров интегрирующих звеньев строго одинаковыми. В противном случае при нестабильно работающем ускорителе точность определения степени дефектности контролируемого изделия не люжет быть высокой. Этот недостаток устраняется при сравнении амплитуд импульсов сцинтилляционных детекторов, пропорциональных дозе в импульсе излучения с их предварительным преобразованием, которое осуществляется с помощью зарядного устройства и ключа (рис. 8). Управление ключом производят таким образом, чтобы длительность получаемых импульсов равнялась половине периода следования импульсов излучения. Благодаря предварительному преобразованию формы импульсов сцинтилляционных детекторов повышаются быстродействие и помехоустойчивость дефектоскопов как при вычитающей схеме, так и при схеме измерения отношения.  [c.378]


Отношение напряжений первого и второго каналов в двухканальном де-фектокопе можно измерять с помощью системы автоматической компенсации измеряемого сигнала и схемы отношения амплитуд двух импульсов (рис. 9). В схеме измерения логарифма отношения амплитуд импульсов зависимость между регистрируемым сигналом и дефектом линейная.  [c.378]

Для измерения импульса силы удара был применен динамометрический способ. Было спроектировано и изготовлено силоизмерительное устройство, которое крепится в основании установки. Принципиальная схема устройства приведена на рис. 61. Цилиндрическая на-ковальная со сферическими торцами свободно перемещается в корпусе, что обеспечивается двумя сегментными подшипниками. Наковальня опирается на упругий динамометр. Удар индентора по сферическому торцу наковальни воспринимается упругим динамометром, который жестко крепится к корпусу силоизмерительного устройства двумя винтами. Динамометр выполнен в виде жесткого кольца, с двух сторон которого по мостовой схеме наклеены четыре терморезистора сопротивлением по 100 Ом каждый и с базой 10 мм. Благодаря жесткости упругих элементов динамометра (он выполнен из  [c.133]

Надежность и высокое качество проектов радиационной защиты ядерно-технических установок прямо зависят от качества моделей расчетов их адекватности реальным условиям и надежности константного обеспечения. Эти свойства расчетных моделей могут быть проверены только в результате измерений наиболее общей характеристики поля излучения за макетом радиационной защиты — спектра излучения в необходимом энергетическом интервале, обработанном по методике, дающей возможность вычислить погрешности восстановления спектра, а также погрешность определения любого линейного функционала от спектра. Для измерений спектра в области энергий нейтронов от 0,4—1 до 10— 5 МэВ в настоящее время применяют сцинтилляционный спектрометр быстрых нейтронов с кристаллом стильбена различных размеров и электронной схемой дискриминации импульсов от Y-фона по фронту нарастания импульсов. При измерении и обработке (восстановлении) спектра из измеренных амплитудных распределений возникают погрешности, обусловленные методикой эксперимента (неправильный учет фона, различных поправок и т. п.), применяемым методом обработки, а также статистические погрешности. Здесь описываются алгоритмы и программа восстановления спектров быстрых нейтронов и вычисления статистических погрешностей, вызванных статистикой отсчетов в каналах анализатора и нестабильностью регистрирующей аппаратуры спектрометра, приводящей к нестабильности энергетической шкалы анализатора импульсов. Проверку использованных алгоритмов и программы обработки проводили при измерении спектра быстрых нейтронов, образующихся при спонтанном распаде f. Этот спектр хорошо известен по результатам многочисленных экспериментов с использованием различных методик и является своеобразным международным стандартом . Измерения и обработки результатов проводили на измерительно-вычислительном комплексе (мини-ЭВМ 328  [c.328]

Рис. 7.42. Схема измерений тенлофнзических свойств с использованием нагрева образца импульсом электрического тока Рис. 7.42. <a href="/info/672388">Схема измерений</a> тенлофнзических свойств с использованием нагрева образца <a href="/info/320314">импульсом электрического</a> тока
Для уменьшения влияния на точность подналадчиков вибраций целесообразно использовать схему измерения, изображенную на рис. 11.189, в. Как видно из схемы, наконечник датчика вступает в контакт с контролируемой деталью только в момент возникновения импульса на подналадку. Данная конструкция обладает и другими достоинствами меньшим износом измерительных наконечников и базовой призмы прибора, а также меньшим сопротивлением движению деталей, что при сквозном бесцентровом шлифовании имеет весьма существенное значение Для уменьшения влияния динамических факторов целесообразно также применять безрычажные детчики.  [c.529]

