Наблюдение коноскопическое

Микроскопия люминесцентная 18, 66, 232, 235 Микрофотографирование 20, 23, 122 Наблюдение коноскопическое 16, 92 —ортоскопическое 16, 92 [c.247]

Степень деполяризации пучка для элементов с ориентацией [III] не зависит от направления поляризации падающего пучка относительно кристаллографических осей и нарастает по мере удаления от центра элемента. Степень деполяризации пучка для элементов с ориентацией [001] существенно зависит от ориентации поляризации относительно кристаллографических осей. Минимальная деполяризация наблюдается, как следует из (1.32),, (1.33), при направлении поляризации вдоль кристаллографических осей элемента, максимальная деполяризация — под углом 45° к осям. Поэтому при установке элемента внутрь лазерного резонатора, содержащего поляризующие устройства, необходимо ориентировать активный элемент вокруг своей оси с учетом этой закономерности. На практике, даже в холодном состоянии активные элементы при наблюдении коноскопической картины часто проявляют розочку деполяризации, одинаково ориентированную с розочкой в нагретом состоянии [39]. Данное обстоятельство объясняется наличием в элементах остаточной деформации кристаллической решетки, возникающей в процессе выращивания элементов, когда они подвергаются тепловому воздействию. Этот факт позволяет упростить методику ориентации активного элемента на минимум деполяризации, используя еще не работающий лазер с выключенными накачкой и охлаждением. [c.46]

Прямое наблюдение коноскопического изображения было описано Камероном и Грином [17]. Оно особенно полезно для фазового анализа, поскольку требует применения объективов с большим увеличением. Для изотропного материала крест (см. фиг. 5) не изменяется при вращении предметного столика, но вращение анализатора разбивает его изображение на две изоклины для данной величины вращения расхождение изоклин и сопровождающие его эффекты окрашивания зависят от оптических свойств образца и могут быть использованы для идентификации фаз. Для анизотропного материала изображение будет аналогичным для наблюдения в плоскости, перпендикулярной оптической оси в любом другом сечении крест получается тогда, когда оптическая ось параллельна или перпендикулярна плоскости поляризации, а изоклины образуются при любой другой ориентации. Максимальное расхождение изоклин наблюдается тогда, когда предметный столик поворачивают на 45° от положения, в котором образуется крест. [c.362]

Рис. 4.3.10. Оптическая схема для наблюдения коноскопической картины

Помещая в оптическую систему установки (см. рис. 29.1) клин, вырезанный из кристалла так, чтобы его оптическая ось была бы парал-можно по расстоянию между максимумами найти угол клина. В случае, если наблюдение ведется в белом свете, то угол клина можно рассчитать по характеру окраски. Для определения других характеристик кристаллов измерения проводят при наблюдении интерференционных картин поляризованных лучей в сходящихся пучках. Остановимся на конкретных приемах, позволяющих исследовать некоторые оптические характеристики кристалла, используя оптическую схему, изображенную на рис. 29.9. Наблюдение коноскопических фигур дает возможность оценить характер кристалла (одноосный или двуосный), провести технологический контроль обработки кристалла, определить знак кристалла (положительный или отрицательный) и знак вращения плоскости поляризации (если кристалл оптически активен). [c.248]

При исследовании анизотропных препаратов к обычной схеме микроскопа добавляют перед конденсором— поляризатор, а после объектива — анализатор, находящиеся в скрещенном либо параллельном положении друг относительно друга. Объект может поворачиваться вокруг оси микроскопа. При скрещенных поляризаторе и анализаторе в темном поле зрения микроскопа видны темные, светлые или окрашенные двоякопреломляющие элементы объекта. Вид этих элементов зависит от положения объекта относительно плоскости поляризации и от величины двойного лучепреломления. Более точное определение оптических данных объекта делается с помощью различных компенсаторов (неподвижных кристаллических пластинок, подвижных клиньев и пластинок и др.). Все измерения при наблюдении в поле непосредственно объекта производятся при очень малой апертуре конденсора. Такое наблюдение называется ортоскопическим. При исследованиях с помощью микроскопа в поляризованном свете проводят также и коноскопическое наблюдение, т. е. наблюдение специфических интерференционных фигур в выходном зрачке объектива, для чего в схему микроскопа вводят дополнительную линзу, проектирующую изображение выходного зрачка в поле зрения окуляра. Эта линза носит название линзы Бертрана. [c.16]

Наблюдение в коноскопическом ходе лучей, когда объект освещается сильно сходящимся пучком лучей при высокой осветительной апертуре, благодаря чему в выходном зрачке объектива происходит интерференция лучей, характерная для данного изучаемого объекта. С помощью дополнительной линзы Бертрана, включаемой после анализатора, через окуляр наблюдается картина в выходном зрачке объектива. [c.92]

Микроскоп МП-7 представляет собой большую исследовательскую модель поляризационного микроскопа серии МП , предназначенную для изучения объектов как в проходящем, так и в отраженном свете. Микроскоп позволяет производить наблюдения в ортоскопическом и коноскопическом ходе лучей. [c.107]

Четвертая система линз совместно с окуляром образует вспомогательный микроскоп, предназначенный для наблюдения выходного зрачка объектива- Применяется этот микроскоп при настройке освещения по методу фазового контраста, темного поля и при коноскопическом исследовании на поляризационных микроскопах. [c.179]

Кроме бинокулярной насадки АУ-12 (см. разд. 2.2) применяют бинокулярную насадку АУ-26, которая в отличие от АУ-12 имеет три собственных увеличения 1,1 X 1,6X 2,5 X, что достигается введением в оптическую систему насадки трех сменных линзовых систем. Четвертая система линз совместно с окуляром образует вспомогательный микроскоп, предназначенный для наблюдения выходного зрачка объектива она применяется при настройке освещения по методу фазового контраста, темного поля и при коноскопическом исследовании с помощью поляризационных микроскопов. [c.60]

До сих пор мы рассматривали поляризационные элементы, создающие одну определенную форму поляризации. В практике поляризационных измерений часто применяются или исследуются анизотропные элементы, дающие одновременно различные формы поляризации. Например, для клиновидного анизотропного образца форма поляризации зависит от пространственных координат, для образца в виде плоскопараллельной пластинки, работающей в сходящихся пучках, от угла наблюдения, а в параллельных пучках — от длины волны. Если создать условия, при которых наблюдается интерференция поляризованных лучей, то так же, как и при рассмотрении интерференции неполяризованных лучей, можно различать полосы равной толщины (изохромы), равного наклона (коноскопические фигуры) и равного хроматического порядка. Кроме того, при определенных условиях в интерференционной картине поляризованных лучей можно наблюдать специфические изолинии с одинаковой ориентацией главных направлений анизотропного элемента (изоклины). [c.271]

Интерференция в сходящихся пучках — коноскопические картины. Для анализа анизотропных свойств объектов необходимо кроме наблюдения интерференционных явлений в параллельных пучках использовать коноскопические картины, т. е. результаты интерференции в сходящихся пучках. Кроме того,, для расчета многих поляризационных устройств необходимо знать зависимость результата интерференций от угла падения луча на анизотропную пластинку. В частности, вид коноскопической картины определяет форму и размер источника света в поляризационных интерферометрах, например, в интерференционно-поляризационном фильтре. Рассмотрим формирование коноскопической картины при интерференции в пластинке одноосного кристалла, вырезанной произвольным образом по [c.279]

Ход лучей в микроскопе при ортоскопическом и коноскопическом способах наблюдения представлен на рис. 4.5.1, а и б соответственно. [c.301]

При коноскопическом наблюдении исследуемый кристалл освещается сходящимся пучком, причем точка схождения лучей находится внутри кристалла. [c.302]

С помощью МИК-4 можно производить визуальное наблюдение и фотографирование в видимых и инфракрасных проходящих и отраженных неполяризованных лучах в светлом и темном поле, в проходящих поляризованных видимых и инфракрасных лучах при ортоскопическом ходе, в проходящих поляризованных инфракрасных лучах при коноскопическом ходе. [c.43]

При ортоскопическом наблюдении (рассмотрение объекта в поляризованном свете) используется окуляр 31. При коноскопическом наблюдении (рассмотрение интерференционной картины, возникающей при интерференции поляризованных лучей при прохождении через анализатор) вместо окуляра 31 вводится оптическая система 30, передающая изображение выходного зрачка объектива на фотокатод электронно-оптического преобразователя (при увеличении 3 ). [c.45]

Линза Бертрана рассчитана для наблюдения коноскопической картины с объективом 60X0,85 и фокусировки не имеет. [c.97]

При отсутствии в схеме поляризационного микроскопа дополнительной линзы наблюдение коноскопической картины можно осуществлять, наблюдая с помощью лупы выходной зрачок М1 к-роскопа, В этих случаях применяют окуляры, снабженные ирисовыми диафрагмами, с помощью которых из видимого поля зре- [c.802]

В промышленной практике, использующей коноскопию в целях технического контроля, приходится иметь дело не только с ориентированными пластинками или кристалликалга, которые обладают гранями с достаточно ровной поверхностью, по и с осколками кристаллов, которые имеют неправильную или шероховатую поверхность. В таких случаях для наблюдений коноскопической картипы необходимо исследуемые кристаллики погружать в жидкость, близкую к ним по показателю преломления, и покрывать затем такох препарат покровным стеклом. [c.803]

Рис. 8. Принципиальная оптическая схема поляризационного микроснопа а — для ортоскопического наблюдения б — для коноскопического наблюдения 1 — поляризатор2, б — диафрагмы 3 — конденсор 4 — препарат 5 — объектив 7 — компенсатор 8 — апа.чиаатор 9 — линза Бертрана ю — фокальная плоскость окуляра и — окуляр.

Оптическая система микроскопа позволяет проводить наблюдения в ортоскопп-ческом и коноскопическом ходе лучей. [c.93]

Линза Бертрана не имеет центрировки и перемещения для фокусировки. Она должна использоваться для коноскопического наблюдения с объективом 60X0,85. [c.94]

Кальцитовый компенсатор предназначен для количественных измерений разности хода в двулучепреломляющих объектах и для определения характера анизотропных сред при ортоскопическом и коноскопическом наблюдении. Компенсатор применяется при работе с поляризационными микроскопами в минералогических, петрографических, стекольных и других лабораториях. [c.203]

Под коноскопическим исследованием понима ют наблюдение специфических интерференционных фигур в выходном зрачке объектива. [c.60]

Кроме непосредственного наблюдения глазом при удаленном окуляре микроскопа, копо-скопические фигуры часто наблюдают с помощью дополнительной линзы Бертрана по схеме, изображенной на рис. 577. В этом случае, как легко видеть, коноскопическая фигура, расположенная в фокальной плоскости микрообъектива, проектируется с помощью линзы В в увеличенном виде на плоскость перед окуляром Ок. Во избежание влияния на исследуемую коноскопическую фигуру пучков света, прошедших через соседние микрокристаллики, над линзой Бертрана устанавливают ирисовую диафрагму. [c.802]

Рассматриваемая конструкция коноскопа имеет большое поле зрения, что позволяет вести наблюдения в различных местах образца, легко ориентируясь на его поверхности. Иногда для того чтобы видеть коноскопическую картину одновременно в различных участках кристалла, на него может быть наложена пластинка, на которую наклеен ряд полусферических линзочек (рис. 581). [c.804]

Для реализации коноскопического способа наблюдения в ход лучей в микроскопе вводится вспомогательная линза Амичи—Бертрана 9 (рис. 4.5.1), которая вместе с окуляром 11 образует вспомогательный микроскоп малого увеличения, позволяющий наблюдать интерференционную картину в задней фокальной плоскости объектива 5 основного микроскопа. Это обеспечивает возможность исследования характеристик коноскопической фигуры (картины полос равного наклона), соответствующей различным углам прохождения лучей через объект наблюдения. Для возможности фокусировки вспомогательного микроскопа на заднюю фокальную плоскость основного [c.301]

Определение знака кристалла. Наблюдение в сходящемся пучке позволяет определить знак как одноосного так и двуосного кристалла, т. е. выяснить, является он положительным или отрицательным. Опишем сначала метод для случая одноосного кристалла. Образец представляет собой пластинку, вырезанную перпендикулярно оптической оси. При помещении пластинки в линейный полярископ наблюдаемая коноскопическая карти- [c.304]

В поляризационном микроскопе возможны две схемы исследования — ортосконическая и коноскопическая. При ортоскопичес-ком наблюдении (рис. 156, а) рассматривается непосредственно исследуемый объект. Ход лучей в схеме соответствует ходу лучей в обычном биологическом микроскопе. При коноскопическом наблюдении (рис. 156, б) рассматривается интерференционная картина, возникающая вследствие интерференции поляризованных лучей. [c.240]

Передовые в области микроскопостроения иностранные фирмы, например Оптон и Лейтц (ФРГ) [131], выпускают достаточно полные комплекты объективов к универсальному столику для ортоскопического и коноскопического наблюдений. Оптические характеристики объективов указанных фирм приведены в табл. IV. 11 и IV. 12. [c.122]

Монокулярные насадки, которые применяются обычно в простых моделях микроскопов. Насадки для наблюдения изображения объектов имеют прямой тубус с вьщвижной трубой или наклонный под углом 20, 30 и 45° к плоскости столика микроскопа (см. рис. IX. 1, поз. 7). Для коноскопического наблюдения в поляризационных микроскопах некоторые насадки снабжаются точечной диафрагмой и линзой Бертрана (см. рис. IX.6). [c.317]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...