Резкость полос

Увеличение резкости полос [c.547]

Хотя оптическая плотность фотографий, полученных с картин голографических полос, может и не представлять собой точную копию интенсивности полос, разрешение полос определяется распределением освещенности, которое для голограмм с усреднением во времени пропорционально / Ф), а для голограмм двух экспозиций записывается в виде sin ф. Возможность наблюдать разницу в плотности влечет за собой возможность наблюдения пространственных смещений полос и, следовательно, устанавливает предельное разрешение по смещению. Измерения положения полосы становятся критичными, когда деформации определяются из голограмм, поскольку такие измерения связаны с различиями в положениях полос (производных амплитудной функции), и, следовательно, небольшие ошибки при измерении положения полосы приводят к увеличению ошибки при расчете деформаций. Хотя для увеличения резкости полос на голограмме двух экспозиций или при регистрации вибраций можно было бы применять в принципе многоволновые голографические методы точно таким же способом, как и классическую многолучевую интерферометрию, сложность постановки такого эксперимента делает привлекательной систему, основанную на более традиционном подходе. [c.547]

Ароматические углеводороды в растворах при комнатных температурах и малых концентрациях дают структурные спектры, состоящие из нескольких широких полос. В спиртовых растворах или специальных смесях, образующих стеклообразную массу при температуре жидкого азота, резкость полос несколько увеличивается, однако ширина их остается в пределах 150—200 см Ч [c.125]

Можно вычислить распределение интенсивности в интерференционной картине и резкость полос, которая выше, чем в эталоне Фабри — Перо. [c.179]

Отношение расстояния между соседними полосами (которому соответствует изменение б на 2л) к ширине максимума называется резкостью полос Р [c.259]

Значительное расширение возможных применений интерферометра Фабри—Перо связано с использованием вместо металлических зеркал многослойных диэлектрических покрытий, которые обеспечивают высокий коэффициент отражения (и, следовательно, большую резкость полос) и в то же время не поглощают свет. Распределение интенсивности в интерференционной картине и в этом случае описывается формулой (5.77), но пропускание в максимумах может быть значительно больше, чем у интерферометра с металлическими зеркалами. Уменьшение интенсивности по сравнению с идеализированным случаем, выражаемым формулой (5.71), обусловлено здесь в основном рассеянием света на практически неизбежных неоднородностях покрытий. [c.260]

Именно дефекты поверхностей остаются главной причиной, ограничивающей достижимые значения резкости полос и разрешающей способности (см. 6.6) интерферометра Фабри—Перо. [c.262]

I От каких параметров, характеризующих интерферометр, зависит резкость полос [c.266]

Для работы с белым светом снова переключается рукоятка 8 поворотом влево. Производится дополнительная фокусировка на резкость полос микровинтом 10. [c.141]

Очевидно, что необходимо как-то охарактеризовать форму контура интерференционной полосы. Для этого вводят критерий резкости F, равный отношению расстояния между двумя сосед ними максимумами интерференции к ширине полосы г.. Для нахождения F запишем формулу Эйри, исключив предварительно [c.241]

Так же как и функция видимости, резкость F, характеризу ющая форму контура интерференционной полосы, полностью определяется коэффициентом отражения Я При Я — 1 имеем F — 00. Если Я 0,9 (такое значение Я для зеркал часто используют в реальных интерферометрах), то резкость F оказывается немногим меньше 30 (рис. 5.66). Это значит, что расстояние между двумя соседними максимумами примерно в 30 раз больше ширины каждого из них. [c.241]

Интерферометр устанавливают в рабочее положение. Щель спектрографа расширяют до 0,2 мм. Передвигая объектив вдоль рельса, добиваются достаточной резкости интерференционных полос в фокальной плоскости камеры спектрографа (интерференционную картину наблюдают в лупу). Наклоном и поворотом столика интерферометра центр колец выводят на верхний или нижний край щели спектрографа. (В данной задаче рекомендуется работать по односторонним порядкам интерференции.) [c.84]

Кроме того, высоту уступа или глубину риски можно определить путем наводки на резкость интерференционных полос. Измерения выполняются с белым источником излучения. При этом нить перекрестия окуляра сначала совмещается с черной полосой, полученной с поверхности покрытия (рис. 80, а), а затем —с поверхности подложки или дна риски (рис. 80, б). Толщина покрытия определяется как [c.89]

