Различные интерференционные схемы

Различные интерференционные схемы [c.76]

С помощью дифракционных решеток-светоделителей осуществляются различные интерференционные схемы — Майкельсона, [c.167]

Излагая схему этого простого опыта, можно еще раз отметить, что в реальных условиях возникают самые различные интерференционные полосы. При анализе условий их образования часто оказывается полезным выяснить, где локализована та или иная группа полос, что достигается выбором определенного способа наблюдения интерференционной картины. [c.217]

Изложенные в предыдущем параграфе сведения о чувствительности многолучевых интерференционных схем показывают важность этого параметра как определяющего диапазон применения интерференционного многолучевого способа. Кроме того, учет зависимости чувствительности от настройки обеспечивает однозначность получаемых результатов, так как оптическая плотность почернения на фотопленке, вносимая объектом с определенным фазовым сдвигом, будет различной в зависимости от настройки. Наконец, как будет показано ниже, целый ряд факторов приводит к тем или иным отклонениям реальной чувствительности от расчетной. [c.116]

Явления интерференции в пластинках используются в различных схемах интерферометра. Примеры интерференционных схем даны на рис. 8 [36] [c.25]

Принципы образования контрастного изображения в интерференционном и фазово-контрастном микроскопах различны. При интерференционных схемах первичное изображение в микроскопе остается в полной неприкосновенности. На вторичное (неконтрастное) изображение прозрачного объекта накладывается дополнительная световая волна (так называемая волна сравнения), от взаимодействия с которой изображение объекта не только делается контрастным, но может стать цветным. [c.31]

НИТЬ интерференцию взаимодействием различных фотонов (см. 5). В рассматриваемом случае это доказывается уменьшением интенсивности потока фотонов от источника S в интерферометр до столь малых значений, при которых в пределах интерферометра не может находиться в среднем более одного фотона. При этом наблюдаемая интерференционная картина при соответствующем увеличении времени экспозиции не изменяется, являясь доказательством утверждения, что фотон интерферирует сам с собой . При той же малой интенсивности можно убедиться с помощью двух детекторов, включенных в схему совпадений и установленных в соответствующих точках на путях AB D и AB D, что всегда фотон детектируется либо на пути AB D, либо на пути AB D, и никогда на обоих путях одновременно. Общее число фотонов, падающих на пластину А, равно сумме чисел фотонов, детектируемых на пути А В 2D и А В 2D (закон сохранения энергии). Это еще более надежно подтверждает положение, что фотон интерферирует сам с собой . [c.411]

Па рис. 7.1 показана типичная схема теневого дефектоскопа с визуальным, изображением поля прошедшего излучения. Источник 1 УЗ-волн обычно достаточно большой, чтобы интерференционными явлениями в ближней зоне можно было пренебречь и считать с достаточной точностью поле излучения плоской однородной волной. С этой же целью его, наоборот, можно сделать малым, чтобы работать в дальней зоне, но в этом случае амплитуда поля суш,ественно снизится. УЗ-волны проходят через объект контроля 2. При наличии в объекте контроля дефекта однородность поля нарушается и позади дефекта образуется звуковая тень. Для повышения контрастности и четкости изображения прошедшие лучи обычно фокусируют ультразвуковой линзой 3. В фокальной плоскости линзы возникает акустический рельеф, т. е. определенное распределение интенсивности или амплитуды в плоскости поперечного сечения звукового пучка, соответствуюш,ее наблюдаемому дефекту. Чтобы сделать звуковой рельеф видимым, применяют различные устройства, называемые акустико-оптическими преоб-разователя.ми 4. [c.392]

В качестве оптического устройства наиболее широко применяется интерферометр Майкельсона и его различные модификации. На рис. 140 приведена упрощенная функциональная схема интерференционного измерителя. [c.238]

При исследовании анизотропных препаратов к обычной схеме микроскопа добавляют перед конденсором— поляризатор, а после объектива — анализатор, находящиеся в скрещенном либо параллельном положении друг относительно друга. Объект может поворачиваться вокруг оси микроскопа. При скрещенных поляризаторе и анализаторе в темном поле зрения микроскопа видны темные, светлые или окрашенные двоякопреломляющие элементы объекта. Вид этих элементов зависит от положения объекта относительно плоскости поляризации и от величины двойного лучепреломления. Более точное определение оптических данных объекта делается с помощью различных компенсаторов (неподвижных кристаллических пластинок, подвижных клиньев и пластинок и др.). Все измерения при наблюдении в поле непосредственно объекта производятся при очень малой апертуре конденсора. Такое наблюдение называется ортоскопическим. При исследованиях с помощью микроскопа в поляризованном свете проводят также и коноскопическое наблюдение, т. е. наблюдение специфических интерференционных фигур в выходном зрачке объектива, для чего в схему микроскопа вводят дополнительную линзу, проектирующую изображение выходного зрачка в поле зрения окуляра. Эта линза носит название линзы Бертрана. [c.16]

Схемы голографической записи и восстановления изображений могут быть различными, однако общую схему можно представить следующим образом. Излучение от источника когерентного света делится светоделительной системой на два потока, один из которых попадает в систему формирования опорного пучка, другой в систему формирования пучка, освещающего объект. Получение голограммы заключается в регистрации интерференционной картины светочувствительным приемником, например фотографической пластинкой. При освещении зарегистрированной картины опорным пучком формируется восстановленное изображение, наблю- [c.25]

Для того, чтобы выяснить, является ли действие совокупности изложенных выше причин существенным в конкретной экспериментальной установке, можно использовать следующий метод. Перед ИФП ставится диафрагма с малым отверстием. При перемещении диафрагмы перпендикулярно оси ИФП, величина интерференционных максимумов будет изменяться пропорционально тому вкладу, который вносят в яркость интерференционной картины различные участки ИФП. Расчет влияния на ИФП неоднородной, освещенности зеркал или эквивалентного ей влияния зонной чувствительности ФЭУ в приближении элементарных интерферометров приведет к тому, что вклад каждого элементарного интерферометра в выходной сигнал бу< дет входить в интеграл (1.14) со своим весом. При неоднородной освещенности зеркал [10] в схеме, например, аналогичной изображенной на рис. 16, последний будет пропорционален освещенности в данной точке ИФП [c.38]

Образование области локализации интерференционной картины можно рассмотреть с помощью схемы интерференционного поля, изображенного на рис. 4.2, а. Предположим, что в точке А пересекаются два луча, образованные из одного луча при амплитудном делении первичного пучка, и что разность хода между ними равна нулю. Тогда вдоль линии пересечения фронтов, перпендикулярной к плоскости чертежа и проходящей через точку А, образуется полоса нулевого порядка интерференции, а плоскость р — р, являющаяся биссектрисой создаваемого волновыми фронтами двугранного угла е, будет плоскостью локализации интерференционной картины. В этой плоскости контраст картины максимален. По мере удаления от плоскости локализации и от линии пересечения фронтов, проходящей через точку А, происходит падение интерференционного контраста полос. Это происходит из-за увеличения порядка интерференции, поперечного смещения сечений пучков относительно друг друга и вследствие наложения интерференционных картин, образуемых параллельными лучами, распространяющимися по различным направлениям в пределах угловой апертуры пучков. [c.178]

Материал предлагаемой книги разделен на две части. В первой части рассматриваются различные схемы многолучевых интерферометров, типы многолучевых интерференционных полос, источники света, интерференционные монохроматоры, основанные на принципе многолучевой интерферометрии, регистрирующие устройства, конструкции многолучевых интерферометров и способы их юстировки. [c.4]

Возникающая при этом разность хода между волновыми фронтами различная и в разных направлениях расходящегося пучка дает интерференционную картину. На рис. 3.5.16 схема- [c.160]

При спонтанном эффекте комбинационного рассеяния рассеянное излучение, исходящее от различных молекул, некогерентно, даже если возбуждающий свет когерентен исходящий из различных точек кюветы свет не способен к интерференции. Наоборот, при эффекте вынужденного комбинационного рассеяния свет, рассеянный из какой-либо пространственной области и возбужденный пространственно когерентной лазерной волной, когерентен. Соответствующие интерференционные картины наблюдались при помощи оптических схем с двумя щелями при расстояниях между щелями порядка 1 мм. [c.203]

