Амплитуда импульса

Полученное выражение (2.24) для сложной волны можно приближенно считать уравнением монохроматической волны с частотой 0)1, волновым числом ki и медленно меняющейся (модулированной) амплитудой 2 о Нели такой модулированный по амплитуде импульс принимается спектральным прибором, то он будет регистрировать две частоты oi и СО2. [c.29]

В момент правильной ориентации зеркала или призмы лавинообразно нарастает амплитуда импульса индуцированного излучения, получающего почти всю энергию, запасенную в активной среде, и имеющего длительность порядка 10" — 10 с. [c.789]

Ранее неоднократно подчеркивалось, что изменение амплитуды импульса со временем в какой-либо точке пространства с необ.хо-димостью означает конечность ширины его спектра если импульс направить в спектральный аппарат с подходящей разрешающей способностью, то на спектрограмме мы обнаружим излучение, сконцентрированное в некотором интервале частот Ао) около средней частоты (Оо, входящей в аргумент косинуса в выражении (234.1). Величина интервала частот (так называемая спектральная ширина импульса) связана с длительностью импульса Т соотношением (см. 21) [c.829]

До сих пор не принималась во внимание ограниченность поперечных размеров реальных пучков, и тем самым предполагалось, что на интересующих нас толщинах среды I > /ф з ни самофокусировка, ни дифракция еще не проявляются. Если самофокусировка и дифракция точно компенсируют друг друга, то поперечное распределение амплитуды импульса не изменяется по мере его распространения в среде, т. е. собственно к этому случаю и относятся сделанные выше выводы. Если значение мощности превышает пороговое, даваемое соотношением (232.4), то поперечное сечение пучка уменьшается благодаря самофокусировке, и уширение спектра будет протекать более сложным образом. Качественно ясно, что увеличение амплитуды поля, сопровождающее самофокусировку, вызовет еще большее уширение спектра. Следует иметь в виду, однако, что при огромной концентрации энергии, имеющей место в случае сильно развитой самофокусировки, эффективно протекает и ряд других нелинейных процессов — вынужденное рассеяние. Мандельштама—Бриллюэна, вынужденное комбинационное рассеяние и др. [c.832]

Зависимость формы огибающей сигнала дифференциального проходного ВТП от длины узких поверхностных дефектов глубиной = 0,05 при Т1 = 0,64 и базе = 6/2/ и = 0,8 (Ь — расстояние между короткими измерительными обмотками) показана на рис. 54. При / > 2 амплитуда импульсов практически остается неизменной, а расстояние между пиками импульсов увеличивается и становится равным относительной длине дефекта При <3 0,2 форма импульса практически не отличается от формы, соответствующей = 0,22. Исследования показывают, что с уменьшением базы сокращается длина зоны контроля и уменьшается амплитуда импульса огибающей, поскольку зоны контроля измерительных катушек при малых 6 перекрываются. Оптимальное значение да 0,25-t-0,5, при этом амплитуда импульса огибающей уменьшается не более чем на 30 % от максимального значения, соответствующего 6 1. Увеличение глубины дефекта от = 0,025 до = 0,2 не влияет существенно на форму им- [c.123]

Рис. 83. Изменение времени срабатывания измерительного триггера при уменьшении амплитуды импульса

Применяя лазерное излучение с энергией светового потока, равной 4 Дж, удается возбудить акустические импульсы, амплитуда которых в 10. .. 100 раз больше амплитуды импульсов, возбуждаемых пьезопреобразователем. Определенная трудность связана с низкой частотой повторения лазерных генераторов (обычно не более 1. .. 10 импульсов в секунду). Вследствие этого производительность ультразвукового контроля при лазерном возбуждении на два порядка меньше, чем обычных дефектоскопов. [c.68]

Одно из важных преимуществ ЭМА-метода — возможность его использования при высоких температурах (до 1300 °С). Конструкция преобразователя, рекомендуемого для этой цели, описана в 159]. Результаты исследований зависимости амплитуды импульса продольной волны, возбужденной ЭМА-методом, от температуры [16] показали наличие максимумов вблизи точек фазовых превращений а-железа в у-железо, а такл<е вблизи точек Кюри ферромагнитных фаз. Это объясняется резким возрастанием объемной магнитострикции в указанных областях. [c.72]

Другой локальный способ свободных колебаний, называемый импульсно-резонансным, основан на излучении в иммерсионную жидкость ультразвукового импульса колебаний с модулированной частотой. Для него характерно резкое снижение амплитуды импульса, отраженного от стенки контролируемого объекта на частотах, при которых в стенке изделия возникают свободные колебания. [c.127]

Условия минимумов амплитуды импульсов отражения выполняется при установлении стоячих волн в слое (изделии). Падающая волна либо проходит через слой, либо (если позади слоя воздух) затухает в слое. [c.127]

Огибающая амплитуд импульсов (пачки) сигнала U (xlv ) [c.190]

Сигнал от дефекта определяется амплитудой импульсов. В подразд, 1.4 отмечено, что амплитуда волны или длительного импульса сильно изменяется в результ,ате интерференции волн в зависимости от толщины слоя. [c.291]

Начальная амплитуда импульса диодного тока [радиационный импульс [c.319]

Ниже изложены некоторые результаты исследования влияния длительности действия и амплитуды импульса нагрузки примерно прямоугольной формы (вызванного ударом пластины) на изменения в структуре армко-железа и стали 45 при прохождении [c.209]

Звено 7, выполненное в виде круглого эксцентрика, вращается вокруг неподвижной оси А. Звено 1 имеет расширенную втулку а, охватывающую эксцентрик 1. Между эксцентриком и втулкой установлен шарикоподшипник 4. Звено 2 входит во вращательную пару С со звеном 3, прорезь Ь которого скользит по ползуну 7, вращающемуся вокруг неподвижной оси Е. Звено 3 входит во вращательную пару D со звеном 5, обойма d которого является деталью муфты свободного хода 6. При вращении эксцентрика I валу В сообщаются импульсы посредством муфты 6 свободного хода. Амплитуда импульсов зависит от положения оси Е звена S, которое может перемещаться вдоль направляющей р посредством винта 9, [c.353]

Для уменьшения амплитуды импульса давления на выходе из рабочего колеса центробежного насоса в периферийных сечениях межлопаточных каналов колеса полезно устанавливать дополнительные короткие лопатки, а также увеличивать в допустимых пределах- радиальный зазор между выходными кромками колеса и направляющим аппаратом. [c.179]

Развитие и применение методов акустической эмиссии для изучения сопротивления материалов деформированию и разрушению осуществляют в направлении установления надежных количественных корреляций между параметрами акустической эмиссии и величинами пластических деформаций, скоростей развития и длин трещин. Момент достижения максимума интенсивности акустической эмиссии соответствует моменту начала образования трещин, выявлению наличия количественных взаимосвязей, описываемых функциями степенного типа между параметрами акустической эмиссии и коэффициентом интенсивности напряжений и определению зависимости между амплитудами импульсов акустической эмиссии и характером подрастания трещины. [c.449]

На рисунке 2.4 представлена зависимость вероятности внедрения канала разряда в твердое тело при изменении длины рабочего промежутка и амплитуды напряжения при постоянной крутизне его нарастания. Как видно, зависимость вероятности внедрения от длины рабочего промежутка имеет две характерные зоны первая отличается незначительным спадом значения вероятности внедрения канала разряда в твердую фазу, что соответствует превышению приложенного напряжения над электрической прочностью материала при постоянной скорости нарастания напряжения на промежутке вторая -резким уменьшением вероятности внедрения канала разряда в твердую фазу. Это указывает, что электрическая прочность материала выше приложенного напряжения при заданной скорости его нарастания на промежутке. Действительно, в этом можно убедиться, анализируя в.с.х. материалов (рисунки 2.2, 2.3). Увеличение амплитуды импульсов при постоянстве остальных параметров приводит к смещению точки перегиба зависимости в сторону больших промежутков. На рисунке 2.4 нанесены расчетные значения вероятности внедрения канала разряда в твердую фазу, полученные по изложенной выше методике. [c.75]

