Дифракционные методы исследования

В первой главе кратко изложены вопросы структурной кристаллографии и дифракционных методов исследования структуры твердых тел. Вторая глава посвящена рассмотрению сил, удерживающих дискретные частицы вместе в твердых тела.х. В последующих главах приводятся данные о дефектах струк- [c.6]

Атомную структуру аморфных сплавов можно экспериментально определить, используя дифракционные методы исследования. Рассеяние рентгеновских лучей, нейтронов и электронов на аморфном веществе позволяет установить общий структурный фактор многокомпонентной системы, который соответствует сумме парциальных структурных факторов. На основании парциальных функций атомного распределения определяют характер соседств различных атомов в сплаве. Для этого проводят съемку с использованием рентгеновского излучения различных длин волн или комбинированные исследования (нейтронов, рентгеновских лучей и электронов.) В последнее время для этих же целей используют метод, основанный на исследовании тонкой структуры спектров рентгеновского поглощения. Преимущество этого метода — возможность независимо находить функцию для каждого данного сорта атомов в системе, содержащей несколько компонентов. Обычная же рентгеновская дифракция, как отмечено выше, содержит усреднение по всем возможным парам атомов. Более подробно о методах рентгеноструктурного анализа аморфных сплавов — см. раздел 5. [c.161]

Наряду с прямыми дифракционными методами исследования жидкого состояния применяют и косвенные измерение магнитной восприимчивости, термо-э. д. с., электросопротивления, самодиффузии, растворимости, кинематической вязкости, переохлаждения, поверхностного натяжения на границе жидкость — пар. Эти методы позволяют выявить влияние малых добавок примесей на свойства жидкости. По влиянию модифицирующих добавок и примесей на различные свойства расплава можно судить об их активности. Критерием эффективности воздействия модификатора должна послужить концентрационная и температурная зависимость изменения того или иного свойства. Таким наиболее часто применяемым критерием является поверхностное натяжение на границе жидкость — пар. [c.11]

В настоящей главе подробно рассмотрены и проанализированы результаты дифракционных методов исследования и предлагаемые модели структуры жидкости. [c.11]

По структурным данным, полученным при дифракционных методах исследования жидкостей, пытаются рассчитать вязкость, поверхностное натяжение и другие свойства расплава. Это весьма заманчивое направление развивают с целью выявления влияния примесей на структуру ближнего порядка, так как вязкость, поверхностное натяжение и особенно электропроводность очень чувствительны к самым малым концентрациям примесей. [c.47]

Степень упорядочения может быть оценена количественно с помощью дифракционных методов исследования. [c.152]

Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения - поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 -10- Л. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядоченно расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [c.158]

Главная трудность при количественной оценке структурных изменений и особенно при установлении их количественной связи с интенсивностью износа заключается в выборе методов исследо- вания. Число циклов до разрушения не зависит от метода исследования (толщины исследуемого слоя), а абсолютные значения таких параметров, как микротвердость или ширина дифракционных линий, являются их прямой функцией. Вопрос о слое, ответственном за разрушение в условиях фрикционно-контактного воздействия, [c.106]

Рентгеновский структурный анализ — метод исследования атомной структуры вещества с использованием явления дифракции рентгеновских лучей. Дифракция рентгеновских лучей возникает при их взаимодействии с электронными оболочками атомов исследуемого вещества. Дифракционная картина зависит от длины волны используемого излучения и атомного строения объекта. Для исследования атомной структуры применяют излучение с длиной волны 1 А (10 нм), т.е. сопоставимой с размерами атомов. [c.47]

С одной стороны, наука о металлах обязана учитывать насущные вопросы практики — поставлять материалы, удовлетворяющие необычайно высоким и разнообразным требованиям машиностроения и новых отраслей техники. Условия эксплуатации деталей машин и приборов делают эту задачу весьма сложной. Металловедение не может пока отказаться от многих чисто эмпирических приемов, на основе которых даются практические рекомендации, хотя для этого приходится проводить трудоемкие и длительные эксперименты. С другой стороны, в металловедение в настоящее время весьма интенсивно внедряются новые физические представления и физические методы исследования, сильно обогащающие науку о металлах. В частности, необычайно расширяются возможности исследования металлов благодаря применению ядерных излучений, резонансных методов, дифракционного анализа и т. д. для выяснения атомного механизма явлений привлекаются представления квантовой механики, статистической физики, теории поля, термодинамики необратимых процессов и др. Можно ожидать нового серьезного шага вперед в связи с проникновением в металловедение математики, использованием методов математического планирования эксперимента, внедрением вычислительной техники. [c.5]

