Фотопластинок метод

В фотографическом методе исходят из того, что степень почернения фотопластинки пропорциональна количеству падающей на нее световой энергии. [c.20]

Схема опыта Винера (а) и фотография, полученная таким методом (6) -фотопластинка, AF-зеркало [c.78]

Метод регистрации фазы волны и ее восстановления, разобранный выше на примере плоской волны, называется голографией. В переводе с греческого голография означает полная запись , т. е. в названии подчеркнута возможность регистрации исчерпывающих сведений о волновом поле на поверхности приемника света. Фотопластинка, на которой зафиксирована интерференционная картина [c.238]

Рассмотрим один из методов прикладной голографии, именуемый голографической интерферометрией и нашедший очень широкое распространение. Сущность этого метода в простейшем варианте заключается в следующем. На одну фотопластинку последовательно регистрируются две интерференционные картины, соответствующие двум разным, но мало отличающимся состояниям объекта, например, в процессе деформации. При просвечивании такой двойной голограммы образуются, очевидно, два изображения объекта, измененные относительно друг друга в той же мере, как и объект в двух его состояниях. Восстановленные волны, формирующие эти два изображения, когерентны, интерферируют, и на поверхности изображения наблюдаются полосы, которые и характеризуют изменение состояния объекта. [c.269]

Распознавание образов. Во многих областях науки и техники требуется решать задачи, связанные с выделением сигнала, предмета или образа из совокупности подобных ему, но имеющих некоторые отличия. Существует общий метод оптимального решения таких задач. Он основан на преобразовании сигнала, несущего информацию об объекте, в спектр частот исходного сигнала, который подвергают дальнейшей обработке (фильтрации) с помощью частотных фильтров, пропускающих лишь излучения определенных частот. Оптический сигнал, представляющий собой распределение амплитуд и фаз световой волны, идущей от объекта, также может быть разложен на частотные составляющие. Однако в отличие от частот радиодиапазона (временных), свет разлагается на пространственные частоты, которые можно наблюдать непосредственно на. экране или проявленной фотопластинке. [c.50]

Впервые метод коррекции изображений с помощью голографических компенсаторов был применен для коррекции линзовых аберраций. Так, на. этапе изготовления голографического компенсатора на фотопластинке Ф получают голограмму искажающего. элемента — аберрационной линзы Л (рис. 17, а). При компенсации аберраций (рис. 17, 6) голограмму Г располагают по отношению к линзе в том же положении, как и при регистрации, и через нее осуществляют наблюдение [c.54]

Другой метод получения голограммы. эталонной поверхности представляется более перспективным—.это метод получения синтезированных голограмм. Здесь не требуется. эталонного оптического. элемента. Его заменяет математический расчет. Синтезированные голограммы вначале рассчитывают с помощью специальных математических методов, требующих применения ЭВМ, в результате которого получают математическую модель дифракционной решетки, которая способна оптически восстановить световую волну соответствующей. эталонной поверхности. Затем изготовляют такую дифракционную решетку либо с помощью специального оптического прибора, управляемого ЭВМ, который по расчетным точкам засвечивает фотопластинку узким сфокусированным лучом, либо механическим способом наносят риски на поверхность стекла, покрытого пленкой металла, также по расчетным траекториям. Как следует из сказанного выше, синтезированные голограммы могут воспроизвести оптические волны любой математически идеальной поверхности, и в. этом их большое преимущество перед первым методом. [c.101]

В 1947 г. английский физик Пауэлл с сотрудниками облучил на высокой горе космическими лучами ядерные фотопластинки и после проявления обнаружил на них, кроме следов протонов, также следы частиц с массой 200- -300/Пе, которые естественно было считать известными уже нам .-мезонами. Однако более подробное изучение зарегистрированных следов, проведенное описанными выше методами, показало, что на самом деле эти следы вызваны новыми неизвестными до сих пор частицами. [c.563]

Основным недостатком описанного варианта фотографического метода является малая толщина эмульсионного слоя в используемых фотопластинках в нем могут полностью укладываться только пробеги частиц, летящих параллельно плоскости слоя. Очевидно, что для надежного детектирования заряженных частиц независимо от направления их полета желательно иметь эмульсионный блок с примерно одинаковыми размерами по всем осям. Однако толщину эмульсионного слоя на фотопластинке увеличивать беспредельно нельзя, так как уже для толщины [c.590]