Восстановление акустических голограмм. Как известно, классическая схема голографического процесса, например, в оптике, включает два этапа запись интерференционной картины, образованной предметным и опорным пучками на каком-либо квадратичном (реагирующем на интенсивность) приемнике излучения (фотопластинка, термопластик, жидкий кристалл) — создание голограммы, и считывание записанной интерференционной картины с помощью опорного пучка с целью получения видимого трехмерного изображения предмета — восстановление голограммы. В отличие от оптики, в акустике возможны и линейные приемники (например, микрофоны, пьезопреобразователи и т. п.), сохраняющие информацию как об амплитуде, так и о фазе волны. Поэтому в акустической голографии наряду с классической схемой записи и считывания возможен и другой способ голографирования — без спорного пучка [9, 10, 38—40]. Восстановление акустических голограмм при этом может осуществляться различными методами. В частности, широкие возможности открывает использование для этой цели быстродействующих ЭВМ. [c.357]

Источником света служит ярко освещенная щель 5, от которой световая волна падает на две узкие щели 51 и 8о , освещаемые, таким образом, различными. участками одного и того же волнового фронта. Световые пучки, проходящие через малые отверстия 5х и 52, расширяются в результате дифракции и частично перекрываются, создавая интерференцию, как и в других интерференционных схемах. При расположении Юнга апертура интерференции 2м = = Д 5x552 определяется отношением расстояния между щелями 5х и 5з к расстоянию от 5 до 515з. [c.79]

Прежде, чем перейти к анализу свойств различных видов полос, сформулируем обш,ие понятия, относяш,иеся к интерференционным схемам. Воспользуемся понятиями, известными из геометрической оптики. Источник света или его изображение на входной диафрагме системы называют входным зрачком интерференционной системы. Поверхность, на которой наблюдается интерференционная картина — полем интерференции. В отличие от обычной оптической системы учтем, что интерферометр имеет два выходных зрачка и 2 и два входных люка и Во соответственно, которые являются изображениями интерференционного поля В. В ряде случаев выходные зрачки и 2 или входные люки 5 и В2 сливаются в одну точку. Лучи, проходяш ие через входной зрачок и достигаюш ие люков [c.40]

Применение этого метода предполагает формирование вторичных источников из единого волнового фронта путем выделения различных его частей. Все основные интерференционные схемы, основан11ые на методе деления волнового фронта, тем или иным способом сводятся к схеме Юнга (см. рис. 5.2). Это обусловлено одной и той же задачей формирования вместо одного источника излучения двух, причем на минимальном расстоянии друг от друга с целью получения полос максимальной ширины в области перекрытия пучков. [c.105]

Для управления делительной машиной, контроля и исправления ошибок в процессе нарезки решетки используют явление интерференции. Один из вариантов этого метода основан на том, что перемещение дифракционной решетки в процессе ее изготовления непрерывно измеряется автоматическим устройством, в котором датчиком линейного перемещения служит специальный интерферометр, состоящий из нарезаемой и эталонной ре-uieTOK, Далее действует сложная схема обратной связи, позволяющая регулировать перемещение нарезаемой решетки, на которую алмазным резцом наносят штрихи вполне определенного профиля (рис. 6.43). Применение интерференционного метода позволило практически исключить различные ошибки, служащие причиной возникновения ложных линий (духов) в спектре дифракционных решеток. [c.301]

Эндоскопические оптические приборы предназначены для рассмотрения внутренних поверхностей и предметов в труднодоступных полостях и объемах. Сегодня медицинская и техническая. эндоскопия превратилась в обширную и быстроразвивающуюся отрасль оптического приборостроения. Весьма перспективным является использование в >ндоскопии голографических схем с применением. элементов волоконной оптики различных типов. Они позволяют существенно упростить конструкцию голографических схем при введении в одну из ее оптических ветвей — объектную или опорную, или обе одновременно — световодов. При. этом уменьшается число необходимых. элементов, габаритные размеры и масса схемы, увеличивается ее светосила и, что весьма важно, помехозащищенность (от пыли, вибрации и т. п.). Использование световодов в юлографии существенно расширяет области применения интерференционных методов исследования изучение труднодоступных объектов и закрытых полостей, упрощение получения голограмм объектов одновременно для нескольких углов освещения (.это особенно важно при исследовании неоднородностей сложной формы). При этом возможно получение на одной фотопластинке при ОДНОМ общем опорном пучке одновременно несколь- [c.77]

В ряде процессов (релаксация полимеров, процессы диффузии и т. п.) необходимо оценить изменение подвижности и средний размер частей, составляющих среду, в различные моменты времени. Если эти процессы протекают медленно (1 — 10 с), то единственным способом контроля является метод голографической коррелометрии (МГК), который основан на получении с помощью двулучевой схемы голограммы рассеивающей среды в отраженном свете (при одностороннем доступе). Направление освещения между экспозициями меняется на угол 0, что вызывает регулярный фазовый сдвиг Дфо на элементах рассеивателя и появление в изображении системы эквидистантных интерференционных полос. Так как состояние среды за время т между экспозициями изменится, уменьшится контраст полос. Случайный сдвиг фазы отдельной частицы Дф (G, т) = к Дг (т), где О — угол между направлениями падающей и рассеянной волн Дг — вектор сме-, 2я [c.114]

Прибор построен по схеме двухобъективного микроинтерферометра. В качестве поверхности сравнения использована не плоскость, а сменные эталонные поверхности различной кривизны и отражательной способности (коэффициент отражения 0,04— 0,09). При контроле шероховатости поверхностей, имеющих близкий к эталонной поверхности радиус кривизны, интерференционные полосы прямолинейны и эквидистантны. Это особенно важно при контроле деталей малых размеров. [c.104]

На рис. 167 и 168 [72, 246] приведены обобщенные схемы ЛДИС, иллюстрирующие описанный выше принцип действия. На фотографиях показаны реальные сигналы, полученные от частицы при пролете в различных сечениях интерференционного поля в схеме с опорным пучком (рис. 167) и в дифференциальной схеме (рис. 168). На этих рисунках 2ст— ширина входных пучков Ф — фотоприемник. Следует отметить, что интерференционное поле однозначно определяется пространственной разностью фаз интерферирующих пучков, которая преобразуется во временную разность фаз движением рассеивающей частицы. Преобразование амплитудно-фазового поля в поле интенсивности осуществляется квадратичным фотоприемником. [c.289]

Т. о., Д. г. осиовапа па взаимодействии неск. когерентных волн, возникающем при их нрохожденип через нелинейную среду из-за обратной связи между записывающими волнами и записываемой ими голограммой. Время образования динамич. голограммы определяется быстротой отклика регистрирующей среды и интенсивностью записывающих пучков. Поэтому обратная связь является запаздывающей. Информация, содержагцаяся в нек-рый момент времени в падающих пучках (в виде распределения интенсивности в интерференционной картине), определяет структуру голограммы, от к-рой зависят изменения волн в последующие моменты времени. Использование различных регистрирующих сред и схем записи позволяет реализовать разнообразные преобразования волн. [c.624]

Флуктуации, возникающие в первом звене, можно разделить на две составляющие. К одной относятся флуктуации, вызванные внешними причинами (например, вибрациями отдельных узлов голографической схемы), с которыми в той пли иной степени можно бороться. К Другой относятся флуктуации, связанные с природой источника, объекта, оптических элементов и среды, которые можно лишь уменьшить удачным выбором схемы голографирования. Существенную роль в первом случае играет нестабильность различных оптических элементов, формирующих схему, с помощью которой в плоскости голограммы создается записываемый волновой фронт. Так как даже при самой быстрой записи происходит наложение множества интерференционных картин, каждая из которых относится к различным моментам времени экспонирования, то флуктуация разности фаз вызовет на каждом элементе поверхности голограммы флуктуацию пространственных частот вокруг некоторой средней. Даже в том случае, когда в процессе записи и восстановлсппя волнового фронта искажения и потери информации полностью отсутствуют, точечный объект восстанавливается в виде некоторой размытой картины. Степень размытости зависит от амплитуды пространственной флуктуации интерференционных полос, и при значительных флуктуациях интерференционная картина, а вместе с ней информация об объекте, исчезает целиком. [c.70]

Дважды экспонированный на одной пластинке тест-объект восстанавливается как два независимых волновых фронта, и, таким образом, одна голограмма после восстановления может действовать как полный интерферометр. Многократное экспонирование голограммы дает гот же эффект, что и двойное, с той лишь разницей, что в первом случае экспозиция синхронизуется с временными изменениями изучаемого объекта. В частности, если стробоскопический голографический интерферометр синхронизован с периодом вибраций тест-объекта, то при этом на кадрах наблюдаются амплитудные значения сдвига для данного типа вибрации, если период и фаза стробирующего импульса выбраны так, что экспозиции приходятся на максимум и нуль цикла вибрации. Многократное экспонирование с переменной фазой действует так же, как и многолучевая интерферометрическая схема, в которой различные вклады суммируются с разными фазами, а результат представляет собой среднеквадратичное значение этих сумм. В этом примере интенсивность полос интерференционной картины является функцией среднего фазового изменения на голограмме за время экспозиции. Если эти фазовые изменения случайны и некоррелированы, то голограмма не получается. Коррелированные фазовые изменения, например создаваемые синусоидальным или линейным движением объекта во время экспозиции, приводят к интерференционным картинам, которые можно предсказывать [24, 44]. При этом восстановленное с голограммы изображение, вообще говоря, является функцией временной когерентности света и может быть использовано как мера этой когерентности. [c.509]

В схемах голографирования применяют затворы различных конструкций, позволяющие перекрыть пучок света лазера на время установки фотопластинки и выдерживания ее с целью полного гашения возникших при этой операции вибраций до момента экспонирования. Затвор приводится в действие вручную или от устройства, задающего длительность экспозиции, и должен работать плавно, не вызывая акустических и механических колебаний и турбулентных воздушных потоков на пути освещающего пучка, нарушающих его когерентность. При мощности лазера более 100 мВт затвор следует ставить после точечной диафрагмы. В противном случае в процессе экспонирования диафрагма постепенно нагревается, изменяет свои размеры и деформируется, также нарушая когерентность и гомоцентричность пучка, что приводит к возникновению паразитных интерференционных картин, либо голограмма не регистрируется совсем. [c.94]

На рис. 54 показана схема съемки голографического кинофильма с регистрацией на голографической пленке трехмерного цветного квазисфокусированного изображения с множеством ракурсов по горизонтали и вертикали. Свет от лазеров трех длин волн 1 направляется в устройства 4 формирования освещающего пучка 5. Свет, отраженный от объекта 6, проходит через киносъемочный объектив 7, имеющий диаметр зрачка около 200 мм. Объектив формирует трехмерное уменьшенное изображение 8 вблизи голографической кинопленки 9, на которой оно регистрируется. Система светоделительных пластинок 2, зеркал 3 и других оптических элементов (например, расширительных линз 10) строит опорные пучки И от всех лазеров. Пленка в киносъемочном аппарате движется прерывисто. В каждом кадре на голографической пленке регистрируется интерференционная картина, которая после обработки образует голограммную структуру в виде микроскопических полос с различными значениями показателя преломления света. [c.113]

Необходимо отметить, что при нсиользованни многолучевой интерферометрии для исследования оптических неоднородностей возникает целый ряд специфических вопросов, связанных с конструкцией, юстировкой и методиками применения интерферометров. Требования к некоторым элементам интерференционных рхем различны в случае применения многолучевого интерферометра как спектроскопа и как прибора для диагностики прозрачных сред. Учет этих особенностей в большой степени определяет, эффективность применения того или иного метода или схемы. [c.8]

Предположим теперь, что объект А деформируется, т. е. различные точки его смещаются неодинаково, и снова сделаем две экспозиции на одну и ту же фотопластинку. После проявления осветим фотопластинку параллельным пучком и будем ее рассматривать, помещая глаз в первый порядок дифракции (а не в пучок, проходящий прямо) (рис. 97). Участки объекта, которые получили смещение, равное нечет-ному числу KDj2T T2, окажутся темными. Области же, получившие смещение, равное целому четному числу, кратному %D 2T T2, будут яркими. Контраст этих интерференционных полос будет максимален, т. е. равен 1. Рассмотренная схема очень проста, но из-за наличия щелевых диафрагм в ней невелика яркость. Для обнаружения очень малых поперечных смещений можно применить вспомогательный рассеиватель. В схеме рис. 93 помещают рядом с фотопластинкой Н мато- [c.100]

Здесь интерференционные полосы, создаваемые двумя волнами, как это показано на рис. 158, заменяются более тонкими интерференционными линиями, образованными в результате интерференции многих волн. Во всех случаях пространственный спектр интенсивности оказывается модулированным функцией вида sin (2nv oA) и, следовательно, величина X должна быть достаточно малой по сравнению с Т, чтобы огибающая кривая, которую и представляет эта функция (она показана на рис. 158), не падала слишком быстро. Вместо того чтобы наблюдать спектр, как это только что говорилось, можно диафрагму с малым. отверстием помещать не перед негативом, а в частотную плоскость. В этом случае используют схему рис. 94 и наблюдают изображение негатива. В изображении на выходе мы увидим интерференционные полосы, которые отображают составляющие скорости вдоль направления, параллельного азимуту отверстия в частотной плоскости. Изменяя азимут отверстия в частотной плоскости, можно исследовать составляющие скорости вдоль различных направлений. [c.153]