Трудность расчетного определения полей деформаций и напряжений у вершины трещины привела к необходимости разработки и применения экспериментальных методов исследования деформаций и напряжений. В настоящее время достаточно хорошо разработаны и эффективно используются методы фотоупругих покрытий, сеток, муара, тензометрии, рентгеновского анализа, травления, дифракционных решеток, электронной микроскопии, фазовой интерференции, нанесения медных покрытий, голографии, прямого наблюдения полированной поверхности образцов (1, 10, 6, 34, 49, 56, 130, 187, 199, 260, 261, 287], позволяющие исследовать поля деформаций при статическом и циклическом [c.15]

Достоверность определяемых параметров ближнего порядка зависит от правильности выбора метода исследования. Чувствительность дифракционных методов обусловлена длиной волны и способностью проникновения частиц — фотонов, электронов и нейтронов — в [c.10]

Метод скользящего пучка рентгеновских лучей. По числу решаемых вопросов рентгенографический метод не имеет себе равных среди других методов исследования Именно это обстоятельство интенсифицирует его развитие в теоретическом и прикладном аспектах, поиск новых методов на базе использования особенностей и свойств рентгеновского излучения. Большие успехи достигнуты в области дифракционной микрорентгенографии — совокупности методов исследования несовершенств кристаллической решетки, преимущественно монокристаллов [931. [c.77]

Книга предназначена для научных работников, применяющих дифракционные методы для исследования структуры и свойств материалов, для инженеров, занимающихся разработкой соответствующих приборов, а также преподавателей вузов, аспирантов и студентов старших курсов, специализирующихся в области физической оптики. [c.4]

Основная цель настоящей работы состоит в обсуждении современного состояния исследований в области жидких полупроводников, которое будет полезным для исследователей, работающих в настоящее время или собирающихся работать в будущем в этой и в смежных областях. Эта книга представляет также автору благоприятную возможность изложить собственную точку зрения на ряд многообещающих подходов к пониманию свойств жидких полупроводников и, как надеется автор, будет стимулировать крайне необходимые исследования этих веществ специалистами, освоившими методы, еще не применяющиеся достаточно широко для изучения жидких полупроводников, такие, как ЯМР и дифракционные методы. Имеется много плодотворных возможностей для проведения важных и интересных работ, которые прежде были скрыты из-за отсутствия достаточно полного источника информации, и настоящая книга, возможно, исправит эту ситуацию. Свойства и природа жидких полупроводников подсказывают много концепций и проблем, являющихся интересными и важными для ученых, интересы которых лежат в области физики и химии конденсированного состояния вещества в настоящей книге эти концепции и проблемы излагаются в форме, приемлемой для читателей, обнаруживающих общий интерес к жидким полупроводникам или просто проявляющих любопытство к данной области исследований. [c.9]

В связи с тем, что при ионизационном методе исследования регистрируется лишь небольшая часть окружности дифракционного кольца, очень большое значение приобретает наличие преимущественной ориентировки образцов. [c.416]

Анализируя приведенные данные по дифракционным методам исследования жидкости, можно сделать заключение, что каждое расплавленное вещество характеризуется определенными параметрами наиболее вероятным расстоянием между ближайшими атомами, радиусом координационных сфер, координационным числом, наличием микрогруппировок с гипотетической структурой ближнего порядка, либо сходной с кристаллической структурой, либо отличной от нее, в зависимости от сложности исходной решетки в твердом состоянии. В металлах с плотноупакованной решеткой расстояния между ближайшими атомами в расплаве вблизи температуры кристаллизации очень мало изменяются по сравнению с межатомными расстояниями в кристалле, что позволяет сделать вывод о сходстве структуры ближнего порядка жидкости с кристаллической. [c.26]

Структура ближнего порядка жидкого состояния может влиять на склонность к зародышеобразованию и скорость роста кристаллов. Путем модифицирования, вероятно, возможно регулировать структуру ближнего порядка в желательном направлении. Однако экспериментальных данных по этому вопросу нет. При разработке сталей новых марок, когда возникают трудности выбора технологических добавок, как, например, в стали типа Х18Н9, целесообразно предварительно изучить не только склонность расплава к переохлаждению, но также влияние температурных и временных факторов на структуру ближнего порядка, используя дифракционные методы исследования. Можно предполо- [c.187]

Дифракционные методы исследования, позволяют анализировать структуру материала, изучать несовершенства кристаллн- ческого строения металлов и сплавов упругие, остаточные напряжения, текстуру. Не останавливаясь подробно на методике электронографических исследований и нейтронографии, отметим некоторые особенности этих методов. [c.65]

Рябошапка К- П. Возможности рентгенографических методов исследования субструктуры деформированных металлов // СуСструктурное упрочнение металлов. и дифракционные методы исследования.— Киев Наук, думка, 1985.—С. 52— 54. [c.315]

Долгое время развитие физики и химии поверхности сдерживало отсутствие совершенных методов очистки поверхности, анализа структуры и химического состава поверхностной фазы. Это часто приводило к невоспроизводимости экспериментальных данных. Серьезный перелом наступил в 60—70-е годы благодаря созданию совершенных сверхвысоковакуумных установок, развитию дифракционных методов исследования структуры открытых граней кристаллов и появлению новых высокочувствительных методов электронной спектроскопии. В значительной мере широкому использованию сверхвысоковакуумных систем способствовали космические программы. Родилась новая область науки о поверхности — физика атомарно-чистых поверхностей. Последнее, естественно, нисколько не уменьшило актуальность исследования реальных поверхностей и межфазных границ, атомные и электронные процессы на которых во многих случаях определяют функционирование интегральных систем переработки информации, преобразователей солнечной энергии, сенсорных систем и многих других устройств современной техники. [c.8]

Было сделано много попыток получить с помощью рентгеновских лучей непосредственное реальное распределение электронов, участвующих в образовании ковалентной химической связи, особенно в кристаллах со структурой алмаза (см. работу Карпентера [9] для алмаза и Гетлихера и др. [10] для кремния). Однако эта задача находится на грани возможностей рентгеновских дифракционных методов. Исследования, проведенные для кремния, дают некоторые указания на то, что посередине между двумя ближайшими соседними атомами электронная плотность заметно выше, чем та, которая рассчитана теоретически по перекрытию волновых функций электронов двух свободных атомов (см. рис. 2.33). [c.98]

Излом изучают, во-первых, для оценки металлургического качества материала. Такой дефект обработки, как перегрев, оценивают в конструкционных материалах по наличию камневидного, а в быстрорежущих сталях нафталйнистого изломов рыхлоты, плены достаточно надежно выявляют в изломах литейных материалов и т. п. Определение температурных интервалов хладноломкости или отпускной хрупкости тоже можно отнести к области изучения изломов в связи с качествам м составом материала. Это обширная, чрезвычайно важная н наиболее древняя область использования характеристики излома. В современных условиях для решения названных задач применяют совершенное физическое оборудование — электронные микроскопы с приставками, позволяющими производить дифракционный, рентгеноспектральный и подобные анализы и определять природу фаз и других включений, ответственных за дефектность материала [71]. Применение этих методов исследования дало много ценных сведений о характерном строении и причинах возникновения различных металлургических дефектов в сталях [116]. Имеется также обширная литература, по-г.вященная анализу качества материала по фрактографическим признакам [5, И, 56, 106, ПО и др.]. [c.5]

Характер структурных изменений в более тонких поверхностных слоях исследовался методом измерения микротвердости. Метод измерения микротвердости является аффективным и наиболее распространенным способом оценки состояния поверхностных слоев материалов при трении. При сопоставлении его результатов с результатами других методов исследования, например рентгеновского анализа, следует иметь в виду, что между ними возможно и сходство [87, 88], и различие [24]. Сходство обусловлено тем, что микротвердость, как и ширина дифракционных линий, находится в линейной связи с величиной блоков и микронапряжений. Различие может быть результатом несоответствия толщины слоев, исследуемых обоими методами. Кроме того, при исследовании многофазных материалов возможно различие в ловедении той фазы, которая исследуется рентгенографически, и всего материала в целом, если микротвердость характеризует его среднеагрегатное состояние. [c.59]

Осн. методами исследования К. с. являются дифракционные — рентгеновский структурной анализ, нейтронография, злектронография. Дифракционные методы дают непрерывное, усредненное по времени и по всему объёму кристалла распределение рассеивающей мате- [c.503]

Характер Х,с. влияет на мн. свойства вещества, исследование к-рых позволяет получить информацию о X. с. К экс-пернм. методам изучения X. с. относятся разл. виды спектроскопии (см., напр.. Инфракрасная спектроскопия, Молекулярные спектры, Спектры кристаллов и др.), дифракционные методы (см. Рентгеновский структурный анализ. Электронография, Нейтронография), магнетохи-мия, химическая кинетика, резонансные методы (ЭПР, ЯМР) и др. [c.408]

