Интерференционные приборы Линника

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ПРИБОРЫ ЛИННИКА [c.136]

Интерференционные приборы Линника [c.137]

Интерференционный прибор В. П. Линника 5 ООО 0.0003 Определение прямолинейности и плоскостности интерференцией света 5) L [c.736]

К числу интерференционных приборов акад. Линника относятся [c.136]

Метод интерференционного контраста. Небольшие изменения микрорельефа поверхности можно обнаружить с помощью интерференционного микроскопа или, микроинтерферометра. Последний прибор позволяет, кроме того, количественно оценивать изучаемый рельеф, что особенно важно для исследования структурного механизма пластической деформации. Используют методы двухлучевой и многолучевой интерферометрии. В первом случае (интерферометр Линника) свет от источника Ь расщепляется полупрозрачной пластинкой Т на два пучка (рис. 1.7). Один пучок, отраженный от [c.27]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Интерференционный метод проверки прямолинейности осуществляется с помощью специальных приборов — интерферометров. Отечественная промышленность выпускает для проверки прямолинейности плоских и цилиндрических поверхностей длиной до 5 л интерферометр Линника ИЗК-40. [c.102]

Из вышеуказанных бесконтактных приборов двойной микроскоп Линника МИС-11 предназначен для измерения чистоты обработанных поверхностей с 3-го по 9-й класс интерференционные микроскопы МИИ-1, МИИ-4, МИИ-5— для поверхностей с 10-го по 14-й класс. [c.214]

Для измерения чистоты поверхности в настоящее время промышленностью выпускается ряд специальных приборов двойные микроскопы акад. Линника МИС-11, профилографы Левина ИЗП-17М, ИС-18, ИЗП-5, интерференционные микроскопы МИИ-1. [c.397]

Измерение шероховатости поверхности бесконтактным способом производят с помощью оптических приборов акад. В. П. Линника. Одним из основных приборов для количественного определения шероховатости поверхности является двойной микроскоп МИС-11. Он предназначен для измерения шероховатости в пределах 3—9-го классов чистоты по ГОСТу 2789—59. Для оценки шероховатости 10—14-го классов чистоты используют интерференционные микроскопы МИИ-1 и МИИ-4. [c.81]

Контроль шероховатости с помощью оптических приборов более трудоемок, однако погрешности измерения, возникающие от упругости измерительной среды, при этом сведены к нулю. Двойной микроскоп Линника МИС-11 применяется для измерения параметра Яг В интервале 80—1,6 мкм. Интерференционный микроскоп МИИ-4 контролирует шероховатость поверхностей по параметру Яг В пределах 0,8—0,025 мкм. [c.88]

Для отражения на светочувствительной или специальной диаграммной бумаге микропрофиля поверхности в увеличенном масштабе применяются профилографы. Заводом Калибр выпускается профилограф-профилометр Калибр-ВЭИ , позволяющий оценивать шероховатость 6—14-го классов. Прибор снабжен устройством для записи профилограмм и позволяет определять высоту микронеровностей по Яа, как и в профилометре КВ-7М. Колебания алмазной иглы прибора преобразуются индуктивным методом в изменения напряжения электрического тока. К оптическим приборам для измерения шероховатости поверхности 3—9-го классов в лабораторных условиях относится двойной микроскоп МИС-11 конструкции акад. В. П. Линника. Для оценки шероховатости 10—14-го классов применяются интерференционные микроскопы МИИ-1 и МИИ-5 и др. Действие приборов основано на интерференции света. Для определения высоты микронеровностей в труднодоступных местах применяют метод слепков, заключающийся в том, что на исследуемую поверхность наносят пластические материалы (пластмассу, желатин, воск и др.) и по полученному отпечатку судят о степени шероховатости поверхности. Шероховатость поверхности и точность зависят от способов механической обработки, а при одном и том же способе — от режимов обработки (скорость резания и подачи), свойств и структуры обрабатываемого материала, вибрации инструмента и детали в процессе обработки, жесткости системы СПИД и др. Помимо шеро- [c.41]

Измерение шероховатости микроинтерферометром МИИ-4 В. П. Линника основано на использовании явлений интерференции. В этом приборе интерференционные картины образуются в результате наложения световых лучей, отраженных от поверхности контролируемой детали, и световых лучей, отраженных от образцового зеркала, поверхность которого можно считать практически абсолютно гладкой. Изображение поверхности вместе с интерференционными полосами (схема участка интерферограммы поверхности показана на рис. 7.27) рассматривается через окуляр. С помощью [c.147]