По известным амплитуде импульса генератора импульсных напряжений, длине рабочего промежутка определяются необходимые изоляционные промежутки по перекрытию корпуса камеры, пробою изоляции высоковольтного электрода и воздушные промежутки между точками максимального напряжения и заземленными объектами (ограждения, элементы установки и т.д.). Выбрав изоляционный материал корпуса рабочей камеры и его конструкцию и учитывая пробивной градиент по поверхности в воздухе Е р = 3 кВ/см /121/, определяют его размеры. Поскольку корпус соприкасается с водой, необходимо, чтобы материал его был гидрофобным и не пропитывался водой, поэтому такие материалы как стеклотекстолит, текстолит и т.д. не рекомендуются. Наиболее приемлемым материалом корпуса рабочей [c.197]

Опробован способ разрушения слитков с внедрением электродов в тело слитка в предварительно высверленные отверстия по центру слитка и по окружности (в половину диаметра слитка). С наружной стороны блок опоясывается кольцевым электродом, являющимся заземленным электродом вместе с электродом по центру слитка. По мере разрушения блока слюды кольцевой электрод перемещается сверху вниз. Система обеспечивает устойчивый процесс разрушения с производительностью 14.9 г/имп (при амплитуде импульса напряжения 450 кВ и крутизне импульса - 2500 кВ/мкс). Данный способ следует признать перспективным, имея ввиду возможность вмораживать электрод при выращивании самого слитка слюды. [c.243]

При равенстве амплитуд импульсов давления комплексная амплитуда давления im пг-я гармоники частоты (Ор /-й периодической последовательности импульсов (с периодом Тр) может быть выражена через комплексную амплитуду исходной последовательности Сот i5l [c.103]

Изучение распространения акустических волн в объекте осуществляли путем возбуждения акустических импульсов при помощи источника Су-Нилсена. Датчики устанавливали на расстояниях 1,8 3 7 и 12 м. В месте сломов располагали приемник для запуска системы регистрации в момент слома грифеля. Измеряли время распространения сигнала от источника до приемника и его амплитуду. Импульс эмиссии регистрировали, используя прибор РАС-ЗА. [c.201]

Энергия Квантов определялась по значению радиуса траектории электрона и позитрона при заданной напряженности магнитного поля. Пропорциональные счётчики, амплитуда импульса в которых иропорциодальна ионизирующей способ- ности заряженной частицы, нужны для подтверждения того, что импульс в счетчике Гейгера вызван действительно электроном. [c.147]

Дифференциальный и компенсационный методы контроля изделий, имеющих переменное сечение, малоэффективны ввиду низкой точности определения размеров дефектов при использовании вычитающей схемы. С целью повышения их эффективности измеряют отношения или логарифмы отношения амплитуд импульсов сцинтнл-ляционных детекторов. В этом случае размер минимального выявляемого дефекта не зависит от изменения толщины контролируемого изделия. [c.377]

Широкое распространение в бетатрон-ной и рентгеновской дефектоскопии получили схемы, основанные на измерении разности усредненных с помощью диодов и интегрирующих звеньев импульсов первого и второго сцинтилля-ционных детекторов (рис. 7). Существенным недостатком этих схем является необходимость выбора параметров интегрирующих звеньев строго одинаковыми. В противном случае при нестабильно работающем ускорителе точность определения степени дефектности контролируемого изделия не люжет быть высокой. Этот недостаток устраняется при сравнении амплитуд импульсов сцинтилляционных детекторов, пропорциональных дозе в импульсе излучения с их предварительным преобразованием, которое осуществляется с помощью зарядного устройства и ключа (рис. 8). Управление ключом производят таким образом, чтобы длительность получаемых импульсов равнялась половине периода следования импульсов излучения. Благодаря предварительному преобразованию формы импульсов сцинтилляционных детекторов повышаются быстродействие и помехоустойчивость дефектоскопов как при вычитающей схеме, так и при схеме измерения отношения. [c.378]

Отношение напряжений первого и второго каналов в двухканальном де-фектокопе можно измерять с помощью системы автоматической компенсации измеряемого сигнала и схемы отношения амплитуд двух импульсов (рис. 9). В схеме измерения логарифма отношения амплитуд импульсов зависимость между регистрируемым сигналом и дефектом линейная. [c.378]

