Центр интерференционной картины

Следовательно, чем больше расстояние между отражающими слоями, тем выше порядок интерференции а центре интерференционной картины. Так, например, т - 20 ООО при I == 0,5 см (для видимого света 5 10" см) и т - 200 ООО при / = 5 см. [c.246]

Разность хода уменьшается с увеличением угла падения, и, следовательно, порядок интерференции уменьшается при переходе от центра интерференционной картины к ее периферии. Первое светлое кольцо появится, когда порядок интерференции сделается равным целому числу k — е, где е — дробная часть порядка интер- [c.27]

Расстояния между кольцами можно измерить и вычислить дробную часть для места совпадения, а, зная предварительное значение разности хода, по месту совпадения можно определить точное значение порядка в центре интерференционной картины, т. е. [c.52]

Рассчитаем АК установки с ИФП, центральное пятно интерференционной картины которого выделяется с помощью круглой диафрагмы. Центр диафрагмы совпадает с центром интерференционной картины. При смещении диафрагмы относительно последнего возможны искажения АК установки. Расчет влияния этого эффекта выполнен в работе [41]. Мы ограничимся случаем круглой диафрагмы, установленной строго в центре интерференционной картины. [c.49]

Рис. 116 Запись изменений освещенности в центре интерференционной картины при изменении давления воздуха внутри камеры с многолучевым интерферометром

В отсутствии атомного пучка на центр интерференционной картины с помощью юстировочных винтов выводится максимум более интенсивной компоненты D-линии натрия (X = 589 нм), в этом случае диаметр первого кольца определяется из соотношения [c.201]

После ТОГО как пленка отснята, ширину спектральной полосы определяют, измеряя ширину колец, расположенных вблизи центра интерференционной картины. Кольцо радиусом г и тол-ш,иной Аг соответствует спектральной ширине полосы [c.385]

Сначала пластины эталона настраивают так, чтобы центр интерференционной картины соответствовал центру фотопластинки. Затем добиваются параллельности пластин, перемещая глаз в вертикальной и горизонтальной плоскостях и регулируя пластины так, чтобы интерференционная картина не двигалась. [c.385]

Если допустимы достаточно большие времена усреднения, то можно пользоваться обычным методом фотографирования колец. Кольца также можно регистрировать при помощи самописца, если немного изменить оптическое расстояние между зеркалами и записывать выходной сигнал фотоприемника, направленного на центр интерференционной картины. Можно применить также метод сканирования за счет изменения давления внутри эталона [22] или же пьезоэлектрического [23] или магнитострик-ционного сканирования. [c.422]

При г = 0,2 мкм и Я. === 0,550 и приняв, например, п — 40, получаем к=29 полос. Измерение производится при белом свете. В этом случаев центре интерференционной картины располагается черная ахроматическая полоса и несколько бледных цветных полос. Ахроматическая полоса используется в качестве указателя. Она смещается при небольших перемещениях измерительного [c.365]

При х = 0 расположен максимум, соответствующий нулевой разности хода. Для него порядок интерференции m = 0. Это центр интерференционной картины. Расстояние между соседними максимумами или минимумами (пространственный период интерференционной картины) Ах определяется из условия kd х/1 = 2п, откуда Ах = = 2nl/ kd) = kl/d. Если ввести угол схождения лучей a d/l, т.е. угол, под которым видны источники из точки наблюдения, то выражение для Ах можно записать следующим образом Ах к/а. Это совпадает с уже разобранным случаем интерференции плоских волн, распространяющихся под углом а. В самом деле, на большом расстоянии от источников сферические волны на небольших участках приближенно можно рассматривать как плоские, угол между направлениями которых при 0<С1 приближенно равен d/l. [c.205]