К оптическим профилирующим приборам относится двойной микроскоп Линника, в основу принципа действия которого положен способ светового сечения. Интерференционные микроскопы, будучи точными средствами измерения, получили распространение при лабораторных исследованиях весьма чистых поверхностей, в то время как в производственных условиях предпочтение отдавалось щуповым приборам. Решающее значение имел в этом отношении профилометр, разработанный в 1933 г. американскими учеными Абботом, Файрстоном, Байским и Вильямсоном. Основной целью, которую ставили перед собой 6 [c.6]

Интер ференц-микроскоп акад В. П. Линника (МИИ-1). С помощью этого прибора получают интерференционную картину исследуемой поверхности (фиг. 206), по которой производят оценку чистоты поверхности. Оптическая схема интерференц-микроскопа МИИ-1 позволяет одновременное наблюдение интерференционной картины и контролируемой поверхности. Ог источника свега I или 1а пучок света через линзу 5 падает на разделяющую призму 6, состоящую из двух склеенных гипотенузами прямоугольных призм. Наклонная поверхность одной из этих призм полупосеребрена, благодаря чему половина падающего на него света отражается, а другая половина проходит насквозь и благодаря объективу 7 собирается на зеркале 8, установленном в фокусе объектива. Отразившись от зеркала 8, пучок света вновь проходит через объектив 7 и попадает на гипотенузу призмы 6, отразившись на которой, следует через объектив 0 на зеркало 14. [c.152]

Бесконтактные, оценивающие мнкронеровности исследуемой поверхности без соприкосновения с ней. К этой группе относится большинство оптических приборов (интерференционный и двойной микроскопы академика В. П. Линника, микроскопы сравнения и др.). Большинство из указанных приборов применяют в лабораторных условиях и при проведении экспериментальных работ. В производственных условиях, где необходимо быстро определить класс чистоты обработанной поверхности, применяют микроскопы сравнения и наборы эталонов чистоты. С помощью микроскопов сравнения партии деталей контролируют сравнением каждой из них с образцом-эталоном. В поле зрения микроскопа наблюдатель видит увеличенное изображение контролируемой поверхности рядом с увеличенным изображением поверхности эталона (в микроскопе МС-49 увеличение х50). [c.193]

Д = 0,16 сосуществуют М. разных типов М. по схеме Линника (иногда с переменным увеличением) для исследования реплик, с помощью к-рых можно контролировать внутренние и другие трудно доступные участки иоверхности,одпо-объективныо упрощенные М., а также М. с использованием многолучевой интерференции. Для получения правильных результатов измерения глубины узких штрихов необходимо, чтобы разрешающая сила и увеличение прибора были достаточными для раздельного рассмотрения граней штрихов. При особо точных измерениях высоты сту пенек следует учитывать зависимость цены интерференционной полосы от апертуры пучка лучой, падающего на исследуемую поверхность. [c.230]

В основу интерференционных микроскопов положен принцип интерференции света, т. е. использование длины световой волны. Для аттестации рабочих образцов и фотографирования высот неровностей у деталей с ответственными поверхностями успешно применяют интерферометр Линника МИИ-4. На этом приборе (рис. 77) можно измерять шероховатость поверхности 10—14-го классов (самых высоких). Измеряемая деталь устанавливается на предметный столик 1, который может перемещаться во взаимно перпендикулярных направлениях. Источником света является лампа осветителя 2. В поле зрения окуляра 3 одновре.менно наблюдают шероховатость исследуемой поверхности и интерфе- [c.119]

Приборы светового сечения (ПСС) называют двойными микроскопами (МИС-11 системы В.П. Линника). Они позволяют измерять шероховатость поверхности до 2 0,8 мкм.Для измерения более чистых поверхностей с Л2 0,8...0,03 мкм применяют микроинтерферометры (МПИ-4 МИИ-5 МИИ-10 МИИ-12), работающие на принципе интерференции света. Поверхность образца (детали) рассматривается в микроскоп и при этом на ее изображение накладываются интерференционные полосы, по искривленшо которых судят о распределении неровностей. Если бы контролируемая поверхность была идеально плоской, то на ней возникли бы прямые параллельные интерференционные полосы. Микронеровности на поверхности изменяют ход лучей и вызыва- [c.46]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...