Спеклы

Если снять голограмму объекта, то спеклы будут наблюдаться и в восстановленном изображении, что в значительной степени снижает его качество, подобно высокой зернистости в фотографии. Поэтому специалисты работали над тем, как устранить спеклы. Но вскоре было замечено, что спекл-зффект можно успешно использовать для создания новых методов измерений. [c.33]

Спекл-интерферометрия, также как и голографическая-интерферометрия, где для освещения обычно используют лазерные источники, позволяет измерять смещения (статические и динамические) и исследовать форму оптически грубой поверхности с чувствительностью порядка длины волны света. По.этому новые интерферометрические методы можно рассматривать как перенос методов классической интерферометрии на широкий класс объектов и систем, которые находились ранее за их пределами. Спекл-интерферометрия развивалась на принципах голографической интерферометрии и базируется на спекл-эффекте, который приводит к формированию случайной интерференционной картины, наблюдаемой при рассеянии когерентного света на оптически грубой поверхности. [c.33]

Первый из выделенных выше методов — корреляционная спекл-интерферометрия — представляет собой измерительный метод, в котором происходит когерентное сложение (интерференция) поля, имеющего спекл-структуру, с плоской опорной волной или с другим полем, имеющим спекл-структуру. Чувствительность. этого метода сравнима с чувствительностью голографической интерферометрии. [c.33]

Развитие методов спекл-интерферометрии показало, что чувствительная к смещениям картина интерференционных [c.33]

Плоскость записи может совпадать с плоскостью изображения предмета, может лежать в фокальной плоскости линзы либо в какой-либо промежуточной плоскости (несфокусированные спеклы). Картины спеклов, записанные в плоскости изображения, приводят к появлению системы интерференционных полос, чувствительных к смещениям в плоскости предмета. [c.34]

Выше была рассмотрена особенность отраженной от поверхности когерентной световой волны, проявляющаяся в возникновении спекл-структуры. Как было показано, она характеризуется микроструктурой поверхности, т. е. ее шероховатостью. [c.111]

Рассмотрим метод определения шероховатости поверхности по корреляции (степени подобия) между двумя спекл-структурами, полученными при различных углах падения лазерного пучка. [c.111]

Ф две спекл-структуры, полученные при двух разных углах падения, как показано на рис. 44, а. [c.112]

Если при заданном угле падения 0 его изменение ДО достаточно велико, смещение картины спеклов будет сопровождаться изменением ее микроструктуры, которое обусловлено именно шероховатостью поверхности S. После проявления фотопластинки Ф негатив наблюдают в параллельном пучке света, пользуясь схемой, показанной на рис. 44, б. В фокальной плоскости объектива О будут наблюдаться прямолинейные параллельные полосы, угловое расстояние между которыми равно к/хц, где л — длина волны источника света. Контраст (ч полос зависит от шероховатости поверхности и определяется выражением [c.112]

Метод спекл-интерферометрии основан нз регистрации на одну и ту же фотопластинку двух изображений объекта в различных состояниях (например, исходном и деформированном) при освещении его лазерным светом. Как известно, изображение поверхности диффузных объектов в лазерном свете представляет собой своеобразную пятнистую структуру, состоящую из множества хаотически расположенных бликов (спеклов). Возникновение спекл-эффекта обусловлено усреднением диффузно-когерентных волновых полей в плоскости изображения, причем возникающая при этом интер( реи-ционная структура модулируется микрорельефом поверхности, представляющим собой случайную функцию координат. [c.79]

Фотография объективных спеклов. [c.604]

Средний поперечный диаметр спекла [c.604]

Рис. 3. Схема образования субъективной спекл-структуры (структуры изображения) Л — лазер РП — рассеивающая поверхность Ь — линза а — точка изображения.

Спекл-структура изображений проявляется как при фотографировании в когерентном свете, так и в голографии. В последнем случае размеры С. также определяются по ф-лам (1) и (2), где а — угл. размеры голограммы. [c.604]

Если проводить общую классификацию, то в спекл-интерферометрии можно выделить два основных метода корреляционную спекл-интерферометрию и спекл-фото-графию. В каждом из этих методов оптически шероховатая поверхность регистрируется в начальном положении и смещенном относительно него, затем анализируется картина интерферевщионных полос. Отличия метода спекл-фото-графии от корреляционной спекл-интерферометрии заключаются в возможности изменения чувствительности к значению смещения и в отсутствии опорного пучка при фотозаписи. [c.33]

В методе спекл-фотографии предмет освещается единственным световым пучком. Часть пучка, рассеянного поверхностью предмета, собирается с помощью линзы на фотопластинку. Фотозапись на. эту пластинку осуществляется дважды до смещения предмета и после смещения. [c.34]