При исследовании формы контуров спектральных линий используют фотоэлектрическую регистрацию. Фотоумножитель (в отличие от фотопластинки) не обладает способностью пространственного разрешения, поэтому для измерения распределения интенсивности в центр интерференционной картины помещают круглую диафрагму и каким-либо способом изменяют оптическую толщину пН интерферометра. Тогда через центр последовательно проходят максимумы разных порядков всех компонент исследуемой линии, и фотоумножитель регистрирует изменения проходящего через отверстие диафрагмы потока излучения. [c.264]

Метод счета полос или их долей часто используется для оценки искажений в интерференционной картине. Так, например, если в результате введения объекта интерференционная картина приобрела вид, представленный на рис. 3.6.5, то в этом случае разность хода в центре интерференционной картины соответствует трем полосам (расстояние Р). Метод счета полос применяют также в тех случаях, когда изменения интерференционной картины достаточно плавные. При этом разность хода в линейной мере оценивают произведением длины волны на число интерференционных полос, прошедших в поле зрения между начальным и конечным состоянием элементов интерферометра или состоянием объекта. [c.178]

Определим сначала экспериментально дробную часть е порядка интерференции. Для этого измерим диаметр О некоторого интерференционного кольца с номером р, ведя счет колец, от центра интерференционной картины и полагая для центрального кольца 1. Из предыдущего следует, что порядок интерференции колец с увеличением диаметра кольца убывает.. Поэтому для кольца с номером р он будет ко — р—1) — е. Из-за малости углов падения условие максимума для кольца с номером р может быть записано в виде [c.213]

Если измерять расстояние от центра интерференционной картины (г = 0) до точки г в долях порядка интерференции е, то [c.501]

Порядок интерференции к в общем случае является дробным числом. Чтобы рассчитать длину эталона /г, следует знать целый порядок интерференции в центре картины 0 и его дробную часть 8. Определим сначала дробную часть 8 порядка интерференции. Для этого измерим диаметр О некоторого интерференционного кольца с номером ведя счет колец от центра интерференционной картины и полагая для центрального кольца /9 = 0. Порядок интерференции колец с увеличением их диаметра убывает, поэтому для кольца с номером р он будет равен к — р — 1) — 8. Из-за малости углов падения ф разность хода для лучей, образовавших кольцо с номером р, будет [c.186]

Этот метод заключается в следующем. Используя описанный выше метод, определяют дробные части порядков интерференции для центра интерференционной картины в нескольких длинах волн [c.186]

Из-за скрещенного положения поляризатора и анализатора в центре интерференционной картины (рис. 29.10) будет иметь место минимум, Это происходит от того, что, как указывалось ранее, скрещенные поляризатор и анализатор вносят разность фаз я, а для центрального луча, идущего в направлении оптической оси пластинки (г ) = 0), основная разность хода отсутствует. [c.227]

Все изложенное остается верным и в том случае, когда фазы лучей, приходящих в центр интерференционной картины, противоположны. Только в этом случае центральная полоса будет темной. [c.218]

Когда номер полосы мал по сравнению с величиной N, определяемой выражением (30.1), интерференционные полосы будут почти столь же отчетливы, что и в случае света с одной длиной волны. Когда номер полосы для длины волны X достигнет значения 2N, номер соответствующей полосы для длины волны X сделается равным 2N + 1). Тогда полосы интерференции сделаются столь же резкими, что и в центре интерференционной картины. При дальнейшем возрастании порядка интерференции будет наблюдаться периодическая смена резкости интерференционных полос от наибольшей отчетливости их до полного исчезновения. [c.218]

В центре интерференционной картины интенсивность [c.185]

Очевидно, что для наблюдения интерференционных полос расстояние мел " ду источниками d должно быть больше длины волны излучения X. В свою очередь, расстояние от источников до экрана I, как правило, много больше й. Кроме того, I значительно больше х — расстояния от центра интерференционной картины до точки Р на экране, то есть угол 0 можно считать малым. В этом случае приближенное выражение для разности хода получается наиболее простым [c.94]

С ростом r уменьшается и, следовательно, по мере удаления от центра интерференционной картины кольца располагаются теснее друг к другу. [c.442]

