Излучения, относительная интенсивность

Формальное решение уравнения переноса излучения относительно интенсивностей излучения 287 [c.611]

Кроме того, из рисунка видно, что дисперсия флуктуаций при малых Q (в расходящихся пучках) меньше, чем дисперсия при больших й (в коллимированных пучках). Этот факт естественно объяснить сглаживанием флуктуаций за счет регистрации части рассеянного со стороны (под малыми углами) излучения наряду с модулированным в осадках проходящим излучением. Относительная интенсивность последнего больше в случае расходящихся лазерных пучков за счет большего рассеивающего объема, визируемого приемной системой. [c.237]

В случае, когда поверхности предполагаются диффузно излучающими и зеркально-диффузно отражающими, а эффективные потоки равномерно распределенными по поверхностям, фиксация актов поглощений и расчет мощностей Р" / не дает выигрыша по сравнению с расчетом разрешающих угловых коэффициентов. Однако ситуация меняется при наличии поверхностей с радиационными свойствами, зависящими от направления, или при снятии допущения о равномерности распределения по поверхностям эффективных потоков. В этом случае не удается использовать понятие разрешающего углового коэффициента и приходится при детерминированном подходе решать систему интегральных уравнений относительно интенсивностей эффективного излучения 181. Практика показала, что даже [c.199]

В схеме прибора предусмотрен эталонный температурный источник б, уровень излучения которого поддерживается с высокой точностью. Таким образом, на детектор последовательно попадает ИК-излучение от объекта и опорного излучателя, относительная интенсивность которых сравнивается с помощью электронной схемы. [c.135]

Измерение указанных параметров возможно по анализу распределения рассеянного волокном когерентного излучения [51, 203, 217, 248]. Однако, если волокно прозрачно для излучения лазера, распределение рассеянного волокном лазерного излучения зависит не только от размеров и формы волокна, но и от других факторов, которые необходимо учитывать структуры поперечного сечения волокна (моноволокна, световоды, трубки, многожильные волокна и т. д.), показателя преломления материала, его однородности и изотропности, а также ориентации плоскости поляризации излучения относительно геометрической оси. Эта зависимость объясняется тем, что часть излучения проходит непосредственно через материал волокна и интерферирует с излучением, рассеянным его поверхностью. Особенности внутренней структуры и свойства материала волокна определяют деформацию волнового фронта излучения, проходящ,его через волокно, и вид результирующего распределения интенсивности рассеянного излучения, по которому судят о геометрических параметрах волокна. . [c.269]

Согласно закону Бугера относительное изменение интенсивности луча при прохождении через элементарный слой толщиной dx пропорционально длине пути луча в этом слое. Для монохроматического излучения относительное ослабление в слое dx [c.127]

Понижение температуры Дебая 0 , связанное с уменьшением размера частиц, наблюдали многие исследователи (табл. 3.3). Относительную величину 0ц(г)/0ц определяли калориметрическим и дифракционными методами. Однако изучение малых частиц Аи и Fe ((i = 5—7 нм) с помощью эффекта Мессбауэра показало, что они имеют такую же температуру Дебая, как и массивные кристаллы [304, 305]. Сопоставление параметра решетки Малых частиц Аи и Fe с относительной интенсивностью рассеянного ими рентгеновского излучения [306] также показало, что Наблюдаемые эффекты нельзя объяснить только понижением дебаевской температуры. Согласно [И], отмеченная противоречивость экспериментальных данных по температуре Дебая малых частиц указывает на необходимость учета колебаний кластеров (метастабильных атомных группировок с повышенной локальной устойчивостью), образующих наночастицу и имеющих [c.89]

Интенсивность рентгеновского излучения зависит от ряда факторов. Измеренные относительные интенсивности характеристического излучения /-того элемента ( г) связаны с концентрацией соответствующего элемента (с ) соот- [c.149]

ФОРМАЛЬНОЕ РЕШЕНИЕ ОТНОСИТЕЛЬНО ИНТЕНСИВНОСТЕЙ ИЗЛУЧЕНИЯ [c.287]

Формальные решения относительно интенсивностей излучения на граничных поверхностях /v (0) и /7 ("Го) имеют следующий вид [см. (8.110)] [c.314]

Температуры пламен, имеющих в спектре полосы излучения, можно измерить по энергии вращательного движения молекул. Этот метод аналогичен методу относительных интенсивностей. Для его осуществления выбираются две или несколько линий тонкой вращательной структуры полос. Интенсивность каждой такой линии характеризуется выражением [c.421]

