Кристаллография структурная

В первой главе кратко изложены вопросы структурной кристаллографии и дифракционных методов исследования структуры твердых тел. Вторая глава посвящена рассмотрению сил, удерживающих дискретные частицы вместе в твердых тела.х. В последующих главах приводятся данные о дефектах струк- [c.6]

Взаимодействие трещины скола со структурными элементами материала обусловливает появление на поверхности разрушения многих специфических особенностей. Например, наличие двойников приводит к образованию язычков (рис. 5.1, в), Х-образных (рис. 5.1, г) и других фигур. С частицами, их морфологией, кристаллографией распо- [c.190]

Микроструктура современных кобальтовых сплавов проявляет сильную зависимость от химического состава, кристаллографии фаз и термомеханической предыстории. Природа и морфология выделяющихся фаз также представляет собой мощный фактор, определяющий уровень механических свойств и структурную стабильность сплавов данной системы в реальных условиях эксплуатации. Следовательно, весьма важно изучить роль, которую играет микроструктура сплава, и дать описание и оценку изменениям микроструктуры в результате проведения того или иного цикла термической обработки, а также старения в процессе эксплуатации. [c.195]

Основные определения и формулы структурной кристаллографии. [c.95]

Следует отметить слабо выраженную кристаллографию поверхностей раздела между пластинами е-мартенсита и матрицей в сплаве Г29. Дислокационная структура у- и е-фаз в этом случае практически одинакова и свидетельствует о высокой степени однородности процессов структурной релаксации. [c.170]

В литературе нет единого мнения относительно кристаллографии и структурного механизма обратного превращения в сплавах железа с 30-32% N1 при ускоренном нагреве. [c.68]

Кристаллические и аморфные тела. Основы кристаллографии, теория кристаллических решеток и гипотеза о закономерном размещении атомов в кристаллах были разработаны в XIX веке выдающимся русским ученым Е. С. Федоровым и продолжены его учениками и последователями. Применение рентгенографического структурного анализа в дальнейшем подтвердило правильность выводов Е. С. Федорова. [c.23]

ЭЛЕМЕНТЫ СТРУКТУРНОЙ КРИСТАЛЛОГРАФИИ [c.182]

В кристаллографии и структурном анализе часто пользуются стереографическими проекциями (СП). Они дают наглядное изображение ориентировки, симметрии кристаллов, передают угловые соотношения между узловыми плоскостями и направлениями в решетке кристалла, позволяют вести количественные расчеты этих соотношений. [c.186]

В структурном анализе и кристаллографии часто приходится пользоваться так называемыми стандартными проекциями, которые представляют собой стереографические проекции полярного комплекса кристалла при определенной ориентировке кристалла относительно оси и плоскости проекций. Так, на рис. 11, а показана стандартная проекция кубического кристалла для случая, когда с осью проекций совпадает направление [001], а на рис. 11, б — направление [111]. [c.189]

Изначально структура жидкостей бьша идентифицирована как аморфная. Однако дальнейшие исследования показали, что некоторые пгаы жидкостей упорядочены и в различной степени проявляют кристаллические свойства. Они получили название квазикристаллических жидкостей или жидких кристаллов. Необходимо отметить, что с точки зрения первых исследова-телей-кристаллографов понятие жидкий кристалл являлось бы йерхом абсурда. Общепринято характеризовать каждый структурный элемент кристаллической решетки координационным числом, то есть числом ближайших однотипных соседних структурных элементов. Для жидкостей координационное число определяется статистически как среднее число ближайших соседей любого структурного элехмента (атома). По близости координационного числа жидкости к- координационному числу соответствующего кристалла судят о степени кристалличности жидкости [88]. Жидкие кристаллы в зависи.мостн от степеии кристалличности делятся на [72] [c.196]

Б. р. широко используются в физике твёрдого тела, структурной кристаллографии. Точки, совпадающие с центрами атомов в идеальном кристалле, представляют собой одну (в простейшем случае) или несколько метрически одинаковых и параллельно расположенных, вставленных друг в друга решеток. Для определения типов Б. р, на ЭВМ наиболее приемлемым оказался алгоритм Делоне, основанный на более глубокой классификации решёток по 24 сортам. [c.227]

Стремление к минимуму упругой энергии определяет внутр. структуру и взаимное расположение мартенситных кристаллов. Новая фаза образуется в форме тонких пластинок, определ. образом ориентированных относительно кристаллография, осей. Пластины, как правило, не являются монокристаллами, а представляют собой пакеты плоскопараллельных доменов — областей новой фазы, различающихся ориентацией кристаллич, решётки (между собой домены находятся в двойниковом отношении см. Доме/ш упругие, Деойникование), Интерференция полей напряжений от разл. доменов приводит к их частичному уничтожению. Дальнейшее уменьшение упругих полей достигается за счёт формирования ансамблей из закономерно расположенных пластин. Т. о. в результате М. п. возникает поли-кристаллич. фаза со своеобразным иерархия, порядком (ансамбли — пластины — домены) в расположении структурных составляющих (см. Гетерофазная структура). Деформирование материала с такой структурой происходит в осн. за счёт смещения доменных границ ( сверхупругость ). При нагреве дроисходит обратное превращение мартенситной фазы в исходную, и тело восстанавливает нервонач. форму, к-рую оно имело до М. п. (память формы). [c.49]

О. р.— важный матем. образ, находящий многочисл. применения в кристаллографии и физике твёрдого тела, Напр., понятие О. р. удобно использовать при описании дифракции частиц на кристаллич. решётке (см. Дифракция нейтронов. Нейтронография структурная, Рентгеновский структурный анализ. Электронография). Соответственно нейтроне- и рентгенограммы кристалла могут дать изображение О, р. [c.384]

Методами дифракции электронов может быть осуществлено полное исследование атомного строения твёрдого тела. Основы этой т. н, электронной кристаллографии заложены учёными Москвы. Сочетание микродифракции электронов с электронной микроскопией атомного разрешения открыло принципиально новые возможности локального анализа атомного строения и исследования реальной структуры кристаллич. вещества. Фурье-преобразо-вание данных эксперимента позволяет вычислить фазы структурных амплитуд, к-рые могут быть приписаны определяемым по дифракц. картине модулям структурных амплитуд. Зная модули структурных амплитуд и фазы, можно построить пространств, распределение потенциала в исследуемом кристалле. [c.585]

Согласно существующим представлениям [18, 45] основной причиной упрочнения, кроме объемных изменений, является наследование у-фазой несовершенств решетки мартенсита (величины блоков, угла мозаичности, плотности дислокаций) при обратном а - у щю-вращении. Однако такое заключение, при котором не уделяется достаточного внимания механизму обратного а - у превращения, не ис-черпьшает всей сложности явлений упрочнения у-фазы. Исследования обратного а у превращения в железоникелевых сплавах показывают, что структурный механизм а у превращения и упрочнение аустенита существенно зависят от скорости нах зева и морфологии исходного мартенсита. Поэтому в предлагаемой монографии значительное место отведено исследованиям структурного механизма и кристаллографии мартенситного а - у превращения в Fe-Ni сплавах. [c.5]

Проведенное исследование структурных особенностей а- у превращения позволяет судить о морфологии и кристаллографии образующейся у-фазы, а также о формоизменении превращающихся объемов и диффузии некоторых легирующих элементов, сопровождающей этот процесс. Рассмотрим структурный механизм образования различных форм у-фазы в аустенитно-мартенситных сплавах на желе-зоникелевой основе. [c.137]

Следует заметить, что не всегда слюды-ЗТ характеризуются нулевым значением угла оптических осей. В литературе известны [5] политипные модификации ЗТ с 2р > 0. Д. В. Йодер и X. С. Смит [5] пришли к выводу, что подобного рода несоответствие оптических и рентгеновских данных может быть устранено, если предположить, что существуют ответственные за двуосность напряжения, обусловленные дефектностью кристаллической решетки. Оптически аномальные кристаллы слюд встречаются в природе относительно редко и, вероятно, всегда связаны с необычными условиями кристаллизации. С этой точки зрения они представляют генетический интерес и являются ценным объектом для уточнения источника напряжений структуры — явления, слабо изученного в структурной кристаллографии слоистых силикатов. [c.170]

Кристаллографы, занимаюш,иеся структурным анализом кристаллов, склонны смотреть на разупорядочение главным образом как на помеху на своем пути и лишь изредка как на объект изучения Для сложных структур разупорядочение связано часто не с занятием положений решетки, а с вращением молекул или их частей или с выбором конфигураций частей молекул или атомных каркасов. [c.368]

Общую структурную трактовку различных видов разупорядочения см. в работе 3. Г. Пинскера [Кристаллография, 5, 4, 627 (1960)] в ряде электро-нографическнх исследований оксидов и нитридов Та, МЬ, N1, а также халь-когенидов Си, А , 1п, Т1, Оа, В , 8Ь, выполненных 3. Г. Пинскером и др. [см. Кристаллография, 6, 882 (1961) 10,38 (1963) 21, 628 (1976) Журн. структ. хим., 11, 690 (1970) 13, 869 (1972)]. Получен обширный материал по структурам и фазовым переходам, относящимся к различным видам упорядочения, разупорядочения и образования сверхструктур. — Прим. ред. [c.368]

Принципиален вопрос о существовании волн пластической де-формацлп в аморфных материалах, где, очевидно, отсутствует физически наиболее определенный структурный уровень кристаллитов-зерен. Пластическая деформация аморфных металлических сплавов реализуется путем коррелированного развития элементарных локальных сдвигов (аналогов дислокащюнных петель Сомили-аны) [14]. Прп их перколяции (слиянии) возникают микроскопически наблюдаемые полосы сдвига, ориентация которых не зависит от кристаллографии зерен как в поликристаллах, а определяется только положением плоскостей с максимальными касательными напряжениями. С другой стороны, аморфный сплав всегда не полностью изотропен. В нем существует мозаика областей уравнове- [c.62]

Электронографич. исследования развиваются в следующих направлениях 1) Э. молекул — исследование строения молекул в парах или газах (газовая Э.) 2) структурная Э. — полное определение атомного строения кристаллов с неизвестными ранее структурами или восполнение данных по исследованным структурам 3) Э. поверхностных слоев 4) субмпкро-скопич. кристаллография — изучение характера взаимной ориентации при соприкосновении различных фаз, возникновения переходных структур, формы микрокристаллов и т. д. [c.508]

НОНаС/ СНаОН и его производных. Частично подобные трудности при применении рентгеноскопии к изучению пространственного строения молекул происходят от того, что даже относительно простые молекулы часто не входят в кристалл с наивысшей симметрией, к-рую допускают их структурные ф-лы. Потребуется еще глубокая работа С., физики и кристаллографии, чтобы справиться с рядом трудных проблем на границе этих наук, где самое понятие химич. молекулы подвергается глубочайшей ревизии и пересматривается в различных направлениях вместе с пересмотром понятия химич. сродства. [c.54]

Если теперь взять чистую поверхность железа и погрузить ее в фосфорную кислоту, предварительно насыщенную либо трифосфатом цинка, либо трифосфатом марганца, то разрушение железа будет приводить к образованию не только фосфата железа в качестве анодного продукта, но и к выпадению твердых фосфатов цинка или марганца благодаря повышению pH в результате реакции это будет иметь место как в том случае, когда катодная реакция протекает с выделением водорода (поглощение Н" ионов), так и при восстановлении кислорода или других окислителей (образование ОН" ионов), поскольку обе реакции приводят к увеличению значения pH. Неудивительно, что фосфаты железа приобретают структурную связь с железом, из которого они образовались, и что фосфаты цинка и марганца воспроизводят кристаллическую структуру фосфата железа. Если существует благоприятная кристаллографическая связь между тремя главными фазами (железо, фосфат железа, фосфат цинка или марганца), то прекрасная адгезия и защитные свойства пленки могут быть легко объяснены. Нельзя утверждать, что кристаллография фосфатирования достаточно хорошо понятна, но нельзя отрицать и того, что исключительные свойства фосфатных слоев, полученных в благоприятных условиях, несомненно, связаны с кристаллической структурой. Фотографии, опубликованные Холденом, показывают, что травление стали непосредственно перед фосфатированием может совершенно изменить размеры фосфатных кристаллов, составляющих покрытие, это очень существенно. [c.517]

Смотреть страницы где упоминается термин Кристаллография структурная : [c.1646] [c.2] [c.10] [c.85] [c.506] [c.511] [c.515] [c.538] [c.375] [c.375] [c.375] [c.515] [c.376] [c.13] [c.430] [c.273] [c.8] [c.196] [c.852] [c.585] [c.186] [c.508]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...