Рис.9.10. Схема эксперимента по регистрации оптических свойств ударно-сжатой плазмы [48] в—схема измерений б—оптический сигнал, /—детонационная линза 2—заряд ВВ 3 —ударник 4 — мишень 5—прозрачна преграда б—диафрагма 7—зеркало в—оптическая система 9 — полупрозрачные зеркала /О—юстировочный лазер // — интерференционные светофильтры 12— фотоэлектронные умножители /3—осциллографы 14 — электроконтакты измерения скорости ударника 15— схема формирования импульсов /6—линия задержки /7 — электрокоитакты измерения скорости ударной волны 18 — осциллограф для измерения скорости ударной волны 19 — скоростной спектрометр 20—система цифровой обработки спектра 2/—выход ударной волны из мишени в газ 22 — участок нарастания излучения 23—столкновение ударной волны с преградой 2 -разрушение преграды материалом мишени. Рис.9.10. Схема эксперимента по регистрации <a href="/info/133568">оптических свойств</a> ударно-сжатой плазмы [48] в—<a href="/info/672388">схема измерений</a> б—<a href="/info/362861">оптический сигнал</a>, /—детонационная линза 2—заряд ВВ 3 —ударник 4 — мишень 5—прозрачна преграда б—диафрагма 7—зеркало в—<a href="/info/14569">оптическая система</a> 9 — полупрозрачные зеркала /О—юстировочный лазер // — <a href="/info/237897">интерференционные светофильтры</a> 12— <a href="/info/13855">фотоэлектронные умножители</a> /3—осциллографы 14 — электроконтакты <a href="/info/76358">измерения скорости</a> ударника 15— схема формирования импульсов /6—<a href="/info/320566">линия задержки</a> /7 — электрокоитакты измерения <a href="/info/20760">скорости ударной волны</a> 18 — осциллограф для измерения <a href="/info/20760">скорости ударной волны</a> 19 — скоростной спектрометр 20—<a href="/info/51096">система цифровой</a> обработки спектра 2/—выход <a href="/info/18517">ударной волны</a> из мишени в газ 22 — участок нарастания излучения 23—<a href="/info/714396">столкновение ударной волны</a> с преградой 2 -разрушение преграды материалом мишени.
Принцип рассматриваемого измерения заключается в следующем вибропараметр подшипника (или вала) преобразуется в электрические импульсы, которые управляют короткими вспышками газосветной (стробоскопической) лампы. Импульс возникает при нулевом значении напряжения виброметра при переходе к положительному полупериоду (рис. 2-20, б), что соответствует определению сдвига фаз синхронных колебаний (см. 1-2). Это приводит к простой и надежной электронной схеме формирователя импульсов.  [c.69]

Указанный прибор служит только для измерения импульсов сварочного тока спнусоидальиой формы. Этого недостатка лишен прибор, схема которого приведе-на на фпг. 4. Напряжение тороида, пропорциональное скорости иаме-вения сварочного тока, подается на клеыыы 1, 2 траисформатора Тр1. Вторич-  [c.437]

Фиг. 17. Схема измерения i лeктpo eкy r-домером длительности сварочного импульса на машине переменного тока 1 — прерыватель 2 — электросекундомер. Фиг. 17. <a href="/info/672388">Схема измерения</a> i лeктpo eкy r-домером длительности сварочного импульса на <a href="/info/507036">машине переменного тока</a> 1 — прерыватель 2 — электросекундомер.
Фиг. 18. Схема измерения длительности сварочного импульса на низкочастотных машинах типа ЫТИП I — электрооекуя-домер. Фиг. 18. <a href="/info/672388">Схема измерения</a> длительности сварочного импульса на <a href="/info/178580">низкочастотных машинах</a> типа ЫТИП I — электрооекуя-домер.

Управление ключом производят таким образом, чтобы длительность получаемых импульсов равнялась половине периода следования импульсов излучения. Благодаря предварительному преобразованию формы импульсов сцинтилляционных детекторов повышаются бысфодействие и помехоустойчивость дефектоскопов как при вычитающей схеме, так и при схеме измерения соотношения.  [c.107]

Одним из вариантов измерительной схемы с входным водяным участком является схема измерения затухания с твердым входным участком из пластмассы или стали (сталь применяется для контроля горячих изделий [1168]). Потери на отражение на границе раздела между входным участком и образцом и коэффициентом затухания в самом образце могут быть рассчитаны, по данным Попадикиса [1163], по амплитудам эхо-импульсов от границы раздела и первого и второго эхо-импульсов. от задней стенки образца. По данным Линнворта [.963], эти величины можно определить также и по амплитуде эхо-импульса входного участка без акустического контакта с образцом и прв наличии контакта и первого эхо-импульса от задней стенки, образца.  [c.644]

Подобная схема измерения применена в СВЧ-влагомере Фосфор-К , принцип автоматического уравновешивания - в СВЧ-влагомере ВХС-2 для хлопка-сырца. Уравповешивапие производится электронным аттенюатором на 10 и-г-р-г-и-диодах, включенных параллельно [29]. Сравнение производится по принципу развертывающего преобразования, нри котором на вход аттенюатора подается линейно увеличивающееся напряжение, изменяющее его затухание. При достижении равенства напряжений в опорном и измерительном каналах процесс уравновешивания прерывается. Отсчет ведут по счетным импульсам, подаваемым сипхроппо с линейно увеличивающимся напряжением. К недостаткам этой измерительной схемы прежде всего относят наличие двух детекторных секций, идентичность характеристик которых достичь практически невозможно.  [c.16]


Смотреть страницы где упоминается термин Схемы для измерения Ev при импульсах : [c.378]    [c.243]    [c.48]    [c.128]    [c.39]    [c.126]    [c.298]    [c.449]    [c.24]    [c.354]    [c.354]    [c.564]    [c.564]   
Смотреть главы в:

Испытания электроизоляционных материалов  -> Схемы для измерения Ev при импульсах



ПОИСК



Схемы измерений



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте