Светосила

Фотообъектив и камера аппарата конструируются так, чтобы можно было получить резкое изображение предметов, находящихся на том или ином расстоянии от объектива, в плоскости светочувствительной пластинки или пленки. Для наводки применяются разные приспособления (перемещение объектива или его отдельных частей, перемещение пластинки). Уменьшение апертурной диафрагмы позволяет улучшить глубину фокусировки, т. е. резко отобразить на плоскость различно удаленные части объекта (см. 87). Изменение апертурной диафрагмы служит в то же время для изменения количества света, поступающего в аппарат (светосила). Обычно в фотоаппарате получается уменьшенное изображение объекта в современных аппаратах стремятся к получению хорошей резкости с тем, чтобы иметь возможность последующего увеличения снимка. [c.324]

Объективы непрерывно совершенствуются в смысле сочетания хороших качеств изображения со светосилой, т. е. возможно большей освещенностью изображения. Освещенность изображения равна световому потоку, деленному на площадь изображения, т. е. для удаленных объектов пропорциональна площади апертурной диафрагмы, деленной на квадрат фокусного расстояния объектива. Это отношение и называется светосилой объектива. Нередко светосилой называют отношение диаметра максимальной диафрагмы к фокусному расстоянию и считают освещенность пропорциональной квадрату светосилы. Правильнее называть это отношение относительным отверстием. Таким образом, светосила измеряется квадратом относительного отверстия. [c.324]

Светосила. Для оценки воздействия спектрального прибора на приемник излучения применяется характеристика, называемая светосилой. Численно светосилу определяют, как коэффициент пропорциональности, связывающий измеряемую приемником фотометрическую величину (световой поток, освещенность) и яркость в. плоскости щели. Светосила спектрографа определяется соотношением [c.17]

Светосила. Отношение диаметра входного отверстия прибора к его главному фокусному расстоянию называется светосилой. Обычно светосилу представляют в виде дроби, в числителе которой стоит единица. Так, например, говорят, что светосила фотоаппарата равна 1/4,5 . Светосила является величиной безразмерной. [c.304]

В свою очередь, телескопы-рефлекторы имеют ряд преимуществ по сравнению с рефракторами. Это отсутствие хроматической аберрации и большая светосила. Поэтому при спектральных исследованиях стали использовать рефлекторы. [c.364]

М. с. применяются и для определения энергии жёстких 7-квантов, образующих электрон-позитронную пару е е+ в веществе (конверторе). При этом измеряются импульсы электрона и позитрона (см. Гамма-спектрометр). Такой М. с. характеризуется хорошим энергетич. разрешением, однако его светосила невелика, т. к. для получения высокого разрешения не-обходимо максимально уменьшить потери энергии частиц в конверторе. Конвертор должен быть тонким и вероятность образования е + е -пары мала ( 5—10%). [c.689]

Наиб, точный и при этом абс. метод намерения Р основан на эффекте Штерна — Герлаха. Пучок нейтронов пропускают через область с неоднородным магн. полем, в результате чего он расщепляется на 2 пучка, обладающих противоположными направлениями поляризации Р (см. Штерна — Герлаха опыт). Отношение интенсивностей этих пучков онределяет степень поляризации падающего пучка нейтронов. Такое устройство применяют для создания полностью поляризованных пучков нейтронов, но светосила этого метода невелика, т. к. для полного разведения пучков в пространстве необходимо использовать узкие, сильно коллимированные пучки частиц. [c.72]

Р, свободны от хроматич. и сферич, аберраций (см. Аберрации оптических систем), что является одним из преимуществ перед рефракторами повышается светосила и, как следствие, уменьшается длина трубы. В Р. [c.385]

Когда от объектива требуется значительная светосила — в пределах 1 2—1 3 — при средних значениях фокусного расстояния (40—150 мм), то приходится усложнять ранее рассмотренные конструкции., Наиболее простой среди усложненных является [c.105]

Светосила системы характеризуется ее эффективной площадью (для рентгеновских телескопов) или эффективной апертурой (для микроскопов). Для определения эффективной площади используется соотношение [c.170]

