Теневая плоскость

Первая операция заключается в мысленном анализе формы, определении числа и расположении теневых плоскостей, выявлении вершин трехгранных углов, направленных к зрителю. [c.116]

В контрольной стадии рекомендуется оценить единство интенсивности всех полутеней. Эта интенсивность должна быть подчиненной тональной разработке теневых плоскостей (рис. 3.3.3). Неясность визуального различия в тональном соподчинении теневых и полутеневых граней формы является наиболее частой ошибкой студентов (рис. 3.3.4). [c.118]

Тень от линии. Принято считать, что прямая линия, задержи-Еаи совокупность световых лучей (которая всегда,— как при солнечном, так и при факельном освещении,— является плоскостью), отбрасывает теневую плоскость. Обычно эту плоскость называют лучевой. Отсюда следует, что построение тени, падающей от прямой на какую-либо поверхность, сводится к построению линии пересечения с этой поверхностью лучевой плоскости, проведенной через данную прямую и источник света м, освещающий данную прямую. [c.396]

Если отрезок заменить кривой линией, плоской или пространственной, то теневая плоскость обратится в общем случае в теневую (лучевую) цилиндрическую поверхность. Следовательно, построение тени, падающей от кривой [c.396]

Аналогичную операцию необходимо проделать с вертикальными линиями этих же плоскостей, разделяющими теневые и полутеневые грани. Ориентиром в этой операции, так же как и в предыдущей, являются выступающие вершины трехгранных углов (см. рис. 3.3.1,6). Сразу после окончания операции необходимо оценить плавность тонального [c.116]

Следует по возможности избегать конструктивных форм деталей, требующих применения стержней и отт.емных частей на моделях (рис, 22,4, г )- Возможность свободного удаления модели из формы (без применения отъемных частей и стержней) проверяют следующим образом. Воображаемый поток лучей, перпендикулярных плоскости разъема формы, не должен давать теневых участков (рис. 22.4, г). Если невозможно обойтись без стержней, следует предусматривать технологические отверстия для надежного их крепления (рис. 22,4, d), а если возможно, то унификацию стержней. [c.464]

Теневой метод обычно применяют для автоматического контроля листовых конструкций либо многослойных панелей. Зеркально-теневой — для обнаружения дефектов, дающих слабое отражение или в дополнение к эхо-методу, когда дефекты ориентированы в вертикальной плоскости [c.181]

Основное отличие шлирен-систем от прямых теневых заключается в том, что в них с целью увеличения чувствительности к малым и монотонным изменениям плотности в среде при помощи объектива осуществляют фокусировку всех лучей, проходящих через исследуемую среду, в одной точке — главном фокусе приемного объектива. В этой же точке помещают нож Фуко. Оптический нож при этом устанавливают таким образом, чтобы он полностью или в большей части перекрывал изображение источника света, получаемое в фокальной плоскости приемного объектива (рис. 11.3). [c.219]

Тень от плоской фигуры (непрозрачной пластинки). Плоская фигура, если только ее плоскость не проходит через (иначе не параллельна лучу /), задерживая определенную часть лучей светового потока, отбрасывает теневой столб, поверхность которого (лучевая поверхность) отделяет освещенную часть пространства от неосвещенного. Сечение этой поверхности какой-либо другой и образует очертание падающей на нее тени. Если плоская фигура — п-угольник, то цилиндрическая лучевая поверхность обращается в л-гранную призматическую лучевую поверхность. При этом л-угольник служит для нее направляющей, а образующая параллельна световому лучу. [c.396]

На рис. 480 показано построение собственной и падающей (на плоскость П ) теней треугольника АВС. Падающая тень А В Сц — сечение плоскостью П1 трехгранной призматической поверхности, ограничивающей теневой столб, отбрасываемый треугольником АВС. [c.397]

Так, теневой столб, отбрасываемый шаром, ограничен цилиндрической поверхностью вращения. Следовательно, тень, падающая от шара на плоскость, в общем случае есть эллипс (рис. 481). Линия касания (она же направляющая лучевой поверхности) есть большой круг а, расположенный в плоскости, перпендикулярной к направлению светового потока. Следовательно, собственная тень шара всегда покрывает половину его поверхности. Проекции этой линии — эллипсы й , и а — отделяют на чертеже освещенную часть шара от неосвещенной. [c.397]

Контроль отливок. Ультразвуковой контроль отливок проводится эхо-и зеркально-теневым методами обычно с помощью нормальных преобразователей [47]. Дефекты литья (поры, раковины, шлаковые включения) имеют объемный характер и могут быть обнаружены при прозвучивании с разных сторон. Поэтому контроль ведут, как правило, в одном направлении по кратчайшему расстоянию от поверхности, удобной для ввода УЗК. Однако имеются опасные зоны, которые должны быть проверены в направлении, перпендикулярном к плоскости наиболее вероятного развития трещин. Кроме того, в отливках встречаются волосовидные дефекты, плохо отражающие ультразвук. О наличии таких дефектов судят по ослаблению донного сигнала. [c.255]

