Спектр характеристический, длины волн

В истории физики дифракционные решетки выступают как одни из самых незаменимых инструментов. До 1891 г., когда Майкельсон изобрел интерферометр, названный его именем, дифракционные решетки были единственным инструментом, с помощью которого измерялись характеристические длины волн атомных спектров. [c.434]

При рентгеновском методе замера напряжений в металлах используется монохроматическое (характеристическое) рентгеновское излучение так называемой /С-серии. Для того чтобы получить такое излучение, необходимо приложить к трубке высокое напряжение, большее некоторой величины, характерной для взятого рабочего металла анода. Например, для исследования стальных конструкций в качестве рабочего металла анода используется кобальт. Если анодное напряжение в трубке не превышает 7710 в, спектр рентгеновского излучения кобальта будет сплошным, охватывающим длины волн от самых коротких, порядка 1,6 А, до длинных волн теплового излучения. При анодном напряжении, превышающем 7710 в, картина резко меняется. Интенсивность сплошного спектра уменьшается, и на его фоне появляются ярко выраженные излучения с определенными. [c.528]

Хотя изложение основ рентгеноструктурного анализа не является задачей этой книги, упомянем здесь об интерференционном методе исследования кристаллов, в котором используют дискретные рентгеновские спектры характеристические лучи) — резкие пики, появляющиеся на сплошном фоне рентгеновского излучения при больших ускоряющих потенциалах. Кристаллографическими исследованиями было установлено, что в любом кристалле можно обнаружить определенные плоскости, в которых атомы или ионы, составляющие его решетку, упакованы наиболее плотно. Такие плоскости отражают монохроматическое рентгеновское излучение, и, следовательно, может происходить интерференция волн, отраженных различными плоскостями. Очевидно, что усиление отраженной волны произойдет лишь под вполне определенным углом 0 (рис. 6.78). Если разность хода (А = АО + ОВ) равна целому числу длин волн, то [c.351]

Вид характеристической кривой может меняться в зависимости от сорта эмульсии, условий проявления, характера освещения и длины волны падающего света. Так, характеристическая кривая для пластинки, проявленной в старом проявителе, всегда более пологая (коэффициент у меньше), чем для пластинки, проявленной в свежем проявителе. На одной и той же пластинке коэффициент у в видимой области спектра больше, чем в ультрафиолетовой. С увеличением времени проявления величина у возрастает. [c.10]

При рентгеновском методе замера напряжений в металлах используется монохроматическое (характеристическое) рентгеновское излучение так называемой /С-серии. Для того чтобы получить такое излучение, необходимо приложить к трубке высокое напряжение, большее некоторой величины, характерной для взятого рабочего металла анода. Например, для исследования стальных конструкций в качестве рабочего металла анода используется кобальт. Если анодное напряжение в трубке не превышает 7710 В, спектр рентгеновского излучения кобальта будет сплошным, охватывающим длины волн от самых коротких, порядка 1,6 А, до длинных волн теплового излучения. При анодном напряжении, превышающем 7710 В, картина резко меняется. Интенсивность сплошного спектра уменьшается, и на его фоне появляются ярко выраженные излучения с определенными, строго фиксированными, длинами волн. Для кобальта таких излучений будет.три. Самое интенсивное из них имеет длину волны X, равную 1,7853 А. Соседнее с ним, более слабое,— 1,7892 А. Эти два излучения образуют так называемый дублет Kjj. Третье излучение является слабым и практического значения не имеет. При дальнейшем повышении напряжения характер спектра не меняется. Возрастает лишь интенсивность излучения. Указанные же длины волн сохраняются. [c.487]

Э. Резерфорда его учеником Г. Мозли, который измерял длины волны характеристических рентгеновских лучей, испускаемых различными элементами, и нашел прямую связь между частотой спектра линий этих лучей и порядковым номером данного элемента в периодической системе. Этот порядковый номер N, как показал ван ден Брук и тот же Мозли, численно равнялся положительному заряду атомного ядра z данного элемента N = z), а, значит, указывал общее число электронов в оболочке нейтрального атома того же элемента. [c.452]

Практическое использование рентгеновского излучения часто требует более точного знания характеристического спектра для каждого элемента, чем то, которое следует из закона Мозли. В табл. 35-2—35.5 представлены длины волн и края поглощения для различных Элементов. [c.797]

