ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Контраст в изображении на рентгеновских микроскопич. снимках, получаемых методом теневой проекции, возникает благодаря селективному поглощению реитгеповских лучей атомами различных элементов. <;ледовательно, чувствительность и точность рентгеновского абсорбционного микроскопич. анализа будут определяться различием в коэфф. поглощения излу-ченг1я анализируемыми элементами. В общем случае эти величины возрастают с увеличением %, однако иногда эффективным оказывается использование скачка поглощения при более коротких волнах [6]. [Выходные данные]