Поверхность любого изделия имеет только для нее одной характерную микроструктуру, при освещении которой когерентным светом наблюдается спекл-структура. Если зарегистрировать голографическую интерферограмму деформации поверхности методом двух жспозиций, причем между двумя. экспозициями повредить часть поверхности, т. е. нарушить ее микроструктуру, то при восстановлении интерферограммы в поврежденных местах будут отсутствовать интерференционные полосы. Это происходит из-за того, что интерферировать между собой способны только сходственные точки, точки поверхности, которые отражали свет во время пепвой и второй экспозиций. [c.111]

В случае гладких и непрерывны смещений поверхности объекта между экспозициями в пределах достаточно малой области происходит смещение образованных спеклами нерегулярных дифракционных решеток на постоянную величину, равную смещению между соответственными точками поверхности. При освещении спекл-фотогра-фии пучком лазера на экране возии кает система параллельных полос с шя- [c.79]

S — вектор перемещения спеклов. Очевидно, что для получения трех компонент вектора перемещения необхо ДИМЫ две спекл-интерферограммы, по лучаемые с помощью двух фотокамер. Оптические оси фотокамер обычно орто -гональны, так как при этом вычис.пё-ние компонент вектора перемещений в декартовых координатах, равных U = S sin Р и а = S os Р (fi — угол наклона полос к горизонтали), существенно упрощается. [c.79]

Для определения малых значений р у тесных двойных звёзд успешно применяются методы спекл-интер-ферометрии. Если компоненты двойной имеют примерно одинаковый блеск и сходные спектры, то полусумма масс даёт достаточно надёжную оценку массы каждого ко.мпонента и без дополнит, определения отношения Mi/Aij. [c.59]

СПЕКЛ-ИНТЕРФЕРОМЁТРИЯ в a тpoяo-м и и — метод наземных оптич. наблюдений, основанный на анализе тонкой структуры мгновенных изображений космич, объектов. С.-и. позволяет получать высокое угл. разрешение при наличии атм. искажений изображения. [c.603]

Наблюдения методом С.-и. начаты в 1972. Вначале спекл-изображения регистрировали на фотоплёнку, ныне преик. используют телбвиз. счётчики фотонов. АКФ вычисляют, как правило, в реальном времени с [c.603]

Повышается точность измерений. В частности, нредложено измерять смещения спеклов в зависимости от длины волны, чтобы на существую1цих телескопах получить эфф. разрешение до 0,0001". [c.604]

СПЁКЛЫ от англ, spe kle — пятнышко, крапинка) — пятнистая структура в распределении интенсивности когерентного света, отражённого от шероховатой поверхности, неровности к-рой соизмеримы с длиной волны света Я, или прошедшего через среду со случайными флуктуациями показателя преломления. С. возникают вследствие интерференции сеета, рассеиваемого отд. шероховатостями объекта. Т. к. поверхность предмета освещается когерентным светом, то интерферируют все рассеянные лучи и интерференц. картина имеет не периодическую, а хаотич. структуру. На рис. 1 представлена фотография спекл-структуры, возникающей при рассеянии высокоинтенсивного (лазерного) пучка света, проходящего через матовое стекло. [c.604]

Спеклы мешают рассматриванию объектов, освещённых когерентным светом, поэтому для их устранения используют разл. методы, сводящиеся либо к существ, уменьшению размеров С., либо к усреднению спекл-структуры во времени при случайном изменении распределения фазы волны, освещающей объект (или голограмму). Но С. имеют и широкое практич, применение в спекл-фотографив и спекл-интерферо-метрии [1—3, 5] для регистрации перемещений к деформаций объектов с диффузной поверхностью, для измерения шероховатостей поверхности, в астрономии [c.604]

Простейший вариант спекл-фотографии сводится к фотографированию объекта на одну и ту же фотопластинку до и после смещения или деформации. При освещении полученной таким способом спекл-фотографии нерасширеяиьш лазерным пучком в дальней зоне наблюдается гало дифракции с полосами Юнга (рис. iy, ориентация и период к-рых определяются направлением и величиной смещения объекта между экспозициями. При изменениях микроструктуры объекта меж-, ду экспозициями, что может быть обусловлено эрозией или коррозией поверхности, контактными взаимодействиями с др. телами, износом и т. д., идентичность спекл-структур, образованных объектом до и после смещения, нарушается и контраст полос Юнга уменьшается, что используют для изучения указаввых явлений. [c.605]

Кроме фотогр. вариантов спекл-фотографии и спекл-интерферометрии развивают и алектронвые варианты этих методов, к-рые сводятся к электронной записи и сравнению спекл-структур, записанных до и после изменений, произошедших с объектом, напр. с помощью телевиз. систем [2, 3]. [c.605]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...