Типы рентгеновских спектров

В рентгеноструктурном анализе поликристаллов обычно используется К-серия характеристического рентгеновского излучения (см. типы рентгеновских спектров в статье Просвечивание металлов ). [c.130]

Типы рентгеновских спектров [c.188]

В последнее время рентгеновская спектроскопия становится одним из ведущих методов астрофизических исследований источников всех типов — от Солнца до удаленных квазаров и скоплений галактик. Наблюдаемые рентгеновские спектры этих источников содержат важную информацию о физических условиях, механизмах как термического (с температурами 10 —10 К), так и нетермического возбуждения, гравитационных и магнитных полях, химическом составе источников и межзвездной поглощаю-ш,ей среды. [c.289]

Все типы химических связей обусловлены взаимодействием между валентными электронами атомов (VI.2.9.2 ). Это подтверждается резк.им изменением оптических спектров атомов при образовании молекул. Линейчатые спектры атомов определяются состоянием внешни Х валентных электронов (VI.2.3.Г). Изменения в этих спектрах при образовании молекул означают, что меняются состояния валентных электронов. В то же время характеристические рентгеновские спектры (V.3.6.3°), зависящие от электронов, расположенных на внутренних слоях атомов (VI.2.9.4°), не изменяются при вступлении атомов в химические соединения. В образовании химических связей участвуют электроны, состояния которых легко изменить при затрате небольшой энергии. Такими электронами являются внешние валентные электроны. [c.459]

Развитие аналитических методов в электронной микроскопии. Современный электронный микроскоп все более становится аналитическим прибором благодаря разработке и применению различных приставок и прежде всего приставок для локального химического анализа. Наиболее распространена приставка для анализа характеристического спектра рентгеновских лучей, возникающих при взаимодействии быстрых электронов с исследуемым образцом. Трудности количественного определения содержания того или иного элемента связаны с необходимостью эталонирования экспериментальных спектров (для эталонирования необходимо точно знать толщину фольги, объемную долю исследуемой фазы и т. д.). В приборах новейших конструкций локальность определения химического состава, ограниченная размерами падающего на образец электронного пучка, достигает десятков ангстремов. Поэтому весьма перспективны растровые (сканирующие) электронные микроскопы просвечивающего типа, снабженные такой приставкой наличие интенсивного электронного зонда малого [c.61]

В физике плазмы рентгеновская спектроскопия применяется для диагностики источников двух типов с большим размером плазменного объема 0,1—1,0 м (например, токамаков) и источников малого размера 0,1—1,0 мм (лазерной плазмы, плазменного фокуса, вакуумной искры). Температура этих источников одного порядка — от единиц до нескольких десятков миллионов градусов, и основная часть линейчатого и непрерывного излучения приходится на мягкий рентгеновский диапазон от нескольких сотен электронвольт до нескольких килоэлектронвольт. В термоядерных установках проводятся исследования Н, Не, Ы, Ве — подобных ионов легких (О, С, Н) и тяжелых (Т1, N1, Ре) элементов, по которым определяются электронная и ионная температуры, ионный состав и состояние равновесия, а также исследуются макроскопические процессы и кинетика плазмы. Исследуемые линии принадлежат ионам примесей, поступающих в плазменный объем из стенок или остаточного газа, поэтому их интенсивность по сравнению с континуумом относительно невелика. Для разделения линий ионов различных элементов и кратностей необходимо разрешение порядка (1 — 3). 10 в отдельных, относительно узких, участках спектра. По изменению интенсивностей линий ионов различных кратностей можно судить об изменениях температуры, плотности и ионного состава плазмы по объему. Для таких измерений спектральная аппаратура должна иметь пространственное разрешение порядка 1 см для токамаков и 1 мкм для лазерной плазмы. Горячая плазма существует непродолжительное время (характерное время изменения параметров плазмы токамаков порядка 1 мс, лазерной плазмы — 10 нс), поэтому приборы должны обладать достаточно большой апертурой и многоканальной системой детектирования. Поскольку большинство координатно-чувствительных детекторов высокого разрешения имеют плоскую чувствительную поверхность, фокальная поверхность спектрометра тоже должна быть плоской, и угол падения излучения к ней должен по возможности быть небольшим. [c.286]

