Система двухзеркальная

Такую пару резонаторов составляют, например, симметричный концентрический и плоский двухзеркальные резонаторы с одинаковыми размерами зеркал и расстояниями между ними. Правда, если зеркала не обладают осевой симметрией, одно из зеркал эквивалентного резонатора должно быть развернуто вокруг оси относительно аналогичного зеркала исходного резонатора на 180° (иначе при повороте системы координат не совпадут площади интегрирования). [c.79]

Таким образом, мы научились сводить любые интересующие нас резонаторы к резонаторам с положительным iV и с заранее выбранным знаком Gi или G2. Что же касается резонаторов с положительным 7V (а, следовательно, и то они всегда могут быть приведены к наиболее подробно рассмотренным в литературе двухзеркальным. Для этого необязательно было даже вводить безразмерные координаты прямо из (2.8) вытекает следующий простейший рецепт достаточно, сохранив размеры зеркал, установить их на расстоянии L = В друг от друга и придать им радиусы кривизны Ri = LI(I - А) и R2 = LI 1 - D). Кстати, воспользовавшись тем смыслом, который здесь приобрел элемент лучевой матрицы В, можно переписать условие устойчивости в следующей примечательной форме перейдя от неравенства О < AD < 1 к эквивалентному неравенству -1 < ВС < О, или 1/ВС < -1, и подставив сюда В = L и С = -1/F (см. 1.1 F — фокусное расстояние оптической системы, заключенной между плоскими зеркалами эквивалентного резонатора на рис. 2.5), получим F > L. При такой записи связь критерия устойчивости со свойствами резонатора как оптической системы выглядит особенно наглядно. [c.79]

Аналогичный генератор на основе ФРК может быть построен также по схеме двухзеркального (линейного) резонатора Фабри — Перо (рис. 6.7, а). В отличие от рассмотренного выше кольцевого резонатора в этой схеме через образец ФРК проходит также и встречная сигнальная волна Sa, являющаяся комплексно-сопряженной репликой прямой волны Si. В результате ее дифракции на голограмме, записываемой световыми пучками Ri и Si, порождается четвертая волна R2, которая в свою очередь вместе с волной также начинает участвовать в процессе формирования указанной голограммы. Естественно, что подробный количественный анализ подобного оптического генератора должен базироваться на основе рассмотрения нелинейной системы уравнений, описывающих процесс четырехволнового взаимодействия [6.45—6.47]. [c.121]

Избежать это можно, либо направляя пучки под некоторым углом к зеркалу, что ухудшает качество фокусировки [14], либо применяя двухзеркальные системы [15], что тоже влечет за собой рост потерь и усложнение установки. К этому следует еще добавить, что применение пассивного концентратора предусматривает наличие плоского излучателя. [c.166]

Для осуществления первого способа необходимо иметь слой диэлектрика, поверхности которого обладают высоким коэффициентом отражения. В этом случае интенсивность лучей, испытавших два, три и больше число отражений, будет медленно спадать. Впервые такого типа многолучевая двухзеркальная система была предложена учеными Фабри и Перо в 1897 г. для спектроскопических исследований. В настоящее время ее чаще называют интерферометром Фабри—Перо, который не только не утратил своего значения, но и получил весьма широкое применение для различных целей физического эксперимента. [c.135]

Проведем анализ выражения (3.4.15), которое получило название формулы Эйри. Изменение разности фаз может происхо-дить либо за счет изменения угла падения лучей на интерферометр г (или угла г), либо за счет изменения оптической толщины слоя диэлектрика nt. На рис. 3.4.4 показано распределение относительного пропускания двухзеркальной системы как функции разности фаз б при различных значениях параметра кТа. Из рисунка следует, что характер распределения относи- [c.138]

