Линника микроинтерферометры — Схем

Линника микроинтерферометры — Схемы 93 [c.962]

Технические характеристики 1 кн. 71 Микроинтерферометр Линника — Оптическая Схема 1 кн. 70 — Принцип действия 1 кн. 68, 70 — Работа 1 кн. 70 [c.319]

На рис. 9 показана схема двухлучевого микроинтерферометра Линника. В ее основу положен принцип действия интерферометра Майкельсона. Свет от источника 1 (лампа накаливания) проходит через конденсор 2 и диафрагму <3, зеркалом 4 делится на два когерентных пучка, которые фокусируются объективами 5 и 5 на эталонное зеркало в и контролируемую поверхность 7 соответственно. После отражения от эталона и изделия пучок проходит через те же элементы схемы и фокусируется линзой 8 в плоскости диафрагмы 9, в которой с помощью окуляра /О наблюдают интерференционную картину взаимодействия эталонного и рабочего пучков света. [c.67]

Фиг. 207. Схема микроинтерферометра Линника ИЗК-46

Рис. 8. Схема двухлучевого микроинтерферометра Линника

Измерение шероховатости микроинтерферометром МИИ-4 В. П. Линника основано на использовании явлений интерференции. В этом приборе интерференционные картины образуются в результате наложения световых лучей, отраженных от поверхности контролируемой детали, и световых лучей, отраженных от образцового зеркала, поверхность которого можно считать практически абсолютно гладкой. Изображение поверхности вместе с интерференционными полосами (схема участка интерферограммы поверхности показана на рис. 7.27) рассматривается через окуляр. С помощью [c.147]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Принцип интерференц. М. ирименим как к проходящему, так и к отражённому свету. На рис. 7 показана схема микроинтерферометра Линника, предназначенного для изучения непрозрачных объектов. Свет от источника 7, пройдя коллиматор 2, разделяется пластинкой 3 на два пучка равной интенсивности. Пучок сравнения фокусируется объективом 6 на эталонном зеркале 7, а идентичный объектин 8 фокусирует второй пучок на поверхности исследуемого объекта 9, После отрап е-ния от зеркала и образца пучки возвращаются обратно но тем же путям, соединяются на пластинке 3 и интерферируют в фокальной плоскости линзы 4, сопряжённой с плоскостью объекта. Изображение предмета н [c.146]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...