Выводится общая формула для двухлучевой интерференции и изучаются ее применения в схемах опытов, с делением амплитуды. Изучабтся видимость интерференционной картины для различных условий экспериментов Обсуждается временная когерентность. [c.148]

В монографии справочного характера [21] отдельная глава посвящена оптическим свойствам кристаллов с учетом их анизотропии. Изложение ведется на современном уровне с привлечением тензорного аппарата кристаллофизики. В книге [11] рассмотрены вопросы инженерной теории в основном двухлучевых интерферометров. Описаны также интерферометры для различных технических измерений. В основном аналогичные вопросы затрагиваются в монографии [20] применительно к многолучевым интерферометрам, построенным по схеме Фабри—Перо. Разнообразные применения различных интерферен ционных схем для производственного контроля оптических эле ментов и устройств рассмотрены в работе [13]. Следует отме тить единственную в своем роде книгу [8], где излагаются ре фрактометрические методы, в частности, интерференционные [c.525]

Можно обратиться и к обратному явлению. А именно, рассмотреть возможность наблюдения полос равного наклона в схеме для наблюдения полос равной толщины. Для этого в какую-либо точку интерференционного поля можно поместить наблюдательный прибор, ограничив размеры его входного зрачка в соответствии с (4.37). В этом случае вблизи фокальной плоскости объектива будет наблюдаться интерференционная картина линий равного наклона, так как произойдет изменение разности хода для лучей, идущих от различных точек источника в пределвыделенного углового размера. Это [c.48]

На рис. 32 дана схема установки с интерферометром Фабри — Перо и спектрографом ИСП-51 в качестве предварительного монохроматора. Осветительная и интерференционная части установки расположены в различных комнатах. Осветитель рассеивающего объема будет подробно описан ниже. Объектив с ирис-диафрагмой фокусирует выходную диафрагму сосуда D через призму Воластона W и деполяризующий клин на входную щель монохроматора S . На щели Si получаются два изображения диафрагмы одно под другим, касающиеся друг с другом или слегка разделенные, как и на установке для изучения крыла (рис. 30). Таким образом, верхняя и нижняя части щели монохроматора освещены рассеянным светом с различной поляризацией. Выходная щель S2 монохроматора находится в фокусе объектива L4, который направляет параллельный пучок света на интерферометр FP. Объектив L5 фокусирует в плоскости фотопластинки Р интерференционные полосы и выходную щель монохроматора В такой схеме рис. 32 изображение щели испещрено интерференционными полосами, половина которых вызвана -компонентой рассеянного света, а другая половина — х-компонентой. Сле- [c.182]

Для количественной расшифровки интерферограмм необходимо проведение определенного объема эксперимептальных и расчетных операций. Существуют различные методы расчета вектора смещения с помощью метода голографической интерферометрии [1]-[7]. Основными являются метод многих голограмм 7] и метод Александрова—Бонч-Бруевича [2], которые за счет наличия многих голограмм на стадии записи информации, или за счет изменения направлений наблюдений на стадии восстановления, но изменению интерференционных картин, позволяют определять поля перемещений. Эти методы базируются на стандартной двухлучевой оптической схеме записи голограмм. Представляет интерес использование оптических схем записи голограмм с несколькими предметными п опорными лучами для расшифровки голографических интерферограмм. [c.496]

Существует много различных схем интерферометров. Основой любого СВЧ-интерферометра служат волноводный мост, генератор электромагнитных колебаний и фазовый детектор, позволяющий регистрировать изменение интерференционной картины, возникающей вследствие изменения показателя преломления среды, расположенной перед приемной антенной измерительного плеча. В неразрушающих методах контроля основной задачей построения интерферометров является непрерывная регистрация интерференционной картины или непосредственная непрерывная регистрация фазовых сдвигов, так как в этом случае можно получить не только качественную дефектограмму, но и количественную оценку параметров контролируемого материала. [c.29]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...