Важной характеристикой пучка излучения лазера является era расходимость. В случае одномодового пучка расходимость определяется следующим образом (рис. 3.3). Мысленно проводится продольное сечение пучка вдоль его оси z и рассматривается плоская картина сечения каустики пучка. В этой плоской картине границей пучка являются гиперболы, проходящие по определенному уровню интенсивности излучения (обычно по уровню 1/е относительно интенсивности в центре пучка). Асимптотами гипербол служат две прямые, симметрично расположенные относительна оси пучка. Угол между этими прямыми 20о называется полной расходимостью пучка и определяется выражением [18, 23, 50 [c.72]

РИС. 88. Зависилюсть относительной интенсивности рентгеновского излучения, рассеянного аэрозольными частицами РЬ диаметром 200 А, внедренными в бакелитовую матрицу, от температуры. [c.206]

Рис. 2.4. Нелинейные изменения относительной интенсивности излучения на оси пучка Nd-лазера с перестраиваемой длительностью генерации (эксперимент в кювете с поглощающим газом).

Длины волн и относительные интенсивности излучения (представляемые в фигурных скобках) [c.142]

Индикатриса рассеяния излучения. . . Относительное эффективное сечение ослабления интенсивности излучения. . Коэффициент ослабления интенсивности [c.8]

Плотность и относительная интенсивность излучения Плоттгость и относительная интенсивность излучения Относительная интенсивность излучения Относительная интевсив-ность излучения Скорость обезуглероживания Скорость окисления марганца Скорость выгорания кремния [c.94]

Представляет интерес искусственное вращение плоскости поляризации при освещении образца излучением, частота которого близка к частоте поглощения исследуемого вещества, т.е. когда затуханием колебаний нельзя пренебречь. Эта задача осложнена тем, что до сего времени мы не интересовались, что происходит со спектральной линией, если источник света или поглощающая среда помещены в магнитное поле, Как было впервые установлено в 1896 г. Зееманом, при этом линия расш,епляется на несколько компонент (эффект Зеемана). Число таких компонент, взаимное расположение и относительная интенсивность определяются структурой энергетических уровней, при переходах между которыми возникла исследуемая спектральная линия, и существенно зависят от напряженности прилаженного магнитного по ля. Эффект Зеемана — важное для спектроскопии и атомной физики явление, которое до конца объясняется с позиций кван товой механики. [c.165]

Из приведенного расчета следует, что в результате соударения должны возникнуть свободные электроны, которые часто называют электронами отдачи. Из уравнений (8.64) легко оценить, какую долю энергии рентгеновского кванта унесет этот электрон, и связать изменение относительной интенсивности компонент рассеянного излучения со смещением АЯ. Полученные соотношения находятся в согласии с приведенными опытными данными. Следует заметить, что для не очень жесткого излучения паже при больших углах рассеяния уносимая электроном энергия составляет малую часть энергии фотона, что существенно отличает механизм данного процесса от фотоэффекта, где электрон забирал всю энергию налетающего фотона. Наличие электронов отдачи при рассеянии рентгеновского излучения было Подтверждено опытами Д. В. Скобельцына, наблюдавшего их следы (треки) в камере Вильсона. Остроумное видоизменение методики (помещение камеры во внешнее магнитное поле) позволило измерить энергии электронов. [c.449]

Интенсивность линий рентгеновского излучения определяется силой осциллятора и частотой соответствующего перехода, а также статистическим весом уровня атома. Вычисление сил осцилляторов представляет собой трудоемкую задачу. По данным экспериментальных исследований для излучения К-серии иененсивность определяется уравнением / = xi (L/—где Ukp — порог возбуждения серии i — ток, проходящий через трубку и — подаваемое напряжение показатель / =l,6-f-2 и — эмпирический параметр. Относительная интенсивность линий nei Tpa определяется вероятностью перехода между уровнями. Для наиболее часто используемой К-серии отношения ha. I, 2- 1л = = 10 5 2, а отношение Хгг X i =1,09. Значения относительной интенсивности линий К и /.-серий приведены и табл. 35.5 [2, 3]. [c.966]

В шестой колонке даны значения энергии (в мегаэлектрон-вольтах) основного -у Излучения, сопровождающего распад нуклида. В круглых скобках приведена интенсивность излучения (в процентах), отнесенная к полному числу распадов. В косых скобках указана (в процентах) относительная интенсивность v-излучения. Если после значения энергии скобки отсутствуют, это показывает, что интенсивность точно не определена. В ряде случаев приведен диапазон значений энергии Y-излучения. Символ 0,511 (ан.) означает, что v-излу-чение имеет аннигиляционное происхождение. Одной, двумя и тремя звездочками отмечены дублет, сложная линия и случай, когда все линии сложные. [c.1044]

В четвертом столбце приведены относительные интенсивности для тех же линий по стобалльной шкале или буквенные обозначения (в порядке убывания интенсивности о. о. с., о. с., с., ср.). Фазовый анализ проводится путем сравнения собственных экспериментальных значений межплоскостных расстояний и интенсивностей линий с табличными. При проведении анализа следует иметь в виду, что небольшие отклонения в составе могут привести к некоторому изменению межплоскостных расстояний, а съемка рентгенограмм на различных излучениях может несколько изменить относительные интенсивности линий. [c.39]

Наиболее известный для теплофизиков квадратурный метод решения интегро-дифференциального уравнения переноса излучения (3-18), предложенный в (Л. 329, 330], описан в [Л. 6]. Б математическом отношении этот метод заключается в аппроксимации интегро-дифференциального уравнения переноса излучения системой линейных дифференциальных уравнений. При этом подходе из бесконечного множества всевозможных направлений S в пределах сферического телесного угла 4л выбирается определенное число фиксированных направ-ле18ий S (i=l, 2,. .., я). Записывая уравнение переноса излучения для каждого фиксированного направления Si и заменяя в нем интеграл, учитывающий рассеяние, той или иной квадратурной формулой, приходят к системе линейных дифференциальных уравнений относительно интенсивности (s ) вдоль каждого из выбранных направлений Sj. Очевидно, что подобная аппроксимация будет тем точнее, чем большее число фиксированных направлений Si выбирается, но одновременно с этим усложняется н система дифференциальных уравнений, подлежащая математическому решению. Использование описанного квадратурного метода для исследования процессов переноса излучения при наличии рассеяния дало позитивные результаты (Л. 41, 42]. [c.112]

Здесь 7J/ j(w4 (Oi, Шз) — компоненты тензора нелинейной оптич. восприимчивости (см. Поляризуемость) 3-го порядка (i, j, к, L — индексы декартовых координат) частота исследуемого сигнала (Oi является алгебрам ч, суммой частот, вводимых в среду полей (Oi, Oj, og (т. о. 0i=(0i-l-(j)2-f Шз), нек-рые из к-рых могут оказаться отрицательными. D — численный коэф., учитывающий возможное вырождение среди частот а,,. . ., СО4. Одно или неск. полей ,(m ) (а=1, 2, 3), вводимых в среду, могут быть сильными (накачка), остальные — слабыми. При приближении одной из частот (Oj,. . ., (04 либо одной из их линейных комбинаций ( o)i IfOjI, Шг1 (йз1 и т.п.) к частоте разрешённого квантового перехода в исследуемой среде компоненты нелинейной восприимчивости x fki испытывают дисперсию. Соответственно, испытывают дисперсию и параметры зл.-магп. волны, источником для к-роп служит нелинейная поляризация (1). Стационарная когерентная А. л. с. с использованием лазерного излучения относительно невысокой интенсивности (для к-рого в разложении поляризации существен [c.38]

Видимый о1апаэон (3 10 Гц<у< 10 Гц 3000 А<Х< < мкм). Для выделения видимого Ф. к. и. из наблюдаемого диффузного излучения необходимо вычесть излучение относительно близких источников эмиссию атмосферы, зодиакальный свет (свет Солнца, рассеянный на межпланетной пыли), интегральный свет звёзд Галактики. Эмиссия атмосферы. становится несущественной при наблюдениях за пределами земной атмосферы. При наземных наблюдениях для её исключения вводят поправку, основанную на исследованиях пропускания атмосферы под разными углами к зениту. Вклад зодиакального света можно в принципе учесть, запуская космич. аппараты перпендикулярно плоскости эклиптики на расстояние 1 а. е., т. е. в область, где практически нет межпланетной пыли. Другой, более доступный ныне путь состоит в использовании моделей свечения зодиакальной пыли, а также в наблюдениях видимого Ф. к. и. во фраунгоферовых линиях, где слабо излучение Солнца и поэтому ослаблен зодиакальный свет. Проводятся интенсивные исследования свойств зодиакального света с ракет и спутников с целью выделения видимого Ф. к. и. Третий фактор можно оценить по ф-ции светимости и пространств, распределению звёзд в Гклактике. Этот фактор вносит гл. неопределенность при исследовании внегалактич, компонента оптич. свечения неба. [c.337]

