Метод теневого сечения

В технической литературе и некоторых РТМ упоминаются следующие оптические методы, пригодные для контроля толщины покрытий 1) поляризационный метод 2) метод определения толщины по цвету окраски покрытия 3) интерференционный метод 4) метод светового сечения 5) метод теневого сечения. [c.86]

МЕТОД ТЕНЕВОГО СЕЧЕНИЯ [c.95]

В отличие от метода светового сечения данный метод назван методом теневого сечения. Причем соотношение между измеряемыми величинами и высотой неровностей для обоих методов одинакова, т. е. определяются углом падения лучей и увеличением наблюдательной системы микроскопа. [c.121]

Если на расстоянии 0,1 мм от контролируемой поверхности установить линейку 6 со скошенным ребром, то последнее срежет часть пучка света и на контролируемой поверхности будет видна тень, отбрасываемая линейкой. Верхний край тени, являющийся как бы лезвием ножа, отображает кривую профиля, которую и рассматривают в микроскоп. Этот метод называется методом теневого сечения. [c.242]

Приборы для контроля шероховатости и толщины прозрачных пленок методом светового и теневого сечення [c.72]

К оптическим способам можно отнести интерференционный метод [61], метод светового сечения профиля, метод теневой поверхности и получающие в настоящее время применение, благодаря развитию лазерной техники, топографические методы. [c.28]

ИЗМЕРЕНИЕ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ МЕТОДАМИ СВЕТОВОГО СЕЧЕНИЯ И ТЕНЕВОЙ ПРОЕКЦИИ [c.105]

Теневая проекция и прибор теневого сечения ПТС-1. Теневая проекция является видоизменением светового сечения, удобным для измерения неровностей сравнительно грубых поверхностей профильным методом. [c.113]

Рис. 58, Принцип метода светового и теневого сечения

Проекционный (теневой) Метод осевого сечения [c.693]

Виды намерений Проекционный (теневой) метод Метод осевого сечения (с помощью ножей) [c.102]

Кроме того, производятся различные измерения и наблюдения, необходимые для выяснения особенностей течения, сравнения с теоретическими данными или объяснения экспериментальных результатов. Наиболее распространены измерения полей скоростей и давлений в различных сечениях потока, распределения давления на стенках, исследование течения в пограничном слое и наблюдение или фотографирование потока с помощью оптических методов (теневого метода, метода полос или интерферометрического метода). [c.480]

Бесконтактными локальными методами исследования шероховатости поверхности являются метод светового сечения и метод теневой проекции. [c.366]

Параметры приборов для контроля шероховатости методом светового и теневого сечения [c.502]

Проекционный (теневой) метод контроля размеров производительнее, чем метод осевого сечения, но уступает последнему в точности. Основная погрещность проекционного метода заключается в искажении изображения.контура изделия, особенно гладких и резьбовых цилиндрических изделий. Одной из причин искажения изображения контура измеряемого изделия является недостаточная параллельность лучей пучка света оптической оси микроскопа. Вследствие этого при измерении цилиндрических изделий лучи пучка света, отражаясь от проверяемого цилиндра и попадая в объектив микроскопа, размывают границы изображения контура изделия, что приводит к нестабильности визирования контура изображения при измерениях. Для уменьшения этой погрешности микроскоп фокусируют не по изделию, а по поверочному валику наивыгоднейший диаметр диафрагмы выбирают из таблиц, помещенных в инструкциях, которыми изготовители оснащают микроскопы. [c.247]

Измерения на микроскопах можно проводить теневым методом в проходящем свете, контурным методом в отраженном свете и методом осевого сечения с помощью измерительных ножей. В отраженном свете с помощью съемного осветителя измеряют размеры изделий, которые перекрываются выступающими частями от проходящего света. При измерениях плоские изделия закрепляют на предметном столе, а цилиндрические изделия— в центровых бабках, на призмах и других приспособлениях. Перед измерением плоских изделий диафрагму, осветителя устанавливают на диаметр [c.112]

Далее, обоим авторам удалось, пользуясь описанным в гл. III, 4, п. 1 теневым методом, сфотографировать сечение решетки упругих колебаний в кристалле. На фиг. 390 4—6) приведены такие фотографии для кварца, соответствующие сечениям, перпендикулярным к осям Z, Y и X. Чрезвычайная сложность полученных изображений показывает, что пространственная решетка не обладает простой структурой. Для доказательства реальности таких сечений решетки Шефер и Бергман использовали эти фотографии в качестве двумерных диффракционных решеток. Полученные при этом вторичные диффракционные изображения (фиг. 390, 7—9) действительно воспроизводят симметрию упругих свойств кварца в рассматриваемых направлениях. [c.357]