В отличие от фотопластинки, где на большой длине могут быть просмотрены только горизонтальные следы , а все наклонные выходят за пределы эмульсионного слоя, в эмульсионной камере наклонные следы, выйдя из данного слоя, продолжаются в соседнем, затем в следующем и т. д., пока частица не остановится или не выйдет за пределы эмульсионной камеры. Для того чтобы можно было быстро находить продолжения следов в соседних эмульсионных слоях, на все слои перед разборкой эмульсионной камеры наносится (при помощи рентгеновских лучей или оптическим методом) единая координатная прямоугольная сетка с расстояниями между линиями в несколько миллиметров. Таким образом, поиск продолжения следа в соседнем слое производится в определенном квадрате, расстояния от сторон которого могут быть измерены при помощи окулярной шкалы микроскопа. Если сопоставление следов в соседних слоях сделано правильно, то координаты конца следа в одном слое должны совпадать с координатами начала следа в соседнем слое. [c.591]

Основным недостатком описанного выше ( 12) варианта фотографического метода является малая толщина эмульсионного слоя в используемых фотопластинках в нем могут полностью укладываться только длины пробегов частиц, летящих [c.162]

Для совмещения фотопластинки с фокальной поверхностью производится фокусировка камерной части. Это делается в несколько этапов. Прежде всего производится предварительная фокусировка с помощью лупы и матового стекла. После этого фокусировка ведется фотографическим способом по методу последовательных приближений. Пользуясь тем, что ось вращения кассетной части камеры лежит в плоскости фотопластинки, вначале производится фокусировка камерного объектива для узкого участка спектрограммы вблизи оси вращения. Из серии последовательных фотоснимков, сделанных на одной пластинке при одинаковых временах экспозиции, но при различных положениях камерного объектива, выбирается такой снимок и такое положение объектива, при которых указанный узкий участок спектрограммы имеет наиболее резкие изображения линий . [c.27]

Для того чтобы измерить относительную интенсивность / = — х/Ь двух линий аналитической пары достаточно определить отношение любых пропорциональных их величин. С этой целью можно воспользоваться характеристической кривой фотопластинки, дающей однозначную связь между почернением фотографической эмульсии и интенсивностью падающего на нее света (см. введение). Измерив почернения и линий на спектрограмме, по характеристической кривой, построенной для той же пластинки, можно найти соответствующие значения lg/l и lg/2, разность между которыми дает искомое значение Ig/l//2 = Ig . Этот способ нахождения относительных интенсивностей получил название метода фотографической фотометрии. [c.44]

График зависимости Я= (С), построенный с помощью серии эталонов в соответствии с формулой (1.28) или. (1.29), носит название твердого градуировочного графика. Его положение не зависит от свойств фотопластинки, условий протекания фотографического процесса и в значительной степени от случайных вариаций условий возбуждения. Для небольших интервалов концентраций градуировочный график (1.29) прямолинейный и наименьшее количество эталонов, достаточное для его проведения, равно двум. Для контроля прямолинейности графика обычно используется еще третий эталон с промежуточной концентрацией — метод трех эталонов. [c.44]

В методе трех эталонов, когда проба и эталоны фотографируются одновременно и градуировочный график строят для каждой фотопластинки, определение ошибки анализа удобно проводить с помощью того же графика. Работая в области нормальных почернений фотопластинки, можно использовать уравнение градуировочного графика [c.48]

В этом случае подготовка образца к исследованию и юстировка установки производится так же, как и при фотографическом методе. Однако камера с фотопластинкой заменяется выходным коллиматором с записывающим устройством (рис. 46). [c.131]

Метод голографической интерферометрии (МГИ) основан на способности голограмм когерентно складывать комплексные амплитуды волн, попадающих на фотопластинку неодновременно, например спустя некоторое время друг после друга. Если фотопластинка экспонируется в течение различных интервалов времени =1, 2,. .., п, то в результате п когерентных изображений (как мнимых, так и действительных) исходного объекта будут испытывать линейную суперпозицию, а следовательно, интерферировать друг с другом. [c.236]