РСМА основан на регистрации рентгеновскими спектрометрами эмиссионного рентгеновского излучения, возбужденного пучком электронов с энергиями 1—50 кэВ, сфокусированных на образце в пятно диаметром 1 мкм. Измеряя длину волны и интенсивность характеристического рентгеновского излучения, отнесенную к интенсивности эталона, определяют, какие элементы присутствзпот в выбранном мнкрообъеме и каковы их концентрации. Относительная интенсивность ё-того элемента ki=Ii I У определяется измерением интенсивностей (за вычетом интенсивностей фона) Л-для образца и для эталона, содержащего 100 % -того элемента (при использовании в качестве эталона химического соединения с известным содержанием -того элемента ki = = , где —расчетная интенсивность [c.144]

Я,=0,709 А) и затем вычесть из измеренной суммарной относительной интенсивности ( з + + Мо ) значение Ошибка в полученно таким образом значении связана с тем, что не учитывается разница коэффициентов поглощения в образце излучений МоК и Аналогично поступают и при анализе карбо-нитридов Т1(С, К). [c.146]

Если уравнение (8.126) решить совместно с граничными условиями (8.1256) и (8.125в) относительно интенсивности/(т, (х), то, подставив полученное выражение для интенсивности в (8.124а) и (8.124в), получим необходимые соотношения для расчета распределения температуры и плотности потока результирующего излучения в среде. Однако в настоящей главе мы уже рассматривали формальное решение уравнения (8.126) с используемыми здесь граничными условиями и получили формулы для G(t) и (т). Поэтому, избегая повторений, можно просто записать формальные соотношения для G t) п вое- [c.306]

Заметим, что такой характер распределения поглощения по полосам является результатом комбинированного действия спектрального распределения энергии излучения Солнца, падаюгцей на верхнюю границу атмосферы, и относительной интенсивности полос. [c.670]

Хотя сходящиеся волны неминуемо распадаются, они играют большую роль в теории Hey Tof 4HBbix резонаторов. Из того же рис. 2.22 ясно, что если в резонаторе по каким-либо причинам, например вследствие краевых эффектов, возникает близкая к сходящейся волна, то на протяжении нескольких первых обходов весь переносимый ею поток излучения целиком остается внутри резонатора. За это время плотность потока излучения, относящегося к основной расходящейся волне, успевает уменьшиться во много раз. В результате относительная интенсивность попавшего в сходящуюся волну света соответственно возрастает (отметим, что при наличии возбужденной активной среды этот свет усиливается не только по относительной, но и по абсолютной интенсивности). По мере приближения к сходящейся волне этот выигрыш в интенсивности, а с ним и роль рассеянного света становятся все более значительными. [c.115]

Тнп Мощ- ность, Вт Напряжение на лампе, В Род тока Ток, А Свето- ВОЙ поток, лм время разгорання, мин Длина дуги, мм Напол- нение Основные длины волн излучения мкм Относительная интенсивность излучения, % [c.54]

На рис. 88 показана температурная зависимость интенсивности рентгеновского излучения, рассеянного аэрозольными частицами свинца диаметром 200 А [564, 512]. Как видно, экспериментальные данные сильно отличаются от теории Марадудина и Флинна [579], учитывающей тепловое расширение решетки и ангармонические члены разложения потенциальной энергии до 4-го порядка включительно. Можно было бы отнести экспериментальные результаты за счет понижения дебаевской температуры у малых частиц РЬ, но тщательное одновременное измерение параметра решетки и температурного хода относительной интенсивности рентгеновского излучения, рассеянного аэрозольными частицами Ап и Си, опровергает это объяснение [565]. Результаты работы [565] сведены в табл. 17. Согласно соотношению Грюнайзена А9/0 = — yAF/F, где у — постоянная Грюнайзена (7 = 3,0 для Ли и 7 = 2,0 для Си [580]), AF/F — относительное изменение объема частицы, эффективному уменьшению должно соответствовать следующее увеличение параметра решетки Да 0,066 А для Ап и 0,061 А для Си. Поскольку параметры решетки мелких и крупных частиц Аи и Си совпадают в пределах погрешно- [c.204]