Наряду с указанными требованиями существенными вопросами голографической интерферометрии являются локализации полос, а также чувствительность метода к изменениям состояния объекта. Детальный анализ процесса образования голографических интерференционных полос показывает, что в общем случае плоскость локализации полос может находиться на произвольном расстоянии от поверхности объекта. В результате полосы на объекте оказываются малоконтрастными, что затрудняет их наблюдение. Данный недостаток может быть преодолен увеличением глубины резкости системы наблюдения путем ограничения ее апертуры [4]. [c.212]

Для измерения амплитуды смещения собранного пакета на его торце делается поперечная светлая риска, которую подводят под окуляр микроскопа, имеющего деления в микрометрах. Точной регулировкой добиваются резкости риски на микрометрической сетке деления. Включив ультразвуковой генератор и регулируя его частоту, доводят его колебания до резонансной частоты преобразователя (максимальной амплитуды смещения пакета), наблюдая в микроскоп за риской, которая при этом превращается в светлую полосу. Длина полосы, деленная пополам, даст амплитуду колебаний. Одновременно с измерением амплитуды определяют с помощью частотомера типа ЧЗ-7 собственную частоту магнитострикционного преобразователя.. Амплитуда смещения применяемого в промышленности преобразователя из никелевых пластин на частоте 22 кГц не превышает 3 мкм, а преобразователя с пластинами из пермендюра — 5 мкм. [c.123]

На отражательных голограммах не бывает пятен перекрытия цветов, которые появляются, когда в белом свете восстанавливают обычную просветную голограмму. Такая спектральная селективность связана с наличием системы параллельных интерференционных полос. Однако резкость изображения определяется размером восстанавливающего источника следовательно, чем больше источник похож на точечный, тем выше качество восстановленного изображения. Это ограничение тем слабее, чем ближе находится изображение объекта к плоскости эмульсии, а лучше всего — непосредственно в этой плоскости. Такого положения можно достигнуть, если изображение спроецировать линзой или спроецировать действительное изображение объекта с его голограммы. Часть изображения, находящаяся внутри слоя эмульсии, будет резкой, даже когда оно восстанавливается протяженным источником, например флуоресцентной лампой, но часть изображения, расположенная перед эмульсией или за ней, будет рассеиваться пропорционально расстоянию от точки изображения до плоскости эмульсии. Такой метод голографической записи можно применить для улучшения резкости изображения как в случае пропускающих, так и в случае отражательных голограмм. Применяя этот метод к пропускающим голограммам, необходимо использовать цветные фильтры для исключения рассеяния цветов, поскольку цветовая фильтрация многослойными полосами осуществима лишь в отражательной голографии. [c.490]

Эксперименты проводились следующим образом. Испытываемое тело устанавливалось по оси трубы на длинной хвостовой державке. По истечении заданного времени работы трубы при постоянной скорости потока и требуемой интенсивности кавитации исследовалась поверхность алюминиевой вставки. Это делалось путем микрофотографирования продольной полоски цилиндрической поверхности. Был разработан метод микрофотографирования, при.котором образец не извлекался из трубы, а уровень воды не опускался ниже уровня рабочей части. Тем самым удавалось предохранить образец от соприкосновения с какими-либо предметами, а также от контакта с воздухом на протяжении всего испытания. Микрофотографирование производилось при 30-кратном увеличении и охватывало полосу шириной 5,08 мм. В области максимального разрушения микрофотографии частично перекрывались, чтобы полностью охватить всю эту область, в то время как в областях менее интенсивного разрушения между соседними снимками допускались промежутки. 12 микрофотографий охватывали 80% полосы шириной 5,08 мм и длиной 76,2 мм. Микроскоп был установлен на каретке координатника, укрепленного на верхнем люке трубы. Объектив микроскопа был снабжен погружаемым конусом, обеспечивающим настройку на требуемую глубину резкости. Применение координатника гарантировало съемку [c.386]

Холодная обработка металлов давлением характеризуется высоким сопротивлением деформации, поэтому необходимо создавать условия деформации, снижающие потребное усилие. Для этого целесообразно осуществлять холодную обработку давлением в условиях разноименной схемы напряженного состояния (волочение, листовая штамповка) или уменьшать резкость проявления схемы напряженного всестороннего сжатия (прокатка полос и труб с натяжением). [c.356]

При движении автомобиля со скоростью около 100 км/ч и. более возникают большие инерционные силы. Даже незначительная резкость при управлении становится опасной. К тому же воздушный поток под автомобилем действует как подъемная сила. Сцепление колес с дорожным покрытием уменьшается примерно наполовину. В результате на закруглении дороги или даже при небольшом повороте автомобиль теряет устойчивость и выскакивает с полосы движения (рис. 5). [c.26]

Полоса резонатора, содержащего эталон Фабри — Перо, уже полосы пропускания эталона, поскольку свет за один обход резонатора проходит через него дважды. Реальный фактор резкости эталона не возрастает до бесконечности с увеличением Ro, а ограничи- [c.232]

Из (3.7.11) следует, что для того чтобы получить фильтр с узкой полосой пропускания, нужно увеличивать порядок интерференции, в котором работает фильтр, и, следовательно,, стремится к увеличению оптической толщины диэлектрической прослойки nd. Кроме того, желательно максимально увеличить фактор резкости F, т. е. произведение RT . Однако применение больших оптических толщин nd не целесообразно, так как в этом случае свободный интервал АЯ окажется малым и фильтр будет пропускать, что следует из рис. 3.7.11, ряд интерференционных максимумов в заданной области спектра, В ряде случаев, однако, их можно погасить. На рис. 3.7.13 представлена реальная кривая пропускания фильтра при nd = 1050 нм. [c.200]

Таким образом, пропускание в максимуме зависит толькО от отношения а/Т. В идеальном случае при а = О и /max = /о,-т. е. интенсивность в максимуме равна интенсивности света, падающего на интерферометр. Это означает, что необходимо выбирать покрытие с наименьшим а. Отсутствие в последнем выражении коэффициента отражения R не означает, что его величина может быть любой. Дело в том, что резкость интерференционной картины, а следовательно, и ширина полосы пропускания прямым образом связаны с коэффициентом отражения покрытия R и чем он больше, тем лучше эта характеристика. Этот вопрос специально рассмотрим несколько ниже. [c.204]

В этом случае, как следует из рис. 7.3.1, разрешимый спектральный интервал бХ равен ширине контура интерференционной полосы на уровне /тах/2. Очевидно, что для 8 К справедливо аналогичное выражение для интерференционного фильтра (3.7.11), так как это оптическое устройство работает также на принципе многолучевой интерференции. Заменим фактор резкости F числом эффективных интерферирующих пучков Л эфф, тогда [c.460]

Из (16.7) видно, что для того чтобы получить фильтр с узкой полосой пропускания, нужно увеличивать порядок интерференции, в котором работает фильтр, т. е. стремиться к увеличению оптической толщины диэлектрической прослойки dn, и максимально увеличить фактор резкости F. Однако применение больших толщин dn нецелесообразно, так как в этом случае АХ окажется малым и фильтр будет пропускать, как указывалось ранее, ряд интерференционных максимумов в заданной области спектра. Однако в ряде случаев их можно отфильтровать. [c.118]

Резкость интерференционной картины. Резкость интерференционной картины будет зависеть от коэффициента отражения нанесенной на пластины пленки. На рис. 5.22 показана зависимость резкости полос интерференции для разных значений R от углового расстояния относительно центра интерференционной картины. Значение R = 0,04 соответствует поверхности чистого стекла, в то время как R = 0,99 соответствует поверхности с многослойным покрытнбм. Следует обратить внимание па то, что при рассмотрении интерференции многих лучей мы полагали R + Т = I, т. е. пренебрегали поглощением внутри пластинки. Однако при нанесении на поверхность пластины полупрозрачного металлического слоя происходит поглощение, в результате чего интенсивность изменится. Поэтому пользуются выражением R + Т + А I, где А — коэффициент суммарного поглощения света отражающими слоями. [c.115]

Какие факторы ограничивают практически достижимую резкость полос в интерферометре Фабрн — Перо [c.266]

С0Н0 (бензол). Сильная система поглощения паров бензола в ультрафиолетовой области около 2600 А известна со времен начала развития спектроскопии. Из-за большой резкости полос поглощения и явной регулярности их грубой структуры эта система привлекала внимание многих исследователей, и с течением времени были получены спектры на приборах со все более и более высоким разрешением, изучались и получили объяснение многие детали. Исторически эти полосы представляли первый обширный н четкий пример ясно выраженного электронного перехода, запрещенного правилами отбора по симметрии, и применения колебательных правил отбора (гл. II, разд. 2,6, Р). [c.561]