Из-за нестационариости процесса на выходе детектора в бетатронном дефектоскопе рекомендуется статистически обрабатывать сигнал с выхода схемы отношений амплитуд двух каналов. Учитывая, что амплитуды импульсов на выходе схемы отношений можно считать независимыми от изменений параметров дефектоскопа, в этом случае схемы обработки информации строят на принципах обнаружения сигнала по критериям знаков Вил консона,Смирнова и другим статистическим тесгам, устойчивым к изменению закона распределения сигияля (рис. 12 и 13). [c.380]

Рис. 44. Огибающие сигналов, пропорцио нальных амплитудам импульсов от скач ков Баркгаузена, для образцов из ферро магнитных материалов с различной температурой обработки (U — выходной сигнал t — время, Я — напряженность пе-ремагничивающего поля)

УС-12ИМ 0,25-25,0 0,5—20 с погрешностью Д = rt (0,025/V + 10,1) в автоматическом режиме 1—71 через один децибелл в ручном режиме Плоские толщиной 0—300 трубы диаметром больше 6 Металлы, сплавы, пластмассы 1—10 Автома- тический, ручной Быходынасамописец, ЭВМ, цифропечать. Измеряет среднее значение и дисперсию амплитуд импульсов, разделяет выявляемые дефекты на четыре группы качества [c.284]

Управление калибраторами длительности и амплитуды импульса производится тумблером 16 и ручкой 15. При включении тумблера 16 с надписью метки на экране 5 вместе с импульсом возникают калибрационные метки в виде ярких черточек и темных промежутков. Зная количество меток, уложившихся на импульсе, и цену каждой метки, легко определить длительность импульса. Цена метки зависит от диапазона ждущей развертки и равна 0,5 мк сек,, 1 мк сек, 5 мк сек и 20 Ж7С сек соответственно четырем диапазонам. При помощи ручки 15, имеющей надпись калибрационный сигнал , подбирается амплитуда стабилизированного напряжения, равная амплитуде исследуемого сигнала или отличающаяся от нее в определенном отношении. Затем соответственно-делению шкалы, на котором остановится указатель ручки 15, определяют величину амплитуды импульса по графику, наклеенному на внутренней стороне передней крышки осциллографа. [c.189]

Погрешность, связанная с конечной длительностью УЗ-им-пульса. Она пропорциональна периоду колебаний Т = V.T (х — коэффициент пропорциональности) и уменьшается с повышением частоты / = 1/Г. Если не принять специальных мер, то в результате действия случайных факторов отсчет времени при двух измерениях может быть выполнен по разным периодам колебаний в импульсе. Например, если изменится амплитуда импульса, по которому определяют толщину, то измеряемый интервал времени может измениться на период УЗ-колебаний или даже больП1е (рис. 8.1). В этом случае х > 1, что приводит к большой погрешности. Во избежание этого измерение ведут по одному и тому же (желательно первому) периоду колебаний. Чтобы обеспечить выполнение этого условия, максимальную амплитуду импульса t/шах поддерживают неизменной, а измерение выполняют на постоянном уровне и . Желательно поддерживать постоянной амплитуду Ui первого периода колебаний в импульсе, которая не связана однозначно с t/max, однако в техническом отношении это выполнить сложнее, чем стабилизировать i/max- [c.401]

Рис. 6.16. Зависимость амплитуды импульса от мощности дозы тормозного Излучения при приложенном напряжении (цифры около экспериментальных точек обозначают номер импульса излзгчения, при котором получены данные).

