Полюсные фигуры

Рис. 161. Распределение полюсов на полюсных фигурах для различного типа текстур (схемы)

Все сказанное выше иллюстрируют схематические и реальные полюсные фигуры, приведенные в качестве примера на рис. 161 —163. [c.268]

Различной штриховкой как на рис. 163, принято обозначать области на полюсной фигуре, относящиеся к компонентам текстуры различной интенсивности (разного веса ), давших на рентгенограммах разные по интенсивности интерференционные максимумы. Обычно чем больше доля данной компоненты, тем более плотной [c.268]

Определение ориентировок по построенным полюсным фигурам производят с помощью стандартных проекций (сеток Закса), на которых изображены стереографические проекции полюсов плоскостей монокристалла с разными индексами hkl) при данной ориентировке кристалла относительно круга проекции. [c.270]

В качестве примера на рис. 163 приведена полюсная фигура 110 сплава Fe-(-3%Si после холодной прокатки. [c.270]

Из этой полюсной фигуры следует, что в холоднокатаном сплаве железо — кремний создается многокомпонентная текстура, состоящая из нескольких рассеянных ориентировок, области рассеяния которых составляют 15—20° и перекрываются. Максимумы плотности приходятся на ориентировки 001 <110> 112 <110> и 111 <112>. [c.271]

Из такой записи следует, что группа кристаллитов (наиболее многочисленная) ориентирована плоскостями 100 параллельно плоскости прокатки и направлением < 110>- параллельно направлению прокатки НП. Проекции нормалей к плоскостям 110 этой группы кристаллитов располагаются на полюсной фигуре в местах, помеченных квадратами. [c.271]

Из приведенной полюсной фигуры и протяженности заштрихованных областей рассеяния далее следует, что по существу при прокатке возникает непрерывный ряд преимущественных ориентировок от 001 < 110> до 111 <112>. [c.271]

Однако симметрия текстуры при всей ее важности — только первая, самая общая ее характеристика. Совершенно очевидно, что одной и той же симметрией текстуры может обладать бесконечное множество конкретных текстур, причем не только многокомпонентных, но и однокомпонентных. Это хорошо видно из полюсных фигур прокатанных металлов, приведенных на рис. 162, 163. Все они удовлетворяют симметрии т-2 т, хотя конкретные типы текстур у них совершенно различны. [c.276]

В первом случае текстуру описывают как базисную с различным распределением плотности базисных полюсов на полюсных фигурах, во втором наблюдаются различного рода призматические текстуры. Призматическая текстура образуется преимущественно при деформации металла в верхней части двухфазной области. Базисная текстура возникает при деформации в температурном интервале существования максимального количества а-фазы. У ряда псевдо-о-сплавов титана образование текстуры базисного типа происходит при температурах прокатки ниже 600— [c.128]

Рис. 6.2. Полюсная фигура (0001) наноструктурного Со

Рис. 5. Полюсная фигура базисной плоскости для сплава Т1 — 8 % А1 — 1 % Мо — 1 % V, показывающая явно выраженную текстуру. Интервалы полюсной плотности

Полюсные фигуры. Полюсная фигура прокатки 111 металла с г. ц. к. решеткой (рис. 1.9 [13]). Полюсные фигуры служат для описания текстур, т. е. наличия предпочтительной ориентировки кристаллитов в [c.15]

Текстуры деформации описывают с помощью полюсных фигур (см. 1.1). [c.98]

Полупроводниковые материалы 313, 315 Полюсные фигуры 15 Полярная сфера 15 Поперечное сужение 108 Порошковая металлургия, методы 399 Потенциальная яма, модель 139 Предел выносливости 125 [c.477]

Сменные приставки позволяют анализировать крупнозернистые образцы (вращение образца в собственной плоскости), получать прямые и обратные полюсные фигуры, вести съемки при высоких (до 2200 °С) и низких (до —180°С) температурах, исследовать и ориентировать монокристаллы. [c.121]