Следует подчеркнуть, что коэффициент е в максимуме полосы поглощения (или вообще его функция от длины волны) является такой же. молекулярной постоянной, как и все ранее рассматривавшиеся. Величина е не зависит от концентрации вещества и толщины поглощающего слоя. Это свойство используется (как и характеристические частоты) для идентификации различных соединений по их электронным спектрам поглощения. [c.98]

Для построения характеристической кривой часто применяется метод сеток [41, 42]. Следует иметь в виду, что пропускание сеток не аддитивно, и их не следует устанавливать друг за другом во избежание муаровых эффектов. Сетки можно располагать перед щелью либо перед решеткой. При пользовании сетками следует убедиться, что дифракция не искажает их коэффициента пропускания настолько сильно, что появляется заметная зависимость коэффициента пропускания от длины волны. Если такая зависимость обнаруживается, то нельзя пользоваться для измерений в вакуумной области спектра сетками, програ- [c.240]

Чаще всего для построения характеристической кривой применяется метод, основанный на том, что сенсибилизированная люминофором фотоэмульсия имеет для всех длин волн постоянный коэффициент контрастности [50—52]. Б этом случае для построения характеристической кривой необходимо наносить марки почернения в той области спектра, для которой применима обычная фотометрическая техника, в частности, удобно производить измерения с помощью сеток или ступенчатых ослабите- [c.242]

Необходимо обратить внимание еще на следующие его возможности допустим, что спектр поглощения состоит из нескольких полос, как это изображает кривая почернения спектрограмм поглощения на рис. 305, и точек пересечения этой кривой с кривыми марок почернения не хватает. Так, например, непосредственно из графика нельзя определить, какой интенсивности соответствует точка ТУ — минимума полосы поглощения при Если, однако, для данной длины волны Хд, построить вспомогательную характеристическую кривую почернений, на которой по оси ординат от кладывать плотности почернений марок, а по оси абсцисс — соответствующие им логарифмы интенсивности света, то по плотности почернений на этой кривой в точке N может быть найдена и со- [c.392]

Необходимые для качественного группового анализа сведения могут быть собраны в своеобразные спектральные таблицы (рис. 500, а и б). Объясняется это тем, что здесь нет особой необходимости точно знать абсолютные значения коэффициентов поглощения или даже точное положение максимумов спектров поглощения по шкале длин волн. Характерным признаком, который используется в целях идентификации веществ, является прежде всего структура группы колебательных полос (группа характеристических частот, см. гл. 16, 3). Здесь нередко достаточно лишь качественного указания о том, какие полосы относительно сильнее, а какие слабее и их область расположения в некотором интервале длин волн или частот. При некотором более тщательном измерении частот и интенсивностей отдельных колебательных полос можно провести анализ очень близких по химическому составу веществ. Дело в том, что интенсивности и частоты [c.665]

Монохромное фотометрирование. Сравнение интенсивностей двух длин волн может быть выполнено визуально или с помощью объективных измерений. Рассмотрим объективные методы измерения относительных интенсивностей, предполагая, что характеристическая кривая фотоэмульсии известна. Измерения можно проводить по одной кривой почернений, построенной для данной области спектра. Тогда, если плотности почернений измеряемых линий находятся на прямолинейном участке характеристической кривой, то можно написать для каждой линии следующие выражения. Для первой спектральной линии из [c.487]

Пользуясь характеристической кривой пластинки для данной спектральной линии, можно определить отношение интенсивности этой линии (в центре максимума контура линии) к интенсивности участка сплошного спектра ДЯ в окрестности той же длины волны. Тогда будем иметь [c.489]

Эмиссионный спектральный анализ. Эмиссионный спектральный анализ основан на изучении характеристических линейчатых спектров излучения светящихся паров вещества. Спектр излучения является однозначной характеристикой элемента, как и его атомный номер. Если поместить вещество в пламя, то оно окрасится в соответствии с введенным веществом. Свет окрашенного пламени можно разложить с помощью призмы и получить линейчатый оптический спектр — своеобразный паспорт вещества. Этот спектр состоит из отдельных ярких линий, расположенных в различных участках спектра. Изменяя температуру пламени, можно усилить яркость одних линий и ослабить другие, но нельзя изменить длину волны линии. Если в пламя введена многокомпонентная проба, то оптический спектр излучения пламени содержит характерные линии всех элементарных компонентов. Чтобы получить представление о составе исследуемого вещества, анализируют структуру этих линий. [c.123]