Диффузионной сваркой можно соединять как однородные, так и разнородные материалы. Так как сварные изделия, выполняемые такой сваркой, как правило, имеют сравнительно небольшие размеры и плоскость соединения часто параллельна поверхности изделия, контроль целесообразно вести эхо- и эхо-теневым методами прямым совмещенным или раздельно-совмещенным преобразователем. [c.354]

Для контроля конструкций ответственного назначения следует применять зеркально-теневой метод (рис. 6.62, б, в), обеспечивающий уверенное обнаружение горизонтальных дефектов. При отсутствии дефекта УЗ-колебания проходят от излучателя через бездефектное место к приемнику и на экране появляется импульс. Если в соединении имеется дефект, то амплитуда эхо-сигнала равна нулю или незначительна. При данной схеме контроля расстояние X между точками ввода ПЭП должно строго соблюдаться X = (2Hi -f ЗН.2) tg а. Это выполнимо благодаря закреплению ПЭП в держателе, позволяющем поворачиваться в вертикальной плоскости и обеспечивающем тем самым их перемещение на разных уровнях при постоянном значении X. [c.368]

Па рис. 7.1 показана типичная схема теневого дефектоскопа с визуальным, изображением поля прошедшего излучения. Источник 1 УЗ-волн обычно достаточно большой, чтобы интерференционными явлениями в ближней зоне можно было пренебречь и считать с достаточной точностью поле излучения плоской однородной волной. С этой же целью его, наоборот, можно сделать малым, чтобы работать в дальней зоне, но в этом случае амплитуда поля суш,ественно снизится. УЗ-волны проходят через объект контроля 2. При наличии в объекте контроля дефекта однородность поля нарушается и позади дефекта образуется звуковая тень. Для повышения контрастности и четкости изображения прошедшие лучи обычно фокусируют ультразвуковой линзой 3. В фокальной плоскости линзы возникает акустический рельеф, т. е. определенное распределение интенсивности или амплитуды в плоскости поперечного сечения звукового пучка, соответствуюш,ее наблюдаемому дефекту. Чтобы сделать звуковой рельеф видимым, применяют различные устройства, называемые акустико-оптическими преоб-разователя.ми 4. [c.392]

Радиографический контроль. Из всех методов радиационного контроля сварных соединений наиболее широко применяют радиографический, позволяющий получить на снимке теневое изображение просвечиваемого участка сварного соединения. При контроле выявляют дефекты непровары, поры, включения, трещины, наружные дефекты, недоступные для внешнего осмотра, превышение проплава и т. п. При радиографии не выявляют дефекты, если их протяженность в направлении излучения менее удвоенной чувствительности контроля если изображения дефектов совпадают на снимке с другими затрудняющими расшифровку изображениями непроваров и трещин, раскрытием менее 0,1 мм для сварных соединений толщиной до 40 мм и менее 0,25% от толщины для сварных соединений толщиной более 40 мм непроваров и трещин, плоскость раскрытия которых не совпадает с направлением излучения включений с коэффициентом ослабления излучения, близким к коэффициенту ослабления для металла шва. [c.57]

Следует ограничивать на поверхности литых деталей количество выступающих частей, особенно тех, которые на модели выполняются отъемными. Для контроля выполнения этого требования должны отсутствовать теневые участки при воображаемом освещении детали параллельными лучами в направлении, перпендикулярном к плоскости разъема формы (фиг. 66). [c.173]

Простейшая оптическая схема, используемая в теневом методе, показана на рис. 6.16. Обычно используется щелевой источник света, изображение которого формируется в фокальной плоскости линзы 5, где располагаются оптические приспособления оптический нож, одиночная нить или оптическая решетка, с помощью которых на экране создается то или иное изображение исследуемой оптически неоднородной области. [c.388]

Эта интерференционная картина переносится непрерывно в направлении II и может наблюдаться при помощи диффузного экрана, помещенного на произвольном расстоянии от голограммы. Эту интерференционную картину пространственно легко отделить от остальных интерферограмм, восстановленных в плоскостях действительного и мнимого изображений Френеля и Габора, путем выбора положения диффузного экрана. Эти обстоятельства существенно упрощают наблюдения, регистрацию и обработку интерферограммы в реальном времени. Обычно регистрация интерферограммы в реальном времени осуществляется в плоскости мнимого изображения с помощью специальной оптики (перископа) [30]. В рассмотренном нами случае также устраняются и другие трудности, связанные с локализацией интерференционной картины в плоскостях конечной ширины, так как в направлении II переносятся интерференционная картина и теневое изображение объекта, обусловленное компонентом Л (Т2 Тз+ + Т2 Тз ). [c.137]

