Спектр точечный

На фиг. 12.20 показаны осциллограммы сигналов преобразователя с маской (верхняя часть фигуры) и для маленького соленоидального преобразователя (нижняя часть) [87]. Узел маски с апертурой имел лучшее разрешение, чем маленький соленоид. Соответствующие частотные спектры, рассчитанные на ЭВМ, показаны на фиг. 12.21, Прямая линия верхней части фиг. 12.21 представляет спектр сигнала, который был получен от круглого отверстия диаметром 0,13 мм, имитирующего точечный дефект. Спектр сигнала преобразователя с маской лучше соответствует спектру точечного дефекта, чем спектр сигнала соленоидального преобразователя. Для выравнивания частотного спектра преобразователя можно было бы применить фильтрацию. [c.419]

В последнее время световое давление снова привлекло внимание исследователей. Для экспериментов в этой области оказались весьма удобными некоторые свойства лазеров, а именно монохроматичность излучения и эквивалентность лазера точечному источнику света. Лазерное излучение может быть сфокусировано с высокой точностью . При использовании хороших оптических систем (см. 6.8) можно сфокусировать лазерное излучение в пятно с радиусом того же порядка величины, что и длина волны генерации. Простые оценки показывают, что если в фокусе лазерного излучения мощностью 1 Вт (такая большая мощность легко реализуется, например, в аргоновом лазере, генерирующем в зеленой области спектра) оказывается малая частица с массой 10 г, полностью отражающая излучение, то под действием светового давления она должна получить ускорение, в миллион раз превышающее ускорение свободного падения. [c.111]

Принцип образования изображения в системе может быть рассмотрен как процесс двойной дифракции. Первая дифракция происходит на объекте 2, освещаемом плоской монохроматической волной, образуемой когерентным источником света /. Объект 2 расположен в передней фокальной плоскости объектива 3, который образует в своей задней фокальной плоскости 4 пространственный спектр объекта (т. е. осуществляет преобразование Фурье объекта). В плоскости голограммы 4, которая одновременно является передней фокальной плоскостью второго объектива 5, находится мультиплицирующий элемент, представляющий собой голограмму набора точечных источников, число и расположение которых соответствует желаемому числу и расположению размноженных изображений. В результате в плоскости голограммы 4 имеем произведение двух спектров Фурье объекта и набора точечных источников. Второй объектив 5 в свою очередь осуществляет преобразование Фурье объекта, находящегося в его фокальной плоскости. Как следствие. этого в плоскости изображения 6 получаем совокупность изображений исходного объекта, причем линейное увеличение системы 7 и размер изображений определяются соотношением фокусов объективов системы 7==/,//,. Очевидно, что размеры отдельных модулей могут быть большими (более 5—10 мм), они ограничиваются лишь полем изображения второго объектива 5. Это является большим преимуществом системы. [c.63]

Рис. 53. Форма (а) и спектры б) сигналов дифференциального проходного ВТП от точечных дефектов

Форму и спектр огибающей сигнала накладного ВТП при обнаружении точечного дефекта находят приближенным аналитическим методом. Для определения формы огибающей можно пользоваться приближенным выражением и t) = и —J- ехр (—1 /т ), где [c.124]

Одним из важнейших критериев пригодности материала для применения его в элементах конструкции является способность сохранять в рабочих условиях необходимый уровень механических свойств. Поэтому явлениям этого класса в табл. 2 уделено первое место. Механические свойства сильно подвержены воздействию облучения, так как механизмы движения дислокаций весьма чувствительны к дефектам кристаллической решетки, В облученном кристалле движущимся дислокациям необходимо преодолевать, кроме обычного рельефа Пайерлса и сил взаимодействия с исходными дислокациями и другими несовершенствами структуры, еще целый спектр барьеров радиационного происхождения изолированные точечные дефекты и их скопления, кластеры и дислокационные петли вакансионного и межузельного типов, пары, выделения, возникающие в результате ядерных превращений. Облучение, как правило, вызывает повышение пределов текучести и прочности, ускоряет ползучесть материалов, снижает ресурс пластичности, повышает критическую температуру перехода хрупко-вязкого разрушения. [c.11]

Сторонние проникающие частицы и образованные ими каскады, кроме того, создают локальную ионизацию, что влияет на те процессы в изоляторах и проводниках, которые зависят от зарядового состояния — отжиг, диффузию, образование вакансионных кластеров и центров окраски. Следовательно, для того чтобы успешно проводить исследования изменений свойств реакторных материалов под облучением и находить пути к минимизации этих изменений, прежде всего необходимо знать, как тяжелая частица отдает свою энергию, двигаясь в веществе. В частности, нужно обладать теоретическими и экспериментальными методами определения распределения пробегов проникающих ионов и энергии, вложенной в движение атомов материала — мишени, поскольку именно этими величинами определяется концентрационный профиль точечных дефектов. Мы остановимся здесь на кинетическом подходе к описанию каскадов [25—30], в основу которого положены методы, развитые в теории переноса нейтронов, поскольку, во-первых, с помощью этого подхода в настоящее время разработаны программы расчета с необходимой (10—15%) точностью концентрационных профилей радиационных повреждений [31, 32) и, во-вторых, он далеко не исчерпал себя как в смысле повышения точности, так и в смысле увеличения композиционной сложности материалов, доступных исследованию. Дополненный расчетами спектров ПВА, образованных различными [c.46]

В зависимости от условий облучения (температуры, дозы, вида излучения, энергетического спектра излучения) в материалах возникают различные типы дефектов, изменяется их плотность и распределение по размерам. Особую роль в радиационном упрочнении кристаллов играют механизмы взаимодействия радиационных дефектов с имеющимися в объеме дислокациями. Под воздействием поля упругих напряжений, существуюш,их вокруг дислокаций, точечные дефекты диффундируют к ним и образуют атмосферы , ступеньки, вакансионные и газонаполненные поры и другие вторичные дефекты. Все они могут быть центрами закрепления дислокаций или стопорами для движуш,ихся дислокаций. [c.61]

Таким образом, в облученном кристалле движущимся дислокациям необходимо преодолевать кроме обычного рельефа Пайерлса и сил взаимодействия с другими несовершенствами исходной структуры еще целый спектр барьеров радиационного происхождения изолированные точечные дефекты и их скопления, кластеры и дислокационные петли вакансионного и межузельного типов, поры, выделения, возникающие в результате ядерных превращений. В табл. 6 приведена примерная классификация барьеров по степени взаимодействия с дислокациями. Видно, что скопления вакансий и атомы растворенного вещества с симметричными полями напряжений ведут себя, как сравнительно слабые барьеры для движения дислокаций. Дефекты с тетрагональными полями (атомы внедрения в ОЦК-ме-таллах, малые призматические петли, комплексы кластер — атом примеси) являются промежуточными барьерами по сопротивлению [c.62]

Большой интерес представляют исследования, в которых дозовая зависимость предела текучести в какой-то мере заменяется зависимостью предела текучести от созданного облучением спектра по мощности и пространственному распределению барьеров. Рассмотрение движения дислокаций только через поле точечных барьеров является слишком приближенным. Оно, очевидно, соответствует лишь дефектной структуре, в которой основную роль в упрочнении играют слабые барьеры (f < 0,25 i6 ). [c.73]

Однородная граничная задача, сформулированная для конечного интервала (а, Ь). в случае регулярных в этом интервале коэ-фициентов уравнения Штурма — Лиувилля, при р(лг)>0, г(дг)>0, имеет бесконечную последовательность дискретных собственных значений (точечный спектр), а принадлежащая им система собственных функций представляет замкнутую полную ортогональную систему с весом р х) (см. стр. 263). В случае 1-й, 2-й и 3-й краевых задач собственные значения — простые. [c.240]

Параметр а является собственным значением и функция / (г) — собственной функцией оператора М. В общем случае уравнение (1.63) может иметь как действительные собственные функции и собственные значения, так и комплексно-сопряженные. Кроме того, оператор М может иметь наряду с точечным спектром непрерывный континуум собственных значений а и соответствующие сингулярные собственные функции /а (г) (см. П. 2.2). [c.25]

Предполагая полноту системы собственных функций, принадлежащих точечному спектру собственных значений оператора М, [c.25]

В тех случаях, когда область D определения <р бесконечна или когда параметры оператора С нерегулярны в области D, т. е. имеют в этой облает особенности, кроме дискретного (точечного) спектра, вообще говоря, может появиться плотное распределение (континуум) собственных значений оператора. L. Этот континуум, соответствующий сингулярным собственным функциям, на зывается непрерывным спектром оператора L. [c.214]

В данной книге рассмотрение ограничено только точечным спектром собственных значений и соответствующих собственных функций операторов L и L+. Это связано с тем, что задачи тепло- и электропроводности, а также проблемы прочности в технической физике рассматриваются феноменологически, для моделей сплошных сред, а не на атомарно-молекулярном уровне. В последнем, случае, когда возникает потребность определения функции распределения ка-214 [c.214]

Для получения нестационарных характеристик поля ЗГИ, например Fy (г, Е, t), осуществляется свертка q г, t) с функцией Грина Fa r, Е) для точечного изотропного источника 7-квантов, имеющего спектр ЗГИ, при этом временным запаздыванием у-квантов по сравнению с временем замедления нейтронов пренебрегают [c.308]

В квантовой механике наблюдаемым отвечают самосопряжённые операторы, действующие в гильбертовом пространстве Ж. Сведения об их спектре имеют непосредственный физ. Смысл. Так, точечный спектр оператора Гамильтона — это уровни энергии связанных состояний, а непрерывному спектру отвечают состояния, фигурирующие в теории рассеяния. В соответ-ствии с идеей П. Дирака [2] в квантовой механике OUO [c.605]

Использование Ш. а. л. позволяет найти верх, границы энергетич. спектра космич. излучения и исследовать точечные источники космич. излучений, анизотропию первичного излучения, установить ядерный состав космич. лучей. В России и США разработаны проекты установок для изучения Ш. а. л. предельно высокой энергии площадью в тысячи км [c.465]

Мы получили основное соотношение, связывающее угловой спектр 5прот флуктуаций интенсивности волны от протяженного источника с угловым спектром 5 флуктуаций интенсивности плоской волны О и распределением яркости источника Ь в). Впервые это соотношение было получено независимо Коэном и Сол-питером. Из него следует, что в случае протяженного источника функция S(xL) может быть существенно отличной от нуля лишь в пределах некоторой определенной области значений [х], так что и спектр 5прот также будет сосредоточен в некоторой ограниченной области X. Это означает, что угловой спектр флуктуаций интенсивности протяженного источника сосредоточен в более узком телесном угле, чем спектр точечного источника, и, следовательно, временной спектр также ограничен более узкой полосой частот, что приводит к ослаблению мерцаний. [c.195]

При этом спектр импульсов биений лежит в основном в низкочастотной области. Поэтому для ослабления влияния зазора целесообразно выбрать полосу пропускания дефектоскопа, ориентируясь па подавление основной гармоники Fq с помощью режектор-ного фильтра, либо нижнюю частоту Fh среза полосы пропускания из соотношения Fji = (0,6-г-0,8) RlapQ для точечного и поперечного дефекта и из соотношения F- 0,4/ /af6 — Для продольного дефекта. Верхняя частота среза для точечного и поперечного дефектов F — fiRlaF , а для продольного — Fb = l,8/ /aFg. Ограничение полосы пропускания сверху целесообразно для подавления влияния импульсных помех, вызванных изменением напряжения сети. [c.125]

При исследовании влияния точечного де( екта на электронный энергетический спектр важное значение имеет вопрос о возможности появления локальпых состояний электрона около дефекта в кристалле (см., например, [85 — 88]). В таких случаях связанный электрон участвует в экранировке дефекта и может привести к появлению квазнатомных состояний (например, при внедрении атомов водорода в решетку металла). [c.110]

Сформулировадные закономерности самоорганизации объясняют происхождение и, более того, необходимость присутствия симметрии в живой и неживой природе. При всех иных условиях тело, обладающее весовой и геометрической симметрией, имеет суженный спектр частот собственных колебаний, что соответствует большей устойчивости, жизнестойкости тела и организма. Характер симметрии (осевая, плоскостная, точечная и др.) будет зависеть от направления действия той части спектра частот возбуждающих колебаний, которая обладает большей энергией. Так как действия этих участков спектра частот возбуждающих колебаний могут варьировать во времени и направлении, то каждому из этих вариантов [c.93]

Предполагая полноту системы собственных функций, принадлежащих точечному спектру собственных значений оператора L, можно использовать метод разложения в ряд Фурье любой интересующей нас функции /(г,т), при этом знание биортогонального базиса позволяет просто вычислить коэффициенты разложения. Действительно, умножив равенство вида [c.215]

В случае голограммных дифрак . решеток на голограмме также записывается точка, а в качестве свето-чувствит. среды используется очень тонкий слой фоторезиста. Образующаяся при этом голограмма двумерна, и в ней полностью исключена спектральная селективность, свойственная трёхмерной голограмме. В соответствии с этим при реконструкции голограммы точечным источником, обладающим сложным спектральным составом, изображения точек иа всех длинах волн восстанавливаются одновременно так, что результирующее изображение размазывается в спектр. Голо-граммные решётки по сравнению с нарезными дифрак, ционными решётками обладают значительно меньпгим уровнем рассеянного света, у них отсутствуют оипгбки шага и соответственно ие возникают т. и. духи . Используя при записи волновой фронт сложной формы, у таких решёток можно скорректировать аберрации сформированного ими изображения спектра. [c.512]

На характер К. к. р. существенное влияние оказывают дефекты в кристаллах. Точечный дефект приводит к локальному искажению решётки и может вызвать локальные колебания, частоты к-рых попадают в запрещённые зоны бездефектного кристалла. Нор мальные колебания кристалла с точечным дефектом не являются плоскими волнами они имеют вид либо сходящихся к дефекту или расходящихся от него колебаний типа сферич. волн с центром в точке расположения дефекта (сплошной спектр частот), либО полностью локализованных у дефекта колебаний (локальные частоты). Тяжёлая примесь в кристалле порождает квазилокальное колебание, частота к-рого попадает в низкочастотную часть акустич. полосы частот. [c.404]

При изучении мн. макроскопич, свойств кристаллических и др. материалов их можно рассматривать как сплошные однородные среды, характеризуемые - BO ii точечной или предельной группой симметрии. В то же время мн. свойства кристаллов определяются их крис-таллич. структурой (наир,, оптич. спектры) или даже симметрией локального окружения исследуемого фраг-M EiTa структуры (данные радиоспектроскопическнх методов). [c.514]

В коронах галактик (на расстояниях до 100 кпк от галактик) горячий газ с телш-рой Г (5—10)-10 К и концентрацией частиц п 10 —10 см- наблюдается по линиям поглощения тяжёлых элементов в оп-тич. спектрах источников, - просвечивающих корону. В нек-рых случаях — по его тепловому радио- и рентг. излучению. Облака нейтрального водорода (HI) в окрестностях галактик обнаружены по радиолинии водорода 21 см (как в излучении, так и в поглощении). Отдельные облака Н1 регистрируются по поглощению в линии 21 см в спектрах квазаров вплоть до красных смещений z 2. В скоплениях галактик горячий газ с темп-рой ок. 10 К и я 10 см обнаружен по тепловому излучению в рентг. диапазоне. Газ, входящий в сверхскопления и цепочки галактик, нагрет до Г 10 К и наблюдается только по линиям поглощения в спектрах квазаров и других удалённых точечных источников. [c.81]

В режиме слабых мерцаний флуктуации потока опи-шваются теорией возмущений в первом порядке, поэтому пространств, спектры флуктуаций потока и по-показателя преломления связаны линейным соотношением. Для случая бесконечно удалённого точечного источника это соотношение имеет вид [c.99]

В электронных спектрах молекул часто наблюдаются запрещённые электронно-колебат. полосы. Напр., электронный переход fiju — ig и молекуле бензола (точечная группа симметрии запрещённый по чисто [c.204]

ОПТЙЧЕСКИЙ ТЕЛЕСКОП — применяется для получения изображений и спектров коемнч. объектов в оптич, диапазоне. Излучение объектов регистрируется при помощи фотогр, или телевиз. камер, электрон-но-оптических преобразователей, приборов с зарядовой связью. Эффективность О. т. характеризуется предельной звёздной величиной, достижимой на данном телескопе при заданном отпошении сигнала к шуму (точности). Для слабых точечных объектов, когда шум определяется фоном ночного неба, она зависит в осн. от отношения iЗ/p, где О — размер апертуры О. т., р — угл. диаметр даваемого им изображения (чем больше О/р, тем больше, при прочих равных условиях, предельная звёздная величина). Работающий в оптим. условиях О. т. с зеркалом диам. 3,6 м имеет предельную звёздную величину ок. 26при точности 30%. Принципиальных ограничений предельной звёздной величины наземных О. т. не существует. [c.457]

Рис. 1. Схема съёмки рентгеновских топограмм оо ИСТОДУ Шульца для исследоха-ния блочных кристаллов Кр И — точечный источник ве-прерывного спектра. Повороты блоков приводят я смещению их изображенвн а фотопластинке Ф.

В бесконечномерном случае речь идёт об операторах А, действующих в нормированном линейном пространстве (банаховом пространстве) и появляется третья возможность (III) ур-ние Ах = кх имеет лишь нулевые решения в но резольвента (X/ — М) не определена на всём Объединяя вторую (точечный, или дискретный, спектр) и третью (непрерывный и остаточный спект-р ы) возможности, С. о. называют множество таких Я, для к-рых резольвента не является ограниченным оператором на всём При этом Я принадлежит непрерывному спектру, если область значений оператора X/ — А плотна в Я, и остаточному — в противном случае. У ограннчевшых самосопряжённых операторов остаточный спектр отсутствует. [c.605]

ЦЕНТРЫ ОКРАСКИ—дефекты кристаллич. решётки, поглощающие свет в спектральной области, в к-рой собств. поглощение кристалла отсутствует (см. Спектры кристаллов). Первоначально термин Ц. о. относили только к т. н. / -центрам (от нем. Farbenzentren), обнаруженным в 1930-х гг. в шёлочно-галоидных кристаллах Р. В. Полем (R. W. Pbhl) с сотрудниками и представляющим собой анионные вакансии, захватившие электрон. В дальнейшем под Ц. о. стали понимать любые точечные дефекты, поглощающие свет вне области собств. поглощения кристалла,— катионные и анионные вакансии, междо-узельные ионы (собственные Ц. о.), а также примесные атомы и ионы (примесные Ц. о.), Ц. о. обнаруживаются во мн. неорганич. кристаллах и стёклах, а также в природных минералах. [c.426]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...