При сопоставлении данных по характеристической вязкости [т]] и кислотостойкости К было установлено, что при идентичном изменении, [т]] при старении под фильтрами П-3 и П-4 кислотность в последнем случае значительно выше. Это свидетельствует о том, что под действием излучения с длиной волны 436 нм усиливаются процессы образования карбоксильных групп в основной цепи пленкообразователя за счет распада сложноэфирных групп. Поскольку смола БМК-5 не имеет собственных полос поглощения в этой области спектра, этот процесс может быть обусловлен каталитическим действием подложки или сенсибилизирующим действием примесей, например солей железа [22 23, с. 119, с. 167—170]. [c.32]

Зависимости потерь массы, характеристической вязкости и других свойств от длины волны при одинаковой продолжительности старения характеризует спектр действия излучения различных длин волн на покрытия [c.32]

Ускоренные электроны пучка возбуждают рентгеновское характеристическое излучение атомов вещ,ества. Возникаюш,ее излучение разлагается в спектр, а интенсивность линий спектра регистрируется с помощью счетчика фотонов. Качественный состав микрообъема определяется сопоставлением длин волн линий характеристического спектра, вычисленных по углу отражения этих линий от кристалла по закону Вульфа-Брэгга с табличными значениями длин волн. Концентрация элемента в анализируемом объеме определяется по интенсивности соответствующих линий, которая сводится к сравнению интенсивности линий от исследуемого образца с интенсивностью аналогичной линии от стандартного образца, в котором содержание анализируемого элемента известно. Изменение концентрации элемента вдоль выбранного направления вызывает пропорциональное изменение интенсивности излучения, которое записывается в виде концентрационных кривых на диаграмме автоматически. [c.230]

Приведенный диапазон длин волн в ряде случаев может сдвигаться за пределы характеристической области. В частности, полосы спектров газообразных и твердых веществ часто сдвигаются в ту или иную сторону по сравнению с их положением в спектрах растворов. [c.55]

При взаимодействии фотонов Р. л. с электронами атомов вещества энергия излучения идет на образование а) когерентного излучения с неизменной длиной волны (опо используется при проведении всех рентгеноструктурных исследований) б) некогерентного излучения с измененной длиной волны и фотоэлектронов отдачи (Комптон-эффект) в) фотоэлектронов, обладающих конечной кинетической энергией и ионизованных атомов (внутренний фотоэффект) г) электронов Оже и дважды ионизованных атомов д) ионизованных атомов и коллективных (плазменных) колебаний электронов в результате процессов г) и д) могут возникать спутники — сателлиты основных линий рентгеновских характеристических спектров. [c.424]

В табл. 5 приведены длины волн и для наиболее распространенных в структурном анализе анодов рентгеновских трубок. Здесь же указаны потенциалы возбуждения серии К для соответствующих анодов, а также значения напряжения, обеспечивающие оптимальное соотношение между интенсивностью характеристической и сплошной части спектра. При небольшом разрешении ли-нии и сливаются в одну линию Ка. [c.189]

Сплошной спектр состоит из излучения, включающего непрерывный ряд длин волн от Х вн и до некоторого более высокого значения, образующихся вследствие разных условий торможения отдельных электронов на аноде характеристический — из отдель- [c.189]

В таблице приведены длины волн -серии характеристического рент ала возбуждения характеристического спектра, схемы электронных перехо Величины длин волн получены путем умножения значений длин волн [c.18]

Размерные эффекты. При обсуждении энергетического спектра электронов на однородных поверхностях тонких пленок мы уже отмечали целую гамму размерных электронных эффектов, когда свойства объекта начинают зависеть от ряда характеристических размеров. Особое внимание было обращено на квантовые размерные эффекты, возникающие при приближении размеров объекта к длине волны Де Бройля кв— квантовые пленки, нити, точки и др. Однако уже при значительно больших, чем Хв, размерах малых объектов начинают проявляться классические размерные эффекты. Последние играют важную роль во многих явлениях природы и в экологии (проблемы конденсации переохлажденной атмосферы, проблемы вечной мерзлоты, аэрозоли и задача борьбы с озоновыми дырами и многое другое). Техника широко использует высокодисперсные частицы в первую очередь — это порошковая технология изготовления конструкционных и магнитных материалов, керамических композиций для высокотемпературной сверхпроводимости и т.д. Малые частицы обладают развитыми фаницами раздела и высокой кривизной свободных поверхностей. Адсорбционные процессы на таких поверхностях могут оказать сильное влияние на многие физические свойства таких объектов. [c.240]

Метод микрорентгеноспектрального анализа основан на том, что пучок электронов с большой энергией фокусируется системой электромагнитных линз до микронного диаметра и направляется на выбранный участок образца, поверхность которого наблюдается под оптическим микроскопом при увеличении 400— 600. Попадая на образец, электроны возбуждают в анализируемом участке рентгеновское излучение, которое разлагается системой кристаллов в спектр и регистрируется счетчиками. По длине волны и интенсивности.рентгеновского излучения производится качественный и количественный анализы. Чувствительность метода различна для различных элементов. Точность количественного анализа зависит от условий возбуждения излучения и химического состава объекта, так как зависимость интенсивности от концентрации нелинейная. Для точных количественных измерений нужны эталоны, использование которых дает точность до 5 % без эталонов точность 10—15%. В настоящее время применяются серийные отечественные установки МАР-2, французские, английские, японские микроанализаторы. Они позволяют производить анализ элементов от магния до урана при локальности 2—5 мкм. Проектируются установки, которые будут анализировать бор, азот и др. Почти все микроанализаторы снабжены сканирующим устройством, поэтому одновременно можно производить анализ элементов в точке и получать топографическую картину распределения элементов в нескольких характеристических излучениях, а также в отраженных и поглощенных электронах. Метод микрорентгеноспектрального анализа обладает широкими возможностями для анализа структуры и состава переходной зоны. Принципиальным преимуществом этого метода является возможность с наивысшей пока степенью локальности изучать переходную зону многокомпонентных систем. [c.35]

Динамическая модель по Дебаю. П. Дебай в 1912 г. предложил простую модель, в которой кристаллическая решетка заменяется упругим континуумом (упругой непрерывной изотропной средой), имеющим, однако, конечное число степеней свободы, равное 3N, где N — число атомов в кристалле. Эта модель неплохо описывает низкочастотные акустические колебания, когда длина нормальной волны много больше межатомных расстояний. Учет конечности числа степеней свободы производят, обрывая спектр на частоте Qfl (ее называют характеристической дебаевской частотой)— такой, чтобы выполнялось условие нормировки [c.135]

Несколько позже Дебай предложил остроумную модель, согласно которой в твердом теле имеется полный спектр характеристических колебаний с длинами волн, лежащими в пределах от макроскопических размеров кристалла до размеров, соответствующих межатомным расстояниям. Б этой модели, известной под разными названиями (вроде студня или квазиконтинуума ), сохраняется важное представление о наличии единой характеристической температуры данного твердого тела. Б целом модель Дебая очень хорошо объясняла экспериментальные результаты и, в частности, величины скорости уменьшения теплоемкости с температурой в области низких температур, в которой по формуле Эйнштейна должно наблюдаться значительно более резкое спадание теплоемкости ). [c.186]

Кроме белого рентгеновского излучения, которое возникает при любых малых скоростях движения электронов и на любых анодах, каждый химический элемент, применённый в качестве анода, испускает свой собственный характеристический рентгеновский спектр, накладывающийся на спектр торможения. Характеристический спектр в отличие от спектра торможения является не сплошным, а состоящим из нескольких серий волн с характерными для каждого данного элемента длинами волн и минимальными напряжениями возбуждения (в кв), при которых эти характеристические рентгеновы лучи возникают. На суммарной спектральной кривой длины волн характеристического спектра отличаются резкими максимумами интенсивности. [c.154]

