Анализ чувствительности Общие методы анализа чувствительности

Общие методы анализа чувствительности [c.123]

Общие методы анализа чувствительности, рассмотренные в предыдущем параграфе, позволяют определить одновременно всю матрицу чувствительности д )i д W. Однако эти методы чрезвычайно трудоемки и, как следствие этого, анализ чувствительности сложных электронных схем с их помощью практически неосуществим. В общих методах анализа чувствительности математическая модель схемы используется в виде черного ящика , обращаясь к которому для заданных значений [c.130]

Интенсивность линий на рентгенограмме является основой фазового анализа. Рентгеновский фазовый анализ особенно важен в случаях, когда по другим методам, например химическому анализу, нельзя судить о фазовом составе. При проведении фазового анализа определяют отношения межплоскостного расстояния d к порядку отражения п всех линий рентгенограммы и сопоставляют значения din с данными для фаз, имеющимися в справочной литературе. В общем случае слабая интенсивность линий свидетельствует о небольшом количестве данной фазы. Чувствительность количественного фазового анализа зависит от многих факторов она возрастает с увеличением отражательной способности атомных плоскостей обнаруживаемой фазы и с ослаблением фона рентгенограммы. Вещества, сильно поглощающие лучи, легко обнаружить в слабо поглощающих смесях, соединения легких элементов в смеси с тяжелыми можно выявить лишь при больших количествах [c.76]

Теперь рассмотрим полуэмпирический метод оценки коэффициента оптической чувствительности по напряжению С , предложенный в работе [91]. Дело в том, что описанная выше расчетная схема для определения С , позволяющая с достаточно высокой точностью определить полимера по химическому строению повторяющегося звена, не устанавливает связи между и другими оптико-механическими показателями (модулем упругости, температурой стеклования и др.). Проведем сначала анализ в общем виде. [c.243]

Вопрос о том, какому размеру усталостной трещины уделять внимание на практике, определяется условием дости ения предельного состояния тела с трещиной и возможностями методов и средств неразрушающего контроля, используемыми на практике для выявления трещин. Исходя из представлений о длительности процесса развития трещин и возможностей неразрушающих методов и средств контроля, а также доступности самих мест контроля эту проблему можно рассматривать непосредственно в рамках рассмотренного выше вопроса об относительной живучести материала. Живучесть основных силовых элементов конструкции оказывается достаточной для введения обоснованного и экономически целесообразного надежного периодического контроля. Вместе с том даже в однотипных элементах конструкций могут возникать усталостные трещины в результате повреждения поверхности детали в разных сечениях и зонах с различной концентрацией нагрузки. В этих условиях стратегия определения периодичности осмотра, выбор и обоснование метода и средств контроля не мог>т быть рассмотрены с общих позиций. Необходим анализ особенностей проведения контроля по таким различным критериям, как доступность зоны контроля, геометрия детали, месторасположение трещины, периодичность осмотров с учетом кинетики роста трещины в зоне контроля, чувствительность метода и стоимость процедуры контроля. Интенсивность осмотров и их трудоемкость могут перекрывать положительный эффект от эксплуатации элемента конструкции по принципу безопасного поврежде- [c.65]

Наряду с указанными требованиями существенными вопросами голографической интерферометрии являются локализации полос, а также чувствительность метода к изменениям состояния объекта. Детальный анализ процесса образования голографических интерференционных полос показывает, что в общем случае плоскость локализации полос может находиться на произвольном расстоянии от поверхности объекта. В результате полосы на объекте оказываются малоконтрастными, что затрудняет их наблюдение. Данный недостаток может быть преодолен увеличением глубины резкости системы наблюдения путем ограничения ее апертуры [4]. [c.212]