Метод спекл-интерферометрии основан нз регистрации на одну и ту же фотопластинку двух изображений объекта в различных состояниях (например, исходном и деформированном) при освещении его лазерным светом. Как известно, изображение поверхности диффузных объектов в лазерном свете представляет собой своеобразную пятнистую структуру, состоящую из множества хаотически расположенных бликов (спеклов). Возникновение спекл-эффекта обусловлено усреднением диффузно-когерентных волновых полей в плоскости изображения, причем возникающая при этом интер( реи-ционная структура модулируется микрорельефом поверхности, представляющим собой случайную функцию координат. [c.79]

Фотопластинок метод 51 Фотоэлектронный умножнтель 43 - 44 Фотоэмульсий 51 Фоторасщепление дейтрона 289 Фотоэффект 31 [c.396]

Малейшее изменение формы объекта из-за деформащп в промежутке между двумя регистрациями изменяет фазу п[)едметной волны. Следовательно, если в промежуток времени между двумя экспозициями (важно, чтобы фотопластинка не сдвинулась между двумя экспозициями) произошли какие-то деформации, то при просвечивании этих голограмм увидим изображение объекта, перерезанное интерференционными полосами, но форме которых можно судить о характере деформации. Точность измерения этого метода весьма высокая он позволяет измерить деформации порядка десятой доли микрона. Возможности ко[1троля размеров, формы и качества обработки сложных деталей с помощью голографии сделают этот метод наиболее ценным в производстве. [c.222]

При различных приложениях полезен переход от фотографической регистрации интерференционной картины к фотоэлектрической записи. В этом случае исключается трудоемкая и чреватая дополнительными ошибками операция перехода от почернений фотопластинки к ее освещенности. Это важно тогда, когда исследователя интересует не только положение, но и относительная интенсивность компонент изучаемой структуры. Основы фотоэлектрического метода были разработаны в 50-х годах нашего столетия группой французских физиков (Жакино, Дюфур, Шабаль и др.). За последние годы фотоэлектрический метод получил широкое распространение, особенно в связи с исследованиями в области лазеров. [c.250]

Остановимся подробнее на описании этого интересного метода получения и восстановления голограммы. Для получения голограмм при облучении лазерным светом толсто( лойных фотографических пластинок используются встречные световые потоки опорной и предметной волны. После обработки фотопластинки в толще эмульсии возникает слоистая структура с расстоянием между слоями d = /./2, где /. — длина волны излучения лазера, используемого для освещения объекта и в качестве опорной волны. Если угол встречи опорной и предметной волны меньше [c.359]

Теория атомного или дискретного строения вещества получила всеобщее признание только в начале 20-го столетия. Это было связано с открытием метода рентгеноскопии, в котором исследуемое вещество помешается в пучок рентгеновского излучения и на фотопластинке фиксируется картина после прохождения пучка через слой исслелуемого вещества. Рассеяние рентгеновских лучей иногда приводит к появлению интерференционной картины, которая имеет расположенные в строгом порядке минимумы и максимумы. [c.192]

Открытие фотографии и ее успехи сыграли решающую роль в исследовании ультрафиолетовых лучей, ибо фотографическая пластинка оказывается к ним весьма чувствительной. Исследование ультрафиолетового излучения удобно также производить по его сп Усоб-ности возбуждать свечение многих тел (флуоресценция и фосфоресценция) и вызывать фотоэлектрический эффект. Фотографировать можно также и инфракрасное излучение, применяя особым способом обработанные фотопластинки (сенсибилизация, см. гл. XXXV). Таким путем удается, однако, дойти лишь до 1= 1,2—1,3 мкм. Значительно дальше простирается чувствительность к инфракрасным лучам у современных фотоэлементов и фотосопротивлений, с помощью которых можно регистрировать инфракрасное излучение примерно до 100 мкм. Используя влияние инфракрасных лучей на яркость фосфоресценции (см. гл. XXXVIII), удалось исследовать область спектра до 1,7 мкм. Однако тепловой метод, применимый для любой длины волны, является и доныне весьма распространенным при работе с инфракрасным излучением, особенно для длин волн больше 2 мкм. Конечно, при этом применяются весьма чувствительные термометры, особенно электрические (сверхпроводящие и обычные болометры и термопары), позволяющие констатировать подъем температуры на миллионную долю градуса (10 К). [c.401]

