Координаты лучевые

Нетрудно видеть, что координаты лучевого следа меняют знак в каждом последующем проходе. Таким образом, траектория следа луча имеет две ветви (рис. 2 ). Однако, как и в случае /> + 1, луч последовательно удаляется от оси резонатора, стремясь к фиксированной меридиональной плоскости, координируемой углом а. Волновые поверхности таких пучков образуют совокупность концентрических сфер. Из соображений симметрии ясно, что собственные волновые фронты коаксиальны отражающим поверхностям и поэтому могут характеризоваться меридиональными лучами (например, //о=0, г о=0). Радиус кривизны волновой поверхности опре- [c.37]

Каркасную поверхность задают некоторым множеством линий или точек поверхности. Обычно такие линии — плоские кривые, плоскости которых параллельны между собой. Два пересекающихся семейства линий каркаса образуют сетчатый каркас поверхности. Точки пересечения линий образуют точечный каркас поверхности. Точечный каркас поверхности может быть задан и координатами точек поверхности. Каркасные поверхности широко используют при конструировании корпусов судов, самолетов, автомобилей, баллонов электронно-лучевых трубок (см. форзац). [c.97]

Затем в режиме работы АВМ Настройка выход блока деления /4 соединяют с вольтметром выходы блоков перемножения 15 и 16 (см. рис. II.7.3) соединяют с соответственно горизонтальным и вертикальным входами электронно-лучевого осциллографа для предварительной фиксации профиля АВМ переводят в режим Решение и включают ее в режиме Пуск АВМ определяет координаты профиля хи у и величину Ф, отображающую tg На осциллографе наблюдают изображение центрового профиля кулачка, а по вольтметру максимальное значение Ч . [c.63]

Радиометрические методы позволяют определить две координаты дефекта протяженность и его лучевой размер. [c.385]

В практике неразрушающего контроля наиболее широко используют ручные импульсные ультразвуковые дефектоскопы 2-й и 3-й групп общего или специального назначения. Общим для этих дефектоскопов является наличие электронно-лучевого и звукового индикаторов, электронного глубиномера для определения координат залегания отражающей поверхности, аттенюатора для измерения отношения амплитуд сигналов в децибелах. [c.179]

Дефектоскоп предназначен для генерирования зондирующих импульсов высокочастотного напряжения, усиления, регистрации эхо-импульсов от дефектов и определения координат. Амплитудно-временная характеристика отраженных сигналов отображается на экране электронно-лучевой трубкой (ЭЛТ), на котором в определенном масштабе воспроизводится ход УЗ луча в контролируемом объекте. [c.27]

Результаты экспериментов наиболее удобно представлять в виде зависимостей суммарной силы трения (на двух пятнах контакта) от нагрузки (рис. 5). Лучевые линии, выходящие из начала координат, соответствуют постоянным отношениям силы трения к нагрузке, т. е. постоянным коэффициентам трения. Для определения коэффициента трения регистрируемая суммарная сила трения на двух пятнах контакта делится на удвоенную нагрузку. [c.68]

Размеры экрана электронно-лучевой трубки или кинескопа ограничивают длину линейной Р,, а следовательно, и возможность детального рассмотрения процесса, длящегося больше, чем время прохождения электронного луча по экрану при выбранной скорости Р. Для устранения этого недостатка применяют полярную систему координат и соответственно круговую или спиральную Р. Такие Р. создаются одноврем. подачей на две взаимно-перпендикулярные отклоняющие системы двух сдвинутых по фазе на 90° синусоидальных напряжений или токов с пост, амплитудой (круговая Р.) или с амплитудой, медленно изменяющейся по сравнению с их периодом (спиральная Р.). [c.238]

В логарифмических координатах формулу (10-3) изображают лучевой диаграммой (рис. 10-3) с началом координат в точке, со- [c.112]

Нетрудно видеть, что в выражениях (2.5) для угловых аберраций пятого и седьмого порядков также есть члены, соответствующие проективному преобразованию, однако в них есть и дополнительные члены, учитывающие реальный ход световых лучей при наличии аберраций. Ясно, что координаты точки плоскости М, в которую попадает луч, проходящий через точку Л( , т)) плоскости М, за счет аберраций будут несколько отличаться от тех, которые дает проективное преобразование. Начиная с пятого порядка, это отличие необходимо учитывать. В соотношениях (2.5) для Fgj, F учтено влияние аберраций третьего порядка в плоскости М, а для F , F — аберраций третьего и пятого порядков. Экстраполируя эту закономерность, приходим к выводу, что для вычисления по результатам лучевого расчета волновой аберрации в новой плоскости с точностью до k-TO порядка малости необходимо рассчитывать ход лучей с точностью АО k — 2-го порядка, причем численное значение волновой аберрации с указанной точностью сохраняется вдоль каждого из прослеженных световых лучей. Вдоль реального светового луча (ход которого рассчитывают с учетом аберраций всех порядков) сохраняется точное численное значение волновой аберрации, что соответствует смыслу данного в п. 1.3 определения волновой аберрации. [c.42]