Развитие теории жидкого состояния связано с широким использованием дифракционных методов для исследования структуры жидкости. Рентгеновские, электро-но- и нейтронографические методы позволяют определить параметры ближнего порядка (координационные числа и размеры упорядоченных микрообластей) и рассчитать, к какому типу структур относятся обнаруживаемые микрогруппировки. На молельных материалах представляется возможным установить влияние атомов различного рода примесей на структуру ближнего порядка жидкости. [c.10]

Изложено современное состояние проблемы дифракции установившихся и неустаиовившихся упругих воли и определения динамической напряженности возле концентраторов напряжений различной формы. Основное внимание уделено не только разработке методов исследования, но и особенно получению решений в форме, позволяющей определить дифракционное поле в первую очередь вблизи отражающих поверхностей, что существенно при оценке динамической напряженности. В монографии приведено большое число конкретных задач дифракции упругих волн. [c.4]

В настоящей монографии изложено современное состояние проблемы дифракции установивщихся и неустановивщихся упругих волн и определения динамической напряженности возле концентраторов напряжений различной формы. Наряду с разработкой методов исследования основное внимание уделено получению рещений в форме, позволяющей определить дифракционное поле, в первую очередь, вблизи отражающих поверхностей, что существенно при оценке динамической напряженности. Приведено большое количество числовых результатов по решению конкретных задач, которые получены с использованием современных ЭВМ, и обобщены результаты многих авторов, посвященные отдельным задачам дифракции упругих волн. [c.6]

При решении задач прикладной физики, механики, машиностроения и т. д. важное значение имеет выяснение закономерностей поведения различного рода элементов, совершающих колебательное движение. Весьма широко распространены методы изучения формы колебаний различных пьезоэлектриков, так как ряд свойств пьезоэлементов связан именно с формой колебаний (одно-волновость, глубина модуляции и т.д.). Например, при исполь-. зовании пьезокристаллов в качестве интерференционных и дифракционных модуляторов суш,ественным параметром является светосила модулятора, в значительной степени определяемая характером колебаний пьезоэлемента. Применение пьезокристаллов в ультразвуковьгх методах исследования также обусловливает необходимость экспериментального анализа свойств колеблю-ш,ихся элементов, так как последние играют решаюш,ую роль при формировании структуры возбуждаемого ими ультразвукового поля и определении его интенсивности. [c.208]

Таким образом, хотя изучение текстур дает важную информацию о развитий внутризеренного скольжения при СПД, однако трактовка полученных данных не всегда однозначна и необходимы дополнительные методы исследования особенностей внутризерен-ной деформации. В связи с этим в последние годы вновь возрос интерес к использованию дифракционной микроскопии. [c.49]

В главе приведены расчет фокусаторов и детальное исследование их работы при различных параметрах с учетом погрешностей квантования и дискретизации фазы, присущих технологии фотолитографии. Методы расчеты фокусаторов в кривые, основанные на построении гладких лучевых соответствий, дополнены дифракционными методами на основе нелинейного преобразования фазы. Метод нелинейного преобразования фазы по закону многопорядковой дифракционной решетки иозво-лил придать фокусатору многофокусные свойства без негативных эффектов сегментации апертуры. Преобразование фазы фокусатора по закону цветоделительной решетки позволяет получить новые элементы, выполняющие одновременно разделение и фокусировку пучков с различными длинами волн и позволяющие изменять конфигурацию области фокусировки для различных длин волн. [c.391]

Среди большого числа методов исследования жидких металлов и окислов особый интерес шредставляют методы дифракционного изучения их структурных особенностей. Полученные в результате дифракционного эксперимента данные позволяют вычислить парный межатомный потенциал, а вместе с ним и оценить ряд таких важных свойств, как вязкость, поверхностное натяжение, электропроводность. [c.113]

Механизм вращения — колебания образца. В Р. к. для исследования поликристаллов вращение (колебание) увеличивает число кристаллитов, попадающих в отражающее положение, что позволяет получать более равномерную плотность дифракционной линии. В методах исследования монокристаллов вращение (колебание) образца осуществляет вывод кристалла в отражающее положение (пересечение узла обратной решетки со сферой отран(ения). [c.419]

Дифракционная Р. м. включает 2 группы методов исследования микроскопич. строения тел двухволновую Р. м. (см, выше) [10] и Г. м на основе преобразования многорефлекспой рентгеновской кар- [c.423]

Дифракционные исследования в принципе представляют собой наиболее прямой способ получения информации о структуре жидкости. Для жидких полупроводников таких исследований было проведено сравнительно мало, но целесообразно обсудить возможности этих методов исследования. Наиболее полные обсуждения этих вопросов можно найти в работах Эгельстаффа [76], Вагнера [15], Фабера [87] и Эндерби [233]. Эти работы частично касались жидких полупроводников. [c.67]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...