Щелевые диафрагмы

Для пространственной селекции изображения кода одного числа, равного результату измерения, датчик содержит щелевую диафрагму 4, а за диафрагмой — фотоприемники 5 (по числу разрядов кода), осуществляющие преобразование светового изображения кода в электрический иl нaJ . С выхода усилителей—формирователей 6 сигнал подается в. электронные блоки для обработки. [c.91]

И ее восстановлении, контролируемый объект 3 и датчик 4, включающий голограмму набора цифровых кодов 5, щелевые диафрагмы 6, блок 7 фотоприемников и блок <3 усилителей формирователей. [c.94]

Из восстановленного изображения набора цифровых кодов с помощью щелевых диафрагм выделяют изображение одного кода числа, равного результату измерения. Считывание информации осуществляется с помощью блока фотоприемников. Смена изображения одного цифрового кода другим сопровождается смещением изображения первичного кода в плоскости щелевых диафрагм и изменением сигнала на выходе фотоприемников, что служит дополнительной информацией о смене кодов и позволяет повысить точность измерения за счет увеличения числа зон квантования области измерения. [c.95]

Считается, что приборы (двойные микроскопы, приборы светового сечения), в которых реализуется метод светового сечения, позволяют измерять неровности поверхности высотой от 0,8 до 63 мм с допустимыми погрешностями показаний по норме порядка 24 и 7,5% соответственно при наличии четырех пар сменных объективов ОС-39, ОС-40, ОС-41 и ОС-42. Следует заметить, что при этом неровности поверхности кромок шторок, прикрывающих диафрагмированную щель (иначе говоря, щелевую диафрагму), должны [c.106]

Рис. 120. Фотоэлектрический измеритель-преобразователь с кодовым диском а — стеклянный кодовый диск б схема измерителя t — кодовый диск 2 —газоразрядная лампа 3 щелевая диафрагма 4 оптический разделитель 5 блок фотоэлементов

Поскольку дифракционное распределение интенсивности от отверстий имеет вид, аналогичный дифракционному распределению от провода или щели, описанные приборы могут использоваться для контроля их диаметра и формы. Однако освещенность дифракционных максимумов при этом будет значительно ниже. Для увеличения их освещенности целесообразно увеличивать с помощью оптики плотность лазерного излучения в области отверстия, а также использовать более мощные лазеры. Кроме того, возникает необходимость обеспечения линейного сканирования дифракционных колец через их центр, для чего используют вместо щелевой диафрагмы перед фотоприемником точечную диафрагму либо видикон. [c.268]

Схема устройства прибора ФЭК-М показана на рис. 11.2. Свет от лампы Л отражается двумя зеркалами (Зп и Зл) и направляется к фотоэлементам правому Ф и левому Ф . На пути световых лучей находятся светофильтры Сп и Сд, кюветы К и Кл, а также щелевая диафрагма Д и так называемые фотометрические нейтральные клинья и К , слу- [c.209]

Чтобы перейти от поглощаемого тепломером удельного потока (т) к полному потоку Q (т), рассеиваемому свободно охлаждающимся образцом, обратимся к рис. 2-19, а. На нем показана взаимная ориентация образца 1 и тепломера 5. Благодаря щелевой диафрагме в блоке [c.58]

Другие типы Э. л. Маги, и электростатич. цилиндрич. Э.л. фокусируют пучки заряж. частиц в одной плоскости и по своему действию подобны цилиндрич. линзам световой оптики. Электростатич. цилиндрич. Э.л. состоят из щелевых диафрагм или продольных пластин—электродов, расположенных симметрично относительно средней [c.571]

ОКГ 2, в, 9 — зеркала 3, 4 — светоделительные призмы 5 — щелевая диафрагма 6 — фотодетектор 7 — поверхность объекта [c.126]

ОКГ 2, 7 — светоделители 3 — призма 4 — объект 5 — фотодетектор 6 — щелевая диафрагма [c.127]

Если каким-нибудь способом определить действующую часть выходного торца лазера, то вдоль интересующей нас области можно расположить щелевую диафрагму. Если развертывающая камера обеспечивает развертку в направлении, перпендикулярном щели, то получается пространственная развертка картины мод во времени для рассматриваемой части кристалла. В случае рубиновых лазеров таким способом можно получить временное разрешение порядка наносекунд, что позволяет проводить прямые наблюдения биений поперечных мод. В случае же более длинноволновых лазеров, для которых чувствительность пленки меньше, приходится увеличивать ширину щелевых диафрагм, а поэтому нельзя получить столь высокое разрешение [18, 20]. [c.56]

Картины излучения диодов исследовались методом сканирования. Диоды укреплялись на поворотном столе, который обеспечивал вращение либо вокруг оси, перпендикулярной плоскости р — /1-перехода, либо вокруг оси, лежащей в плоскости р — п-перехода и параллельной полированным поверхностям. Излучение диода исследовалось также при помощи монохроматора с щелевой диафрагмой, обеспечивающей угловое разрешение не ниже 0,1°, и спектральным разрешением не ниже 1 А [44]. [c.66]

Конструкция щелевой диафрагмы (рис. 6, а) позволяет изменять ширину щели с точностью до 0,01 мм. [c.384]

Для экспериментального осуществления интерференции двух волн, фазы которых скоррелированы, используем установку (см. 5.6), представляющую собой интерферометр Майкельсона, одно из зеркал которого может передвигаться с помощью специального приспособления со скоростью v по отрезку длиной Д/l. Пусть интерферометр освещается светом фиксированной частоты fflj, перед фотоумножителем устанавливается круглая или щелевая диафрагма и электрический сигнал регистрируется с помощью осциллографа. В данном случае Aro/oi = 2 v/ , так как относительная скорость источника и приемника света при отражении его от зеркала, движущегося со скоростью v, будет 2и. [c.395]

На рис. 1 изображена схема устройства масс-спектрометра Демпстера. Ионы создавались в ионном источнике ИИ электронной бомбардировкой паров исследуемого вещества, ускорялись до энергии Т = eV между щелевыми диафрагмами Д и Д2 и выходили достаточно широким пучком в вакуумную камеру ВК. [c.29]

Принцип работы прибора в виде блок-схемы приведен на рис. 1. Источник излучения 1 помещается внутри контролируемой трубы 3, которая в процессе контроля движется в направлении, параллельном оси сварного шва.Источник помещен в контейнер, соединенный с механизмом перемещения 2, который обеспечивает при контроле возвратно-поступательное движеиие источника в направлении перпендикулярном оси шва. Индикатор интенсивности излучения 4, снабженный щелевой диафрагмой, перемещается синхронно и синфазно с источником излучения при помощи другого механизма перемещения 5. Для синхронизации имеется специальный блок синхронизации 6. Двингение механизмов обеспечивает сплошной контроль сварного шва по всей длине трубы. [c.321]

Коллиматор со стороны входа первичного пучка рентгеновских лучей имеет постоянное цилиндрическое отверстие диаметром 1,5 мм предусмотрены нмужные диафрагмы с цилиндрическими отверстиями диаметром 0,7 1,0 1,5 мм и щелевая диафрагма 0,5 X 1.5 мм. Для облегчения центрирования образца одновременно с коллиматором на переднюю втулки надевают лупу. [c.11]

Щелевая диафрагма представляет собой прямоугольник, две боковые грани которого перемещаются расходятся или сближаются. Ширина щели при этом изменяется от максимального раскрытия, соответствующего цифре 100 по черной шкале левого барабана, и до полного закрытия, соответствующего О по той же шкале. Угол поворота оси барабанов а пропорщ1онален ширине щели I I = а 360. При а = 0 щель полностью закрыта (/ = 0) при повороте барабана на 90, 180, 270 и 360° щель раскрыта соответственно на одну четверть, на половину, на три четверти, и, наконец, полностью. Так как ширина щели пропорциональна интенсивности светового потока, то, следовательно, / = т = а 360. Деления черной шкалы и показывают т, т. е. светопропуска-ние щелевой диафрагмы. Таким образом, угол поворота оси барабанов а связан с делениями черной шкалы, нанесенной на левом барабане, т соотношением т = а 360, или в процентах т = а/360 100. При полном закрытии щели а = О и т = 0 при полном открытии щели а = 360° и т = 1 или 100 %. Формула отражает тот факт, что степени раскрытия щелевой диафрагмы пропорциональна интенсивность светового потока. [c.212]

Рк. 9. Сечение электродов электростатических цилиндрических линз плоскостью, проходящей через ось z перпендикулярно средней плоскости а—оилиндрическая (щелевая) диафрагма б—иммерсионная цилиндрическая линза t—одиночная цилиндрическая линза г—катодная цилиндрическая линза К и Уг — потенциалы соответствующих электродов. [c.571]

Основа ф оэлектрического датчика —фотоэлемент. На рис. 15, а показана принципиальная схема установки с фотоэлектрическим датчиком, где измеряется световой поток, определяющий размер измеряемой детали 9. От элек+рнческой лампочки 1 световой поток проходит линзу 2 и щелевую диафрагму 3 и падает на фотоэлемент 4. Часть диафрагмы [c.148]

Простейшая операция, реализуемая с помощью данного прибора— это селекции уровней интенсивности в изображениях. Она выполняется в схеме пространственной фильтрации с ПВМС типа управляемой светом дифракционной решетки на входе и с щелевой диафрагмой в частотной плоскости. Положение щелевой диафрагмы определяет значение выделяемой интенсивности, а ширина диафрагм задает селективность схемы. [c.283]

Предположим теперь, что объект А деформируется, т. е. различные точки его смещаются неодинаково, и снова сделаем две экспозиции на одну и ту же фотопластинку. После проявления осветим фотопластинку параллельным пучком и будем ее рассматривать, помещая глаз в первый порядок дифракции (а не в пучок, проходящий прямо) (рис. 97). Участки объекта, которые получили смещение, равное нечет-ному числу KDj2T T2, окажутся темными. Области же, получившие смещение, равное целому четному числу, кратному %D 2T T2, будут яркими. Контраст этих интерференционных полос будет максимален, т. е. равен 1. Рассмотренная схема очень проста, но из-за наличия щелевых диафрагм в ней невелика яркость. Для обнаружения очень малых поперечных смещений можно применить вспомогательный рассеиватель. В схеме рис. 93 помещают рядом с фотопластинкой Н мато- [c.100]

Длительность лазерных пичков (по уровню половинной мощности) часто составляет несколько долей микросекунды. Если развертывающая камера работает без щелевой диафрагмы, то мы получаем последовательную запись модовых картин. Энергия накачки лазера должна при этом немного превышать пороговую, чтобы пички не перекрывались или не были слишком тесно расположены [15]. [c.56]

Схема типичной установки для проведения исследований по методу ОРР приведена на рис. 5.2. Пучок ионов гелия создается с помощью генератора Ван дер Граафа, коллимируется серией щелевых диафрагм и направляется в приемную камеру. Исследуемый образец устанавливается на гониометрической головке, обеспечивающей вращение вокруг трех взаимно ортогональных осей. Оси вращения пересекаются в точке, на которую падает пучок ионов. Приемная камера откачивается до давления порядка 10 Па, чтобы избежать потерь анализирующего пучка за счет рассеяния атомами остаточного газа. Обратно рассеянные ионы " Не фиксируются детекторами, например, кремниевыми детекторами с поверхностным барьером. [c.166]

Большое распространение имеет двойной микроскоп советского академика Ю. В. Линника (фиг. 10, а). Микроскоп состоит из двух тубусов осветительного 1 и визуального 2, наклоненных под углом 45° к исследуемой поверхности (фиг. 10 в). Луч света от лампочки 3, проходя через щелевую диафрагму, падает на исследуемую поверхность и, отражается в визуальный ту- бус. Если на исследуемой ловерхпости есть уступ а— [c.42]

ИСТОЧНИК света 2 —линза-конденсор 5-щелевая диафрагма —оптическая система 6—качающееся зеркало б-неподвижное зеркало 7 —оптическая система. — система зеркал 9 —цилиндрическая линза 10—фотопленка 11 -фотобарабан /2—ощупывающая игла / —стол изделие. [c.158]

Смотреть страницы где упоминается термин Щелевые диафрагмы : [c.92] [c.95] [c.236] [c.325] [c.59] [c.431] [c.558] [c.212] [c.106] [c.308] [c.59] [c.365] [c.549] [c.126] [c.439] [c.1004] [c.384] [c.384] [c.361] [c.144] [c.407] [c.407] [c.407]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...