Для остальных лучевых критериев такой экстремальной опорной точки найти не удается, поэтому их также вычисляют относительно центра тяжести лучевой диаграммы. Так как волновая аберрация симметрична относительно меридиональной плоскости, центр тяжести лучевой диаграммы рассеяния, как и дифракционный фокус, должен находиться в этой плоскости. Используя выражения (3.8)—(3.10) для волновой аберрации системы, вычисленной относительно произвольной точки в меридиональной плоскости вблизи от точки гауссова изображения, найдем производную дФ дц согласно соотношению dO Jdi = == (<5Фу<Эр)/со5 6 — (<5Фу(Э0)/(р sin 0) (ось лежит в меридиональной плоскости, от которой отсчитывается угол 0) и подставим ее в (3.17). Интегрируя и приравнивая результат нулю, получим для меридиональной координаты центра тяжести диаграммы рассеяния (по отношению к гауссову изображению) [c.95]

Координатой Ауо дифракционного фокуса (3.12), легко убедиться, что положение центра тяжести лучевой диаграммы правильно отражает смещение изображения точечного источника в гауссовой плоскости при наличии у системы дисторсии Lg, но дает неверное представление о подобном смещении за счет других нечетных аберраций. Расчеты, однако, показывают, что при высоком качестве изображения [ (6) 0,73] независимо от вида аберрационных искажений расстояние между точкой максимальной интенсивности в дифракционном изображении и центром тяжести лучевой диаграммы рассеяния j АУо — Дг/о1 < 0,36, что, как правило, несущественно. [c.96]

Таким образом, мы научились сводить любые интересующие нас резонаторы к резонаторам с положительным iV и с заранее выбранным знаком Gi или G2. Что же касается резонаторов с положительным 7V (а, следовательно, и то они всегда могут быть приведены к наиболее подробно рассмотренным в литературе двухзеркальным. Для этого необязательно было даже вводить безразмерные координаты прямо из (2.8) вытекает следующий простейший рецепт достаточно, сохранив размеры зеркал, установить их на расстоянии L = В друг от друга и придать им радиусы кривизны Ri = LI(I - А) и R2 = LI 1 - D). Кстати, воспользовавшись тем смыслом, который здесь приобрел элемент лучевой матрицы В, можно переписать условие устойчивости в следующей примечательной форме перейдя от неравенства О < AD < 1 к эквивалентному неравенству -1 < ВС < О, или 1/ВС < -1, и подставив сюда В = L и С = -1/F (см. 1.1 F — фокусное расстояние оптической системы, заключенной между плоскими зеркалами эквивалентного резонатора на рис. 2.5), получим F > L. При такой записи связь критерия устойчивости со свойствами резонатора как оптической системы выглядит особенно наглядно. [c.79]

Схема знаков для координат и углов наклона приведена на рис. 2.7. В табл. 8 приведены лучевые матрицы для ряда используемых в лазерной технике оптических систем. [c.71]

По запросу, например, из ЭЦВМ коды с преобразователей 2 и 6 через вентили J и 5 поступают в ЭЦВМ, где запоминаются. При последующих циклах развертки растра подсвечивание уже отмеченных ранее точек производится по сигналам из запоминающего устройства ЭЦВМ. Таким образом, проведя по экрану электроннолучевой трубки линию, производят передачу в запоминающее устройство ЭЦВМ координат всех точек этой линии с квантованием, соответствующим разрешающей способности растра. Одновременно на экране высвечивается эта линия, ПОЗВОЛЯЯ судить о правильности фиксирования ее в памяти ЭЦВМ. Переключив с помощью пульта управлений /2 световое перо на стирание , мы можем стереть в запоминающем устройстве ЭЦВМ коды координат положения ненужных точек линий и изображение этих точек на экране электронно-лучевой трубки пропадет. Частота обращений к запоминающему устройству ЭЦВМ и частота засветки растра выбираются больше частоты разрешающей способности человеческого зрения (более 25 гц), что обеспечивает получение не- мигающего изображения на экране. [c.83]

При вычерчивании с помощью электронно-лучевой трубки фотобумага или фотопленка остаются неподвижными, а луч движется по всему полю экрана трубки, вырисовывая изображение. Движение луча задается координатами узловых точек, между которыми луч движется по сигналам, получаемым из интерполяторов. [c.98]

Параболическое уравнение (59.19) записано в лучевых координатах которые в данном случае совпадают с полярными координатами г, ф, в то время как параболические уравнения [c.337]