Галогенидосеребряные эмульсии по своей природе чувствительны к высокоэнергетическому излучению, включая рентгеновские лучи, гамма-лучи, ультрафиолетовый и синий свет, а при использовании соответствующих красителей присущая им чувствительность может быть распространена на зеленый, красный и ближний инфракрасный участки спектра. Поэтому по характеру спектральной чувствительности различают пять типов эмульсий. [c.114]

Применяя свет нескольких длин волн, можно записать цветную голограмму. Разумеется, сама голограмма не является цветной, но при освещении ее светом со многими длинами волн, мы получаем цветное изображение ( 5.3). Другие названия голограмм, связанные с длиной волны, относятся к области спектра или типу применяемой волны например, микроволновая голограмма, акустическая голограмма и рентгеновская голограмма. [c.149]

Решетки типа вогнутых прямоугольных и круглых (заготовки 70Х X 90 мм) со штрихами, нарезанными непосредственно на полированной поверхности стекла марки Ф1, предназначены только для работы в рентгеновской, вакуумной и ультрафиолетовой областях спектра. [c.46]

В настоящее время для диагностики состояния трубопроводов в процессе их эксплуатации используется широкий спектр универсального и специализированного оборудования, реализующего все известные физические принципы и методы технической диагностики, которые способны с высокой скоростью обследовать достаточно большие участки деталей и конструкций (радиационные, электромагнитные, рентгеновские, акустические и др., а также их комбинации). Однако интерпретация результатов измерений, проводимых такими методами, обычно представляет ряд трудностей, связанных с неоднозначностью изменения измеряемых параметров в зависимости от типов возникающих деформационных дефектов. Таким образом, эти методы неразрушающего контроля (НК) пред- [c.27]

Седьмая глава посвящена применению отражательных дифракционных рещеток для получения рентгеновских спектров и спектральных изображений. Высокая эффективность этих элементов, как и зеркал, может быть достигнута только при скользящем падении (если не говорить о многослойных покрытиях), которое при использовании обычных сферических решеток приводит к большим аберрациям. В седьмой главе кратко рассматриваются основные типы решеток с коррекцией аберраций решетки асферической формы, с переменным шагом и кривизной штрихов. Весьма важным является вопрос об эффективности нарезных и гологра- [c.8]

Развитие дифракционной рентгеновской спектроскопии началось в конце 1920-х годов, когда Комптон и Доан [43] впервые предложили использовать для разложения рентгеновских спектров штриховую решетку, работающую при малых скользящих углах, а Осгуд [80] применил для этой цели вогнутую решетку. Вплоть до 1950-х годов центральной задачей спектроскопии в мягкой рентгеновской области оставалась систематизация спектров и измерение длин волн линий, а основным типом прибора классический спектрограф скользящего падения со сферической решеткой на роуландовском круге (схема Пашена— Рунге или ее модификации). Регистрация спектров проводилась на фотопленку. Достоинствами таких спектрографов являются широкая рабочая область спектра (в типичном случае от 0,5 до 50—100 нм), высокое разрешение, превышающее 10 при оптимальных размерах решетки и входной щели, и универсальность для различных типов источников. Основные недостатки — малая светосила, связанная с аберрационными ограничениями ширины решетки, а также отсутствие пространственного разрешения по высоте щели вследствие астигматизма. [c.281]

Удаление электрона из внутренней оболочки приводит к тому, что к начальному потенциалу v (г) добавляется глубокая потенциальная яма и можно ожидать появления резонанса. Однако энергии внутренних оболочек при этом также уменьшаются на величину, равную примерно глубине этой ямы. Волновые функции внутренних оболочек 1 О остаются рочти неизменными и по-прежнему фигурируют в псевдопотенциале, хотя одно из состояний и не занято. Поэтому изменения в отталкивающей части псевдопотеициала стремятся скомпенсировать действие потенциальной ямы, что затрудняет возникновение резонанса. Эти аргументы не относятся, однако, к резонансам р-типа в элементах из группы лития периодической таблицы, поскольку там среди состояний внутренних оболочек нет состояний р-типа. Следовательно, компонента псевдопотеициала, отвечающая I = 2, совпадает с истинным потенциалом и указанной компенсации не происходит. Таким образом, возникновением этих резонансных состояний можно объяснить хорошо известную аномалию в рентгеновском спектре испускания лития, хотя и существует иное ее объяснение, которое основывается на многочастичных эффектах его мы обсудим в п. 8 5 гл. П1. [c.217]

Исследования дифракции рентгеновских лучей, электронов и исследование дальней тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения (ЕХАРЗ-спектроскопия) показывают, что ближайшее окружение и межатомные расстояния в некристаллических полупроводниках практически не отличаются от их кристаллических аналогов. Таким образом, можно сделать вывод, что полупроводниковые свойства материалов обусловлены ближним порядком (типом связи), а не дальним порядком (кристаллической структурой материалов). [c.12]

Спектр гранулярности радиографического снимка увеличивается с ростом энергии излучения и плотности почернения, а также зависит от типа используемой рентгеновской пленки. [c.352]

Чувствительность метода РСМА (предел обнаружения элемента) изменяется в зависимости от типа прибора, исследуемых элементов, интенсивностей линий спектра и фона, а также условий эксперимента. В табл. 4 представлены значения пределов обнаружения, достигнутые в современных рентгеновских микроанализа- [c.496]

Сведения о взаимодействии между Ge и Si обобщены в работах [X, Э, U1J. Диаграмма состояния Ge—Si (рис. 427) построена в работе [1] с использованием методов термического и рентгеновского анализов. Перед измерениями все сплавы были подвергнуты гомогенизации в течение нескольких месяцев. Диаграмма состояния характеризуется образованием непрерывного ряда твердых растворов. Никаких фазовых превращений после отжига сплавов в течение нескольких меся цев при 925, 715, 295 и 177 °С не обнаружено. Параметр решетк ) плавно меняется при изменении состава и характеризуется средним сжатием решетки на 0,0009 нм, т.е. немного меньше, чем на 0,2 % во всем интервале концентраций. Отрицательное отклонение ог правила Вегарда подтверждено в работе [2] максимальное отклон.-ние (около 0,00060—0,00069 нм или чуть более 0,1 %) наблюдали центральной части. Твердые растворы (Ge, Si) имеют разупоряд(1 ченную структуру типа алмаза, в которой атомы компонента, содер жащегося в сплаве в меньшем количестве, вероятнее всего располо жены во второй координационной сфере. Этот вывод сделан иа основании изучения фононного спектра сплавов [3]. [c.798]

При фиксировании ориентации кристалла относительно направления падения рентгеновского пучка выполнение вышеприведенных условий более чем для нескольких дифракционных максимумов маловероятно, если только, как в первоначальном опыте, не используется непрерывный спектр рентгеновских волн. Однако отсутствие информации о длине волны, ответственной за какой-либо конкретный дифракционный максимум, является очевидным недостатком. Если не считать исследований определенных типов, теперь в практике повсеместно используется ква-зимонохроматическое излучение и при просвечивании рентгеновским пучком наклон кристалла постепенно меняется с тем, чтобы обеспечить выполнение условий Лауэ. Здесь нет необходимости касаться детально того, как это осуществляется на практике. Достаточно сказать, что существует возможность получения трехмерной дифракционной картины от кристалла. Она образует трехмерную структуру, которая взаимосвязана со структурой кристалла, как и в случае двухмерных решеток, рассмотренных в предыдущем разделе. [c.45]

Возможны различные пути коррекции аберраций. Астигматизм может быть устранен добавлением к сферической решетке дополнительных корректирующих элементов — тороидальных или эллиптических зеркал [34, 57]. В этом случае сферическая аберрация и кома не устраняются и ограничения на апертуру решетки сохраняются. Дополнительное отражение снижает общую эффективность такой системы. В рентгеновской области спектра более целесообразно использовать единственный отражающий элемент — решетку, аберрации которой снижены за счет оптимизации формы поверхности, а также функции распределения и формы линии штрихов. Исследования в этом направлении привели к созданию различных неклассичеоких типов дифракционных решеток, отличающихся высокой светосилой, не уступающих сферической решетке в спектральном разрешении и дающих в некоторых случаях стигматическое изображение. [c.261]