Наряду с возможно меньшей вероятностью срыва процесса формирования импульсов другим важным параметром, характеризующим качество синхронизации мод в лазере, является возможно меньшее значение вероятности образования двойных импульсов. Для оценки этой вероятности надо рассчитать вероятностное распределение отношения Z интенсивности. максимального импульса к интенсивности второго по величине импульса Z = /i (/()//2 (/(). Эту функцию распределения мы рассчитаем сначала для конца линейной фазы. Поле излучения в течение этой фазы содержит М=и1хс Ко) флуктуационных выбросов. Вероятность того, что относительная интенсивность максимального выброса находится в интервале (Pi, Pi + dPi) (Pi = /i (/(o)/), a относительная интенсивность ближайшего по интенсивности выброса находится в интервале (Рг, Р2 + Ф2), в то время как интенсивности всех остальных (М — 2) импульсов лежат в интервале (О, Рг), определяется следующим выражением [7.11] [c.249]

Интенсивности линий рентгеновского излучения определяются силами осцилляторов и частотами соответствующих переходов, а также статистическими весами уровней атомов. Вычисление сил осцилляторов представляет собой очень трудоемкую задачу. Однако для относительных интенсивностей линий внутри одного мультиплета можно получить простые соотношения, воспользовавшись следующим правилом Бургера—Дор-гело если расщеплением начальных (конечных) уровней пренебречь, то суммы интенсивностей тех линий. [c.805]

Колонка 6 — указаны значения энергии в мегаэлектронвольтах основного Y-излучения, сопровождающего распад нуклида. В круглых скобках приведена интенсивность у-излучения (в %), отнесенная к полному числу распадов. В косых скобках приведена (в %) относительная интенсивность у-излучения. Если после значения Энергии скобки отсутствуют, это показывает, что значения интенсивностей точно не определены. В ряде случаев указан диапазон значений энергии у-из-лучения. Символ 0,511 (ан.) означает, что у-нзлучение имеет аннигилляционное происхождение. [c.825]

Таблица 3.7. Длина волны, соответствующая максимуму ФЛ, и относительная интенсивность ФЛ структуры GaAs-AlAs, возбуждаемой излучением с длиной волны 670 нм, при разных температурах

Однако спектроскопические исследования не всегда сводятся к обнаружению в спектре двух или нескольких близких спектральных линий, а ставят своей целью изучение распределения энергии в спектре излучения источника, определение формы и ширины отдельных линий излучения или поглощения, измерение относительной интенсивности отдельных линий и др. При такого рода исследованиях важно знать, в какой степени кепосредствснпо измеренные спектроскопические характеристики соответствуют истинным характеристикам излучения. [c.40]

Порошки приготовляли легким истиранием в агатовой ступке небольшой пробы вещества, затем запрессовывали их в колло-диевый капилляр диаметром 0.5 мм. Съемка порошкограмм осуществлялась в дебаевских камерах I)=57.3 мм на установке УРС-55А. Источником излучения служила рентгеновская трубка БСВ-2 Ре без фильтра. При нагрузке на анод трубки / = 14 ма и 7=35 кв экспозиция составляла от 14 до 20 час. Пленка в камерах располагалась асимметрично и все поправки при расчете рентгенограмм, учитывающие погрешность анализа, вносились аналитическим путем. Относительные интенсивности рефлексов отражения оценивались визуально по десятибалльной шкале, причем самой слабой линии приписывался 1 балл, а самой сильной — 10. По найден- [c.73]

Как уже отмечалось выше, возможно и другое применение хЛ1етода относительных. интенсивностей. Независимым путем определяется Те, например, методом исследования контура линии томсоновского рассеяния лазерного излучеиия и, зная Тс, можно найти сечения различных процессов. Для этого следует определить относительные или абсолютные яркости линий, сечения возбуждения которых определяются. Этот метод применялся для определения сечений возбуждения линий ионов неона 62], линий изоэлектронного ряда лития (О VI, N V, Ne VIII) 63, 64, линий О VII [65] н линий N V [66]. Возбуждение линий N V происходит из основного состояния иона электронным ударом. Для плазмы достаточно низкой плотности распад возбужденных состояний ионов происходит только путем излучения и можно не учитывать вторичные процессы. Следовательно, общее число возбуждений равно общему числу испущенных фотонов. Это означает, что для определения сечения надо измерить абсолютную интенсивность спектральной линии, иайти Тс и N . [c.360]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...