Свет Интерференция

В случае 1 суммарная освещенность равна сумме освещенностей, создаваемых каждым источником света (интерференция отсутствует). В случае 2 суммарная освещенность не равна сумме освещенностей (имеет место интерференция). [c.176]

Отражение ЩХ,9) 1) монохроматический свет, интерференция А кк) < тт/п 2) монохроматический свет или сплошной спектр, многократные отражения без интерференции А(кк) 3> 7г/гг 1) монохроматический свет АЛ <С Ао 2)спектр [c.20]

Светофильтры можно классифицировать в зависимости от характера оптического явления, используемого при фильтрации лучистого потока, а именно поглощения света, интерференции, избирательного отражения, дисперсии, хроматической поляризации, рассеивания света и др. [c.277]

ВОЛНОВЫЕ СВОЙСТВА СВЕТА— ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ И ДИФФРАКЦИЯ [c.328]

До сих пор интерференция исследовалась только в идеальном случае монохроматического света. Интерференцию в немонохроматическом свете можно исследовать, разлагая свет по теореме Фурье на монохроматические составляющие. Если волновое поле в точке наблюдения описывается периодической функцией Е = Е t) с основным периодом т и основной частотой О = 2л/ г, то его можно [c.212]

Из-за близости к единице показателей преломления газов последнее слагаемое мало и при вычислении к может не учитываться. Таким путем для пластинки с / = 1 мм, Пст = 1>5 при длине волны % = 600 нм получаем к 10. В белом свете интерференция столь [c.536]

На шкале электромагнитных волн видно, что границы по частотам V (или длинам волн в вакууме Яо=с/г) между различными видами электромагнитного излучения весьма условны — последовательные участки шкалы непрерывно переходят друг в друга. Электромагнитные излучения, частоты которых отличаются на много порядков (например, радиоволны и рентгеновское излучение), имеют качественно различные свойства. Эти различия определяются общей закономерностью шкалы электромагнитных волн по мере перехода от более длинных волн (малых частот) к более коротким (большим частотам) волновые свойства света (интерференция, дифракция, поляризация) проявляются слабее, а квантовые свойства света (У.5.1.Г), в которых решающую роль играет величина кванта энергии Ну (V.3.2.3°), проявляются сильнее. [c.390]

Использование микроинтерферометра для измерения неровностей поверхности основано на явлении интерференции света, которое можно наблюдать с помощью специального оптического устройства. Микроинтерферометры применяют в лабораторных условиях для оценки наиболее чистых поверхностей с неровностями высотой в пределах 0,02—2 мк. Поле зрения у этих приборов малое — до 0,5 мм . [c.91]

КОГЕРЕНТНОСТЬ СВЕТА КАК ЕГО СПОСОБНОСТЬ К ИНТЕРФЕРЕНЦИИ [c.67]

Из формулы (4.24) следует, что с увеличением порядка интерференции (т) уменьшается ширина спектрального интервала, при котором еш,е возможно наблюдение интерференционной картины. Верно и обратное более низкий порядок интерференции позволяет наблюдать различимую интерференционную картину в менее монохрома-тичном свете. [c.77]

Метод Юнга. Свет, исходящий от протяженного источника S, направлен па экран с двумя симметрично расположенными относительно S отверстиями (рис. 4.9). На экране Эз наблюдаются полосы. Юнг доказал, что интерференционные полосы наблюдаются только при достаточно малых размерах источника б". Усовершенствовав схему опыта, он получил весьма четкую интерференционную картину. По этой причине первое наблюдение явления интерференции приписывается именно Юнгу. Сущность его метода заключается [c.81]

Случай 1. Положим, что в интерферометр Майкельсона направляется свет от точечного источника (из точки S на рис. 4.20), излучающего монохроматический свет длиной волны X. При незначительном наклоне зеркала 3 относительно 3i наблюдаются полосы равной толщины от слоя воздуха переменной толщины, заключенного между зеркалом 3i и изображением зеркала За в пластинке П. Очевидно, что интенсивность, обусловленная интерференцией лучей, исходящих от некоторой толщины / воздушного слоя, равна [c.90]

При наблюдении интерференции в прошедшем свете потери полу-длины волны не происходит и разность хода между интерферирующими лучами будет равна [c.95]

При отражении света от поверхностей прозрачных пластин вследствие малого коэффициента отражения мы не принимали во внимание лучи, отраженные два или большее число раз. Однако в случаях, когда интенсивности многократно отраженных лучей близки друг к другу, учет их вклада в общую интенсивность является обязательным. Реализация упомянутого случая — случая многолучевой интерференции — определяется значениями коэффициентов отражения и пропускания. [c.100]

Конкретно свет от источника S, расположенного в фокусе линзы Л, направляется на поверхность полупрозрачной пластинки СС. Отраженный от этой пластинки световой пучок через линзу л направляется на поверхность воздушного зазора. Отраженные лучи, налагаясь, дают на экране F, расположенном в фокальной плоскости линзы, интерференционную картину. Если исследуемая поверхность такая же гладкая, как и поверхность эталона, то в зависимости от относительного положения этих пластин будет наблюдаться интерференция полос равного наклона [c.104]

Естественно, что возник вопрос о соотношении между двумя теориями света.. Довольно быстро выявилась неразумность противопоставления электромагнитной теории света и фотонной физики. Оказалось, что описание волновых свойств света (интерференция, дифракция и сопутствующие им явления) по-прежнему целесообразно проводить в рамках электромагнитной теории, тогда как некоторые энергетические характеристики из. [учения полностью описываются фотонной физикой. Существует переходная область явлений - давление света, эффект Доплера и некоторые другие. - которую можно просто истолковать в рамках как той, так и другой теории. Характерно, 4Tt> учет ре.тятивистских эффектов обязателен и в электромагнитной теории, и в фотонной физике. [c.461]

Получается, что при выключенных источниках света интерференция есть, а при включенных ее нет. Как только начинается контролирование процесса прохождения электронов через экран с щелями, интерференция исчезает. Можно сказать, что подглядывание за поведением электронов в интерферометре разрушает инт.ерференцию. [c.97]

Оптические методы измерения основаны на использовании таких явлений, как рассеивание, отражение, по-глош,ение света, интерференция и дифракция при прохождении луча через капельный туман. В результате прохождения лучей света через факел распыленной жидкости яркость света уменьшается. При расчетах капли можно принимать за непрозрачные шарики (капли тяжелых топлив обычно темные и практически не пропускают лучи света). При прохождении через капли светлых топлив параллельные лучи света очень рассеиваются, так как капли в этом случае представляют собой линзы с малым фокусным расстоянием. Измеряя освеш,енность, зависящую от диаметра капель, определяют средний диаметр по Заутеру. [c.38]

Лит. Горелик Г. С., Колебания и волны, 2 изд., М., 19 9 Бреховсквх Л, М., Волны в слоистых средах, 2 илд., М., 1973, гл, 6 Ч е р н о в Л. А., Волны в случайно-неоднородных средах, М., 1975, ч. 1. М. А. Исакович. ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА раздел оптики, в к-ром изучаются законы распространения света в прозрачных средах и условия получения изображений на основании матем, модели физ. явлений, происходящих в оптич. системах, справедливой, когда длина волны света бесконечно мала. Положения Г. о, имеют значения первых приближений, согласующихся с наблюдаемыми явлениями, если эффекты, вызываемые волновой природой света, — интерференция, дифракция и поляризация — несущественны. Выводы Г, о. строятся дедуктивным методом на основании неск. простых законов, установленных опытным путём [c.438]