Текстуру обычно анализируют с помощью прямых и обратных полюсных фигур. Прямой полюсной фигурой (ППФ) называется стереографическая проекция нормалей к определенным плоскостям (кЫ) для всех кристаллитов данного материала. ППФ строят в координатах самого образца (рис. 5.32). Для текстуры прокатки плоскость проекции обычно устанавливается параллельно плоскости прокатного листа, а центр ППФ совпадает с направлением нормали к плоскости листа (НН). [c.136]

Суш,ественный прогресс в рентгеноанализе текстур и количественной оценке веса разных компонент и степени рассеяния текстур достигнут в последние годы благодаря использованию ионизационных методов регистрации дифрагированного рентгеновского излучения. Количественный анализ текстур, особенно многокомпонентных, относительно сложен. Он требует построения по данным, полученным из рентгенограмм, специальных полюсных фигур и их анализа. [c.266]

ПОЛЮСНЫЕ ФИГУРЫ. Под полюсными фигурами поликристалла понимают стереографические проекции (см. гл. П) нормалей (полюсов) к определенным атомным плоскостям hikili , построенные для всех кристал- [c.266]

При отсутствии текстуры любые ориентировки плоскостей разных кристаллитов равновероятны. В этом случае полюсная фигура этих плоскостей представляет собой круг проекций, равномерно покрытый полюсами hikiU . Графически это принято изображать равномерной штриховкой круга проекций (рис. 161, а). При нали- [c.267]

Теперь круг проекций будет покрыт полюсами неравномерно (см. рис. 161,6—г, 162, 163). Конкретный характер распределения полюсов будет зависеть от типа текстуры, ее рассеяния и, конечно, от того, для каких конкретно плоскостей hikiU построена данная полюсная фигура. При идеальной монокомпонентной текстуре прокатки поликристалл как бы превращается в монокристалл и полюса должны располагаться на круге проекций в определенных закономерно расположенных точках (для ориентировок нет степеней свободы). [c.267]

Рис. 162. Полюсная фигура IHJ многокомпонентной текстуры сплава 50 % Fe + 50 7о Ni с г. ц. к. )сшстк0й. Цифры указывают относительный вес плотностп полюсов

Различная штриховка областей полюспой фигуры означает различную плотность нормалей а единицах плотности полюсной фигуры образца без преимущественной ориентации [c.269]

Полюсную фигуру накладывают на разные стандартные проекции и, вращая, проверяют, на какой из этих сеток проекции нормали от плоскостей hikiU , для которых построена данная полюсная фигура, совпадают с максимумами на этой полюсной фигуре. [c.270]

В случае совпадения индексы центрального пятна данной стандартной проекции и являются индексами атомной плоскости, параллельной плоскости прокатки, а индексы нормалей на стандартной проекции, совпадающие с выходами направлений вдоль НП) и поперек ПП) прокатки на полюсной фигуре, являются индексами кристаллографических направлений в решетке, совпадающих соответственно с направлениями НП и ПП. В случае многокомпонентной текстуры параллельно плоскости прокатки устанавливаются в одних кристаллитах плоскости с одними индексами, а в других — с другими. Тогда не все максимумы полюсной фигуры будут совпадать с полюсами плоскостей hikik) одной стандартной проекции. В таком случае следует найти другую стандартную сетку, в которой полюсы тех же плоскостей hikiU) совпали бы с оставшимися нерасшифрованными максимумами полюсной фигуры. Эта стандартная сетка даст новые значения индексов плоскостей и направлений, параллельных плоскости прокатки и направления НП и ПП. [c.270]

Различная штриховка областей полюсной фигуры обозначает различную плотность нормалей в единицах плотности полюсной фигуры нетекстурованного образца (т. е. обозначает относительный вес соответствующих ориентировок —цифры см. в подписи к рисунку). [c.270]

