Методы рентгенографические

МЕТОДЫ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКОГО АНАЛИЗА [c.158]

Из уравнения Вульфа-Брегга видно, что при съемке неподвижного монокристалла с использованием параллельного пучка монохроматического излучения условия получения хотя бы одного дифракционного рефлекса могут не выполняться. Поэтому целью методов рентгенографического анализа является получение дифракционной картины путем изменения ориентировки кристалла или падающего пучка (т.е. варьируя 0) или с помощью сплошного спектра (т.е. варьируя 1). Наибольшее практическое применение получил метод Дебая-Шерера (метод порошка). В этом методе осуществляется съемка поликристал-лического образца (или порошка) в параллельном пучке монохроматического излучения. [c.159]

Определение — Метод рентгенографический 216—218 [c.484]

Рентгенографический метод. Метод рентгенографического структурного анализа в последнее время успешно применяется как при исследовании превращений аустенита при закалке, так и при изучении процессов отпуска закаленной стали. Он позволяет исследовать изменения атомно-кристаллической решетки при превращениях. [c.179]

Структура закаленной стали состоит из мартенсита и небольшого количества остаточного аустенита и является неустойчивой. Поэтому при старении и отпуске закаленной стали в ней происходит ряд сложных процессов, состоящих из очень тонких структурных изменений, которые не всегда поддаются исследованию под оптическим микроскопом даже при самых высоких увеличениях. Поэтому их приходится изучать с помощью электронного микроскопа и физических методов — рентгенографического, дилатометрического, электрометрического, магнитного и по измерению выделенного тепла. [c.211]

Ультразвуковой импульсный эхо-метод Рентгенографический [c.83]

Интересно то обстоятельство, что обнаружение атомов водорода, вероятно, является случаем, когда результаты в значительной степени зависят от используемых методов. Рентгенографический метод должен дать положение максимума электронной плотности, нейтронографический — среднее положение ядра. Эти положения могут значительно различаться, если атом поляризован, как это имеет место 6 асимметричных связях. Пик потенциала, полученный в результате дифракции электронов, должен находиться близко к положению положительного ядра, но, поскольку вклад электронного облака отрицателен, смеш,ение электронного распределения в одном направлении должно приводить к легкому смеш,ению пика потенциала в противоположном направлении. [c.146]

Методом рентгенографического анализа определены коэффициенты теплового расширения некоторых карбидов и силицидов до 1000° полученные экспери- [c.144]

Контроль сварных швов осуществляется двумя методами рентгенографическим или визуальным. [c.674]

Металло- графиче- ский метод Рентгенографический метод Металло- графиче- ский метод Рентгенографический метод [c.226]

II. Метод рентгенографических снимков. [c.17]

Основным методом изучения и измерения внутренних напряжений является рентгенографический. Для определения напряжений первого рода применяют и механический метод. [c.301]

Рентгенографический метод, в частности, микроанализ с помощью электронного зонда пригоден для исследования продуктов, образующих пленку на металлах определения размеров и ориентации кристаллов, а также измерения параметров кристаллической решетки. [c.436]

Характер структурного упорядочения определялся о помощью рентгенографического анализа образцов ленты, активационные характеристики процесса — дифференциальными термическими методами. [c.70]

Для замера деформаций применяют различные методы. Ниже мы остановимся на определении деформаций при помощи приборов (тензометров) с механическим и электрическим принципами замера рассмотрим оптический и рентгенографический методы, метод муаровых полос и метод лаковых покрытий. [c.543]

Наряду с большим сходством между нейтронографическими и рентгенографическими методами имеются следующие важные различия [c.555]

В целом рентгенографические и нейтронографические методы хорошо дополняют друг друга. [c.556]

Наиболее универсальным и доступным из них является рентгенографический метод. Он позволяет получить информацию о текстуре в слое толщиной в десятые доли миллиметра. Электронографический метод в силу сильного поглощения электронов пригоден для анализа текстуры в весьма тонких поверхностных слоях и пленках микронных толщин. Основным преимуществом дифракционных методов перед другими является то, что они не только легко позволяют установить наличие или отсутствие текстуры и ее симметрию, не разрушая изделия, но и дают возможность установить кристаллографические символы каждой из текстурных компонент. [c.265]

Рассмотрим несколько подробнее рентгенографический метод анализа текстур. Прежде всего с помощью этого метода легко устанавливается наличие или отсутствие текстуры. При отсутствии текстуры линии (или кольца) на дебаеграмме (рентгенограмме, снятой на фотопленку) зачернены равномерно (рис. 160,а). При наличии текстуры равномерность почернения линий исчезает. На линиях выявляются отдельные интерференционные максимумы почернения, расположенные вдоль этих [c.265]

Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения - поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 -10- Л. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядоченно расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [c.158]

В структурном анализе обычно используют рентгеновы лучи с длиной волны около 1 А (1 А = 10 см). При дифракции электронов или нейтронов реализуются волновые свойства этих элементарных частиц, длина волн которых примерно того же порядка. Формальная геометрическая теория дифракции для всех трех излучений совершенно одинакова. Поэтому мы будем излагать ее лишь применительно к основному методу — рентгенографическому, имея в виду, что почти все эти результаты могут быть использованы в электронографии и нейтронографии. [c.5]