Физическая О. рассматривает проблемы, связанные с процессами испускания света, природой света и световых явлений. Утверждение, что свет есть поперечные ал.-маги, волны, явилось результатом огромного числа эксперим. исследований дифракции света, интерференции света, поляризации света, распространения света в анизотропных средах (см. Кристаллооптика, Оптическая анизотропия]. Совокупность явлений, в к-рых проявляется волновая природа света, изучается в крупном разделе фиа. О.— волновой оптике. Её матем. основанием служат общие ур-ния класснч. электродинамики — Максвелла уравнения. Свойства среды при этом характеризуются макроскодич. материальными константами — значениями диэлектрической проницаемости 8 и магнитной проницаемости р,, входящими в ур-ния Максвелла в виде коэффициентов. Эти значения однозначно определяют показатель преломления среды л = [Лер. [c.419]

РЕФРАКТОМЕТР (от лат. гв1гас1па — преломлённый й греч. ше1гёо — измеряю) — прибор для измерения показателей преломления п веществ (жидких, твёрдых, газообразных). Существует неси, видов Р., принцип действия к-рых основан на следующих методах методе прямого измерения углов преломления света при прохождении им границы раздела двух сред методе, основанном на явлении полного енртреннего отражения (ПВО) света интерференц. методе (см. Интерференция света). [c.386]

Пропускание Т Х,9) 1) монохроматический свет, интерференция А(кк) < тт/щ 2) монохроматический свет или сплошной спектр, многократные отражения без интерференции А кк) > тг1п [c.20]

Чистоту поверхностн, шероховатость определяют также при помощи отражен1Юго света с помощью аппарата, принцип действия которого осиоваи на интерференции света. Этот аппарат и.меет особую плоскую (или выпуклую) поверхность, которая находится под углом к изделию, где образуется интерференция света. Интерференцию наблюдают по светлым и темным кругам. [c.360]

Физическая оптика рассматривает проблемы, связанные с природой света и световых явлений. Утверждение, что свет есть поперечные эл.-магн, волны, основано на результатах огромного числа эксперим. исследований дифракции света, интерференции света, поляризации света и распространения света в анизотропных средах (см. Кристаллооптика, Оптическая анизотропия). Совокупность явлений, в к-рых [c.489]

Интерферометры. Устройства, в которых для измерений использовано явление интерференции света, относятся к наиболее точным. Их применяют для аттестации концевых мер, калибров и образцовых деталей, В сочетании с лазерными источниками света они позволяют регистрировать изменение длины до 10" м. Промышленные интерферометры имеют окулярное, экранное или цифровое отсчетное устройство. Интерферометры выпускают в виде двух модификаций — для вертикальных (мод, 264) и горизонтальных (мод. 273) измерешиг Контактные иитер41ерометры имеют переменную цену деления (от 0,05 до 0,2 мкм) и основаны на схеме Майкельсона (рис. 5.11). В таких интерферометрах свет от источника 2 через конденсор 3 и свето-124 [c.124]

Принцип действия интерферометров основан на использовании явле+1ия интерференции света, отраженного от образцовой и исследуемой поверхностей. Форма образующихся интерференционных полос зависит от вида и высоты (до 1 мкм) неровностей контролируемой поверхности. Принцип действия растровых микроскопов основан на явлении образования муаровых полос при наложении ]130бражений элементов двух периодических структур (направленных следов обработки и д.чфракцнонной решетки). При наличии неровностей муаровые полосы искривляются. Высоту микронеровностей определяют по степени искривления муаровых полсс. [c.201]

Интерференция света относится к явлениям, сыгравшим существенную роль при выяснении природы света. Именно это явление позволило Араго и Френелю не только подтвердить волновую природу света, но также установить поперечиость световых волн. [c.67]

ВЛИЯНИЕ НЕМОНОХРОМАТИЧНОСТИ СВЕТА НА ИНТЕРФЕРЕНЦИЮ. [c.76]

Влияние немонохроматичкости света на интерференцию. В реальных случаях приходится иметь дело с немонохроматическим излучением. Поэтому представляет интерес разобрать влияние немо-нохроматичности на интерференционную картину. [c.76]