Подставляя это выражение в обратное теневое преобразование (15), мы получим два члена ti. Первый из них отличается от исходного предмета лишь множителем /гГ. Но во втором члене, полученном из /гГт, знак перед i меняется на обратный, и это приводит к появлению побочного изображения в плоскости предмета, наложенного на правильно восстановленный предмет. [c.232]

С выходного экрана электронно-оптического преобразователя теневое изображение с помощью объектива 5 проецируется в плоскость полупрозрачного зеркала 6, установленного под углом 45° к направлению оптической оси объектива. Таким образом, в плоскость полупрозрачного зеркала проецируется поочередно то правое, то левое видимое теневое изображение объекта. Далее на пути световых лучей располагается обтюратор изображений 7, который последовательно во времени пропускает световые лучи в направлении то правой передающей телевизионной камеры 8, то левой камеры 11. [c.37]

Если необходимо выявлять лишь грубые дефекты, то оба искателя можно разместить в одной плоскости АВ) и по раздельной схеме. -Этим реализуется зеркально-теневой способ прозвучивания. О наличии дефектов будут судить по пропаданию на экране сквозного сигнала. [c.126]

Рис. 2.7. Комбинированная теневая фотография и диаграмма волн в ударной трубе, плоскость х, 1).

Тень от точки В совпадает с самой точкой В. Тень от точки А лежит на пересечении луча 5Л с предметной плоскостью. Таким образом, тень отрезка АВ получится в виде отрезка В данном примере конус вeтoвьix лучей превратился в теневую плоскость, пересечение которой с предметной плоскостью дает прямую [c.276]

Для пространственного эскиза данный метод является наиболее простым. Для придания объемного характера модели на эскизе необходимо лишь единообразие визуального признака каждой плоскости. Независимо от очертания области, ее величины все теневые грани должны быть тождественными по своему тональному решению. То же самое относится к светлым граням и полутеням изображения. Именно визуальный контраст разных систем и единообразие решения тона плоскостей, принадлежащих к одной системе, приводит к Д0ЛЖ1Н0Й выразительности решения. Пример ошибочного решения, в котором нарушен этот принцип, показан на рис. 1.5.6. [c.58]

От вершин отмеченных трехгранных углов студенты проводят горизонтальные прямые, контрастно разделяющие освещенные и теневые части. Допускается одновременно легкая тональная подштриховка линий в глубь изображаемой плоскости. [c.116]

Схема восстановления голограммы, представленная на рис. 11.17, дает в плоскости Х] прямотеневую картину исследуемой неоднородности. Теневая картина может быть получена на установке, схема которой показана на рис. 11.18. В качестве источника света 1 в установке может быть использована ртутная лампа. При помощи оптической системы, состоящей из линз 2, 5, 5 и щели 4, создается равномерный узкий в направлении оси х поток света, которым освещается голограмма 6. Далее при помощи [c.235]

Теневой столб, отбрасываемый цилиндром вращения (рис. 482,) ограничен в общем случае двумя эллиптическими полуцилиндрами, направляющими которых служат соответствующие полуокружности о верхнего и Ь нижнего оснований цилиндра, и двумя касательными к ним плоскостями, направляк.- [c.398]

Теневым методом можею обнаружить дефекты поверхности размером менее 1/100 длины волны света. Схема теневого метода контроля сферической поверхности показана на рис. 13. Точечный источник света помещают вблизи центра кривизны С зеркала. Рядом с ним располагают непрозрачный экран. При наблюдении поверхности зеркала 2 в зависимости от положения экрана можно увидеть картины I—IV. Если нож 1 точно расположить в плоскости источника, то его перемещение в направлении, перпендикулярном к оси зеркала, вызовет плавное уменьшение яркости изображения. При этом дефекты поверхности проявляются в виде [c.70]

Контроль наружного диаметра труб осуществляется фотоимпульсными приборами в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Оптическая система создает теневое изображение трубы, размер которого определяется с помощью щелевой системы сканирования и фотоумножителя. [c.323]

Анализ акустического тракта выполним для схемы, изображенной на рис. 2.14, а. Отражение от бесконечной плоскости можно рассматривать как зеркальное отражение падающих на плоскость акустических волн (см. подразд. 2.2). В соответствии с этим акустическое поле, возникающее в результате отражения от бесконечной поверхности, можно нредсгавнть как акустическое поле мнимого излучателя, рассеянное на реальном и мнимом изображении экрана-дефекта. Мнимые излучатель и дефект расположены зеркально-симметрнчно по отношению к действительному излучателю и дефекту (рис. 2.15), В результате акустический тракт при контроле зеркально-теневым [c.120]