В установках рис. 32, 33 обычно использовался камерный объектив /=600 мм. В этом случае для Я=4358 А на расстоянии 5 жж от центра интерференционной картины Di 0,06 А/мм. [c.443]

Без большой погрешности os ф можно положить равным единице. Погрешность этого метода расчета невелика, и она тем меньше, чем дальше от центра интерференционной картины расположены порядки, используемые в расчете Ат [239]. [c.450]

Резкость интерференционной картины. Резкость интерференционной картины будет зависеть от коэффициента отражения нанесенной на пластины пленки. На рис. 5.22 показана зависимость резкости полос интерференции для разных значений R от углового расстояния относительно центра интерференционной картины. Значение R = 0,04 соответствует поверхности чистого стекла, в то время как R = 0,99 соответствует поверхности с многослойным покрытнбм. Следует обратить внимание па то, что при рассмотрении интерференции многих лучей мы полагали R + Т = I, т. е. пренебрегали поглощением внутри пластинки. Однако при нанесении на поверхность пластины полупрозрачного металлического слоя происходит поглощение, в результате чего интенсивность изменится. Поэтому пользуются выражением R + Т + А I, где А — коэффициент суммарного поглощения света отражающими слоями. [c.115]

В качестве иллюстрации использования формул для наблюдаемого с ИФП контура спектральной линии возьмем пример, рассмотренный в предыдущем параграфе лоренцовская полуширина = 0,0452 (в долях порядка интерференции), длина волны Я = 500 нм, толщина интерферометра t= 1,6 см. Температура излучающих атомов натрия равна 570 К, коэффициент отражения зеркал равен R == 0,93. Центр интерференционной картины выделен круглой диафрагмой радиусом рд = 0,2 см фокусное расстояние камерного объектива Рл = 106 см. [c.77]

Пример записи изменений интенсивности в центре интерференционной картины, полученной при изменении давления в вакууми-рованном интерферометре с помощью капиллярного натекателя, приведен на рис. 118. [c.191]

Рис J18, Залась изменений интенсивности в центре интерференционной картины при изменении давления внутри вакуумнрованного многолучевого интерферометра [c.192]

Обработка фотографий, полученных при помош,и эталона Фабри — Перо, — дело довольно утомительное. Если фотографий много, то лучше всего воспользоваться счетной машиной. Длину волны определяют, измеряя диаметры колец в интерферограм-ме. По этим данным можно вычислить е — дробную часть номера порядка при угле 0 = О (т. е. в месте, соответствуюш,ем центру интерференционной картины). Величину г обычно находят с точностью 10 . Целую часть номера порядка определяют по данным менее точных измерений неизвестной длины волны. Это можно сделать при помош,и либо дифракционной решетки, либо эталона Фабри — Перо с меньшим расстоянием между зеркалами. Целую часть номера порядка р добавляют к измеренной дробной части, получая правильный номер порядка /7 + 8 с точностью (величина р 10 известна с ну- [c.356]

Сигнал зависит от X vi d. При изменении d изменяется длина волны, которая дает на приемнике фотоумножителя максимум интенсивности. Поэтому величина наблюдаемого сигнала при каждом значении d позволяет непосредственно сделать заключение об интенсивности волны соответствующей длины в падающем на интерферометр излучении. Одна из пластин интерферометра монтируется на кольцо из пьезоэлектрического материала. Напряжение, подаваемое на пьезоэлектрическое кольцо, подбирается так, чтббы соответствующее изменение d обеспечивало прохождение всей дисперсионной области около длины волны Я, при которой-возникает максимум интенсивности в центре интерференционной картины, регистрируемой приемником фотоумножителя. Сигнал, с фотоумножителя подается на осциллограф, а развертка осциллографа синхронизируется с частотой колебаний пьезоэлектрического кольца. В результате на экране осциллографа можно визуально наблюдать картину распределения интенсивности по длинам волн в некотором масштабе. Наблюдаемые величины затем пересчитываются на длины волн, и определяется искомый спектр излучения. [c.178]