Частичная когерентность. Немонохроматичность света связана с механизмом излучения. Как мы уже знаем, излучение происходит в виде цугов конечной длины. Вследствие конечности длины цугов атом излучает (см. гл. И) не монохроматический свет, а целый сиектр частот, ширина интервала которого обратно пропорциональна длине цуга. Поскольку цуги волн, излучаемые одним и тем же атомом в разные моменты времени, взаимно не коррелированы, то очевидно, что интерференция произойдет только при встрече волн (полном или частичном нх перекрывании), образуемых из одного и того же цуга. С целью более подробного анализа когерентности в этом случае обратимся к следующему опыту. [c.77]

Кривые равного наклона (интерференция от плоскопараллельной пластинки). Поверхность плоскопараллельной пластинки из прозрачного материала освещается точечным источником монохроматического света (рис. 4.16). В произвольную точку А, расположенную по ту же сторону пластинки, что и источник S, приходят два луча одн11, отраженный от верхней, другой — от нижней поверхностей. Оба луча исходят из одного и того же источника и, являясь [c.85]

Если наблюдение ведется в монохроматическом свете, то интерференционная картина п[1едстаБЛяет собой чередование светлых и темных полос. При наблюдении в белом свете илеика оказывается окрашенной в разные цвета. Подобная окрашенность пленок, обусловленная интерференцией отраженных от поверхностей лучей, носит название цветов тонких пленок. Следует заметить, что при наблюдении в белом свете отклонение от параллельности поверхности пластинки должно быть незначительным. Заметное отклонение от параллельности приводит к значительному сближению полос [c.89]

Из этих формул вытекает, что при наблюдении в белом свете на некотором расстоянии от центра произойдет наложение различных порядков интерференции. Гюэтому по мере удаления от центра экран становится все более рав1юмерно освещенным. [c.95]

Рассмотрим случай нормального падения плоской монохроматической и линейно-поляризованной волны на хорошо отражающую поверхность с относительным показателем преломления п> 1. Поглощением света при распространении пренебрежем. Отра)кен-ная световая волна, когерентная с падающей, будет распространяться в противоположном паправленгпг. В результате произо11дет интерференция двух когерентных волн—. падающей и отраженной. Считая, что в световых явлениях основную роль играет электрический вектор, запишем уравнение падающей световой волны, распространяющейся в положительном направлении оси х, в виде [c.96]

При наблюдении многолучевой иитерс )еренции в белом свете полосы окрашиваются в различные цвета. Полосы, принадлежащие различ1и.1м длинам волн, в проходлщ,ем свете разделяются более четко. Большое практическое значение многолучевой интерференции обусловлено именно этим фактом. [c.103]

Явление интерференции позволяет свести к минимуму коэффициент отражения поверхностей различных элементов (линз, призм и т. и.) оптическо11 системы — осуществить так называемое просветление оптики. С этой целью на поверхность элемента, например линзы, методом напыления в вакууме наносят тонкие пленки с коэ( к )ицие1ггом преломления, меньшим, чем у материала линзы. Падающий на поьерхносгь пленки пучок света / (рис. 5.14) частично отражается от внешней границы просветляющего слоя [c.106]

Резкость интерференционной картины. Резкость интерференционной картины будет зависеть от коэффициента отражения нанесенной на пластины пленки. На рис. 5.22 показана зависимость резкости полос интерференции для разных значений R от углового расстояния относительно центра интерференционной картины. Значение R = 0,04 соответствует поверхности чистого стекла, в то время как R = 0,99 соответствует поверхности с многослойным покрытнбм. Следует обратить внимание па то, что при рассмотрении интерференции многих лучей мы полагали R + Т = I, т. е. пренебрегали поглощением внутри пластинки. Однако при нанесении на поверхность пластины полупрозрачного металлического слоя происходит поглощение, в результате чего интенсивность изменится. Поэтому пользуются выражением R + Т + А I, где А — коэффициент суммарного поглощения света отражающими слоями. [c.115]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...