Прибор теневого сечения

Аналогичную конструкцию имеют приборы ПСС, ПСС-2 и приборы теневого сечения типа ПТС. Параметры этих приборов приведены в табл. 8. [c.72]

Теневая проекция и прибор теневого сечения ПТС-1. Теневая проекция является видоизменением светового сечения, удобным для измерения неровностей сравнительно грубых поверхностей профильным методом. [c.113]

Рис. 81. Прибор теневого сечения

Рис. 56. Прибор теневого сечения ПТС

Приборы теневого сечения ПТС-1 обычно применяются для контроля грубо обработанных поверхностей (с 1 по 3-й класс чистоты) по параметру Общее увеличение прибора 30 , поле зрения 8 мм габаритные размеры 220 X 190 X 100 мм, вес 2 кг. [c.121]

Принцип действия приборов теневого сечения аналогичен принципу действия приборов светового сечения. В приборах теневого сечения рассматривается тень, искривленная неровностями поверхности. Тень создается ножом, прикладываемым к поверяемой поверхности. [c.352]

Прибор теневого сечения ПТС-1 [c.690]

Наряду с электромеханическими профилометрами и профилографами для контроля шероховатости поверхности применяются еще оптические приборы (двойные микроскопы, приборы теневого сечения и микроинтерферометры). [c.488]

Рис. 11.157. Прибор теневого сечения ПТС-1

Наряду с контактными приборами могут быть рекомендованы бесконтактные оптические приборы, основанные на принципе светового сечения (ПСС), теневой проекции (ПТС) и интерференции света (МИИ), изготовляемые по ГОСТ 9847—79. В настоящее время промышленность выпускает также оптические приборы для измерения шероховатости поверхности микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-9, МИИ-10, МИИ-12, двойной микроскоп МИС-11, двойной микроскоп ПСС-2, прибор теневого сечения ПТС-2. [c.49]

Прибор теневого сечения ПТС-1 Пределы измерения шероховатости грубых поверхностей Ra = BO-hlO мкм [c.211]

Аналогичную конструкцию имеют приборы теневого сечения. [c.500]

Все оптические приборы предназначены для измерения величины щероховатости поверхности по параметру Rz. Приборы теневого сечения (ПТС-1) применяют для контроля грубо обработанных поверхностей с 1-го по 3-й классы. Приборы светового сечения (ПСС-2) применяют для контроля поверхностей с 4-го по 9-й классы. Приборы, основанные на принципе интерференции света — интерферометры, применяют для контроля тонко обработанных поверхностей с 10-го по 14-й классы шероховатости. [c.242]

Приборы для контроля шероховатости и толщины прозрачных пленок методом светового и теневого сечення [c.72]

Действие, приборов ПСС (рис. 55) основано на принципе светового сечения, действие ПТС (рис. 56) — на принципе теневого сечения, действие МИИ (рис. 57) — на принципе интерференции света. [c.120]

Работа профилометров—оптико-механических устройств—основана на принципе теневого сечения (приборы ПТС [c.501]

Приборы, действие которых основано на принципе теневого сечения [c.502]

Параметры приборов для контроля шероховатости методом светового и теневого сечения [c.502]

Бесконтактные оптические приборы для измерения шероховатости, основанные на принципе светового сечения (ППС), теневого сечения (ПТС) и интерференции света (МИИ) изготовляются в соответствии е ГОСТ 9847—61. Отечественной промышленностью выпускаются четыре типа таких приборов. [c.653]

Электромеханические приборы последовательно, по мере перемещения щупа по поверхности, преобразуют измеряемый профиль в электрическое напряжение для записи или измерения нужного параметра, а оптические приборы для того же назначения одновременно преобразуют участок профиля в интерференционную картину, световое или теневое сечение . [c.478]

Наибольшее распространение для бесконтактных измерений шероховатостей получили оптические приборы светового сечения, теневой проекции и интерференции света. [c.46]

Основными методами контроля шероховатости являются контактный и бесконтактный. Принцип действия бесконтактных оптических приборов основан на том, что на измеряемую поверхность или ее изображение накладывается одна или ряд световых полос, которые повторяют неровности поверхности. Эти приборы выпускаются следующих модификаций ППС — основанные на принципе светового сечения, ПТС—теневого сечения, МИИ— интерференции света. Высота измеряемой шероховатости от 0,1 до 160 мкм. Из стандартизованных параметров на оптических приборах чаще всего измеряют / тах тг кроме того, оптические приборы позволяют увидеть характер и форму неровностей. [c.132]