И, наконец, четвертый метод голографической интерферометрии— стробоголографический. Он применяется совместно с методом голографической интерферометрии регщьного времени. Вначале получают голограмму неподвижной поверхности объекта и после проявления возвращают фотопластинку в исходное положение. Затем возбуждают вибрацию поверхности и освещают ее во время каждого периода колебаний коротким световым импульсом. Если импульс достаточно короткий, то этот метод эквивалентен методу голографической интеферометрии реального времени для неподвижных объектов. Но так как световой импульс может освещать вибрирующую поверхность в различных фазах колебания,. этот метод дает возможность сравнивать положение поверхности в любой фазе колебаний с положением неподвижного объекта. [c.30]

В методе спекл-фотографии предмет освещается единственным световым пучком. Часть пучка, рассеянного поверхностью предмета, собирается с помощью линзы на фотопластинку. Фотозапись на. эту пластинку осуществляется дважды до смещения предмета и после смещения. [c.34]

Эндоскопические оптические приборы предназначены для рассмотрения внутренних поверхностей и предметов в труднодоступных полостях и объемах. Сегодня медицинская и техническая. эндоскопия превратилась в обширную и быстроразвивающуюся отрасль оптического приборостроения. Весьма перспективным является использование в >ндоскопии голографических схем с применением. элементов волоконной оптики различных типов. Они позволяют существенно упростить конструкцию голографических схем при введении в одну из ее оптических ветвей — объектную или опорную, или обе одновременно — световодов. При. этом уменьшается число необходимых. элементов, габаритные размеры и масса схемы, увеличивается ее светосила и, что весьма важно, помехозащищенность (от пыли, вибрации и т. п.). Использование световодов в юлографии существенно расширяет области применения интерференционных методов исследования изучение труднодоступных объектов и закрытых полостей, упрощение получения голограмм объектов одновременно для нескольких углов освещения (.это особенно важно при исследовании неоднородностей сложной формы). При этом возможно получение на одной фотопластинке при ОДНОМ общем опорном пучке одновременно несколь- [c.77]

Одним из методов получения голограммы эталонной поверхности является голографическая регистрация световой волны, отраженной или прошедшей через эталонный элемент, например линзу. Схема регистрации голограммы аналогична оптической схеме, приведенной на рис. 40, а. На место линзы 4 в оптическую схему помещают. эталонную линзу, профиль которой измерен другими методами. Волна, прошедшая через линзу и представляющая собой предметную волну, посредством зеркал 5 9 освещает фотопластинку 8. Вторая волна, отраженная зеркалами 3 и /о, является опорной волной и также падает на фотопластинку, на которой рег истрируется результат интерференции объектной и опорной волн. Проявленная фотопластинка — голограмма устанавливается с помощью специальных кинематических держателей на прежнее место в оптической схеме. Если ее осветить одной лишь опорной волной, то за голограммой будут распространяться две волны — опорная и восстановленная объектная волна, несущая информацию о профиле. эталонной поверхности. [c.101]

Рассмотрим принципы работы голографического интерферометра фазовых объектов на примере метода голографической интерферометрии двух экспозиций, хотя в. зтом приборе можно применять и другие известные методы (например, метод реального времени). Основы метода двух экспозиций и возможности его практического применения были рассмотрены в гл. 1. Голографическая интерферометрия фазовых объектов отличается следующими особенностями. Во время первой. зкспозиции фотопластинка в голографическом интерферометре освещается опорной и объектной волнами при отсутствии в рабочей [c.106]

Рассмотрим применение голографических методов контроля дефектов второго рода на примере склеивания системы из двух прямоугольных пластин. Для этих целей обычно используют метод голографической интерферометрии в реальном времени. Систему из свежесклеенных пластин помещают в схему голографического интерферометра и регистрируют исходное состояние одной из поверхностей пластин на фотопластинке. После ее проявления и установки на прежнее место в реальном времени наблюдают процесс высыхания или полимеризации клея. Если система не деформируется, то через голограмму будет видна чистая поверхность пластины без интерференционных полос, в противном случае возникает покрывающая объект интерференционная картина, которая характеризует изгиб склеиваемых элементов. Такой экспресс-контроль позволяет выбрать наиболее правильные, оптимальные режимы склейки, подобрать необходимые материалы и марку клея для снижения деформаций. В целях проведения контроля деформаций при клеевом соединении оптических. элементов можно использовать голографический интерферометр, представленный на рис. 4.3. Если склеиваемые изделия непрозрачны, то оптическую схему для диффузно отражающих объектов собирают на голографическом стенде. [c.109]