Качественные тенденции пространственной фильтрации процессов с дисперсией (а 0, рэ О), приводящей к разрушению пространственных структур при их конвекции мимо фильтрующего устройства (дифракционной рещетки), и процессов, сохраняющих пространственные масштабы (а = 0, Р = 0), в основном совпадают, хотя количественные соотношения, характеризующие глубину фильтрации (оптическую резкость полос), существенно ухудшаются по мере роста дисперсионных эффектов. В обоих случаях увеличение числа приемников N при фиксировайном йх приводит к увеличению остроты характеристик направленности основных максимумов, а увеличение при любом изменении числа N или его сохранении-к увеличению углового интервала (скважности) между основными максимумами. При увеличении коэффициента а значение максимума, не меняя своего положения, уменьшается по амплитуде тем больше, чем больше значение хт. [c.114]

При большой резкости полос е в (40) мало по сравнению с п/2, и можно приня ь sine = e тогда (40) сведется к [c.307]

Глубину рисок или ступенек, поверхности которых у верхнего и нижнего краев имеют достаточную отражательную способн<х ть, измеряют приборами МИИ-4 и МИИ-5 интерференционно-индикаторным методом. Интерференционные полосы наводят на резкость последовательно на дно риски и ее край. Глубина риски определяется величиной фокусировочного перемещения микрообъектива. Этим методом можно измерять риски глубиной 20— 100 мкм при ширине до 0,25 мкм [c.68]

Вследствие известной ограниченности световой микроскопии (недостаточные глубина резкости и разрешающая способность) при изучении физических основ прочности материалов все чаще применяются методы прямого наблюдения за поведением дислокаций и образованием полос скольжения с помощью высоковольтного и растрового электронных микроскопов в широком диапазоне температур Эти методы тепловой электронной микроскопии, позволяющие осуществлять, например, исследование динамических свойств дислокаций in situ, вносят существенный вклад в изучение субми-кроскопических особенностей деформирования и разрушения материалов в условиях высоких и низких температур. [c.292]

Точность метода муара повышается при увеличении числа линий, приходящихся на 1 мм. При очень большом их числе проявляется эффект дифракции света, охраничивающий возможность то шых измерений. Наиболее эффективным способом предупреждения искажений муаровых картин является отггическое фильтрование. В простейшем случае муаровую картину наблюдают с помощью двух одинаковых линз, расположенных на расстоянии двух фокусных расстояний. В фокальной плоскости устанавливают диафрагму, пропускающую лучи, прошедшие через дифракционную решетку (эталонная и рабочие сетки) под строго определенными углами и фокусирующимися в фокальной плоскости. Пропуская лучи через определенные точки, можно из изображения муаровой картины исключить все линии сетки и оставить только изображения полос, увеличить число полос, улучшить резкость и качество изображения и др. [c.269]

Усовершенствование голографической записи привело к возможности восстановления изображений без применения дорогих источников света. Вначале необходимо было применять лазерный источник, свет которого имел ту же длину волны и падал под тем же углом, что и опорная волна при записи. Однако вскоре стало ясно, что, если рассчитать необходимый угол, исходя из сохранения условия Брэгга, и если имеется возможность менять размеры и положение изображения, при восстановлении можно использовать различные длины волн. В голографии стали применяться источники света с достаточно узкой полосой излучения, которую можно эффективно отфильтровать, например такие, как ртутные дуговые лампы. После того как выяснилось, что изображения, записанные вблизи плоскости эмульсии, восстанавливаются с высокой резкостью, даже если восстанавливающий источник отличается от точечного ), большие голограммы для систем отображения сделались реальностью. Для восстановления радужных голограмм, или стереограмм, записанных методом мультиплексной голографии, можно использовать даже обычные лампы накаливания с вертикальной нитью. Смягчение требований к источнику для воспроиз- [c.496]

Локализацию интерференционных полос в практических применениях не принимают во внимание, а апертуру наблюдения уменьшают настолько, чтобы при большой глубине резкости изображения предмета и достаточной нелокализованности интерференционных полей образовались полосы, привязанные к поверхности предмета. [c.157]

Дифракционная решетка Р (рис. 192), расстояние 5 которой до линзы больше фокусного, освещается параллельньш пучКом лучей. Линза Ь создает в плоскости Рг, расстояние б которой от линзы определяется соотношением (23.366), действительное перевернутое изображеш1е решетки, состоящее из темных и светлых полос с достаточно резкими границами. Резкость границ зависит от ширинь щелей и непрозрачных, промежутков между ними чем больше ширина, тем резче граница, [c.247]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...