В интерферометре Маха—Цевдера (см. рис. 108) длина пута света в ячейке Q равна 1-20,А см. Из ячейки воздух практически полностью откачан. В центре интерференционной картины наблюдается темное пятно. Длина волны Монохроматического источника света равна >.= 5Ю нм. В ячейку через кран медленно впускается воздух. В результате В объеме внутри ячейки дaвлeниe [c.204]

Почему в центре интерференционной картины в опыте Юига контрастность полос не ухудшается при замене точечных отверстий 5, 51 и 52 длинными узкими параллельными щелями [c.211]

Центру интерференционной картины (0=0) соответствует максимальная разность хода Атах=2/г, равная удвоенному расстоянию между М, и М 2. Когда М, приближается к М , кольца стягиваются по направлению к центру. Перемещение зеркала на расстояние Аткд/2 вызывает смещение картины на Ат порядков. Визуально смещение [c.214]

Для малых углов падения os0 l и SK= / 2h). Спектральный интервал, занимаемый исследуемым излучением, не должен превышать этой величины, чтобы максимумы соседних порядков от отдельных монохроматических компонент излучения не перекрывались. По этой причине интервал АЯ. называют свободной областью дисперсии или постоянной интерферометра. В 6.6 показано, что с увеличением расстояния h между пластинами возрастает разрешающая сила прибора, характеризующая способность разделять две близкие по длине волны монохроматические спектральные линии. Однако из (5.81) видно, что увеличение h сопровождается уменьшением области дисперсии SK = l / 2h). При типичных значениях (ft = 5 мм Я. = 0,5 мкм) ДЯ. составляет менее 0,03 нм. Это значит, что при работе с интерферометром Фабри—Перо требуется (за очень редким исключением) дополнительный более грубый спектральный прибор для выделения в излучении источника спектрального интервала, не превосходящего дисперсионной области интерферометра. В простейшем случае может быть применен фильтр, но чаще интерферометр скрещивают с призменным или дифракционным (см. 6.6) спектральным прибором. Можно, например, спроецировать интерференционные кольца на плоскость щели спектрографа так, чтобы центр картины совпал с серединой щели. Когда исследуемый спектр состоит из отдельных линий, изображения щели в свете этих линий, получающиеся в соответствующих местах фокальной плоскости спектрографа, оказываются пересеченными поперечными дугами, представляющими участки колец (рис. 5.31). Таким образом можно изучать структуру спектральных линий, состоящих из нескольких близко расположенных компонент, так как каждая из компонент образует свою систему интерференционных колец. Измеряя на спектрограмме, какую долю от расстояния ДЯ. между дугами колец соседних порядков составляет расстояние между дугами расщепившихся колец, можно определить спектральные интервалы между компонентами линии, структура которой не разрешается спектрографом. Измерения обычно производят на втором или третьем от центра кольце, где дисперсия еще достаточно велика, но изменяется не столь быстро, как в центре интерференционной картины. [c.263]

Решение, При смещении источника из положения S в положение S (рис. 122) действие бипризмы САВ сведется к действию ее части DEB и плоско-параллельной пластинки AED. Суммируя смещения, вызываемые этими частями F отдельности, найдем, что центр интерференционной картины из прежнего поло-х ния О сместится вверх на расстояние х = hbla. [c.204]

Из соображений симметрии следует, что интерференционная картина представляет собой совокупность параллельных полос, отстоящих на соответствующих расстояниях от центра экрана, определяемых выражением (4.21). В центре экрана находится главный (нулевой) максимум. Вверх и вниз от него на равных расстояниях друг от друга располагаются максимумы (и минимумы) первого, второго порядков и т. д. Интерференционные полосы располо-же 1Ы под прямым углом к линии SiSa- [c.75]

Как мы уже знаем, в интерференционной картине положения максимумов и минимумов относительно центра экрана определяются формулой (4.21). Распределение ннгеиснвиости для данной длины [c.76]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...