Рассмотрим аппаратуру для измерения рассеяния рентгеновского излучения. Естественно, что приборы, работающие в мягкой и ультрамягкой областях, оказываются существенно более сложными из-за необходимости обеспечения вакуума в приборе, чем в жесткой рентгеновской области. Несмотря на это, необходимость измерения во многих случаях характеристик рассеяния на рабочей длине волны зеркала привела к появлению установок, обеспечивающих возможность измерений при длинах волн до 11,3 нм [12, 26, 82]. На рис. 6.7 приведена схема прибора для измерения индикатрисы рассеяния [26]. Установки, как видно из рисунка, имеют большие линейные размеры для получения пучка с угловой расходимостью в десятки угловых секунд, что необходимо для исследования суперполированных поверхностей, имеющих параметр о до единиц ангстрем и большие корреляционные длины. Измерения проводятся на контрастной характеристической линии, выделяемой из спектра материала анода рентгеновской трубки 1. Щели 2 я 3 обеспечивают требуемую угловую расходимость падающего на образец пучка рентгеновского излучения. С помощью устройства перемещения 4 образец может быть выведен из рентгеновского пучка и тогда, перемещая детектор 6 с узкой щелью 8, записывается контур падающего пучка. Затем, вводя образец 5 и устанавливая его под заданным углом, детектором 6 с помощью механизма перемещения 7 производится запись индикатрисы рассеянного излучения. Подробное рассмотрение процедуры обработки экспериментальных индикатрис рассеяния для вычисления среднеквадратичной шероховатости и корреляционной длины [c.239]

Характеристическая частота полносимметричного колебания двойной связи в алкепах составляет около 1620 см-. При какой длине волны она будет проявляться в КР-спектре, если в качестве источника возбуждения воспользоваться линией 488,0 нм аргонового лазера [c.245]

Различают непрерывный и линейчатый спектры рентгеновского излучения. Непрерывный спектр связан с излучением быстрого электрона при его торможении в теле антикатода. При увеличении ускоряющего напряжения U и, следовательно, кинетической энергии электронов mv t2 = eU) коротковолновая граница этого тормозного излучения смещается (максимальная энергия и.злучаемых рентгеновских квантов Йш равна кинетический энергии eil бомбардирующих электронов) и, кроме того, появляются узкие максимумы (характеристическое излучение). Длины волн этих дискретных линий зависят от того, какой химический элемент использован в качестве материала антикатода. Электрон, бомбардирующий антикатод, обладает большой кинетической энергией и мижет выбить электрон с внутренней оболочки атома. В результате атом оказывается возбужденным и может совершить квантовый переход в основное состояние с испусканием кванта электромагнитной энергии. Благодаря бшыпий разности энергий основного состояния и состояния с возбуждением электрона внутренней оболочки для всех атомов с атомным номером Z порядка 10 или больше это излучение принадлежит рентгеновской области спектра. [c.9]

РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ — электромагнитное излучение, занимающее широкий диапазон длин волн от 800 A (8 10 в см) до 0,0001 А (10 2 м). В зависимости от механизма возникновения Р. л. при взаимодействии заряженных частиц или фотонов с атомами вещества рентгеновские спектры имеют непрерывный или линейчатый характер. Длины волн и интенсивность линейчатого характеристического спектра Р. л. однозначно определяются атомным номером Z элемента и электронной структурой атомов. Длины волн спектральных линий определяются соотношением hv = Ei — Ef, где Ei и Ef — энергии связи электронов на начальном и конечном уровнях электронного перехода (см. Атом, Моали закон, Спектры рентгеновские). Характеристич. спектр Р. л. занимает диапазон длин волн от 375 A (La — полоса Na, энергия возбуждения 55 эв) до 0,05 A ( T — линия Md, энергия возбуждения 200 кэв). [c.424]

Здесь N. — общая концентрация молекул г-го типа, распределенных по различным колебательным уровням основного электронного состояния, = ксВЦк — характеристическая вращательная температура для молекул -го типа (равна 2,88 К для молекул N2). На рис. 3.24 был показан типичный спектр молекул N2 при возбуждении излучением с длиной волны 488 нм [92]. [c.377]

Вторая компонента имеет непрерывный спектр, начинающийся от длины волны, соответствующей энергии, выраженной в кэВ, и численно равной напряжению на рентгеновской трубке. На непрерывнь Й спв1ар наложены линии характеристического излучения материала анода рентгеновской трубки. Эта компонента является основным источником фона под флюоресцентными линиями и, кроме того, несет информацию о среднем составе (среднем атомном номере) пробы - чем меньше средний атомный номер пробы, тем выше поток рассеянного излучения. [c.347]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...