При анализе текстуры по полюсным фигурам, по> строенным по данным рентгеновского анализа, необходимо учитывать их ограниченность, связанную с недостаточно высокой чувствительностью метода. Интенсивность дифрагированных лучей от тех текстурных компонент, вес которых невелик, будет также малой и может оказаться незамеченной регистрирующим устройством на общем фоне рассеянного рентгеновского излучения. В результате эти слабые текстурные компоненты будут отсутствовать на полюсной фигуре. Вместе с тем роль таких слабых компонент, особенно в процессах тексту-рообразования при рекристаллизации, часто оказывается решающей. Поэтому в случаях, когда слабые компоненты могут играть важную роль, для их выявления нужно применять специальные локальные методы (например, дифракцию электронов или метод фигур травления). [c.271]

Если анализируемый материал крупнозернистый, то полюсные фигуры строят с помощью лауэграмм или эпиграмм от отдельных крупных кристаллитов, по которым определяют их ориентировку в пространстве. Затем ориентировки разных плоскостей (с разными hkl)) наносят в виде точек на соответствующие полюсные фигуры (рис. 164). Разная плотность заполнения различных участков полюсной D 00)<0)1> фигуры нанесенными точ-0 iw <00t> ками и будет характеризовать текстуру. Ясно, что для большей досто-.верности полученных полюсных фигур число кристаллитов, с которых сняты лауэграммы, должно быть достаточно большим. [c.272]

Рис. 164. Полюсная фигура крупнозернистого полнкристаллического трансформаторного железа, построенная по лауэграммам от отдельных кристалли-тов

Исследование текстуры исходных и прошедших дальнейшую термическую обработку образцов VSi2 производилось по методу обратных полюсных фигур. [c.306]

Исследованные текстуры имеют малую степень совершенства и характеризуются наличием многих изолированных полюсов. Кроме того, ряд дифракционных отражений, далеко отстоягдих на обратной полюсной фигуре, на рентгенограммах сливаются. Это не дает возможности построить обратные полюсные фигуры. Поэтому результаты исследований приведены в табл. 2 для основных кристаллографических направлений в кристалле. Как видно [c.307]

Подробно это изложено в работах [ 108, 111]. В исследовании [ 108] анализ взаимных ориентировок вьшолнялся на монокристаллах конструкционных легированных сталей. Путем построения и расшифровки полюсных фигур авторы определили, что при прямом мартенситном превращении реализуются промежуточные ориентационные соотношения, отличающиеся от соотношений Кудрюмова - Закса на угол около 2 . [c.86]

В.М. Счастливцевым с сотрудниками вьшолнена серия работ, в которых уделялось серьезное внимание определению ориентационных связей фаз при разных условиях нагрева [ 59, 107, 113, 123, 124]. Для решения этой задачи применялась трансмиссионная электронная микроскопия, строились полюсные фигуры. Данные этих работ подтвердили существование ориентационного соответствия зародышей аустенита мар-тенситным кристаллам на начальных стадиях превращения как при медленном, так и при ускоренном нагреве [ 59]. При медленном нагреве эти ориентировки сохраняются до окончания а 7-превращения. При ускоренном нагреве в верхней области межкритического интервала возникают участки глобулярного аустенита ( белые поля [1]), которые, по данным работ [ 123, 124], можно рассматривать как рекрис-таллизованные участки. Об этом свидетельствует то обстоятельство, что взаимные ориентации между новыми глобулярными зернами 7-фазы [c.93]

ДАРТ-2,0 Дифрактометр для автоматического построения полюсных фигур и исследования текстур 13 Кроме полюсных фигур, прибор выдает измеренную интенсивность на цифропечать или перфоратор [c.118]

Обратная полюсная фигура (ОПФ) представляет собой стандартный стереографический треугольник, на котором около проекций различных кристаллографических направлений (или полюсов) стандартной проекции монокристалла указана так называемая полюсная плотность Phhi). Полюсная плотность определяется как вероятность совпадения данного кристаллографического направления с заданным физическим направлении самого образца (например, с направлением оси волочения [c.136]

Рис. 5.32. Полюсная фигура для плоскостей J Щ J прокатанного никеля (плоскость проекции параллельна плоскости прокатки НП — направление ярокатки, ПН — поперечное направление, НН — направление нормали к плоскости листа)

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...