Для построения САПР необходимо математическое, алгоритмическое, программное, техническое и организационное обеспечение. Под математическим и алгоритмическим обеспечением понимается совокупность математических моделей компонентов сложных систем и процессов, методов и алгоритмов анализа и оптимального синтеза таких систем и процессов, определения чувствительности выходных характеристик по отношению к вариациям условий работы, пространственной компоновки изделий из элементов и т. д. Сюда же относятся методы и алгоритмы машинной графики. Программное обеспечение включает в себя системные и прикладные средства. Системные средства служат для организации взаимодействия всех аппаратных, программных и информационных средств САПР. Кроме того, системные программы САПР либо обеспечивают работу САПР в общей операционной среде ЭВМ, либо образуют собственную специализированную операционную среду. Прикладные программы решают конкретные задачи, входящие в сферу САПР. Частично библиотека прикладных программ может комплектоваться из компонентов стандартных пакетов научных программ и пакетов прикладных программ общего и частного назначения. Часть программ, специфичная именно для данной САПР, разрабатывается дополнительно. При этом нужно учитывать, что все прикладные программы САПР предназначены для многократного использования, поэтому их отработка должна вестись особенно тщательно. К прикладным можно отнести также программы выдачи технической документации на разрабатываемую САПР продукцию. [c.124]

Для возможности реального использования такой процедуры составления алгоритмов контроля и получения существенных выгод по времени алгоритмизации и эффективности построенных алгоритмов необходимо иметь полный общий анализ выполнения отдельных типовых операций по каждой операции знать перечень возможных реализующих ее алгоритмов, основные характеристики работы этих алгоритмов, рациональные области их использования, чувствительность алгоритмов к точности исходных данных, методы расчета параметров каждого варианта алгоритма. [c.12]

Достоинством спектрального анализа является его универсальность. Метод позволяет анализировать вещество в любом агрегатном состоянии без особой подготовки проб по общей схеме. Метод селективный. Одновременно из одной навески можно определить более 30 элементов, не применяя их разделения. Эмиссионный спектральный анализ достаточно чувствительный. Он имеет нижний предел обнаружения 10 . .. 10" %, а в некоторых случаях и 10 %. [c.521]

Общее время цикла анализа одного образца на приборах составляет 3 мин при определении двух компонентов (кислорода и азота) и 1-2 мин — одного компонента. Метод применим при экстракции кислорода и азота с чувствительностью до 10 -5-10 % для большинства металлов и их сплавов. Преимущества приборов для восстановительного плавления в потоке инертного газа заключаются прежде всего в уменьшении испарения металла и графита. Потери газов в результате сорбции на конденсате в инертной среде значительно меньше, чем при плавлении в вакууме. Возможен анализ содержания газов в материалах с высокой упругостью пара. В России для анализа кислорода в металле методом восстановительного плавления в потоке инертного газа применяют прибор АК 7516. Из зарубежных автоматических анализаторов с микропроцессорным управлением следует отметить установку ОА 2003 17 (Великобритания), надежнее зарекомендовавшую себя на практике. Схема этой установки приведена на рис. 3.8.8. [c.718]

Анализ формул Френеля показывает, что фазовые характеристики отражённой световой волны чувствительнее к изменениям оптич. параметров, чем амплитудные, к тому же измерения фазовых характеристик могут быть проведены с большей точностью, чем амплитудных. Это обусловливает широкое применение Э. отражения. Для анизотропных сред необходимы измерения в неск. плоскостях падения. Для поглощающих кристаллов любых симметрий наиб, общий метод заключается в измерении на одном аншлифе параметров эллипсов при одном угле падения для трёх плоскостей падения и при другом для одной плоскости (5 ]. Более простые методы пригодны лищь для высоких симметрий без поглощения. [c.609]

До 1966 г. проблему повышения разрешающей способности магнитографической дефектоскопии в процессе магнитной записп пытались решить путем разработки магнитных лент, более чувствительных к магнитным полям, которые соизмеримы с величиной поля дефекта (порядка 10—140 А/см) [49]. Здесь уместно отметить, что в связи с тем, что магнитографический метод объединил две достаточно разработанные в теоретическом отношении области технической физики магнитную порошковую дефектоскопию и технику записи электрических сигналов, на первой стадии его развития не было уделено должного внимания изучению физических основ метода. В то время, когда качество сварочных работ не отличалось высоким уровнем, несовершенство способов магнитографической дефектоскопии было мало заметно. Однако с повышением качества сварки начали выявляться недостатки как применявшейся методики, так и средств магнитографического анализа. В общем это закономерно, так как в любой отрасли техники совершенствование ее средств является следствием роста сложности задач, подлежащих решению. Но для магнитографической дефектоскопии этот путь оказался особенно болезненным из-за пробелов в изучении физических основ данного метода. Действительно, при использовании сведений из магнитной дефектоскопии [c.16]

Поскольку воды системы ГЗУ по составу представляют собой сложные солевые растворы, то было проверено влияние посторонних веществ (общего фона) методом добавок. Результаты, представленные в табл. 1, показывают, что определению мышьяка компоненты сточных вод не мешают. Чувствительность гипофосфитного метода с коагуляцией мышьяка 20—30 мкг/л- Ошибка определения до 10%. Применяемые реагенты доступны и нетоксичны. Техника выполнения анализа проста, но трудоемка. [c.217]

Определение содержания газов в чугуне методом вакуумной плавки. Вакуумная плавка - наиболее надежный и универсальный способ анализа газов в чугунах, позволяющий одновременно определять в одной пробе содержание кислорода, азота и водорода. Предпочтительней для этой цели использовать прибор ЕА-1 фирмы "Балзерс" (США) (рис. 3.8.7). Масса анализируемой пробы 1-3 г, расплавление пробы производится в графитовом тигле с помощью печи сопротивления 2. Анализ газовой смеси автоматизирован и ведется без разделения по компонентам, а ее составляющие определяют избирательными методами. Содержание оксида углерода определяют ИК-анализатором 6 по поглощению инфракрасного излучения. Содержание водорода определяют при помощи анализатора 8 по его теплопроводности. Содержание азота определяюшо разности между общим количеством газа и содержанием в нем кислорода и водорода. Общая продолжительность цикла анализа составляет 5-7 мин. Чувствительность анализа (по массе) составляет, % для кислорода— 10 —10 , азота — 10 , водорода — 10 . [c.717]

При анализе текстуры по полюсным фигурам, по> строенным по данным рентгеновского анализа, необходимо учитывать их ограниченность, связанную с недостаточно высокой чувствительностью метода. Интенсивность дифрагированных лучей от тех текстурных компонент, вес которых невелик, будет также малой и может оказаться незамеченной регистрирующим устройством на общем фоне рассеянного рентгеновского излучения. В результате эти слабые текстурные компоненты будут отсутствовать на полюсной фигуре. Вместе с тем роль таких слабых компонент, особенно в процессах тексту-рообразования при рекристаллизации, часто оказывается решающей. Поэтому в случаях, когда слабые компоненты могут играть важную роль, для их выявления нужно применять специальные локальные методы (например, дифракцию электронов или метод фигур травления). [c.271]

Общими характеристиками метода РСМА являются следую1цие. Так как рентгеновское излучение генерируется из более глубоких слоев, чем вторичные электроны (для ЭОС 5-20 А, а для РСМА 0,5-5 мкм), то этот метод более информативен относительно объемного состава или более глубоких слоев. Анализы можно выполнять в менее глубоком вакууме, чем в ЭОС (для РСМА 6( 1О -1О ), для ЭОС (10 -10 Па), что связано с высокой проникающей способностью рентгеновских лучен. Это могут быть как качественные, так и количественные измерения с регистрацнен примесей с чувствительностью [c.156]

Третьей характерной кривой является график зависимости между напряжением и деформацией для определенного момента времени. Ясно, что для любого момента времени этот график будет представлять собой прямую линию с постоянным углом наклона. Линейная зависимость напряжений от деформаций (В каждый момент времени есть следствие неявного предположения о линейности моделей, состоящих из пружин и цилиндров с поршнями. Эта линейная зависимость в общем случае очень важна при исследовании напряжений и деформаций поляризационно-оптическим методом, так как она позволяет распростра- нить результаты, полученные на моделях из вязкоупругого материала, на натуру из упругого материала. Большая часть вязкоупругих материалов обладает линейной зависимостью между напряжениями и деформациями в определенных пределах изменения напряжений и деформаций (или даже времени). Существуют и нелинейные вязкоупругие материалы, полезные в некоторых специальных задачах. Однако в большинстве случаев приходится выбирать материал с линейной зависимостью между напряжениями и деформациями и следить за тем, чтобы модель из оптически чувствительного материала не выходила в ходе испытания за пределы области линейности свойств материала. При фотографировании картины полос момент времени для всех исследуемых точек оказывается одним и тем же. Если используются дополнительные тарировочные образцы, то измерения на них необходимо проводить через тот же самый интервал времени после приложения нагрузки, что и при исследовании модели. Читатель, желающий подробнее ознакомиться с использованием расчетных моделей для анализа свойств вязкоупругих материалов, может обратиться к другим публикациям по данному вопросу, в частности к книге Алфрея [1] ). [c.122]

При использовании этих приемов электрометрический способ определения дает возможность фиксировать малые солесодержания с чувствительностью 0,3 мг кг. Для установок с прямоточной схемой водоподгото вки при натрий-катионитовом методе двухступенчатого умягчения прямое определение сухого остатка котловой воды может быть заменено его определением но общей щелочности котловой воды. Установление зависимости 5=.[(Щ) может быть осуществлено как расчетом — по анализу исходной воды, так и путем ряда весовых анализов котловой воды. [c.295]

Элементный анализ (исследования элементного состава твёрдых и жидких веществ, в первую очередь ме-таллич. сплавов, полупроводников, геологич. объектов земного и внеземного происхождения). В связи с малой летучестью большинства таких веществ их одновро.у . испарение и ионизация осуществляются в вакуумном искровом разряде с одноврем. регистрацией большого участка масс-спектра либо на фотопластинке, либо с помощью пространственно протяжённых детекторов. Чувствительность метода для большинства элементов порядка 10 —10 % (путём обогащения примесями добиваются чувствительности 10 % и лучше). Для элементного анализа наряду с вакуумной искрой применяют лазерную ионизацию, вторичную ионную эмиссию, а также жидкометаллич. ионные источники. G помощью М.-с. проводят как общий, так и локальный, и послойный элементные анализы. При этом толщина, подвергающаяся анализу, составляет неск, мономоле-кулярных слоёв, локальность — меньше 1 мкм. Для общего анализа наиб, удобно использовать -вакуумную искру, для послойного — ионно-ионную эмиссию, для локального — лазер. Масс-спектральный элементный анализ поверхностного слоя твёрдого тела получил особое значение в микроэлектронике. Для элементного анализа жидких растворов применяют ионизацию в индуктивно связанной плазме. [c.58]

Пользуясь достаточно совершенными хроматографами, можно обеспечить точность определения компонентов неполного горения (СО, На и СН4) , вполне достаточную для составления тепловых балансов газопотребляющих агрегатов и для проведения сравнительных испытаний газовых горелок. Пределы чувствительности хроматографических газоанализаторов могут составлять по водороду 0,0025 — 0,003%, по окиси углерода—0,01%, по метану— 0,01%. Следовательно, при использовании хроматографов наиболее совершенной конструкции можно обеспечить определение потерь тепла от химического недожога, имеющих величину порядка 0,10—0,15%. Следует все же иметь в виду, что общая точность определения зависит также от ошибок, допускаемых при анализе газов на содержание RO2 и О2 волюмометрическим методом, при тарировке сечений газохода, а также при выборе балансовых точек отбора проб и при других вспомогательных операциях. В связи с этим дальнейшее повышение точности рассматриваемых хроматографов не имеет смысла. [c.109]

Метод ЭСХА особенно удобен, если требуется анализ поверхности без разрушения образца и сверх того нужна информация о химическом состоянии. Чувствительность метода в общем невелика (1—10 2%) при измерении в течение 2—3 мин и регистрации с помощью измерителя скорости счета и самописца. Применение многоканального анализатора и ЭВМ позволяет проводить измерения в течение многих часов — соответственно растет нижний предел обнаружения и чувствительность повышается на порядок. [c.155]

Химический анализ раствора, колориметрия, атомный абсорбционный анализ и т п., как правило, позволяют определять концентрации компонентов методом отбора проб, вследствие чего эти методы обычно применяются для определения средних значений Z,-. Возможность их использования сильно ограничивается трудностями анализа раствора на начальных стадиях растаорения сплава, когда общие концентрации А и В крайне малы и не превышают порога чувствительности методов, а парциальные токи растворения быстро изменяются во времени. [c.31]

Диапазон анализируемых элементов определяется возможными для данных энергий реакциями. К преимуществам метода относятся фактическое отсутствие фона, поскольку энергия испускаемых в процессе реакций частиц велика в сравнении с энергией обратно рассеянных частиц возможность эффективного разделения изотопов какого-либо элемента нераз-рушающий характер исследований высокая чувствительность (до 10"г анализируемого вещества) разрешение до 0,1 мкм при глубине анализируемого слоя в несколько микрометров. Время анализа не превосходит нескольких минут. Интерпретация получаемых данных особенно проста при определении общего содержания примеси. В этом случае, если удается выбрать энергию анализирующих частиц такой, чтобы во всем диапазоне глубин значения энергии бомбардирующих частиц находились в области независимости дифференциального сечения реакции от энергии, то выход продуктов реакции пропорционален количеству анализируемых атомов. Если такой [c.167]

Для измерения термо-э. д. с., развиваемой термопарой, используются приборы различных типов. Точные эксперименты требуют применения хорошего потенциометра одним из наиболее удобных является потенциометр arpenter-Stansfield, в котором термо-э. д. с. термопары почти полностью компенсируется потенциометрическим методом. Небольшая нескомпенсированная термо-э. д. с. подается на чувствительный зеркальный гальванометр, который отбрасывает световой зайчик на шкалу с делениями. В общем случае трудно оценить достигаемую абсолютную точность метода термического анализа, так как условия эксперимента изменяются от системы к системе, но при температурах ниже 1200° С этот метод должен позволять определять положение точки а на кривой фиг. 33 с точностью 1—1,5° С. С повышением температуры точность уменьшается. [c.78]

Как отмечалось выше, для градуировки спектральных приборов можно применить и метод пар линий с общим В ерхним уровнем, если известна спектральная характеристика детектора (см. 31) [44, 54, 55, 140]. В работе [140] монохроматор градуировался несколькими методами по расчетным вероятностям переходов, по эталонной водородной, лампе, с помощью дополнительного монохроматора и с помощью термофосфора с известной абсолютной чувствительностью результаты хорошо согласуются друг с другом. Подробный анализ ошибок, допускаемых при градуировке монохроматоров, дан в статье [144]. Существенную роль могут играть ошибки, возникающие благодаря изменению коэффициента пропуокания монохроматора внутри выделяемого спектрального интервала. [c.262]

Контраст в изображении на рентгеновских микроскопич. снимках, получаемых методом теневой проекции, возникает благодаря селективному поглощению реитгеповских лучей атомами различных элементов. < ледовательно, чувствительность и точность рентгеновского абсорбционного микроскопич. анализа будут определяться различием в коэфф. поглощения излу-ченг1я анализируемыми элементами. В общем случае эти величины возрастают с увеличением %, однако иногда эффективным оказывается использование скачка поглощения при более коротких волнах [6]. [c.423]

В общем случае для п выходных и I внешних параметров определяется матрица чувствительности А с элементами а1) = дуг1дд1. Специальные требования на точность вычисления элементов ац не накладываются (важно определить знаки а, ), поэтому для определения матрицы используется метод приращений, требующий выполнения [1+ ) раз одновариантного анализа. Для расчета каждого выходного параметра в наихудшем случае /,нс необходимо выполнить один вариант анализа, общее количество вариантов анализа по методу наихудшего случая (/г-f +l). [c.49]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...