При практической разработке зеркальных систем скользящего падения для рентгеновских телескопов, микроскопов и других приборов часто возникает задача выбора таких параметров системы, при которых одновременно достигаются максимальная светосила и разрешение в заданном поле зрения. Как мы видим, требования получения максимальной светосилы и разрешения противоречат одно другому. Задача поиска оптимальных параметров системы может быть решена как расчетным, так и аналитическим путем. [c.188]

Для этой цели значительно лучше подходят осесимметричные вольтеровские микроскопы, светосила которых может быть на три-четыре порядка больше. После проведенных в работе [28] расчетов серии таких систем с различным увеличением, объектным расстоянием и углами скольжения, были изготовлены два микроскопа [21, 61, 90], с помощью которых получены интересные физические данные о кинетике плазмы. В обоих случаях зеркала [c.202]

Аберрации сферической дифракционной решетки о регулярными прямолинейными штрихами являются фактором, ограничивающим ее светосилу и спектральное разрешение. Наибольшие разрешение и светосила могут быть получены в случае, когда основные аберрации исправлены и решетка дает стигматическое изображение. [c.260]

Светосила и эффективность дифракционных решеток в классической схеме освещения [c.268]

В первом случае для точного измерения атомного веса (массы) требуются приборы с большой разрешающей способностью и относительно малой светосилой, достаточной лишь для индикации пространственного расположения линий спектра на фотопластинке, или для отсчета величины изменения тока электромагнита между пиками масс-спектра. Во втором случае, при измерении распространенности изотопа, не требуется высокая разрешающая способность по массам, зато необходима большая светосила прибора, обеспечивающая измерение слабых линий масс-спектра изотопов малой распространенности с высокой точностью. В связи с этим появились две разновидности специализированных приборов. Приборы с регистрацией масс-спектра на фотопластинке получили название масс-спектрографов, а приборы, в которых измерение осуществляется с помощью электронных схем, получили название масс-спектрометров- [c.6]

Таким образом, светосила прибора всегда находится в противоречии с его разрешающей способностью. [c.28]

Светосила приборов с неоднородным магнитным полем [c.48]

Размеры объективов выбираются в соответствии с размерами призмы так, чтобы не диафрагмировались пучки разных направлений, соответствующие разным длинам волн. При увеличении размеров призмы не только увеличивается количество света, поступающего в прибор (светосила аппарата), но увеличивается и разрешающая способность его, т. е. возможность различения близких длин волн (см. 100). [c.339]

Объективы коллиматора и камеры спектрографа имеют однаковые диаметры, а их фокусные расстояния равны соответственно fl и При помощи конденсора достигнуто освещение щели, при котором объектив коллиматора полностью заполнен светом. Доказать, что светосила прибора зависит только от объектива камеры. [c.890]

Эндоскопические оптические приборы предназначены для рассмотрения внутренних поверхностей и предметов в труднодоступных полостях и объемах. Сегодня медицинская и техническая. эндоскопия превратилась в обширную и быстроразвивающуюся отрасль оптического приборостроения. Весьма перспективным является использование в >ндоскопии голографических схем с применением. элементов волоконной оптики различных типов. Они позволяют существенно упростить конструкцию голографических схем при введении в одну из ее оптических ветвей — объектную или опорную, или обе одновременно — световодов. При. этом уменьшается число необходимых. элементов, габаритные размеры и масса схемы, увеличивается ее светосила и, что весьма важно, помехозащищенность (от пыли, вибрации и т. п.). Использование световодов в юлографии существенно расширяет области применения интерференционных методов исследования изучение труднодоступных объектов и закрытых полостей, упрощение получения голограмм объектов одновременно для нескольких углов освещения (.это особенно важно при исследовании неоднородностей сложной формы). При этом возможно получение на одной фотопластинке при ОДНОМ общем опорном пучке одновременно несколь- [c.77]

Смесь, наносимая после сушки на подложку экрана, представляет собой суспензию светосостава Б-ЗЖ в ацетоновом растворе ацетилцеллюлозы, пл.астифицированной дибучил-фталатом для предотвращения тре-щинообразования. Состав смеси, % по массе светосостав Б-ЗЖ — 12,0) [c.174]

Приготовление люминесцентной смеси осуществляют так растворяют ацетилцеллюлозу в ацетоне до бавляют дибутилфталат вводят светосостав и тщательно перемешивают. [c.175]

Смешать светосостав желтого свечения Б-ЗЖ (ТУ 6-09-3106—73) в массовом отношении раствор по п. 1 — 100 % светосостав Б-ЗЖ 40 %. [c.175]

ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ — совокупность оптич. деталей — линз, призм, плоскопараллельных пластинок, зеркал и т. п., скомбинированных определ. образом для получения оптич. изображения или для преобразования светового патока, идущего от источника света. В зависимости от положения предмета и его изображения различают несколько типов О. с. микроскоп (предмет на конечном расстоянии, изображение — на бесконечности), телескоп (и предмет, и его изображение находятся в бесконечности), объектив (предмет расположен в бесконечности, а изображение — на конечном расстоянии), проекц. система (предмет и его изображение расположены на конечном расстоянии от О. с. см. Проекционный аппарат). О. С. характеризуются такими параметрами, как светосила, линейное и угл. увеличение, масштаб оптического изображения. [c.451]

Дг. /л1 = 0,61 г /my n, где п — номер крайней зоны. Светосила определяется диаметром й = 2r п. Эффективность дифракции для зонных пластинок Френеля е амплитудной модуляцией составляет ок. 10% в первом, 2%— во втором и 1%— в третьем порядках спектра, Дифракц. Р. м. обычно работает в области [c.368]

Ю мио мкм, разрешающая способность — достигать дифракц. предела, светосила по освещённости (отношение освещённости в изображении входной щели к яркости источника, освещающего входную щель) —От 0,5 в светосильных приборах до 10 и менее в длиннофокусных приборах большой дисперсии. [c.614]

ОС светотехнических изделий и электроустановочных устройств АНО Светос [c.47]

В качестве объективов телескопических систен пользуются почти исключительно двухлинзовыми склеенными системами. Очень редко Применяют более сложные тройные склеенные (чаще всего по недоразумению). Двойные несклееийые объективы применяются в случаях больших линз, когда склейка их канадским бальзамом нежелательна. Двойной объектив из двух склеенных линз, теория которого была изложена выше, представляет интерес в тех случаях, когда от объектива требуется повышенная светосила при нормальных, небольших углах поля зрения. Укажем несколько возможных вариантов малоисследованных более сложных комбинаций, расширяющих в некоторой мере облюти Йрименейия объективов по сравнению с рассмотренными ранее. [c.99]

Теория симметричного объектива при бесконечно удаленной плоскости предмета гораздо сложнее и не может быть изложена здесь полностью 13]. Укажем только, что некоторые свойства симметричных объективов, имеющие место при увеличении —1, приближенно сохраняются н при бесконечно удаленной плоскости предмета. В частности, кома, дисторсия и хроматическая разность увеличений такого симметричного объектива достаточно малы " сферическая, хроматическая аберрация, астигматизм и кривизна всего объектива тесио связаны с одноименными аберрациями второй половины при бесконечно удаленном предмете и при изменениях конструктивных элементов меняются параллельно с аберрациями этой половины. Все перечисленные свойства облегчают расчет и изучение симметричных систем. Симметричные системы обладают еще тем ценным свойством, что объектив может быть использован и без первой половины, причем фокусное расстояние одной половины приблизительно в два раза больше, чем у целого объектива, а светосила (относительное отверстие) падает в два-три раза. Кроме того, объектив из одной половины симметричного объектива часто необходимо более или менее диафрагмировать, так как при наилучшем исправлении всего объектива в целом аберрации второй половины могут достигать заметных величин. [c.214]

Дисторсня может быть еще уменьшена путем приближения компонентов, т. е. уменьшения d , а следовательно, и у . Но при этом значительно возрастают значения ф1 и Фг и вместе с тем теряется светосила. [c.288]