Рис. 3.4,4. Распределение интенсивности двухзеркальной системы при различных RT

Интерферометр Фабри—Перо (ИФП) как спектральная система. В гл. 3 были уже рассмотрены количественные характеристики многолучевого двухзеркального интерферометра. В конце сороковых годов нашего столетия такой интерферометр был использован в качестве монохроматора для тонкого спектроскопического эксперимента. Полосы равного наклона, получаемые в фокальной плоскости объектива, расположенного после ИФП, совмещались с металлической маской (диафрагмой). Маска имела узкие кольцевые прорезы, положения которых точно совпадали с положениями интерференционных максимумов различных порядков. Также можно было бы иметь в маске только одно круглое отверстие, совпадающее с центральным максимумом. Если ширина кольцевой или диаметр круглой диафрагмы таковы, что будут выделять определенную долю интерференционного максимума, то на выходе такого устройства получим излучение, имеющее весьма узкий спектральный интервал в соответствии с характеристиками по [c.457]

Явление многолучевой интерференции связано с интерференцией бесконечно большого числа когерентных лучей. Для осуш ествления такого типа интерференции необходимо обеспечить многократное отражение лучей. Это можно сделать, например, покрыв плоскопараллельную (или клиновидную) пластину тонкой пленкой, обла-даюш ей высоким коэффициентом отражения. В этом случае интенсивность лучей, испытавших два, три и большее число отражений, будет медленно спадать. Впервые такого типа многолучевая двухзеркальная система была предложена учеными Фабри и Перо в 1897 г. [c.66]

Пропускание такой системы в максимуме б ах по сравнению с двухзеркальной [см. (7.14)] при наличии поглощения будет значительно меньшим. Однако контраст картины заметно улучшится. По аналогии с (7.16) контраст картины в этом случае будет равен [c.72]

Сравнительное распределение пропускания в трехзеркальной 1 и двухзеркальной 2 системах [c.74]

Анализ выражения (8.11) показывает, что контур интерференционной полосы в трехзеркальной системе более узкий, чем в двухзеркальной. Фон в (1 — раз меньше, чем в двухзеркальной системе. На рис. 8.4 графически представлена зависимость 0 = / (б) для рассматриваемого случая трехзеркальной системы (кривая 1) [c.74]

Под простой интерференционной системой подразумеваем двухзеркальную сис тему. 74 [c.74]

Формулу пропускания для рассматриваемой системы при образовании полос наложения можно получить так же, как это было выполнено в 8 для двухзеркальной системы. Для этого необходимо проследить ход каждого луча при многократных отражениях в промежутках ММ и ММ. В результате можно выделить группы, в которых будут объединены лучи, прошедшие приблизительно равные оптические пути. Лучи в этих группах складывают по амплитуде с учетом разности фаз между ними. Некоторые из этих групп показаны на рис. 9.4. Вследствие недостаточной монохроматичности используемого источника света интерференционное взаимодействие [c.77]

Следует отметить, что разность фаз б в (9.13) может быть равна нулю, если dl = d . Очевидно, в этой системе в отличие от многолучевой двухзеркальной системы существуют условия для наблюдения полосы нулевого порядка. [c.79]

Особенно примечательным является то обстоятельство, что используя схему для наблюдения многолучевой картины можно получить интерференцию низких порядков. Это невозможно осуществить в двухзеркальной системе при многолучевой интерференции. С помощью интерферометра последовательного типа можно исследовать [c.103]

Использование в этом случае вместо средней пластины системы из двух пластин исправляет положение. Эта двухзеркальная система будет представлять собой тонкий эталон Фабри—Перо, каждая пластинка которого обладает сравнительно небольшим коэффициентом [c.141]

Для многолучевой интерференционной картины соотношение принимает иной вид. Обратимся к выражению (17.1), справедливому для распределения интенсивности в многолучевой интерференционной картине для двухзеркальной системы, и продифференцируем его по 6. Это дает [c.150]

Двухзеркальные умножители обеспечивают двойное и многократное отражение от подвижного зеркала. Чувствительность в системе соответственно увеличивается [c.28]

Состав оборудования станции приема информации с ИСЗ Landsat/ Spot показан на рис.2.9. Диаметр основного рефлектора двухзеркальной антенной системы составляет 10 м, фокусное расстояние 3.81 м, вес рефлектора 2210 кг. Непрерывное сопровождение низкоорбитальных ИСЗ ДЗЗ обеспечивается при условии, что трасса спутника проходит на расстоянии не менее 15 км от точки размещения станции. Максимальная скорость углового перемеш,ения приемной антенны составляет при этом 26 град/с и 5 град/с по азимуту и углу места соответственно, а ускорение достигает 10 град/с по обеим угловым координатам. [c.76]

Рассмотрим сначала простейшую систему двух зеркал. Для уменьшения числа параметров, от которых зависит конструкция этой системы, предположим, что ее фокус совпадает с вершиной зеркала MiMi (рис. IV.3). Этр предположение для большинства двухзеркальных систем близко к истине. Тогда конструкция двухзеркальиой системы зависит только от одного параметра — расстояния d между вершинами двух зеркал. Фокусное расстояние всей системы примем за 1. Величину d будем менять от О до 0,8. Напишем выражения для меридиональной и сагиттальной составляющих аберрации [c.326]

Рассмотрим сначала возможности исправления двухзеркальных систем при одной асферической поверхности. Из двух отражающих поверхностей в рассматриваемых системах наиболее выгодна для введения асферики первая, так как высота точки пересечения с нею первого вспомогательного луча больше, чем со второй поверхностью, и поэтому она больше влияет на сферическую аберрацию, чем вторая поверхность. [c.329]

Возможности двухзеркальных систем, даже состоящих из двух иесфернческих поверхностей, ограничены с их помощью можно исправить только две аберрации астигматизм и дисторсия не могут быть полностью неправлены, а в очень коротких системах (d около 0,1—0,2 фокусного расстояния) кривизна изображения также очеиь велика. Естественны попытки усовершенствования этих систем с помощью компенсаторов. [c.334]

Можно считать исчерпанным исследование одно- и двухзеркальных систем с афокальными компенсаторами. Более сложные системы такого типа на практике не встречаются, да и нет в них надобиостн, так как в рассмотренных здесь системах исправлены все аберрации 3-го порядка и качество изображения весьма Удовлетворительное. Однако системы, содержащие афокальные компенсаторы в параллельном пучке, не могут быть применены в объективах, диаметр которых превышает 50 —70 см, из-за трудностей, связанных с получением заготовок стекла больших размеров достаточно однородных. Кроме того, масса этих компенсаторов очень велика, что ставит пределы их применению во многих случаях. [c.351]

Шварцшильд разработал удобный метод расчета двухзеркальных апланатнческих систем, изложенный в [4, гл. IXJ. Однако этот метод пригоден только для объективов, работающих в области, не очень далекой от параксиальной. Выполнение процесса вычисления координат профиля зеркал начинается с параксиальных величин радиусов кривизны зеркал на оси системы и расстояния d между иими. Расчет рентгеновского телескопа производится по другой методике исходными данными являются координаты некоторого луча, образующего с нормалями к некото- -рым выбранным из конструктивных соображений элементам поверхностей углы меньше заданного значения е. Другими словами, расчет начинается не с нулевой апертуры, а наоборот, с крайней, как это будет показано ниже. [c.385]

Проведенные Ю. И. Цнглером исследования приводят к выводу, что двухзеркальные апланатические системы позволяют получить хорошее качество изображения в углах поля, достигающих 30—45 (видимый диаметр Солнца), обеспечивая при этом достаточно малые углы скольжения г (порядка 2—3°).. [c.393]

