Спектрометр, схема

Светосилой масс-спектрометра часто называют отношение ионного тока, принятого на коллектор, к общему ионному току в пучке одноатомных ионов, вышедших из ионного источника. Это понятие скорее характеризует эффективность использования ионного пучка, а не светосилу прибора в целом. В большинстве масс-спектрометров схема измерения общего ионного тока не предусмотрена, поэтому при оценке светосилы прибора всегда возникают затруднения. [c.30]

Случайные сечения 1 159, 160, 173 Спектрометр, схема 2 127 [c.459]

Для решения задач спектроскопии атмосферы в ИОА СО АН СССР разработан многофункциональный флуоресцентный лазерный спектрометр. Схема спектрометра приведена на рис. 6.2, [c.152]

На рис. 5.62 представлена оптическая схема спектрометра с интерферометром Фабри —Перо, в которой используется такой способ сканирования. Интерферометр помещают в герметическую камеру, внутри которой давление может изменяться от нескольких миллиметров ртутного столба до атмосферного. Для этого из камеры сначала откачивают ротационным насосом воздух, 1 потом в нее подают через узкий капилляр газообразный азот, находящийся в баллоне под высоким давлением. Эта простая методика и большинстве случаев обеспечивает удовлетворительную точность результатов. [c.251]

На рис. 48 показана схема р-спектрометра, использованного советскими физиками А. И. Алихановым и др. для измерения энергетического спектра позитронов, испускаемых Ra и Th (С + С")-В этом приборе позитроны (или электроны), испускаемые источником И, проходят через отверстие в подвижной диафрагме Д, фокусируются однородным магнитным полем ( перпендикулярным плоскости чертежа) и регистрируются двумя счетчиками l и s, включенными в схему совпадений. [c.141]

Схема опыта изображена на рис. 95. При бомбардировке мишени М протонами р с энергией 330 Мэе рождаются я -мезо-ны. На пути лучка медленных я -мезонов был поставлен сосуд со сжатым до 200 атм водородом. Образующиеся при взаимодействии по схеме (13.36) у-кванты проходили через систему коллиматоров К, защиту 3 и анализировались с помощью гамма-спектрометра, аналогично изображенному на рис. 90. [c.150]

Для выбора оптимальных условий записи спектров при градуировке спектрометра часто применяют следующий способ. По эталонному спектру поглощения проводят оценку полуширины наиболее узкой полосы поглощения. Спектральную ширину щели берут приблизительно равной Д полуширины полосы. После вычисления и установки рабочей ширины щели подбирают усиление регистрирующей схемы с таким расчетом, чтобы во время записи перо самописца не выходило за пределы шкалы. Затем устанавливают приемлемый уровень шумов путем подбора постоянной времени усилителя. Скорость сканирования определяют таким образом, чтобы время записи наиболее узких линий поглощения было равно 10—20 т. Правильность выбора условий записи контролируют сравнением качества записанного и эталонного спектров. [c.150]

Рис. 63. Оптическая схема спектрометра ИКС-21

Рис, 9.32. Схема парного спектрометра. [c.527]

Для изучения изменения дислокационной структуры в никеле в процессе ИП проведены измерения ФМР поликристаллического никеля при трении с конструкционной бронзой в поверхностноактивной среде (глицерин) и инактивной (масло индустриальное И-20А). Исследования ФМР проводили на спектрометре, который представлял собой волноводную мостовую схему, построенную на ферритовом циркуляторе с отражательным прямоугольным резонатором. Образцы в форме дисков с хвостовиками со сформированной предварительно поверхностью отжигали в вакууме 2,66 х X 10 Па (2-10 мм рт. ст.) при 800° С в течение 2 ч. После отжига образцы испытывали на машине трения АЕ-5. [c.30]

Для исследования возможностей счетно-импульсного метода применялся сцинтилляционный спектрометр, блок-схема которого представлена на рис. 2. За основу схемы линейного усилителя была взята вторая секция усилителя импульсов модели 500 [2]. [c.315]

Если при выявлении дефектов или измерении толщин исключить эту часть спектра, то метод счета импульсов окажется более чувствительным. Поэтому схема счетно-импульсного дефектоскопа была собрана из тех же элементов, что и сцинтилляционный спектрометр, за исключением амплитудного анализатора, который был заменен дискриминатором импульсов. Порог дискриминатора устанавливался таким образом, чтобы исключить импульсы, соответствующие мягкому рассеянному излучению и шумам фотоэлектронного умножителя. [c.316]

Прямопролетный масс-спектрометр, так же как и радиочастотный масс-спектрометр, выгодно отличается от масс-спектрометров с пространственной дисперсией масс в магнитном поле сравнительно малыми размерами аналитических камер, простотой измерительных и вспомогательных электронных схем и по своим конструктивным особенностям, габаритам и простоте эксплуатации может быть с успехом использован в промышленных условиях. Поэтому развитию этих методов, их практическому усовершенствованию и исследованиям придается большое значение. [c.375]

В секунду) скоростей, могут различаться прежде всего методами выделения доплеровской частоты (оптическое детектирование, спектрометры) и электронной обработкой сигнала. В целом же они должны содержать источник когерентного светового излучения (лазер), оптическую схему, направляющую лазерный луч в исследуемую область движущегося объекта, приемную оптику, выделяющую рассеянный объектом пучок, схему сравнения частот сигнального и референтного пучков и электронный блок измерения доплеровской частоты. [c.282]

Рис. 3. Схема статического масс-спектрометра с однородным магнитным полем S , S — щели ионного источника и приёмника ионов треугольник — область однородного магнитного поля В, перпендикулярного плоскости рисунка тонкие сплошные линии — границы пучков ионов с разными т/е г — радиус центральной траектории ионов.

Рис. 4, Схема масс-спектрометра с двойной фокусировкой. Пучок ускоренных ионов, вышедших ив щели источника ионов, проходит через электрическое поле Е цилиндрического конденсатора, который отклоняет ионы на 90 , затем через Магнитное поле Н, отклоняющее ионы ещё на 60°, и фокусируется в щель коллектора.

Рио. 1. Схема рентгеновского спектрометра с вогнутой дифракционной решёткой [c.351]

Peo. Схема рентгеновского спектрометра с плоским кристаллом К — кристалл-анализатор (остальные обозначения см. на рис. 1). [c.352]

Наблюдение М. а. возможно с помощью спектрометра, схема к-рого приведена на рис. 3. Источнику у-кван-тов сообщается скорость [c.102]

Сравнение с дифракционным спектрометром [схема Литтрова при ф = 30°, как в формуле (8.65)] приводит к следующему результату [c.432]

Следует напомнить, что когда в 1952 г. было созвано всесоюзное совещание, на котором проблема разработки многоканальных амплитудных анализаторов была поставлена как первоочередная, А. А. Марковым и Г. Н. Софиевым была начата работа по созданию лабораторного 50-канального амплитудного анализатора типа АДА с дистрибуторами первого типа. Серия этих приборов в течение нескольких лет удовлетворяла основные потребности ИАЭ АН СССР в цифровых спектрометрах. Схемы анализаторов АДА заимствовались и дублировались во многих институтах страны, причем многие из этих спектрометров продолжают успешно-эксплуатироваться и в настоящее время [9]. [c.83]

На рис. 1 изображена схема устройства масс-спектрометра Демпстера. Ионы создавались в ионном источнике ИИ электронной бомбардировкой паров исследуемого вещества, ускорялись до энергии Т = eV между щелевыми диафрагмами Д и Д2 и выходили достаточно широким пучком в вакуумную камеру ВК. [c.29]

Спектрометр ИКС-21 с призмой ИаС1 предназначен для работы в области 2—15 мкм. Оптическая схема прибора приведена на рис. бЗ. Здесь 1 — источник света, 2 — модулятор, 3 — входное защитное окно осветителя, 4 — плоское зеркало, 5 — сферическое зеркало, 6 — выходное защитное окно осветителя, 7 — заслонка, 8 — исследуемый образец, 9 — входное защитное окно монохроматора (или фильтр), 10 — диафрагма, 11—входная щель, 12 — внеосевое параболическое зеркало, 13 — призма, 14 — зеркало Лит- [c.158]

Рис. 83. Схема установки для измерения кривых термовысвечивания и спектров ИК-стимуляции вспышки / — криостат с образцом 2—ртутная лампа ПРК-2 с фильтром УФС-1 3 — кварцевый конденсор 4 — сменное поворотное зеркало 5 — спектрометр ИКС-12 6 — источник ИК-излуче-ния 7 — линза из фтористого лития 8 — фотоумножитель ФЭУ-17 9 — усилитель постоянного тока У1-2 10 — потенциометр ЭПП-09, И — сменные светофильтры /2 — стеклянный конденсор 13 — фотозатвор 14—источник высокого напряжения выпрямитель ВС-9 15—автотрансформатор

Бета-спектрометр — это прибор для измерения энергетических спектров электронов, вылетаюш,их из ядер при р-распаде или при внутренней конверсии. Схема одного из типичных 3-спектрометров [c.526]

В парном спектрометре (рис. 9.32) для ресистрации используются электронно-позитронные пары. При этом электроны и позитроны также фокусируются магнитным полем и, кроме того, регистрируются по описанной в следующем пункте схеме совпадений. [c.526]

Вклад рассеянного излучения можно уменьшить, используя при регистрации средства спектрометрии излучений. В схему измерения (см. рис. 79, б) вводится дискриминатор, который выделяет только фотопик регистрируемого спектра [c.146]

На рис. 10, а приведена структурная схема системы измерения и анализа шумов с частотным спектрометром. Такую систему (фирма RFT), (ГДР) рекомендует комплектовать микрофонами типов МК 102, МК 201 и МК 301. прецизионным измерителем уровня звука типа PS 1202, 1/3-октавным анализатором типа Т0А111 и самописцем типа PSG 101. [c.457]

В качестве пересчетной схемы был использован прибор Калина . Изменение энергетического спектра Со ° в зависимости от толщины стального препятствия, помещаемого между источником излучения и кристаллом сцинтнлляционного счетчика, было исследовано с помощью спектрометра. В левой части спектра, кроме пиков, соответствующих энергии в 1,17 и 1,33 мэв, имеется непрерывный участок, соответствующий мягкому рассеянному излучению и шумам фотоумножителя. С увеличением толщины препятствия существенного изменения формы спектра не происходит, изменится только площадь спектра, что соответствует уменьшению скорости счета импульсов. Часть спектра, соответствующая мягкому рассеянному излучению и шумам фотоэлектронного умножителя, не чувствительна к изменению толщины препятствия. [c.316]

Рис. 132. Схемя спектрометра на основе органического лазера

Надежность и высокое качество проектов радиационной защиты ядерно-технических установок прямо зависят от качества моделей расчетов их адекватности реальным условиям и надежности константного обеспечения. Эти свойства расчетных моделей могут быть проверены только в результате измерений наиболее общей характеристики поля излучения за макетом радиационной защиты — спектра излучения в необходимом энергетическом интервале, обработанном по методике, дающей возможность вычислить погрешности восстановления спектра, а также погрешность определения любого линейного функционала от спектра. Для измерений спектра в области энергий нейтронов от 0,4—1 до 10— 5 МэВ в настоящее время применяют сцинтилляционный спектрометр быстрых нейтронов с кристаллом стильбена различных размеров и электронной схемой дискриминации импульсов от Y-фона по фронту нарастания импульсов. При измерении и обработке (восстановлении) спектра из измеренных амплитудных распределений возникают погрешности, обусловленные методикой эксперимента (неправильный учет фона, различных поправок и т. п.), применяемым методом обработки, а также статистические погрешности. Здесь описываются алгоритмы и программа восстановления спектров быстрых нейтронов и вычисления статистических погрешностей, вызванных статистикой отсчетов в каналах анализатора и нестабильностью регистрирующей аппаратуры спектрометра, приводящей к нестабильности энергетической шкалы анализатора импульсов. Проверку использованных алгоритмов и программы обработки проводили при измерении спектра быстрых нейтронов, образующихся при спонтанном распаде f. Этот спектр хорошо известен по результатам многочисленных экспериментов с использованием различных методик и является своеобразным международным стандартом . Измерения и обработки результатов проводили на измерительно-вычислительном комплексе (мини-ЭВМ 328 [c.328]

Рис. 1, Схема магнитного спектрометра, используемого в экспериментах ка ускорителях l — магнит 2 — трековые детекторы, регистрирующие траектории (тре1Ш) частиц и иагнитпом поле пропорциональные и дрейфовые камеры, иснровые проволочные камеры) З — годоскопы сцинтилляционных счётчиков 4 — многоканальный черенковский газовый детектор для идентификации вторичных частиц 5 — спектрометр для регистрации электронов и v-квантов в — мюонныЯ детектор (система сцинтилляционных 3 и трековых 2 детекторов, прослоенных Fe) 7 — мишень 8 — детекторы, включённые в схему совпадения, регистрирующую первичные частицы.

Рис, 2. Схема двухплечевого магнитного спектрометра i — мишень S—магниты з—магнитные лин.5ы 4—трековые детекторы 5,8 — сцинтиллнционные детекторы б—газовые черснковские счётчики 7 — ливневые спектрометры для идентификации электронов. [c.689]

Рис. 3. Принцип действия спектрометра недостающих масс вверху схема спектрометра (я), пннэу слектры недостающих масс — гладкий (б) и с максимумами (в).

Рис. I. Блок-схема масс-спектрометра (пунктиром обведена вакууширопанная часть прибора).

Рис. 3. Схема время-пролёгно-го масс-спектрометра. Пакет конов с массами т, и т, (чёрные и белые кружки) движется в дрейфовом пространстве анализатора так, что тяжёлые ионы (т,) отстают от лёгких (т ).

Рис. и. схема частотно-углового спектрометра. Сгтрлва — двумерное распределение излучения в выходной плоскости спектрометра. [c.544]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...