При построении светосильных рентгеновских спектрометров, в которых используются дифракционные решетки в сочетании с зеркальными объективами скользящего падения типа Вольтера, значительными преимуществами перед классической роуландовской схемой обладают схемы установки решетки в сходящемся пучке непосредственно после объектива. Такие схемы реализуются, например, в телескопах-спектрометрах для исследования спектров астрофизических источников как с пропускающими [6, 89, 90, 1011, так и с отражательными решетками [51]. [c.275]

В заключение на рис. 7.25 приведены данные о чувствительности наиболее известных приборов для регистрации излучения космических источников в различных диапазонах длин волн [66, 18]. Наиболее высокой чувствительностью в вакуумной УФ-мяг-кой рентгеновской области спектра обладают спектрометры космического телескопа им. Хаббла, обсерваторий Лайман и АКСАФ. Однако их чувствительность на 3—5 порядков ниже той, которая необходима для наблюдения спектров, наиболее удаленных источников-квазаров с большим красным смещением. Эти данные показывают задачи и перспективы развития спектроскопии космических источников, которая в настоящее время является одной из важнейших областей астрофизических исследований. В частности, развитие рентгеновской космической спектроскопии в будущем будет в значительной степени определяться прогрессом в создании приборов с использованием новых типов дифракционных решеток, оптимизации их сочетания с зеркальной оптикой и улучшением характеристик трактов регистрации. [c.297]

Уже в первые годы после открытия лазера такие замечательные свойства его излучения, как исключительно высокие когерентность, направленность и интенсивность излучения, получение значительных плотностей энергии как в непрерывном, так и импульсном режимах, привлекли внимание не только научных работников, занимающихся разработкой и исследованием лазеров, но и инженерно-технического персонала с точки зрения широкого применения лазеров для практических целей в науке и lex нике. Это явилось одной из причин того, что с начала своего возникновения лазерная техника развивалась исключительно высокими темпами. За несколько лет своего существования она достигла весьма высокого уровня развития. С момента создания первого генератора электромагнитных волн основанного на использовании вынужденного излучения активных молекул, предложенного Н. Г. Басовым и А. М. Прохоровым, открылась возможность создания подобных генераторов в широком диапазоне длин волн, включающих в себя всю видимую часть спектра. Впоследствии усилиями ученых различных стран мира было создано весьма большое число различных типов лазеров, работа" ющих в диапазоне от рентгеновской части спектра до длин волн принадлежащих СВЧ диапазону, т. е, включающих всю инфракрасную часть спектра. В настоящее время существует большое число различных типов лазеров, в качестве рабочих тел в которых используются вещества, находящиеся во всех видах агрегатного состояния (твердом, жидком и газообразном). В различных типах лазеров при этом применяются и различные методы накачки оптическая, электрическая, химическая, тепловая и др. Различаются лазеры и по режиму работы, помимо обычных (непрерывного и импульсного) режимов лазеры работают также и в специфических режимах (гигантских импульсов и синхронизации мод). [c.3]

Ширина линии характеристического спектра рентгеновского излучения равна сумме тирии верхнего и нижнего уровней атома. Полная ширина уровня определяется радиационными и безрадиациоиными (эффект Оже) переходами. Оже-переходы какого-либо определенного типа возможны только в том случае, если энергия перехода превышает энергию связи конвертируемого элект- [c.806]

Флюоресцентные усиливающие экраны употребляются для уменьшения времени просвечивания. Их изготовляют путем нанесения слоя люминофора (2п8, Сс 5, Ва304, РЬ504, Са У04 и др.) на картонную или пластмассовую подложку. При прохождении через эти экраны ионизируюш,их излучений люминофоры начинают излучать фотоны видимой, сине-фиолетовой, ультрафиолетовой и инфракрасной областей спектра, которые дополнительно воздействуют на эмульсию рентгеновской пленки и тем самым сокращают необходимое время просвечивания. В зависимости от излучения и типа экрана коэффициент усиления колеблется в пределах 1,2...4,5 (табл. 16). [c.112]