Основными методами контроля шероховатости являются контактный и бесконтактный. Принцип действия бесконтактных оптических приборов основан на том, что на измеряемую поверхность или ее изображение накладывается одна или ряд световых полос, которые повторяют неровности поверхности. Эти приборы выпускаются следующих модификаций ППС — основанные на принципе светового сечения, ПТС—теневого сечения, МИИ— интерференции света. Высота измеряемой шероховатости от 0,1 до 160 мкм. Из стандартизованных параметров на оптических приборах чаще всего измеряют / тах тг кроме того, оптические приборы позволяют увидеть характер и форму неровностей. [c.132]

Наиболее распространенный объект контроля зеркально-теневым методом — железнодорожные рельсы. Метод обеспечивает обнаружение дефектов, дающих слабое обратное отражение, ориентированных перпендикулярно поверхности качения, которая служит поверхностью ввода. При контроле рельсов возникают помехи вследствие поперечного смещения преобразователя. При этом акустическая ось не совпадает с осью поперечного сечения рельса. В результате часть энергии не входит в шейку рельса, оставаясь в его головке. Экспериментально установлено, что эти помехи уменьшаются при использовании преобразователей [c.122]

Отклонение угла профиля и отклонение шага, средний, внутренний и наружный диаметры измеряют также с помощью инструментальных и универсальных микроскопов. Использование при этом проекционного метода связано с двумя основными погрешностями несовпадением линии измерения с направлением измеряемого размера и несовпадением теневого изображения резьбы с осевым ее сечением. [c.735]

При теневом методе искатели располагают на противоположных поверхностях изделия, ультразвук проходит от излучателя к приемнику через контролируемое сечение, а признаком дефекта является уменьшение амплитуды (интенсивности) сигнала (рис. 44.П). Этот метод используется как в импульсном, так и в непрерывном режимах излучения ультразвука. [c.74]

Согласно ГОСТ 19782—74 ультразвуковой контроль сварных соединений проводят с помощью универсальных дефектоскопов (табл. 15, 16), как правило, эхо-методом с включением искателей по совмещенной схеме. Значительно реже применяют теневой и зеркально-теневой методы с раздельным и раздельно-совмещенным включением искателей соответственно, Угол ввода колебаний выбирают таким, чтобы расстояние от искателя до шва было как можно меньшим, а направление луча — возможно близким к нормали по отношению к сечению, в котором площадь ожидаемых дефектов максимальна (рис, 74). Контроль [c.231]

Результаты нескольких испытаний на сжатие образцов из мягкой стали с просверленными отверстиями, показаны на фиг, 255—257. Образцы были приблизительно призматической формы и имели посредине прямоугольное поперечное сечение 18 Х24 мм. Поверхности просверленных образцов сфотографированы при помощи теневого метода, описанного в п. 1 настоящей главы. [c.331]

Теневой метод. При теневом методе контроля о наличии дефекта судят по уменьшению амплитуды УЗ колебаний, прошедших от излучателя к приемнику (рис. 16.81). Чем больше размер дефекта, тем меньше амплитуда прошедшего сигнала. Излучатель и приемник УЗ располагают при этом соосно на противоположных поверхностях изделия. Теневой метод можно применять только при двустороннем доступе к изделию. При ручном контроле этим методом можно контролировать сварные швы ограниченного сечения небольшой толшины. [c.297]

Рис. 88. Принципиальная схема метода теневого сечения для измерения Hei o-эрачного покрытия прибором ПТС-1

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Приборы, основанные на щуповом методе, последовательно, по мере перемещения щупа по поверхности, преобразуют измеряемый профиль сначала в механические, а затем в электрические колебания в отличие от рассмотренных в пп. 2, 3 и 4 оптических приборов того же назначения, одновременно преобразующих участок профиля в интерференционную картину, в световое или теневое сечение или в систему муаровых полос. [c.124]

Принципиальная схема метода теневсго сечения представлена на рис. 88. Лрибор теневого сечения представляет собой систему двух микроскопов — проектирующего 1 и наблюдательного //, установленных под углом 90° по отношению один к другому. Предметные точки объективов обоих микроскопов совмещены одна с другой и с опорной плоскостью прибора на высоте 0,1 мм над опорной плоскостью установлен нож 3. На испытуемой поверхности PiPi необходимо иметь уступ высотой й, равной толщине покрытия I, нанесенного на деталь 2. Пучок лучей, выходящий из проектирующего объектива микроскопа /, встречает на своем пути нож 3, который срезает часть пучка. Часть пучка лучей, не срезанная ножом, падает под углом 45° на испытуемую поверхность Р1Р2 в пространстве между кромкой ножа LL и ее проекцией на эту поверхность. [c.94]