Определим наиболее целесообразные значения константы с, прн которых былн бы обеспечены малая длина системы, удобная для обработки форма ее поверхностей и достаточная светосила. Для этого необходимо подобрать полярный угол 0, ненамного отличающийся от в,,, так как при больших в длина системы начинает очень быстро расти. Пусть 0 — 0 = 6, где 6 — малый угол, квадратом которого можно пренебречь по сравнению с первой степенью. [c.389]

Равенство нулю члена о выражает условие фокусировки для лучей в сагиттальной плоскости (г/ = 0). В общем случае слагаемые, содержащие и у одновременно, в нуль не обращаются. Это означает, что в спектре каждого порядка точка А изображается лучами каждой длины волны астигматически. Лучи, идущие в горизонтальной и вертикальной плоскостях, сходятся в разных точках А и А". В точке А получается изображение А в виде вертикального отрезка, в точке А — в виде горизонтального отрезка. Более подробные расчеты коэффициентов аберраций сферической решетки можно найти в работах Намиока [74] и Пейсахсона 121 ]. Здесь мы не будем подробно рассматривать влияние аберраций на форму спектральных линий, так как этот вопрос хорошо рассмотрен в специальной литературе. Отметим только, что классический путь снижения аберрации сферической решетки состоит в ограничении ее размеров и высоты входной щели и приводит к весьма малой светосиле спектрального прибора. Особенно значительно снижается светосила в рентгеновской области спектра, так как коэффициенты аберраций возрастают с уменьшением угла скольжения. [c.260]

Как уже отмечалось, светосила дифракционной решетки определяется ее геометрической апертурой и эффективностью отражения, которая в свою очередь зависит от углов падения и дифракции, формы профиля штрихов, материала отражающего покрытия. Существенным фактором, снижающим эффективность, является рассеяние из-за неточностей в положении щтри-хов и шероховатости отражающих граней. Рассмотрим светосилу и эффективность реальных дифракционных рещеток, работающих в классической схеме освещения, т. е. при совпадении плоскости падения пучка с плоскостью дисперсии. [c.268]

Развитие дифракционной рентгеновской спектроскопии началось в конце 1920-х годов, когда Комптон и Доан [43] впервые предложили использовать для разложения рентгеновских спектров штриховую решетку, работающую при малых скользящих углах, а Осгуд [80] применил для этой цели вогнутую решетку. Вплоть до 1950-х годов центральной задачей спектроскопии в мягкой рентгеновской области оставалась систематизация спектров и измерение длин волн линий, а основным типом прибора классический спектрограф скользящего падения со сферической решеткой на роуландовском круге (схема Пашена— Рунге или ее модификации). Регистрация спектров проводилась на фотопленку. Достоинствами таких спектрографов являются широкая рабочая область спектра (в типичном случае от 0,5 до 50—100 нм), высокое разрешение, превышающее 10 при оптимальных размерах решетки и входной щели, и универсальность для различных типов источников. Основные недостатки — малая светосила, связанная с аберрационными ограничениями ширины решетки, а также отсутствие пространственного разрешения по высоте щели вследствие астигматизма. [c.281]

Прозрачность поля по направлению. В поле с коэффициентом неоднородности, равным единице, с помощью электростатических или магнитных линз независимо от угла поворота ионов можно фокусировать ионные пучки в заданной точке, что способствует оптимизации параметров ионнооптических систем. В частности, параллельные пучки с большой площадью поперечного сечения удается сфокусировать с помощью круговых границ магнитного поля, при этом значительно увеличивается светосила прибора. [c.52]

Оптика (1976) -- [ c.324 ]

Единицы физических величин и их размерности Изд.3 (1988) -- [ c.304 ]

Единицы физических величин и их размерности (1977) -- [ c.249 ]

Дифракция и волноводное распространение оптического излучения (1989) -- [ c.142 ]

Общий курс физики Оптика Т 4 (0) -- [ c.156 ]

Лазерное дистанционное зондирование (1987) -- [ c.426 ]

Техническая энциклопедия Том 1 (0) -- [ c.0 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...