Принципиальная схема метода теневсго сечения представлена на рис. 88. Лрибор теневого сечения представляет собой систему двух микроскопов — проектирующего 1 и наблюдательного //, установленных под углом 90° по отношению один к другому. Предметные точки объективов обоих микроскопов совмещены одна с другой и с опорной плоскостью прибора на высоте 0,1 мм над опорной плоскостью установлен нож 3. На испытуемой поверхности PiPi необходимо иметь уступ высотой й, равной толщине покрытия I, нанесенного на деталь 2. Пучок лучей, выходящий из проектирующего объектива микроскопа /, встречает на своем пути нож 3, который срезает часть пучка. Часть пучка лучей, не срезанная ножом, падает под углом 45° на испытуемую поверхность Р1Р2 в пространстве между кромкой ножа LL и ее проекцией на эту поверхность. [c.94]

При Д. в. у закруглё]1ного края явление поперечно диффузии в теневой и освещённой областях имеет свои особенности, за к-рыми легче проследить, рассматривая распространение волн вдоль идеально отражающей плоскости, оканчивающейся закруглением только сзади [c.666]

Если объект является самосветящимся (плазма, продукты взрыва) и его зондаж осуществляется с помощью излучения источника /, то для уменьшения засветки изображения собств, светом объекта иснользуют транспарант в виде кенроарачного экрана с отверстием на оси, пропускающим весь поток зондирующего излучения. Для наблюдения мелких рассеивающих свет частиц и оптич. неоднородностей в прозрачных средах используют т. н. теневые методы, при к-рых перекрывают центр, часть сечения фокальной плоскости. В результате до системы регистрации доходит лишь рассеянный свет и распределение освещённости в плоскости 7 соответствует картине распределения неоднородностей (источников светорассеяния) в плоскости объекта. [c.153]

Принципиальная схема симультанного томографа показана на рис. ]. Точечный источник излучения S(x, г = 0) находился в плоскости Л о(г = 0). Точка объекта A x = 0, = R) лсжт в 1июскости Xj, удалённой на расстояние R от Xt)(z=R), на оси 0Z, нормальной к обеим плоскостям А о и X,. Теневое изображение точки А точка Л ( —z = H) лежит в плоскости Xi z = H), удалённой на расстояние Н от Xа ]Л тоже нормальной к оси 0Z. [c.123]

Так как стоимость оснастки возрастает с увеличением требований к точности отливки, то, отливку следует конструировать с учетом наиболее экономичного варианта изготовления пресс-формы. А экономичность ее изготовления зависит от положения плоскостей разъема. При конструировании отливки следует стремиться к созданию пресс-формы с одной плоскостью разъема. Для этого отливка не должна иметь внешних и внутренних поднутрений, препятствующих свободному удалению ее из пресс-формы. Возможность создания одной плоскости разъема определяют по правилу свето-BSrfx теней, по которому теневые участки при воображаемом освещении детали параллельными лучами в направлении, перпендикулярном плоскости разъема, должны отсутствовать (рис. 2.5). [c.37]

Точность отливок. 1. Конструкция наружных и внутренних контуров отливки должна быть как можно более простой, т. е. требовать минимального числа разъемов и исключать применение отъемных частей на моделях. Соблюдение настоящего правила проверяют методом светотеней отливку освещают параллельным пучком лучей в направлении, перпендикулярном плоскости разъема формы или стержневого ящика, появление теневых участков в отдельных местах отливки свидетельствует о нетехнологичности конструкции (рис. 3). [c.19]

Наиболее важными методами динамической механики разрушения являются экспериментальные методы исследования напряженного состояния вбпизи вершины трещины. Среди них выделяются оптические экспериментальные методы широко известный метод фотоупругости, метод теневых зон (каустик) и метод проецирования на фокальную плоскость. Первый основан на анализе картин изохром, получающихся при прохождении света через оптически чувствительный материал, а второй и третий - на преобразовании сингулярности напряжений в оптическую сингулярность. При этом для определения коэффициентов интенсивности напряжений анализируется размер сингулярной (теневой) зоны или интенсивность света в сингулярной точке на фокальной плоскости. Последние два метода могут применяться и в случае отраженного света, что позволяет исследовать металлические образцы. Каждый из указанных методов о Опадает своими характерными достоинствами и недостатками, однако в целом они позволяют исследовать распространение трещин с достаточной точностью. [c.6]

Теневые фигуры для распространявшихся и затем остановившихся трещин регистрировали с помощью высокоскоростной камеры Кранца — Шардина. По техническим причинам вместо параллельного пучка света использовался расходящийся пучок. Расстояние между образцом и плоскостью изображения было равно 1,4 м. Высокоскоростная камера запускалась самой трещиной, которая в начале движения прерывала лазерный луч и давала пусковой импульс. [c.29]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...