Приборы для определения класса чистоты. Для деталей и изделий, поверхности которых отшлифованы и отполированы в целях декоративной отделки, при оценке качества их обработки нет необходимости в точном определении класса чистоты обработки, но определение порядка величины класса часто бывает необходимым. Для точных определений степени шероховатости по ГОСТу 2789—59 предусмотрены приборы, изготовляемые в соответствии с ГОСТом 9847—61. Это оптические приборы типа ПСС, действие которых основано на принципе светового сечения, и приборы типа ПТС, действие которых основано на принципе теневого сечения. Они предназначаются для измерения шероховатости от 1 до 9-го класса. [c.23]

Схема одной из таких установок, позволяющая проводить испытания плоских решеток на дозвуковых скоростях потока, изображена на рис. 2.26. Установка представляет собой аэродинамическую трубу прямоугольного сечения. Основными элементами установки являются ресивер подводящего сжатого воздуха, корпус, сопло с регулируемыми створками, рабочая часть установки с поворотными дисками, механизмы управления створками и дисками, система измерения параметров воздушного потока по тракту установки. Поворотные диски служат для крепления пакетов лопаток и установки их под заданным углом к набегающему потоку воздуха. В дисках обычно имеются смотровые окна для исследования структуры потока с помощью оптического теневого прибора или лазера. Для продувок решеток на сверх- [c.57]

Измерение углов с помощью оптических приборов (рис. 98, г, д). В зависимости от характера проверяемых инструментов измерение можно производить тремя способами в проходящем свете по теневому изображению изделия в отраженном свете по отраженному изображению изделия по способу светового сечения. [c.188]

Для измерений оптическими приборами, о которых будет сказано в дальнейшем (двойными микроскопами, микроинтерферометрами и приборами теневого сечения), параметры Ra и Rq не подходят, так как требуют трудоемких операций. Поэтому применительно к этой категории средств измерений неровностей применяли различные модификации параметров общей высоты неровностей Rmiix. К последним относится, прежде всего стандартизированная в СССР высота неровностей профиля по десяти точкам Rz, представляющая собой сумму средних арифметических абсолютных отклонений точек пяти наибольших минимумов и пяти наибольших максимумов в пределах базовой длины [c.35]

Контролируемые детали, если они небольших размеров, устанавливаются при измерении на столик или призму микроскопа МИС-11 или ПСС-2, а при контроле более крупных деталей микроскоп необходимо устанавливать на них. В последнем случае нужно, видимо, изготовить дополнительное устройство для его установки и крепления. Для этой цели может быть использован ручной двойной микроскоп — ругометр или же разработанный отечественной промышленностью накладной прибор теневого сечения ПТС-1, [c.94]

Прибор теневого сечения ПТС-1 по принципу действия аналогичен двойному микроскопу и предназначен для измерения микронеровностей в диапазоне от 80 до320 лгкж. Прибор выполнен накладным, что позволяет контролировать детали без снятия их со станка. Применение окуляра со специальной сеткой позволяет производить оценку неровностей поверхности путем их сравнения с сеткой, а применение окулярного микрометра — производить измерения, достаточная точность которых обеспечивается оптимальными оптическими характеристиками прибора увеличением 30 , полем зрения [c.489]

Особое место в бесконтактных измерениях шероховатости занимают оптические приборы приборы светового сечения приборы теневого сечения микроскоп измерительный интерференционный микроскоп однообъективный муаровый. [c.86]

Приборы, основанные на щуповом методе, последовательно, по мере перемещения щупа по поверхности, преобразуют измеряемый профиль сначала в механические, а затем в электрические колебания в отличие от рассмотренных в пп. 2, 3 и 4 оптических приборов того же назначения, одновременно преобразующих участок профиля в интерференционную картину, в световое или теневое сечение или в систему муаровых полос. [c.124]

Принципиальная схема метода теневсго сечения представлена на рис. 88. Лрибор теневого сечения представляет собой систему двух микроскопов — проектирующего 1 и наблюдательного //, установленных под углом 90° по отношению один к другому. Предметные точки объективов обоих микроскопов совмещены одна с другой и с опорной плоскостью прибора на высоте 0,1 мм над опорной плоскостью установлен нож 3. На испытуемой поверхности PiPi необходимо иметь уступ высотой й, равной толщине покрытия I, нанесенного на деталь 2. Пучок лучей, выходящий из проектирующего объектива микроскопа /, встречает на своем пути нож 3, который срезает часть пучка. Часть пучка лучей, не срезанная ножом, падает под углом 45° на испытуемую поверхность Р1Р2 в пространстве между кромкой ножа LL и ее проекцией на эту поверхность. [c.94]