До недавнего времени почти единственным методом рентгенографических измерений являлся фотографический. Широко известна высокотемпературная камера РВК-2, в которой используется фотографический метод измерения [104]. В зависимост от температуры съемки образец в форме порошка или проволоки в тонкостенном кварцевом или пироксеновом капилляре с толщиной стенки 0,01—0,03 мм, запаянном под вакуумом или при небольшом давлении инертного газа, помещают в камеру, где он обогревается двумя малогабаритными колоколообразными печами сопротивления с платиновым, платинородиевым или них-ромовым нагревателем. [c.71]

В стеклокерамических материалах в процессе длительного нагревания при высоких температурах могут происходить значительные изменения, связанные не только с частичным растворением наполнителя в стекле и заруханием стекловидной составляющей, но и с химическим взаимодействием между стеклом и наполнителем, которое приводит к образованию новых химических соединений [121]. Такие изменения контролируют методом рентгенографического анализа. Было исследовано несколько стеклокерамических композиций. В качестве наполнителей в таких композициях были использованы окись алюминия, окись хрома, двуокись кремния или окись магния, а в качестве стекловидной составляющей — свинцовосиликатная, бариевосиликатная и стронциевосиликатная эмали, которые применяли в виде порошкообразных фритт с максимальным размером частиц 20—30 мкм или в виде нитратных полуколлоид-ных растворов (метод растворной керамики ) [132, 137]. Стекло и наполнитель брались в равных количествах по массе, поскольку стеклокерамические составы, содержащие не менее 50% наполнителя, обладают хорошими диэлектрическими свойствами при высоких температурах. Смеси стекол и наполнителей растирались в фарфоровой ступке, запрессовывались в брикеты и обжигались в сили- [c.72]

Изложенный метод рентгенографического определения KIF является достаточно строгим. В то же время он позволяет наиболее рационально обрабатывать большое число экспериментальных данных и, по-видимоцу, может оказаться удобным при автоматизированном эксперименте и его обработке на вычислительных машинах. [c.82]

Исследования образцов после опытов методами рентгенографическим и ИК-спектроскопин [191] показали, что взаимодействие протекало с образованием только карбида кремния. На всех ИК-спектрах присутствовала полоса поглощения 833—835 см , характерная для Si . Экспериментально доказано [190], что в исследованном интервале температур снижение скорости реакции в опытах связано с покрытием поверхности углерода карбидом кремния, который не реагирует с моноокисью кремния. Образцы карбида кремния, содержащие 97% Si и 3% безжелезистого каолина и предварительно прока.ленные в вакууме, при 1500° С не изменяли своего веса в присутствии моноокиси кремния. [c.82]

На рис. 137 приведена структура ауетенита в стали, содержащей (% С, выявленная по методу, который применял А. А. Байков. Таким образом, аустенит является однородным твердым раствором, что доказывается не только рентгенографическими, но и металлографическими исследованиями. [c.170]

Наконец, в исследованиях последних лет (Ю. Д. Тяпкин) специальными рентгенографическими методами обнаружено, что до обособления решеток карбидные включения закономерно распределены внутри а-решетки, образуя как бы свою макрорешетку (рис. 218), параметры которой измеряются сотнями ангстрем. [c.273]

ОСНОВНЫМИ МЕТОДАМИ анализа текстур являются дифракционные рентгенографический, электронографический и нейтронографический. Основанные на одних дифракционных принципах эти методы различаются но глубине проникновения дифрагирующих излучений в изучаемый объект и тем самым по толщине слоя материала, о текстурированностп которого дает информацию данный метод. [c.265]

Рентгенографические методы анализа широко используются для изучения структуры, состава и свойств различных материалов. Широкому распространению рентгенофафического анализа способствовали его объективность, универсальность, быстрота многих его методов, точность и возможность решения разнообразных задач, часто недоступных другим методам исследований. Вследствие высокой проникающей способности рентгеновских лучей для осуществления анализа не требуется создание вакуума. С помощью рентгенографического анализа исследуют качественный и количественный состав материалов (рентгенофазовый анализ), тонкую структуру кристаллических веществ - форму, размер и тип элементарной ячейки, симметрию кристалла, координаты атомов в пространстве, степень совершенства кристаллов и наличие в них микронапряжений, наличие и величину остаточных макронапряжений в материале, размер мозаичных блоков, тип твердых растворов, текстуру веп ес1в, плотность, коэффициент термического расширения, толидину покрытий и т.д. [c.158]

Для регистрации рентгеновских лучей в рентгенографическом анализе существуют два метода фотографический, основанный на почернении эмульсии под действием рентгеновских лучей, и дифракто-метрический - с использованием счетчиков квантов рентгеновского излучения (установки с использованием подобных счетчиков называются дифрактометрами). В связи с развитием счетчиков квантов рентгеновского излучения и электронных регистрирующих систем значительно большее распространение получили рентгеновские дифрактометры. [c.159]

Пример 2, Определим экономический эффект от вамены рентгенографического метода контроля рентге- [c.45]

Я. Приведенные затраты гготребнтеля при рентгенографическом и рентгенотелевизионном методах Н К [c.47]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...