Дифракционные решетки, применение

Майкельсон применил интерферометрическое наблюдение для оценки малых угловых расстояний между двойными звездами, а также для оценки углового диаметра звезд. Метод Майкельсона, равно как и применение его к определению размеров субмикроскопических частичек, будет изложен ниже (см. 45). Наконец, понятно, что интерференционные методы, позволяющие с огромной точностью определять длину волны, могут служить для самых тонких спектроскопических исследований (тонкая структура спектральных линий, исследование формы и ширины спектральных линий, ничтожные изменения в строении спектральных линий). Интерференционные спектроскопы, их достоинства и недостатки будут обсуждены вместе с другими спектральными приборами (дифракционная решетка, призма) в 50. [c.149]

Хотя принципиально фраунгоферова дифракция не отличается от рассмотренной выше дифракции Френеля, тем не менее подробное рассмотрение этого случая весьма существенно. Математический разбор многих важных примеров дифракции Фраунгофера не труден и позволяет до конца рассмотреть поставленную задачу. Практически же этот случай весьма важен, ибо он находит применение при рассмотрении многих вопросов, касающихся действия оптических приборов (дифракционной решетки, оптических инструментов и т. д.). [c.173]

Дифракция от двух щелей, облегчающая переход к рассмотрению дифракционной решетки, имеет и непосредственный интерес по тем применениям, которые она получила в разных физических измерениях. [c.193]

Рассмотренный случай дифракции на трехмерной решетке имеет исключительно важное значение. Он осуществляется практически при дифракции рентгеновских лучей на естественных кристаллах. Лучи Рентгена представляют собой электромагнитные волны, длина которых в тысячи раз меньше длин волн обычного света. Поэтому устройство для рентгеновских лучей искусственных дифракционных решеток сопряжено с огромными трудностями. Мы видели, что трудность эта может быть обойдена путем применения лучей, падающих на решетку под углом, близким к ЭО". Однако дифракция рентгеновских лучей была осуществлена задолго до опытов с наклонными лучами на штрихованных отражательных решетках. По мысли Лауэ (1913 г.), в качестве дифракционной решетки для рентгеновских лучей была использована естественная пространственная решетка, которую представляют собой кристаллы. Атомы и молекулы в кристалле расположены в виде правильной трехмерной решетки, причем периоды таких решеток сравнимы с длиной волны рентгеновских лучей. Если на такой кристалл направить пучок рентгеновских лучей, то каждый атом или молекулярная группа, из которых состоит кристаллическая решетка, вызывает дифракцию рентгеновских лучей. Мы имеем случай дифракции на трехмерной решетке, рассмотренный выше. Действительно, наблюдаемые дифракционные картины соответствуют характерным особенностям дифракции на пространственной решетке. [c.231]

Объемная дифракционная решетка, образованная несколькими десятками слоев почернений, обладает сравнительно небольшой спектральной разрешающей силой. Поэтому каждое из составных изображений отнюдь не столь монохроматично , как лазерное излучение, примененное на первом этапе голографирования. Это [c.265]

Голографические дифракционные решетки используют в лазерной технике. Введенные в лазерный резонатор они служат хорошими селекторами длин волн излучения лазеров. В последнее время такие решетки находят широкое применение в интегральной оптике в качестве. элементов связи, обеспечивающих введение световых волн в тонкопленочные волноводы. [c.65]

Используя две скрещенные голографические дифракционные решетки, осуществляющие деление светового пучка на несколько равных по интенсивности пучков, можно получить мультиплицирующий. элемент с эффективностью порядка 70—85%. Применение такого мультипликатора в модифицированной схеме мультипликации с плоской волной позволяет создать значительно более совершенную систему. Основные ее отличия от схемы, представленной на рис. 2.1, заключаются в следующем [c.65]

Другой метод получения голограммы. эталонной поверхности представляется более перспективным—.это метод получения синтезированных голограмм. Здесь не требуется. эталонного оптического. элемента. Его заменяет математический расчет. Синтезированные голограммы вначале рассчитывают с помощью специальных математических методов, требующих применения ЭВМ, в результате которого получают математическую модель дифракционной решетки, которая способна оптически восстановить световую волну соответствующей. эталонной поверхности. Затем изготовляют такую дифракционную решетку либо с помощью специального оптического прибора, управляемого ЭВМ, который по расчетным точкам засвечивает фотопластинку узким сфокусированным лучом, либо механическим способом наносят риски на поверхность стекла, покрытого пленкой металла, также по расчетным траекториям. Как следует из сказанного выше, синтезированные голограммы могут воспроизвести оптические волны любой математически идеальной поверхности, и в. этом их большое преимущество перед первым методом. [c.101]

Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения - поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 -10- Л. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядоченно расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [c.158]

При измерении линейных расстояний, исчисляющихся миллиметрами или сантиметрами, лазерный интерферометр дает возможность осуществить высокую точность измерений непосредственно в производственных условиях, чего не позволяли интерферометры с обычными источниками света. Использование лазерного интерферометра в микроэлектронике для точного перемещения подложки интегральных схем открывает новые возможности на пути создания сверхминиатюрной радиоэлектронной аппаратуры. В оптической промышленности применение лазерного интерферометра позволяет изготовлять прецизионные оптические шкалы и дифракционные решетки. [c.229]

Небольшая спектральная ширина насыщенной области линии обусловливает применение спектральной аппаратуры с большой разрешающей способностью, например спектрографов с дифракционной решеткой. Весьма перспективным представляется применение эталона Фабри — Перо. Подобрав соответствующим образом параметры эталона , можно получить от данной спектральной линии достаточно большое центральное пятно интерференционной картины. Круглая диафрагма позволяет вырезать из этого пятна центральную область, соответствующую насыщенному излучению центра линии. Интенсивность выделенного таким образом насыщенного излучения линии измеряется с помощью какого-либо фотоэлектрического фотометра. [c.419]

Прошло более десяти лет со дня выхода первой в мировой литературе монографии [25], посвященной электромагнитной теории дифракции волн на решетках. Позже появился еще ряд монографий, посвященных дифракционным свойствам решеток и методам их анализа [6, 50—52, 54, 114]. При этом часть этих исследований была в основном ориентирована на решетки оптического диапазона 150, 52], а другая — на периодические структуры, обладающие свойствами, перспективными к использованию в радиодиапазоне электромагнитных колебаний [6, 50, 51, 54, 114]. В настоящей работе особое внимание уделено развитию результатов, изложенных в [25, 63], и новых свойств, обнаруженных позднее, которые оказались перспективными к применению в радиофизических исследованиях МИЛЛИ- и субмиллиметрового диапазонов, при построении соответствующей метрологической и элементной базы и в дальнейшем — при создании радиотехники милли- и субмиллиметрового диапазонов. Данная книга является как бы единым целым с монографиями [25, 63], вместе они содержат уникальные по полноте и детальности аналитические, графические и численные данные по амплитудно-частотным, поляризационным и другим зависимостям, характеризующим рассеяние волн на дифракционных решетках самых различных профилей и типов. В сумме с работами [25, 63] она позволит завершить определенный этап (изучение физики резонансного стационарного рассеяния волн) в построении общей электродинамической теории решеток. Дальнейшие перспективы исследований в этой области авторы видят в создании спектральной теории решеток, изучении процессов нестационарного рассеяния, более последовательном подходе крещению практически важных задач синтеза, оптимизации и диагностики, нелинейных задач, в расширении возможностей анализа электродинамических характеристик структур с неидеальными и анизотропными включениями [195, 196] и т. п. [c.11]

В 1960 г. после пяти лет измерений профилей волн конечной амплитуды в поликристаллах (см. ниже раздел 4.28) я обнаружил, что функция отклика одномерной динамической пластичности отожженных поликристаллических металлов была параболической с коэффициентами, зависящими линейно от окружающей температуры. Результаты этих первых успешных измерений параметров пластических волн, ставших возможными благодаря открытому мной новому техническому применению тонкой дифракционной решетки, естественно привели к сравнительному изучению квазистатического отклика для тех же твердых тел. Одномерная функция отклика при квазистатической деформации отожженных поликристаллов и при III стадии определяющей сдвиговой деформации кубических монокристаллов, также рассматривавшейся в этом систематическом исследовании, имела такую же форму, как и наблюдаемая в динамических опытах. Сходство функций отклика на протяжении нагружения для конечной деформации отожженных кристаллических тел в этих трех различных ситуациях привело к тому, что я предпринял большое исследование для сравнения коэффициентов парабол при определенных значениях Т1Т сходственной (гомологической) температуры. [c.140]

Нерассеивающие прозрачные объекты можно освещать сзади, так что в этом случае не возникает проблемы освещения близко расположенных объектов. Этот случай играет важную роль, поскольку он используется в таких имеющих большое значение применениях, как голографические оптические элементы (см. 10.8) и голографические дифракционные решетки. [c.205]

В одной из оптических систем ГОЭ в виде поверхностной дифракционной решетки был вытравлен на металлическом покрытии вогнутого зеркала. Дифракционная эффективность составляла < 1 % и решетка обеспечивала образование дополнительного пучка от зеркала. Этот пучок распространялся от зеркала под углом к основному отраженному пучку оптическая сила ГОЭ, добавленная к оптической силе подложки, обеспечивала фокусировку такого пучка в соответствующей точке. При коррекции аберраций, связанных с различием в длинах волн при записи и использовании решетки, а также с отклонением дифрагированного пучка, дополнительный пучок ничем не отличался от основного. Чтобы образовать такой пучок средствами обычной оптики, потребовалась бы значительно более сложная система применение же ГОЭ не потребовало никаких дополнительных приспособлений. [c.647]

При освещении дифракционной решетки R (рнс. 76) параллельным пучком в фокальной плоскости F объектива О формируется пространственный спектр решетки. Поместим в фокальной плоскости Р экран с отверстием, через которое проходит только прямое изображение источника, находящееся в точке F. В этом случае плоскость R, оптически сопряженная с плоскостью решетки R, освещена равномерно и не будет видно никакого изображения решетки. Увеличим диаметр отверстия так, чтобы пропустить через него прямое изображение источника и два первых порядка спектра решетки, расположенные по разные стороны от него. При этом появится изображение решетки. Если перекрыть прямое изображение источника в точке F, то штрихи в изображении решетки R будут в 2 раза чаще. В случае двумерной дифракционной решетки R можно также изменять ориентацию штрихов в ее изображении / , фильтруя соответствующим образом спектр решетки в фокальной плоскости объектива О. Этот классический эксперимент, известный под названием опыта Аббе, можно рассматривать как один из первых экспериментов по оптической обработке изображений. Он был обобщен и применен к произвольным объектам. Возьмем, например, плохо сфокусированную фотографию. Ее нерезкость обусловлена избытком низкочастотных составляющих. Ослабляя спектр изображения при помощи фильтра, который уменьшает свет в области, непосредственно прилегающей к изображению источника в плоскости F (в области низких пространственных частот), можно улучшить качество фотографии. В случае изображения, искаженного шумом, возникающим, например, вследствие зернистости фотоматериала, фильтр, ослабляющий свет в областях, более удаленных от F (областях, соответствующих высоким пространственным частотам), позволяет уменьшить шум зернистости. К сожалению, такой низкочастотный фильтр может отрезать высокие пространственные частоты самого изображения и ухудшить таким образом его качество. Если же изображение искажено периодическим шумом, то можно взять фильтр, который по- [c.81]

Сигнал в данном методе обладает свойством идентифицируемости дифракция возникает только в том случае, когда свет попадает на решетку. Достоинством метода является его универсальность дифракционную решетку можно сформировать на поверхности любого материала. Однако сложность оптической схемы и необходимость проведения литографических операций для создания на подложке периодической структуры ограничивают перспективы его применения. Метод предназначен главным образом для единичных исследовательских измерений. [c.94]

Фотоэлектрические приборы основаны на преобразовании световых потоков, проходящих через оптические меры, связанные с вращающимися звеньями, в электрические сигналы, по разности амплитуд или фаз которых определяют величину рассогласования сопоставляемых движений. В качестве оптических мер могут применяться измерительные растры, дифракционные решетки, штриховые меры, кодовые решетки, шкалы длин волн и т. п., исследованные в работе А. В, Мироненко. В приборах для сопоставления двух вращательных движений наибольшие применения получили радиальные измерительные растры и дифракционные решетки. [c.505]

Для решения задач, связанных с изучением спектров, требуется применение спектральных приборов с высоким пределом разрешения. К числу таких приборов относятся большие дифракционные решетки, эшелон Майкельсона, интерферометр Фабри — Перо и др. [c.46]

Спектральные вогнутые дифракционные решетки. Вогнутая отражательная решетка является диспергирующим и фокусирующим элементом одновременно. Это определяет простоту оптической схемы спектрального прибора, в котором фокусирующая оптика не нужна, и применение таких решеток в тех областях спектра, для которых отсутствуют прозрачные материалы [c.442]

Основное свое применение решетки нашли в спектроскопии, где они заменили дисперсионные призмы, поскольку по сравнению с призмами имеют значительно более высокую разрешающую способность. При замене призмы решеткой в спектрометре можно добиться десятикратного увеличения светового потока, так как в спектрометре с решеткой ширина входной щели может быть значительно увеличена по сравнению с призменным спектрометром, имеющим такое же разрешение. Кроме того, решетка как диспергирующий элемент может обладать большей площадью, что еще более увеличивает ее разрешающую способность. Однако по сравнению с призменными спектрометрами спектрометры с дифракционными решетками имеют один недостаток, который состоит в необходимости устранения нежелательных порядков интерференции. [c.437]

ЛО совместное применение спектрометра с дифракционной решеткой и интерферометра Фабри — Перо такое комбинированное устройство мы рассмотрим в конце следующей главы. [c.450]

Интерференционные спектрофотометры упрощенного типа вряд ли найдут широкое применение. Приелшо-регистрирующая часть их столь же сложна, как и у спектрофотометров с дифракционными решетками. Применение же даже большого набора узкополосных интерференционных светофильтров хорошего качества не может заменить дифракционной решетки как с технической, так и с экономической точки зрения. Отражательные решетки позволяют строить абеорбциометры для широкого диапазона длин волн ультрафиолетовой, видимой и инфракрасной областей спектра. Использование зеркальной оптики и реплик в спектрофотометре очень удобно технически и экономно. Прозрачность и светосила приборов высоки, Для вспомогательных целей могут быть применены широкополосные абсорбционные светофильтры. К числу таких приборов относится, например, спектрофотометр СФД-1 (см. 4 гл. 7). [c.650]

Для управления делительной машиной, контроля и исправления ошибок в процессе нарезки решетки используют явление интерференции. Один из вариантов этого метода основан на том, что перемещение дифракционной решетки в процессе ее изготовления непрерывно измеряется автоматическим устройством, в котором датчиком линейного перемещения служит специальный интерферометр, состоящий из нарезаемой и эталонной ре-uieTOK, Далее действует сложная схема обратной связи, позволяющая регулировать перемещение нарезаемой решетки, на которую алмазным резцом наносят штрихи вполне определенного профиля (рис. 6.43). Применение интерференционного метода позволило практически исключить различные ошибки, служащие причиной возникновения ложных линий (духов) в спектре дифракционных решеток. [c.301]

Телескоп-спектрометр ФУЗЕ по проекту Лайман [66] на область 10—180 нм будет иметь примерно вдвое больший объектив такого же типа (диаметр 80 см, фокусное расстояние 2,4 м) с разрешением на оси 1". В фокальной плоскости за щелью будут размещаться несколько спектрометров классического типа с вогнутыми дифракционными решетками, среди которых — спектрометр, работающий в длинноволновой части рентгеновского диапазона 10—35 нм. Каналы спектрометров будут переключаться с помощью поворотного зеркала. Применение щелевой схемы спектрометров оправдывается тем, что большинство предполагаемых [c.296]

Исследуем дифракционные свойства решетки из идеально проводящих брусьев круглого поперечного сечения (рис. 24). При простоте своей формы и структуры она характеризуется набором чрезвычайно интересных свойств, полезных для практических применений. Создателями первой дифракционной решетки считаются американский астроном Риттенхаус и немецкий оптик Фраунгофер, первые экспериментаторы, количественно исследовавшие действие проволочной дифракционной решетки соответственно в 1786 и 1821 гг. [1, 3, 4]. Еще Герц [2] в полной мере оценил ее поляризационные возможности и положил начало применению решеток в высокочастотной радиофизике. [c.62]

При распространении электромагнитного излучения в периодических средах возникает много интересных и потенциально полезных явлений. К ним относятся дифракция рентгеновского излучения в кристаллах, дифракция света на периодических изменениях механических напряжений, возникающих при прохождении звуковой волны, и запрещенная зона для света в слоистых периодических средах. Эти явления используются во многих оптических устройствах, таких, как дифракционные решетки, голограммы, лазеры на свободных электронах, лазеры с распределенной обратной связью, лазеры с распределенным брэгговским отражением, брэгговские отражатели с высокой отражательной способностью, акустооптические фильтры, светофильтры Шольца и т. д. В данной главе мы рассмотрим некоторые общие свойства электромагнитного излучения в периодических средах и общую теорию его распространения в слоистой периодической среде. Эта теория имеет весьма близкую формальную аналогию с квантовой теорией электронов в кристаллах и поэтому позволяет использовать понятия блоховских волн, запрещенных зон, затухающих и поверхностных волн. Наконец, мы обсудим применение этой теории для решения ряда хорошо известных задач, таких, как расчет коэффициента отражения от брэгговского зеркала, коэффициентов пропускания фильтра Шольца и оптических поверхностных волн. Кроме того, мы обсудим двойное лучепреломление за счет формы и его применение в дихроичных поляризаторах. Периодические структуры играют также важную роль в интегральной оптике, рассмотрение которой мы отложим до гл. 11. [c.169]

Важным ДЛЯ Применений свойством флексодоменов является Прямая пропорциональная зависимость модуля их волнового вектора от напряжения на ячейке Кфл У [66], что позволяет формировать в ЖК-ячейке дифракционную решетку с управляемым шагом. [c.93]

Впервые синтезированную на ЭВМ голограмму произвольной ко.мплексной функции фильтра создали Ломан с сотр. [7, 211. Чтобы получить такую голограмму, прежде всего необходимо сделать выборку комплексного поля. В каждой точке выборки комплексное поле представляется прямоугольной щелью, ширина которой пропорциональна амплитуде, а ее смещение в поперечном направлении (от точки выборки) пропорционально фазе. Синтезированную на ЭВМ голограмму можно рассматривать как дифракционную решетку с целенаправленно введенными дефектами Желаемое комплексное поле получается в результате косвенных фазовых эффектов в одном из дифракционных порядков (рис. 4). На рис. 5 показана такая голограмма-фильтр, преобразующая букву G в знак +. Экспериментальные результаты применения этого фильтра были получены Ломаном и сотр. 123] (рис. 6). [c.598]

Наряду с модернизацией существующих конструкций интерферометров, методов их применения и способов регистрации картины интерференции в последние годы появилось большое число новых интер( ренционных приборов, например, интерферометр с дифракционными решетками на основе схемы Маха—Цен-дера 1197], дифракционный интерферометр на основе теневого прибора ИАБ-451 [97], поляризационные интерферометры для определения градиентов плотности [175—177, 184—185]. [c.154]

Можно сказать, что функция, аналогичная описанной выражением (24), характеризует и другие спектроскопические приборы, например спектрометры с дифракционными решетками. Уравнения, близкие к уравнению (24), описывают работу ин-терферометрических устройств, используемых при получении голограммы, а также во многих применениях голографии. [c.202]

G точки зрения повышения дисперсии прибора выгодно работать в высшем порядке спектра. Так как интенсивность спектральных линий быстро падает с увеличением порядка спектра, то обычно не пользуются порядком выше четвертого. Исключение представляют ступенчатые отражательные решетки Эшелле, у которых А доходит до 100 для инфракрасной области спектра. Поэтому, чтобы иметь прибор с хорошей дисперсией и разрешающей способностью в спектрах низкого порядка, применяют дифракционную решетку с малым значением ее постоянной d и с достаточно общим числом штрихов. Решетки отличаются друг от друга частотой штрихов, размерами нарезанной площади, формой поверхности и другими характеристиками. В табл. 6 даны приближенная классификация решеток и спектральная область их применения. [c.44]

В настоящее время широко используются копии с дифракционных решеток (реплики), получаемые методом копирования на основе применения полимеризующихся пластмасс. Дифракционные решетки изготовляются на алюминиевых слоях или непосредственно на полированной поверхности стекла (см. гл. IV). [c.46]

Значительные успехи достигнуты в развитии и применении двух спектроскопических методов эмиссионного спектрального анализа и атомной абсорбционной спектрофотометрии [60 ]. В установках для эмиссионного спектрального анализа требуемая энергия возникает в процессе электрического возбуждения атомов, обычно проводимого с помощью дуги или искры. В результате таких разрядов анализируемый материал испаряется, происходит возбуждение атомов и генерируется светойое излучение, характеризующее эти атомы. Излучение затем разлагается призмой или дифракционной решеткой на отдельные спектральные линии, располагающиеся на приемной фотопластинке (фотопленке) в порядке следования длин волн в приборах с непосредственным отсчетом линии проектируются на фотокатоды установленных соответствующим образом фотоумножителей. Поскольку соотношение между концентрацией элемента в исследуемом материале и интенсивностью спектра его излучения неизвестно, это соотношение находят эмпирически сопоставлением с калибровочной кривой, получаемой аналогичным возбуждением стандартных образцов (эталонов) с известным химическим составом. Точность спектрального анализа всецело определяется исследуемым образцом, поэтому к нему предъявляют. определенные требования [75]. [c.86]

Столь же успешно в настоящее время строят двойные монохроматоры с применением зеркальной оптики, где в качестве диспергирующей системы используются дифракционные решетки. На рис. 109 приведена схема конструкции двойного монохроматора, которая используется в спектрометре ДФС-12. Легко видеть, что этот прпбор представляет собой спаренные монохроматоры тина, ранее изображенного на рис. 99. Переход здесь по длинам волн осуществляется поворотом столика, на котором укреплены обе дифракционные решетки. [c.137]

Вогнутые дифракционные решетки применяются в спектрографах также по-разному. Их применение отличается способом фокусировки спектров па фотопластинке. Наибольшее распространение получили схемы с неподвижной входной щелью. Здесь прежде всего следует указать на оригинальную установку самого изобретателя вогнутых дифракционных решеток Роуланда (рис. 121, а). Особенность его установки состоит в том, что кассета и решетка укреплены на концах жесткого стержня АВ, которые люгут перемещаться на шарнирах по направляющим ОХ и 0Y во взаимноперпендикулярных направлениях. Щель Sp прп этом находится в вершине прямоугольного треугольника ABO. Такил образом, фотографируемая часть снектра находится все время в области нормали к решетке, что обеспечивает получение спектров с почти постоянной днсперсией. [c.150]

Излагаются основы компьютерного синтеза дифракционных оптических элементов (ДОЭ) с широкими функциональными возможностями. Обсуждаются методы получения зонированных пластинок со сложным профилем зон. Значительное внимание уделено математическим моделям и методам расчета ДОЭ геометро-оптическому расчёту, итеративным и градиентным алгоритмам, строгому электромагнитному подходу к расчёту ДОЭ. Рассмотрены различные типы ДОЭ фокусаторы, моданы, формирователи лазерных пучков с инвариантными свойствами, многопорядковые дифракционные решетки, аксиконы и многофокусные линзы. Все эти ДОЭ находят применение в задачах фокусировки ла зерного излучения, в лазерных системах с волоконной и интегральной оптикой, а также в задачах оптической обработки информации. Освещены проблемы дискретизации и квантования в дифракционной оптике и особенности применения различных технологий создания фазового микрорельефа. [c.2]

Внешне такой оптический элемент представляет собой иропускающую или от-ражающую пластинку с тонким фазовым ж-шкрорельефом, рассчитанным в рамках теории дифракции. Первым представителем этого класса оптических элементов является дифракционная решетка, созданная более двухсот лет тому назад. Следующим по хронологии представителем указанного класса оптических элементов является зонная пластинка. Эти представители дифракционных оптических апементов (ДОЭ) имели бинарное амплитудное или фазовое иропускание. Если дифракционные решетки нашли широкое применение в приборостроении, то зонные пластинки, в основном, использовались в учебном лабораторном практикуме по оптике. [c.9]

Нашли применение несколько типов фильтров абсорбционные, интерференционные и нейтральные. Действие абсорбционных фильтров основано на избирательном поглощении излучения они изготавливаются из твердых, жидких и газообразных избирательно-поглощающих сред. Примерами абсорбционных фильтров могут служить цветные стекла, окрашенные желатины и пластмассы, пленки германия и кремния, пары С1а, Вга, щелочно-галлоидные соли и другие материалы. Для монохроматизации инфракрасных излучений нашли применение кристаллические пластинки из некоторых диэлектриков (Na l, кварц и др.), а в длинноволновой инфракрасной области спектра в качестве отсекающих применяются дифракционные решетки— эшелетты, д твующие как регулярные, шероховатые поверхности. [c.209]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...