В щелочно-галоидных кристаллах типа Na l полосы поглощения возникают при наличии вакансий. Нагревание кристалла Na l в атмосфере паров натрия приводит к некоторому избытку ионов натрия и обусловливает образование вакантных узлов в подрешетке хлора. При быстром охлаждении кристалла ( закаливании ) вакансии оказываются замороженными . На место отсутствующего отрицательного иона хлора для компенсации заряда может быть захвачен электрон. Образуется f-центр. Собственная частота электрона в f-центре приходится на видимую область спектра. В результате кристалл Na l окрашивается в желтовато-коричневый, а КС1 — в голубой цвет. Центры окраски в щелочно-галоидных кристаллах могут быть созданы также облучением образца рентгеновскими или гамма-лучами. [c.100]

В качестве источников рентгеновского излучения обычно используют трубки с алюминиевым или магниевым анодами линии А (А1 и Mg) с энергией , = 1486,6 эВ и 1253 эВ, соответственно. Падающие на образец фотоны вызывают переходы связанных на внутренних К, I, М оболочках электронов в зону проводимости полупроводника (переход 1 на рис.4.12,а), выше уровня Ферми металла или фотоэмиссию, электронов в вакуум (переход 2 на рис.4.12,а). Этим переходам соответствуют характеристические спектры поглощения (рентгеновская абсорбционная спектроскопия). В РФЭС исследуются переходы второго типа — измеряется распределение эмит-тированных фотоэлектронов по кинетическим энергиям Екин- [c.136]

Двухкаиальный коротковолновой спектрометр изготовлен на базе спектрометра КРУС конструкции М. А. Блохина [1]. Разборная рентгеновская трубка была заменена на отпаянную типа 5БХВ-1 с вольфрамовым зеркалом анода. Держатель образцов выполнен в виде пластины, которая вводилась под пучок первичных рентгеновских лучей по пазам в подставке для трубки. Излучатель спектров вставлялся в гнездо пластины снизу и прижимался к упорам пружиной. Описанное устройство позволяет всегда однообразно устанавливать пробу относительно коллиматора и пучка первичных рентгеновских лучей. [c.163]

Такого же типа схема реализована на синхротроне ФИАН Пахра . В схеме применяется фокусирующее зеркало (радиусом около Зм), выходная щель на каретке движется по кругу Роуланда, в этой же каретке смонтированы образец и приемник излучения. Спектрометр представляет собой спектрограф ДФС-451, модифицированный на область спектра 20—2000 А. Для выделения спектральных порядков в этой схеме применяется наряду о пленочными фильтрами система из двух зеркал с переменным углом падения СИ. Горизонтальные сечения обоих зеркал являются сторонами параллелограмма, и система не меняет угла падения излучения на щель при изменении углов падения на зер.кала. В этом обрезающем фильтре из двух зеркал используется пороговая зависимость коэффициента отражения от угла падения в мягкой рентгеновской области.- Установка на базе спектрографа ДФС-451 предназначена для измерения спектров возбуждения люминесценции в Ш ирокой области спектра (20—2000 А), поэтому приемником излучения является сам [c.237]

Гораздо меньше известно о двух других типах состояний на границе раздела Si02 - Si. Надежно установлено, что различные виды ионизирующего излучения, такие, как поток электронов и рентгеновское излучение, а также ионная имплантация, приводят к появлению дополнительных состояний на границе раздела [2.50]. Однако такие состояния зачастую отжигаются в инертных средах аргона или азота при температурах не выше 350° С. Поэтому для них не требуется проведения термообработок в водороде, необходимых для отжига состояний структурного происхождения. Другое отличие состоит в том, что состояниям структурного типа отвечают дискретные уровни в запрещенной зоне, тогда как радиационно-индуцированные состояния обычно имеют непрерывный спектр. Эти особенности, по-видимому, указывают на метастабильный характер таких состояний, подобных захватываемым в объеме окисла зарядам, возникающим под действием ионизирующего излучения. [c.68]

Смотреть страницы где упоминается термин Типы рентгеновских спектров : [c.361] [c.375] [c.291] [c.459] [c.1224] [c.152] [c.376] [c.377] [c.306] [c.199] [c.203] [c.287] [c.293] [c.208] [c.26] [c.51] [c.425] [c.572] [c.67] [c.645] [c.814]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...