Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Зеркально-теневой метод— Основные параметры

Зеркально-теневой метод. Основной информационный параметр при контроле этим методом — ослабление амплитуды отражения от противоположной поверхности (дна) изделия. Существуют несколько способов контроля зеркально-теневым методом 131 ]. Перечислим основные нормальным преобразователем по ослаблению первого (рис. 2.14, а) и п го (рис. 2.14, б) донных сигналов продольной волны (чаще всего п == 2) двумя наклонными преобразователями по ослаблению донного сигнала поперечной (рис. 2.14, й) и продольной (рис. 2.14, г) волн.  [c.120]


К основным параметрам теневого и зеркально-теневого методов относятся  [c.220]

К основным параметрам аппаратуры для контроля теневым и зеркально-теневым методами относятся  [c.248]

Существует несколько вариантов зеркально-теневого метода [7], общим отличительным признаком которых является то, что основным информационным параметром служит ослабление амплитуды отражения от противоположной поверхности  [c.158]

Для временного теневого метода вместо параметров ky а т вводится парамеэр точности измерения времени пробега импульса х = Ai/i, Основными измеряемыми характеристиками дефектов, выявленных теневым и зеркально-теневым методами, являются коэффициент выявляемости дефекта k ,  [c.250]


Смотреть страницы где упоминается термин Зеркально-теневой метод— Основные параметры : [c.317]   
Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий (1976) -- [ c.2 , c.220 ]



ПОИСК



123 — Основные параметры параметры

Метод теневой

Методы зеркально-теневой

Параметр основной

Теневой Основные параметры

Теневой и зеркально-теневой методы

Теневой луч

Ч зеркальный

Эхо-метод Основные параметры



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте