Спектральный анализ точности

Метод спектрального анализа дает возможность быстро и с достаточной точностью, притом без разрушения детали, определять наличие в металлах и сплавах различных химических элементов и их процентное содержание. [c.299]

Метод радиоактивных индикаторов обладает высокой чувствительностью и точностью. Он позволяет определить в ряде случаев величину износа с точностью до 10 —10 г, т. е. в 10 раз более точно, чем с помощью спектрального анализа и в 108 раз более точно, чем с помощью взвешивания на аналитических весах. [c.159]

Спектральный анализ дает возможность определить все основные элементы легированной стали хром, молибден, вольфрам, марганец, кремний, ванадий, титан, ниобий, никель. Углерод, серу и фосфор методом спектрального анализа определить не удается. Точность анализа достаточна для определения марки стали. [c.65]

Содержание никеля определяли, используя весовой метод, а также на контрольных образцах углеродного волокна с помощью химического анализа (точность — 12%) 1135]. Примеси в никеле определялись на выборочных образцах с помощью качественного химико-спектрального метода. Качественный химико-спектральный анализ показал наличие следующих примесей в никеле —10-3% Si —Ю- % Fe 10-з% Mg 10-з% РЬ 10-2% Си 0,1% Р, т. е. никелевое покрытие можно считать технически чистым от примесей. , [c.208]

Применение спектрального анализа для определения состава металлов получило широкое распространение в СССР и за границей. Спектральный анализ имеет преимущества перед химическим анализом благодаря высокой чувствительности и точности, быстроте проведения. дешевизне, возможности единичным испытанием обнаружить наличие нескольких химических элементов в сплаве и т. д. [c.115]

Таким образом, при проведении спектрального анализа изменение внешних электрических условий возбуждения в контуре, содержащем искру или дугу переменного тока, сильно сказывается на равенстве интенсивностей спектральных линий, а следовательно, и на точности спектрального анализа. [c.122]

Области применения спектрального анализа и точность определения элементов в различных сплавах представлены в табл. 2. [c.122]

Для дисков всех категорий обязательно должны быть оговорены нормы химического состава. Как правило, химический состав определяют на заводе-поставщике дисков по пробе, отбираемой при разливке стали химический состав контролируют на турбинном заводе. Пробы отбирают по ГОСТу 7565—66, а химический анализ выполняют по ГОСТам 12344—12365—66 и 2331—63. Допускается применение других методов химического анализа, обеспечивающих необходимую точность определения. В нормах химического состава указывается допускаемое отклонение процентного содержания каждого элемента. Для вредных примесей (серы, фосфора) или элементов, вредных для стали данной марки, приводится только верхний предел содержания данного элемента. Путем химического анализа различных зон поковки (это относится в первую очередь к крупным поковкам) должна быть получена гарантия отсутствия ликвации особенно вредных элементов, а также легирующих элементов. Желателен контроль также с помощью спектрального анализа [74, 123]. [c.429]

Для выявления погрешности при определении химического состава чугуна спектральными методами относительно химических было проведено 38 анализов различных составов чугуна. Из результатов исследования, приведенных в табл. 13, можно сделать заключение, что для экспресс-анализа состава металла при плавке в индукционных печах целесообразно использовать следующие методы для контроля углерода — метод сжигания, точность 0,05% для контроля серы и фосфора — химический анализ, точность 0,01% для контроля кремния, марганца, хрома, никеля и молибдена — спектрографический метод, точность 0,1%. [c.51]

Спектральный анализ черных металлов. Рассмотренный выше уровень характеристик точности химического анализа черных металлов не может быть непосредственно распространен на результаты измерений спектральными и другими физическими методами, так как фактические значения их погрешностей и даже концентрационные зависимости показателей точности могут не совпадать с установленными для химических методов. В общем комплексе методик аналитического контроля иной может быть и допускаемая погрешность инструментальных измерений при массовом контроле качества продукции наиболее важно получение измерительной информации в сроки, согласующиеся с продолжительностью современных металлургических про- [c.53]

Таблица 14. Показатели точности спектрального анализа черных металлов

Как известно, для эмиссионного спектрального анализа характерно развитое влияние химического состава и физико-химических свойств контролируемого объекта на действительную функцию преобразования средств измерений. Степень этого влияния на результаты оптического спектрального анализа априори установить нельзя для рентгеноспектрального анализа расчетные способы оценки влияния химического состава не всегда имеют удовлетворительную точность, а эффект влияния физико-химических свойств объекта измерений теоретически оценить не удается. Характер и степень влияния существенно зависят от типа и свойств средств измерений, параметров и режимов его эксплуатации, способа подготовки проб и от методики выполнения измерений в целом. В связи с этим методы спектрального анализа при практическом использовании являются сравнительными и требуют индивидуальной градуировки для конкретной аналитической задачи при помощи образцовых мер состава, аттестованных другими, в частности, химическими методами. Градуировка средств измерений включает установление основных (базисных) статических градуировочных характеристик и оценку функций влияния состава и свойств контролируемого объекта. Недостаточная стабильность средств измерений в эксплуатации обусловливает необходимость их оперативной регулировки и (или) коррекции результатов в процессе спектрального анализа путем введения соответствующих поправок в аналитический сигнал, результат измерений или параметры градуировочной функции. [c.103]

Государственные СО для спектрального анализа черных металлов аттестуют аналогично рассмотренным выше СО для химического анализа и, следовательно, точность установления химического состава в обоих случаях может быть одной и той же. Однако для многих монолитных СО в погрешность аттестованных характеристик вносит существенный вклад повышенная неоднородность, которую не удается устранить в процессе подготовки материала. В связи с этим суммарная допускаемая погрешность аттестованных характеристик СО для спектрального анализа выше, чем для химического, и составляет для доверительной вероятности 0,95 1,1 или 0,5 погрешности результата рабочих измерений. На том же уровне нормируется допускаемая погрешность СО предприятий. [c.105]

Официально гарантируемая погрешность аттестованных характеристик СО может включать количественную оценку только уровня случайных, но не степени исключения систематических составляющих, что вызывает необходимость постоянно искать дополнительные возможности подтверждения метрологической согласованности СО и отсутствия в них существенных систематических погрешностей. Ранее рассматривались способы обеспечения единства измерений при разработке каждой серии СО высшей точности и государственных СО для химического и спектрального анализа. Однако для более глубокого изучения состояния вопроса необходимы, как и при изучении фактической точности измерений, очень большие массивы экспериментальных данных. Для этого оказались полезными данные по аттестации методик химического анализа, схема которой приведена в гл. IV. Обобщение данных технических отчетов по аттестации методик выполнения измерений, позволяет оперировать принципиально новой совокупностью результатов многократного воспроизведения каждой из аттестованных характеристик различных государственных СО в основных лабораториях отрасли и практически всеми методиками, применяемыми для 152 [c.152]

Химический анализ по сравнению со спектральным дает большую точность при значительном (5—10%-ном) содержании элементов в сплаве. Однако спектральный метод является более чувствительным. Он дает возможность определить малые содержания элементов, что особенно важно при определении количества средних примесей в сплавах. Кроме того, для спектрального анализа не нужно вырезать образцы из исследуемой детали, т. е. деталь при этом не повреждается. [c.270]

Химический состав определяют главным образом методами количественного анализа. В тех случаях, когда не требуется очень большой точности, но необходима скорость определения состава, используют спектральный анализ. [c.105]

Густав Роберт Кирхгофф родился в Кенигсберге в 1824 г., умер в Берлине в 1887 г. Преподавал последовательно в университетах Бреславля, Гейдельберга и Берлина и был одним из крупнейших специалистов своего времени по математической физике. Известен тем-, что дал теоретические основы спектрального анализа и вместе с Бунзеном разделяет заслугу первого его практического применения. Классическими являются также и его законы о распределении электрических токов в сетях, исследования, относящиеся к принципу Гюйгенса, и принадлежащая ему теория упругих стержней и пластинок. Его лекции по математической физике, собранные в четырех томах, первый из которых (только что цитированный) был отредактирован лично им самим и представляет собою полный трактат по механике, еще и сегодня могут служить примером осторожности и точности изложения. [c.406]

Схема Фейснера обеспечивает получение более стабильного разряда, что в значительной мере повышает точность спектрального анализа и имеет значение при анализе высоколегированных сталей. [c.119]

Использованиетермомультинликатора в установке В. Гершеля привело, по существу, к созданию первой оптико-электронной системы [67]. При помощи термобатареи Меллони значительно расширил наблюдаемый диапазон инфракрасного спектра, однако до открытия спектрального анализа в 50-х годах XIX в. и в первые 10—15 лет после его открытия наука мало продвинулась в направлении создания новых приемников излучений. Это объяснялось двумя причинами во-первых, отсутствие практически пригодных гальванометров достаточной чувствительности сильно снижало точность этого метода, во-вторых, в указанный период, когда развитие спектроскопии было нацелено главным образом для удовлетворения практических нужд химии и металлургии, казалось возможным ограничиться изучением [c.375]

Для спектрального анализа обычно используется узкополосный фильтр, аналоговая термоанемоментрическая аппаратура и цифровой анализатор сигналов Тюлли—Паккард с промежуточной записью сигналов на магнитную ленту. Рассмотрим опытные данные, полученные с помощью аналоговой аппаратуры, которая позволяет с большей точностью провести спектральный анализ, чем аппаратура, использованная в работе [12]. При проведении эксперимента турбулентные пульсации скорости записывались в виде аналоговых пульсаций напряжений. После исключения аномалий и искажений на цифровом анализаторе производилось преобразование сигналов в дискретную реализацию и другие подготовительные операции. (Под реализацией или частной записью понимается запись показаний датчика во время процесса). При дискретизации процесса выборочный временной шаг (интервал дискретизации) выбирается из условия [c.77]

Изотопный состав вещества достаточно хорошо изучен только для Солнечной системы. В Солнце заключена б. ч. массы Солнечной системы. Однако спектральный анализ содержания элементов в нуклидов в солнечной атмосфере не обладает столь большой точностью, как хим., радиохим. и масе-спектроскопич. анализы состава метеоритного и планетного твёрдых веществ. Поэтому содержание нуклидов в метеоритах рассматривается в качестве стандарта при систематизации распростра-.вёнвости большинства элементов. [c.263]

В табл. 3.5.1 указаны принятые размеры области работоспособности Х/щах- Они учитывают, что в точность размера обработанного отверстия основной вклад вносит вращательное движение шпинделя, поэтому на долю поступательного движения принято 30% общего допуска. Конусообразносгь зависит от поступательного движения шпиндельной бабки, а точность позиционирования от точности фиксадаи стола по отношению к шпиндельной бабке после его перемещения на заданную координату. Шероховатость поверхности связана с амплитудой высокочастотных колебаний на частотах, которые выявляются при спектральном анализе процесса колебаний. [c.366]

Литературные источники или нормативно-технические документы, содержащие достаточную (как в случае химического анализа) информацию о точности спектро-аналитических измерений за рубежом, отсутствуют. Первое детальное исследование сходимости результатов фотоэлектрического спектрального анализа сталей на воздушных кван-тометрах ДФС-10М и ДФС-36 было выполнено в СССР Н.В.Буяновым (в процессе разработки ГОСТ 18895—73). Полученные результаты показали, что в основном концентрационные зависимости случайной погрешности химического и спектрального анализа достаточно близки между собой и что линия регрессии — с может быть аппроксими- [c.55]

Исходя из метрологических функций, СО высшей точности используют только в аналитических лабораториях ИСО ЦНИИЧМ. Каждая подсистема СО состава черных металлов включает помимо СО высшей точности локальные системы образцов для химического и спектрального анализа и СО предприятий, которые создают преимущественно для индивидуальной градуировки средств измерений используемых в инструментальных методах анализа, а также СО аналитических сигналов для контроля стабильности градуировочной характеристики спектроаналитических установок и систем. В подсистему СО состава сталей входят также дополнительные наборы государственных СО для контроля состава углеродистых и низколегированных сталей и содержания газов. [c.84]

В состав отраслевой системы СО входят аттестуемые путем межла-бораторного эксперимента наборы образцов для химического анализа шлаков, флюсов, ферросплавов, огнеупоров и прочих материалов, представленные государственными СО и образцами предприятий. Кроме того, в наборы входят, СО предприятий для спектрального анализа соответствующих материалов. Разработань также два отраслевь1Х комплекта СО для спектрального анализа железорудного сырья и шлаков. Общее число государственных СО, входящих в отраслевую систему, следующее 1) СО высшей точности — 287, в том числе состава железорудного сырья — 39 чугунов — 30, сталей — 156, сплавов на никелевой основе — 62 2) государственных СО для химического анализа — 168, в том числе состава железорудного сырья — 13, чугунов — 10, сталей — 72, сплавов на никелевой основе — 16, шлаков и флюсов — 13, ферросплавов — 31, огнеупоров — 8, прочих материалов — 5 3) го- [c.84]

Так, на основании литературных данных и ГОСТ 12348—66 в 1976 г. в отраслевую систему были внесены четыре серии СО высшей точности с аттестованным содержанием марганца в сталях для учета влияния на результаты измерений таких элементов, как хром, вольфрам и кобальт. Впоследствии было показано, что фотометрическая методика определения массового содержания марганца в сталях может использоваться без предварительного отделения мешающих компонентов в диапазоне 0,05 — 15 % Мп и, следовательно, для дифференциальной аттестации содержания марганца в государственных СО для химического и спектрального анализа достаточно одной серии СО вьюшей точности. [c.97]

Уравнения (36) и (37) могут служить оценкой погрешности в случае, если приняты все возможные при современном развитии аналитической химии и технологии приготовления материала СО меры по исключению источников возникновения систематической составляющей погрешности, в том числе связанных с изменчивостью содержания элементов в материале СО. С этой точки зрения уравнение (36), по-видимому, можно использовать для характеристики СО высшей точности и аттестуемых на основе межлабораторного эксперимента государственных образцов для химического анализа, однако оно недостаточно для оценки погрешности монолитных СО для спектрального анализа черных металлов вследствие их практически значимой межэкземпляр-ной неоднородности. [c.145]

Фотометрированпе спектральных линий производится на микрофотометре МФ-2 (или МФ-4) при ширине щели 0,2 мм. Комплекты спектральных эталонов, применяемые для количественного спектрального анализа проб, приведены в табл. 3.5. Точность определения содержания элементов в металле малых проб не уступает точности лабораторного количественного спектрального анализа образцов неограниченной массы [20]. [c.70]

Строго говоря, линза формирует сфокусированный фурье-образ двумерного когерентного оптического сигнала не в задней фокальной плоскости, а на сфере радиуса /, касающейся фокальной плоскости в точке пересечения ее с оптической осью. Анализируя распределение комплексных амплитуд света в задней фокальной плоскости, мы по существу рассматриваем проекцию фурье-образа на эту плоскость. Перенос фурье-образа со сферы на плоскость сопровождается возникновениэм систематической погрешности в определении пространственной частоты, что необходимо учитывать при выполнении операции спектрального анализа с помощью линз. Частотная погрешность выражается в том, что масштаб оси частот в задней фокальной плоскости уменьшается с увеличением частоты, а не остается постоянным, как в точном фурье-преобразовании. Очевидно, что чем больше область частотной плоскости, используемая для спектрального анализа, тем больше погрешность в определении верхних пространственных частот анализируемого сигнала. Определим значение этой погрешности и размеры рабочей апертуры в частотной плоскости, обеспечивающие спектральный анализ с требуемой точностью. [c.211]

Микрорентгеновский спектральный анализ кристаллов указанных составов позволил установить, что в центральных подзатравочных областях выращенных кристаллов имеют место аномалии в распределении элементов, которые неоднозначны для разных составов. Так, если для кристаллов с большим содержанием бария (о = 0,5) наблюдается заметное увеличение концентрации бария в подзатравочной области, то для образцов, выращенных из расплавов состава х = 0,25, в центральной области имеет место незначительное уменьшение содержания бария. Наиболее однородны по составу в направлении выращивания те части кристаллических буль, где диаметр выращиваемых кристаллов стабилен. Введение в состав исходного расплава некоторого избытка ниобия практически не изменяет картины распределения соотношений Ba/Nb и Sr/Nb по длине и сечению кристаллической були в пределах точности измерений, которая для данного метода составляет 2 3 %. [c.137]

В приборах для спектрального анализа и микрофотометрив применяется много видов дифракционных решеток, отличаюш,ихся частотой штрихов, размерами, формой поверхности и классом точности и чистоты изготовления. [c.255]

Значительные успехи достигнуты в развитии и применении двух спектроскопических методов эмиссионного спектрального анализа и атомной абсорбционной спектрофотометрии [60 ]. В установках для эмиссионного спектрального анализа требуемая энергия возникает в процессе электрического возбуждения атомов, обычно проводимого с помощью дуги или искры. В результате таких разрядов анализируемый материал испаряется, происходит возбуждение атомов и генерируется светойое излучение, характеризующее эти атомы. Излучение затем разлагается призмой или дифракционной решеткой на отдельные спектральные линии, располагающиеся на приемной фотопластинке (фотопленке) в порядке следования длин волн в приборах с непосредственным отсчетом линии проектируются на фотокатоды установленных соответствующим образом фотоумножителей. Поскольку соотношение между концентрацией элемента в исследуемом материале и интенсивностью спектра его излучения неизвестно, это соотношение находят эмпирически сопоставлением с калибровочной кривой, получаемой аналогичным возбуждением стандартных образцов (эталонов) с известным химическим составом. Точность спектрального анализа всецело определяется исследуемым образцом, поэтому к нему предъявляют. определенные требования [75]. [c.86]

Кроме того, установка логарифлпиеской шкалы почернений требует регулярной проверки, в чем нет обычно никакой необходимости для линейной шкалы. Поэтому логарифмической шка-лох иочернений пользуются только при экспрессных измерениях, не требующих высокой степени точности, или в специальных случаях, когда необходимо найти разности АО двух мест почернений, как, например при определении разности почернений двух соседних спектральных линий нри спектральном анализе. Впрочем, эта задача упрощается и при использовании линейной шкалы. Разность почернений в этом случае определяется логарифмом отношения интенсивностей света, прошедших через эти линии. В самом деле, по определению почернений [c.375]

Преимуществами спектрального анализа по сравнению с химическими методами анализа являются его экспрессность, простота операций и высокая чувствительность, в особенности при анализе малых концентраций. В ряде случаев точность определений при снектрально.м анализе не ниже, чем при химическом анализе, а по сравнению с экспрессными методами химического анализа она во многих случаях значительно выше. Точность фотографического спектрального анализа составляет примерно 3% от измеряемой величины. Точность фотоэлектрических методов анализа достигает [c.596]

Фотографические методы спектрального анализа с применением микрофотометра, хотя и позволяют получать результаты анализа с достаточно большой степенью точности, однако по своей экспрессности они не всегда удовлетворяют контрольные лаборатории. В этих методах много времени тратится на обработку фотопластинки. Поэтому еще и в настоящее время часто используются упрощенные методы экспрессного спектрографического анализа в виде так называемого метода фотометрического интерполирования. Последний позволяет оценивать концентрацию анализируемых примесей но мокрой еще фотопластинке без тщательной ее микрофотометрической обработки. [c.608]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...