Измерительные микроскопы предназначены для измерения высокоточных деталей бескентактным проекционным (теневым) методом и контактным методом осевого сечения с помощью ножей путем наблюдения и сравнения увеличенного изображения измеряемого размера с точными шкалами или чертежом. [c.174]

При контроле и измерении шероховатости поверхностей пользуются методом визуальной оценки, контактными и бесконтактными профильными методами, к которым относятся методы светового сечения, теневой проекции, микроинтерференцион-иый и растровый методы. В тех случаях, когда не представляется возможным непосредственно измерить шероховатость поверхности, с измеряемой поверхности снимают слепок и определяют параметры шероховатости поверхности по слепку. [c.345]

Метод теневой проекции представляет собой видоизмененный метод светового сечения. Он удобен для исследования сравнительно грубых поверхностей. Принцип метода заключается в том, что на исследуемую поверхность направляют пучок света под некоторым углом и на пути этого пучка располагают экран с прямолинейными краями настолько близко к поверхности, что рассеяние лучей, вызванное конечными размерамя источника света, невелико. Граница тени при отражении световых пучков от поверхности представляет собой теневую картину профиля того участка, против которого находится экран. [c.366]

На универсальном микроскопе измерения производят двумя методами теневого изображения (проекционный метод) и осевого сечения (с измерите,льными ножами). При методе теневого изображения наблюдают в окуляр главного микроскопа изображение контура изделия, установленного на столе или в центры прибора. После фокусирования края контура изделия с ним совмещают штриховую линию окулярной сетки и производят первый отсчет по микроскопу со спиральным окулярным микрометром. Затем совмещают сетку с [c.246]

Методы определения шероховатости изделий из древесины и древесных материалов установлены ГОСТ 15612—70. При выборе прибора для контроля шероховатости исходят из предполагаемой шероховатости поверхности поверхности с Ягмикс до 60 мкм (8—12-го классов) контролируют микроскопом МИС-11 неровности величиной гмакс в диапазоне 100. .. 500 мкм (4—7-й классы шероховатости), а также 800. .. 1600 мкм (1—2-й классы) за исключением волнистости измеряют микроскопом теневого сечения поверхности ТСП-4 неровности 800. .. 1600 мкм, включая волнистость, — индикаторным глубиномером. Техника измерений изложена в стандарте и более подробно в документации на приборы. [c.23]

К приборам, измеряющим величину щероховатостн поверхности бесконтактным методом, относятся оптикомеханические приборы, изготавливаемые в соответствии с ГОСТ 9847—61. Действие этих приборов основано на различных принципах светового сечения (приборы-модели ПСС), теневого сечения (ПТС) и интерференции света (МИИ). [c.240]

A. Методы изучения с п е к т р а л о т oik а, включающие 1 ) измерения поля потока. в характерных сечениях решетки насадками, а также различными электрическими приборами, фиксирующими полное и статическое давление, температуру полного торможения, направление скорости в точке 2) изучение поля плотности оптическими методами (теневыми и интерберенционнымн) 3) визуализацию потока путем подмешивания инородных частиц. [c.645]

Существо метода ПРВТ сводится к реконструкции пространственного рас пределения линейного коэффициента ослабления (ЛКО) рентгеновского излучения по объему контролируемого объекта в результате вычислительной обработки теневых проекций, полученных при рентгеновском просвечивании объекта в различных направлениях. Обнаружение и детальное изучение дефектов в объеме контролируемого изделия осуществляет оператор путем визуального анализа изображений отдельных плоских сечений (томограмм ) реконструированной пространственной структуры ЛКО. Таким образом удается детально контролировать геометрическую структуру и характер объемного распределения плотности и элементного состава материалов без разрушения сложного изделия. [c.399]

В установках автоматического контроля спирально- и продольносварных труб обычно принимают схему контроля, показанную на рис. 72. Преобразователи 1 2 предназначены для обнаружения 5хо-методом и зеркально-теневым методом продольных дефектов, а <3 и — поперечных. Благодаря небольшой толщине швов можно прозвучивать все сечение шва без поперечного перемещения преобразователей. Продольное сканирование осуществляют перемещением трубы. При этом выявляют дефекты с эквивалентной площадью 2—8 мм . [c.263]

Такое погружение само по себе не является новым как уже отмечалось, в теневых дефектоскопах колебания вводятся в металл в основном именно таким образом, однако для импульсного эхо-метода погружение представляет особые выгоды прежде всего потому, что отпадают проблемы акустического контакта и износоустойчивости искательных головок контакт получается постоянным и весьма надежным, в результате чего теряет свое значение донный сигнал как основной индикатор надежности акустического контакта и появляется возможность ввода УЗК в изделие под любым углом к поверхности. Вследствие этого можно снизить требования к чистоте обработки поверхности изделия, так как колебания вводятся достаточно эффективно в изделие с грубой поверхностью (например, в необработанную поковку). При достаточной мощности зондирующего импульса можно поэтому использовать УЗК значительно более высоких частот, порядка 20—25 мгц, что, в свою очередь, приводит к повышению чувствительности и разрешающей способности метода. При иммерсионном варианте значительно облегчается запись показаний дефектоскопа, а применение в осциллоскопическом индикаторе электроннолучевой трубки с большой длительностью послесвечения и развертки типа В (модуляция электронного луча по яркости) позволяет видеть на экране изображение контуров контролируемого изделия ij дефектов в прозвучиваемом сечении. [c.348]

Если объект является самосветящимся (плазма, продукты взрыва) и его зондаж осуществляется с помощью излучения источника /, то для уменьшения засветки изображения собств, светом объекта иснользуют транспарант в виде кенроарачного экрана с отверстием на оси, пропускающим весь поток зондирующего излучения. Для наблюдения мелких рассеивающих свет частиц и оптич. неоднородностей в прозрачных средах используют т. н. теневые методы, при к-рых перекрывают центр, часть сечения фокальной плоскости. В результате до системы регистрации доходит лишь рассеянный свет и распределение освещённости в плоскости 7 соответствует картине распределения неоднородностей (источников светорассеяния) в плоскости объекта. [c.153]

Проблемы отрыва потока в работе Паттерсона рассматриваются лишь косвенно. Качественно отрыв потока в диффузорах исследовал Полцин [34], используя метод визуализации. Воздушный поток можно наблюдать с помощью шлирен-метода [35, 36], или, как его еще называют, метода Теплера, и с помощью теневого метода, или метода Дворжака. Модель двумерного дозвукового диффузора имела прямоугольное поперечное сечение, так как из-за искривления смотрового окна при круглом поперечном сечении были бы невозможны наблюдения с помощью шлирен- [c.174]

Обычно, если максимальная скорость на контуре продольного сечения тела превышает критическую, то за точкой максимальной скорости возникают один или несколько скачков уплотнения ). Их можно непосредственно наблюдать и фотографировать с по- Зкран мощью так называемого теневого метода. [c.347]

Прокат со сложным профилем поперечного сечения контролируют эхо-мето-дом теневым п зеркальво-теневым методами при частоте 2,5—5 МГц. Акустический контакт осуществляется иммерсионным или щелевым способом. Искатели располагают так, чтобы обеспечить выявление наиболее опасных или чаще встречающихся дефектов, например трещин и закатов в радиусных и галтельных переходах. Система искателей и изделие движутся относительно друг друга поступательно. Поперечное движение искателей обычно не предусматривается. [c.231]

При макроскопическом электрофорезе методом подвижной границы разделяющую среду стабилизируют, повышая ее вязкость с помощью сахарозы, желатины или крахмала. Часто в конструкцию электрофоретических камер вводят охладительные змеевики и водяные рубашки . При микроэлектрофорезе методом массопереноса и препаративных разновидностях свободного электрофореза наряду с платиной — универсальным электродным материалом для изготовления анодов — используют цинк, свинец, серебро, молибден, титан, покрытый двуокисью марганца, для изготовления катодов — цинк, титан, железо, никель. Конструктивно разнообразные электрофоретические ячейки отличаются прецизионным исполнением в основном лишь в тех случаях, когда они входят в качестве составного узла в измерительный преобразователь более сложного типа, использующий двойной эффект электрохимический и оптический. Это имеет место при реализации метода подвижной границы (У-образные стеклянные ячейки в сочетании с оптическими теневыми, масштабными или интерференционными измерительными системами) и методов микроэлектрофореза (замкнутые ячейки круглого и прямоугольного сечения, двухтрубные ячейки, открытые ячейки цилиндрические и прямоугольного сечения в сочетании с микроскопом). Устройство микроэлектрофоретических ячеек основных типов схематически представлено на рис. 25, б—г. [c.231]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...