Контроль остаточных напряжений в однослойном покрытии. Рассмотрим метод определения остаточных напряжений на примере оптической схемы получения голограмм сфокусированных изображений. Фотообъектив, помещенный между фотопластинкой и образцом, фокусирует изображение поверхности объекта на плоскость фотопластинки. Причем их плоск(К1и должны быть параллельны. В этом случае достигается наибольшая чувствительность к нормальной компоненте вектора перемещения (т. е. к прогибу образца /) Существенным преимуществом голограмм сфокусированных изображений является возможность получения увеличенного изображения объекта, а следовательно и ббльщего оптического разрещения интерференционных полос. Кроме того, при восстановлении интерферограмм можно пользоваться источником естественного света. [c.116]

В методе двухэкспозиционной голографической интерферометрии для регистрации деформации подложек во время первой экспозиции на фотопластинке фиксируется исходное состояние их поверхности с той стороны, где нет пленки. После удаления пленки, например с помощью химического травления, производится временная выдержка для установления термодинамического равновесия и осуществляется вторая экспозиция той же поверхности подложки. В результате, при восстановлении интерферограммы наблюдается интерференционная картина, которая характеризует прогиб образца W (х) в зависимости от координаты X N-v темной полосы [c.116]

В 1948 г. советским физиком В. В. Алперсом (а также несколько позднее независимо от него О Деллом и др., Пауэллом, Лалом и др. за границей) был разработан метод, получивший название эмульсионной камеры. Сущность этого метода заключается в том, что облучению подвергаются не фотопластинки, а толстые эмульсионные пачки, составленные из отдельных слоев фотографической эмульсии (без стекол), удобной для обработки и просмотра толщины (300—600 мм). После облучения пачка разбирается на слои, каждый из которых проявляется и просматривается отдельно (рис. 253). [c.590]

Голографические методы контроля. Методы основаны на интерференции световых волн. Источником световых волн являются оптические квантовые генераторы, позволяющие получать свет с определенной длиной волны (монохроматические волны) и в определенной фазе колебаний (когерентные волны). Использование лазеров (лазерных диодов) позволяет восстанавливать мнимое объемное изображение объекта в целом либо части этого объекта. Фиксируя на детекторе (фотопластинке или экранр монитора) наложенные изображения состояния объектов (например, без нагрузки и под нагрузкой), получают интерференционные картины, которые являются источником информации о наличии дефектов в объектах контроля. При этом интерференционные картины весьма чувствительны к незначительным перемещениям частей поверхности, которые появляются в области концентрации напряжений объекта контроля вследствие наличия в нем дефекта. Метод, основанный на голографический интерференции световых волн, применяется в основном для анализа напряженно-деформированно-го состояния сварных соединений и контроля за остаточными сварочными напряжениями. [c.211]

МОЩЬЮ трудно произвести сколько-нибудь точное измереьие интенсивности пучков. Если же фотографический метод регистрации заменить электрическим, например, поставить вместо фотопластинки цилиндр Фарадея, то точность измерения масс уменьшится, но зато появится возможность точного измерения интенсивности. Приборы такого типа называются масс-спектрометрами. Масс-спектромегры измеряют не энергию связи, а количество ионов с данным массовым числом, т. е. изотопный состав элеменгов. Определение изотопного состава требуется во многих областях науки и техники (см. гл. XIII). [c.40]

Метод протонов отдачи основан на том кинематическом факте, что нейтрон, сталкиваясь с протоном, передает ему энергию и импульс. По энергии и импульсу протона часто удается сделать заключение не только о наличии нейтрона, но и о его энергии. Протоны отдачи регистрируются различными способами ионизационными камерами, пропорциональными счетчиками, сцинтилляционными счетчиками, фотопластинками, следовыми камерами. Водород либо просто содержится в веществе детектора (например, водорода много в фотоэмульсии), либо вводится в рабочий объем детектора в виде водородосодержащих газов или покрытий. Метод протонов отдачи применим при всех энергиях, начиная с мегаэлектронвольтной области. Для очень высоких энергий этот метод — практически единственный. Достоинством метода протонов отдачи являются универсальность и возможность измерять энергию нейтронов. Его главный недостаток — низкая эффективность регистрации (из-за малости сечения рассеяния п — р при высоких энергиях). [c.521]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...