Параболическое уравнение в лучевых координатах позволяет получить решение задачи о диффракции на выпуклых телах (см. [49] и [50]) более полное, чем решения, построенные с помощью других методов. Однако для интересующих нас задач (см. 60 и 61) уравнение (59.19) не привело к сколь-нибудь значительным упрощениям по сравнению с исходным волновым уравнением и поэтому пока не дало заметных преимуществ. [c.338]

Имея лучевую диаграмму, построенную для данного автомата, и приближая лучи перестройкой автомата к координатам, на которых откладываются скорости резания, тем самым увеличиваем число оборотов шпинделя автомата и при обработке малых диаметров получаем увеличение скоростей. [c.133]

Графически формула скорости резания (7) в прямоугольной системе координат изображается лучевой диаграммой. Указанная диаграмма имеет [c.69]

Если известны матрицы элементарных оптических компонентов, то полную матрицу сложной оптической системы нетрудно получить путем разбиения ее на эти элементарные компоненты. Действительно, предположим, что внутри данного оптического элемента можно рассмотреть промежуточную плоскость с координатой 2,- (рис. 4.9) таким образом, что две AB D-матрицы между плоскостями 2 = Zi и z = Zi, а также между плоскостями z = zi и z = Z2 известны. Если координаты лучевого вектора на плоскости z = 2,- обозначать через г,- и г , то, очевидно, можно написать [c.168]

Отраженные от дефекта импульсвл упругих колебаний подаются на пьезопластину и преобразуются в ней в электросигналы. Эти колебания усиливаются в усилителе, затем подаются кл экран электронно-лучевой трубки. При развертке расстояние от зондирующего импульса до принятого сигнала пропорционально времени прохождения импульса от пьезонластипы до дефекта и обратно. По числовому значению скорости и времени прохождения ультразвука можно определить координаты дефекта. Отклонение луча на электронно-лучевой трубке в вертикальном направлении характеризует амплитуду с сигнала и пропорционально значению размера дефекта. [c.132]

В любом случае определение непрямолинейности подкрановых рельсов может осуществляться различными способами створных измерений (оптическими, струнными, лучевыми), способом измерения малых у1 лов или путем определения координат осевых точек рельсов. Непосредственные измерения ширины колеи контактным или механическим способом производят при помощи рулетки (если ширина колеи не превышает длины мерного прибора и доступна для измерений) или других приборов для механических измерений линейных величин, а косвенный метод предусматривает определение ширины колеи из линейно-угловых геодезических построений (способы ломаного базиса, микротриангуляции, четырехугольника). Нивелирование подкрановых рельсов выполнясггся геометрическим, тригонометрическим или гидростатическим методами. [c.10]

Настройка скорости развертки (рис. 5.3) заключается в выборе оптимального масштаба видимой на экране части временной оси электротю-лучевой трубки (ЭЛТ). Масштаб должен обеспечивать появление сигналов от дефектов в пределах экрана дефектоскопа. Скорость развертки устанавливают такой, чтобы рабочий участок развертки ЭЛТ занимал большую часть экрана. Горизонтальная ось экрана после настройки является по существу выпрямленной траекторией луча в масштабе 2/ тах/ э, где г -лу. — путь ультразвука до максимально удаленной точки контролируемого сечения Хд — размер рабочего участка развертки, который в пределе равен горизонтальному габаритному размеру экрана. Рабочий участок развертки можно легко проградуировать в значениях координат дефекта с учетом соотношений h г o.s ад л = г sin 0. где г — расстояние по лучу до дефекта с координатами h, X. Такой способ наиболее целесообразен для ремонтопригодных изделий небольшой толщины (до 20 мм), когда не требуется высокой точности определения координат дефектов. [c.204]

А. Встречается также число Альвена КАУСТИКА (каустическая поверхность) (от греч. kau.stikos — жгучий, палящий) огибающая семейства лучей, т. е. геом. место тачек пересече]1ИЯ бесконечно близких лучей семейства. На рис. 1 представлен пример т. н. простой К. Ур-пие К. определлстся ур-нием семейства лучей г=г( , г , т) с дополнительным условием 0 т) = д х, (/, z)jd %, т , т) = 0, где D (т) — якобиан перехода от лучевых координат к де- [c.247]

Б. В. Медведев, М. И. Поливанов. МАТРИЧНЫЕ МЕТОДЫ в оптике — использование матриц для описания поведения параксиальных (с малыми углами наклонов) световых пучков в оптич. ёистемах с круговой симметрией, включающих элементы из однородной либо линзоподобноп среды с плоскими или сферическими поверхностями. Преобразование поперечных координат х, у и углов наклона а , <Ху лучей при прохождении через подобную систему описывается лучевой матрицей [c.73]