Несколько диодов облучали импульсами у-квантов на линейном ускорителе [43]. Мощность дозы у О лучения в импульсе составляла 2-10 эрг/(з-сек) в течение 10 мксек. В табл. 6.13 приведены данные о начальной амплитуде импульса переходного тока диода. При измерениях, проведенных в ходе облучения на двух стеклянных корпусах диодов с припаянными к ним проводами, а также на двух необлучаемых кремниевых диодах, были получены соответственно токи в 2 и 1 мка в течение импульса излучения. Эти величины незначительны по сравнению с другими сигналами и внушают уверенность в том, что при использованной мощности излучения электрические наводки и ионизация воздуха внутри корпуса диода были невелики. В течение импульса излучения получали значения обратных токов диода в пределах от 10 до 100 мка. Эти токи уменьшались до нуля за несколько микросекунд после прохождения импульса излучения. В результате облучения необратимые изменения характеристик диодов не наблюдали. Следует заметить, что один диод типа HD6008, выбранный из-за короткого времени восстановления, имел амплитуду импульса такую же, как и быстро восстанавливающийся диод типа 1N629. [c.319]

Вариантом счетной схемы регистрации является счетно-спектрометрическая схема (см. рис. 79, б). На выходе формирователя возникают сигналы, величина которых пропорциональна амплитуде импульсов с детектора. На выход дискриминатора проходят сигналы, превышающие определенный порог. Дальнейшая регистрация происходит так же, как и в счетной схеме. Введение дискриминации сигналов позволяет регистрировать пересчетным устройством не весь спектр входных сигналов, а лишь отдельные участки, например только фотопик. Это позволяет устранить вклад рассеянного излучения, низкоэнергетические шумы ФЭУ и регистрировать только излучение, прошедшее через контролируемый объект без взаимодействия (геометрия узкого пучка). [c.134]

Для исследования динамических диаграмм напряжение — деформация материалов при нормальных температурах используют мерные стержни Гопкинсона. Сущность метода испытаний сводится к тому, что образец располагают между торцами двух мерных стержней и нагружают импульсом давления, возбуждаемым в одном из стержней. Напряжение, деформацию, скорость деформации образца определяют по известным соотношениям теории упругих волн из условий равенства усилий и перемещений соприкасающихся торцовых сечений образца и стержней. При этом предполагают, что амплитуда импульса давления и предел прочности исследуемого материала образца ниже предела пропорциональности материала стержней. Применение указанного метода при повышенных температурах связано с трудностями измерений упругих характеристик материала стержней и деформаций. На рис. 8 приведена функциональная схема устройства для исследования влияния температуры на динамические прочностные характеристики металлов при одноосном сжатии. Исследуёмый образец 6 расположен между мерными стержнями 5 и S. Импульс давления возбуждают в стержне 5 с помощью взрывного нагружающего устройства, состоящего из тонкого слоя взрывчатого вещества 1, ударника 2 и демпфера 3. При взрыве в стержне возникает импульс сжатия трапецеидальной формы, характеристики которого зависят от плотности материала и диаметра демпфера, а также соотношения толщины демпфера и слоя взрыв- [c.111]

На рисунке 1.24 приведены расчетные профили волн в пространстве для ряда фиксированных значений времени. Сплошные линии - упругопластическая модель, штриховые - гидродинамическая. Расчет соответствует случаю пробоя образцов монокристалла Na l 20x20x10 мм в системе электродов острие-острие с межэлектродным расстоянием 10 мм, разрядная емкость генератора - 510 Ф, амплитуда импульса - 310 В, период колебаний разрядного тока - 1.3-10- с. Уравнение состояния Na l в виде уравнения Жаркова-Калинина дает 7о=2-10 Н/м , //=1.4610 Н/м . Профили волн напряжения а,, [c.60]

Порядок оптимизационного исследования в основном варианте представлен схематически на рис.2.31. Полагается, что индуктивность разрядного контура сокращена до минимума, L = onst, варьируемым параметром является амплитуда импульса, а на втором этапе - величина емкости разрядного контура С. Промежуточные и результирующие зависимости отыскиваются в функции величины разрядного промежутка. При С, L = onst функции V(S) и Wyd(S) представляются наборами [c.118]

Влияние уровня напряжения на показатели электрического пробоя. Электрический пробой кристаллосодержащих слюдитов подчиняется характерной и для других горных пород закономерности повышение амплитуды импульсов напряжения и обусловленное этим увеличение крутизны фронта импульсов напряжения ведет к повышению вероятности внедрения при уменьшении времени до пробоя и при соответствующем росте пробивного напряжения (табл.4.9). [c.182]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...