Рис. 88. Принципиальная схема метода теневого сечения для измерения Hei o-эрачного покрытия прибором ПТС-1

Современные средства измерения шероховатости делят в основном на две группы бесконтактные и контактные. Из бесконтактных средств измерения параметров шероховатости наиболее распространены приборы, действие которых основано на принципах светового сечения, теневого сечения, интерференции света и применения растров оптические приборы для измерения шероховатости, основанные на перечисленных принципах, соответственно условно называют ППС, ПТС, МИИ иОРИМ. [c.698]

Методы определения шероховатости изделий из древесины и древесных материалов установлены ГОСТ 15612—70. При выборе прибора для контроля шероховатости исходят из предполагаемой шероховатости поверхности поверхности с Ягмикс до 60 мкм (8—12-го классов) контролируют микроскопом МИС-11 неровности величиной гмакс в диапазоне 100. .. 500 мкм (4—7-й классы шероховатости), а также 800. .. 1600 мкм (1—2-й классы) за исключением волнистости измеряют микроскопом теневого сечения поверхности ТСП-4 неровности 800. .. 1600 мкм, включая волнистость, — индикаторным глубиномером. Техника измерений изложена в стандарте и более подробно в документации на приборы. [c.23]

Раулиметр фирмы Буш, Ратенау (в настоящее время не изготовляется). Американские приборы, основанные на принципе теневого сечения с ножами по Штеварту Дью. [c.470]

К приборам, измеряющим величину щероховатостн поверхности бесконтактным методом, относятся оптикомеханические приборы, изготавливаемые в соответствии с ГОСТ 9847—61. Действие этих приборов основано на различных принципах светового сечения (приборы-модели ПСС), теневого сечения (ПТС) и интерференции света (МИИ). [c.240]

Для контроля шероховатости грубых поверхностей / г = 320ч-80 мкм (VI—V3) служат простые накладные переносные приборы, основанные на принципе теневого сечения (ПТС). Над контролируемой поверхностью 3 (рис. 36, б) помещают спе- Йис-п [c.75]

На универсальном микроскопе измерения производят двумя методами теневого изображения (проекционный метод) и осевого сечения (с измерите,льными ножами). При методе теневого изображения наблюдают в окуляр главного микроскопа изображение контура изделия, установленного на столе или в центры прибора. После фокусирования края контура изделия с ним совмещают штриховую линию окулярной сетки и производят первый отсчет по микроскопу со спиральным окулярным микрометром. Затем совмещают сетку с [c.246]

ШТРИХОВАЛЬНЫЙ ПРИБОР. Приспособление той или иной конструкции для проведения параллельных линий на чертеже. Они ускоряют процесс нанесения штриховки на разрезах и сечениях при выполнении теневой шраффировки и т. п. Интервал между линиями штриховки легко регулируется. [c.150]

Теневой метод или метод сквозного просвечивания основан на посьшке в контролируемое изделие упругих колебаний и регистрации изменения их интенсивности после однократного прохождения через металл (рис.6.7). Упругие колебания вводят в изделие излучающей искательной головкой с одной его стороны, а принимают приемной головкой, расположенной с другой стороны. При отсутствии нарушений сплошности материала приемная головка регистрирует прохождение упругих волн через изделие (рис.6.7о). Интенсивность их будет меньше интенсивности введенных волн за счет потери энергии УЗК. Если на пути упругих волн имеется дефект, то в зависимости от площади сечения пучка лучей, площади отражающей поверхности дефекта и его местоположения по толщине изделия показания индикатора меняются, т.к. за дефектом образуется акустическая тень. Импульс 7 на экране прибора при этом уменьшается или исчезает, т.к. он соответствует интенсивности прошедших УЗК (рис.6.76, в). [c.286]

A. Методы изучения с п е к т р а л о т oik а, включающие 1 ) измерения поля потока. в характерных сечениях решетки насадками, а также различными электрическими приборами, фиксирующими полное и статическое давление, температуру полного торможения, направление скорости в точке 2) изучение поля плотности оптическими методами (теневыми и интерберенционнымн) 3) визуализацию потока путем подмешивания инородных частиц. [c.645]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...