Для определения периода и направления вращения Венеры использовано различие лучевых скоростей отд. участков вращающейся поверхности, к-рое приводит благодаря Доплера эффекту к уширению спектральной линии отражённых сигналов. Величина этого ушнренин цропорц. угл. скорости вращения планеты относительно наземного наблюдателя. Это вращение складывается из собств. вращения планеты в инерциальной системе координат и переносного движения системы координат относительно наземного наблюдателя. Результирующее изменение модуля угл. скорости вращения Венеры относительно наземного наблюдателя, вычисленное для неск. значений периода вращения планеты, представлено на рис. 2. На этом же графике нанесены эксперим. точки, полученные по [c.217]

Установим связь лучевых критериев с характеристиками аберрированной сферической волны, формируемой оптической системой. Направляющие косинусы луча, проходящего через точку с координатами , т) выходного зрачка, [c.93]

Методика исследования заключалась в следующем. Значения критериев Qi и координаты центра тяжести диаграммы рассеяния ДУо вычисляли сначала в нормированном виде с использованием различного числа точек, равномерно распределенных по площади зрачка. После этого все нормированные величины переводили в естественные единицы (апертурный и полевой углы ортической системы, в выборе которых был определенный произвол, принимались равными 20° каждый), а все критерии и центр тяжести вычисляли снова по параметрам реальной лучевой диаграммы с помощью формул (3.14) при тех же числах лучей, что и в нормированном виде. Значения искомых величин, полученные при 500 точках в зрачке или лучах, принимали за истинные для данного способа вычисления. [c.97]

Лучевая матрица. Лучевая (или AB D-) матрица в ее исходном определении имеет простой геометрический смысл она связывает значения поперечных координат х, у и наклонов OLy световых лучей на входе и выходе оптической системы. Итак, [c.8]

Проверим, всегда ли выполняются условия, позволяющие для вычисления / пользоваться формулой (1.7). Если гауссовы диафрагмы отсутствуют, тогда волновые матрицы совпадают с лучевыми, и их элементы действительны. Одновременно действительны и параметры х 2, У2 примечательно, что в этом случае не только они, но hZi2. 2 3 hZi3 имеют простой смысл. В самом деле, нетрудно видеть, что в отсутствие диафрагм L 2 является оптическим расстоянием от (xi, у ) до Х2, У2), 23 от ( 2, У2) ДО ( 3 Уъ) Далее, подсчитав с помощью формул (1.1) углы наклонов лучей по заданным их координатам на входе и выходе каждой ячейки, можно убедиться в том, что лучи, следующие через точки (xi,yi), ( 2, У2) по первой ячейке и через х 2, у2), (хз, Уз) по второй, являются Йродолжениями друг друга. Таким образом, величина L13, равная достигаемому при 2 = л 2 и > 2 У2 значению суммы L12 + 2з> является оптическим расстоянием (эйконалом) между точками х Уз), из-1леренным вдоль следующего законам геометрической оптики луча. [c.21]

Программатор режимов электронно-лучевой сварки СУ228 выполнен на базе контроллера "Электроника К1-20" и предназначен для программирования в функции пути или времени токов электронного пучка и фокусирующей линзы пущки, амплитуд периодического отклонения электронного пучка по двум координатам, а также длин участков с постоянным режимом сварки. Имеются также стандартные подпрограммы начала и окончания сварки. Число кадров программы сварки достигает 300. Для выполнения прихваток имеется специальная программа периодического повторения заданного однокадрового режима сварки. [c.361]

Система программного управления режимом электронно-лучевой сварки СУ288 выполнена на базе контроллера "Электроника МС 2721" и кроме функций программатора СУ228 обеспечивает программирование траектории и скорости перемещения сварочной пушки или свариваемого изделия по шести координатам. Система имеет и переносной пульт ручного управления перемещением. Она предназначена для управления шаговым приводом типа БУШ-5, который может, в основном, применяться в малогабаритных сварочных установках. Управление отклонением электронного пучка осуществляется для пушек как с однократным преломлением пучка, так и с двухкратным. [c.361]

При черчении конструктором исходного профиля световым пером на экране электронно-лучевой трубки в память ЭЦВМ непрерывно поступают сведения о координатах точек линий, вычерчиваемых световым пером. Координаты этих точек используются в программах для аппроксимации и автоматического вычерчивания. Фактически могут воспроизводиться все виды кривых алгебраические и трансцендентные функции, включая кривые, начерченные просто от руки и не имеющие каког -либо математического описания. [c.76]

Для устранения указанного недочгта очень часто эту диаграмму строят в прямоугольной системе координат, но с логарифмической шкалой (фиг. 69). Здесь по оси абсцисс откладывается Ig D, а по оси ординат Ig V. Преимущество такой диаграммы перед лучевой заключается в том, что в ней линии чисел оборотов располагаются параллельно. [c.70]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...