Многослойники, создаваемые для использования в оптике, должны иметь высокое оптическое качество. Это означает, например, что поверхности зеркал не вносят вариаций интенсивности в отраженный пучок либо, в других случаях, что параллельный пучок после прохождения оптической системы остается параллельным. Среди таких применений следует назвать двухзеркальные монохроматоры, рентгеновские микроскопы и телескопы, рентгеновский микроанализ, зеркала для управления пучками синхротронного излучения, а также любые применения, где требуется фокусировка. [c.446]

Дальнейшим значительным шагом вперед явились уже цитированные на-мкв 1.1 работы [152, 178, 179], в которых были разработаны обпще методы анализа сложных устройств, состоящих из произвольного числа оптических элементов с плоскими и сферическими поверхностями. В результате оказалось возможным свести многие сложные резонаторы к эквивалентным двухзеркальным системам с такими же распределениями полей собственных колебаний на зеркалах и теми же потерями ( 2.2). [c.62]

Сообщим еще некоторые полезные сведения о резонаторах данного класса. Сравнение (2.14) с (2.12) показьюает, что полный обход резонатора с заведомо перекрьшающим пучки одним из зеркал равноценен проходу в одном из направлений по симметричному резонатору с Gj = = G2 = G и тем же численным значением N (правда, вычисляемым при этом, как мы видели, по несколько иной формуле). Чтобы построить такой резонатор из двух зеркал поперечного размера й2 - 2l именно к симметричным двухзеркальным системам относятся большинство имеющихся в литературе конкретных данных - следует установить эти зеркала на расстоянии L = аЦ (NX) друг от друга, придав им радиусы кривиз-HbiRi =R2 =L/(l -G). [c.80]

Рассмотрим простейший двухзеркальный резонатор, образованный двумя обращенными друг к другу идеально съюстированными и безаберрационными отражающими поверхностями (рис. 2.1). Такой линейный однополостной резонатор играет фундаментальную роль в теории по двум причинам. Во-первых, большой класс реальных устройств можно рассматривать приближенно как идеальный пустой двухзеркальный резонатор. Во-вторых, анализ многих более сложных оптических резонаторных систем может быть сведен к анализу системы идеальных или возмущенных двухзеркальных резонаторов. [c.24]

При исследовании идеального двухзеркального резонатора его считают центрированной оптической системой. Оптической осью резонатора называют общую нормаль к обеим отражающим поверхностям, т. е. линию, проходящую через центры кривизны этих поверхностей. В съюстированном состоянии резонатора его оптическая ось совпадает с осями симметрии отражающих элементов. [c.25]

К числу интерферометров, ра-ботаюш их на принципе многолучевой интерференции, можно отнести интерференционные светофильтры, клиновые многолучевые интерферометры, резонаторы лазеров. Рассмотрим принцип работы двухзеркальной системы с промежуточным диэлектрическим слоем толш иной (рис. 7.1). Пусть на двухзеркальную систему падает плоский фронт волны. Световая волна, попадая на первое полупрозрачное покрытие, расш епляется на отраженную и проходяш ую, которая бесконечное число раз проходит через диэлектрик. Интерес представляет интерференционная картина, получаемая в, проходяш ем свете. Благодаря высокому энергетическому коэффициенту отражения полупрозрачных слоев А 0,8- -0,9) при каждом последовательном отражении происходит незначительное снижение интенсивности пучка. Таким образом, как в проходяш ем, так и в отраженном свете получается система параллельных когерентных лучей. [c.66]

Четырехзеркальная интерференционная система. Представим себе, что две двухзеркальные системы установлены последовательно друг за другом (рис. 8.1). Допустим, что в промежутках между ММ и ЫЫ отсутствует интерференционное взаимодействие, т. е. не может наблюдаться интерференция в промежутке М Ы. Это значит, что лучи ао, а , аз,. .., прошедшие первую систему, не возвращаются в нее вновь. В этом случае общее пропускание системы будет определяться произведением пропусканий каждой из систем в отдельности. Используя (7.12), получим [c.70]

Тем не менее уменьшение пропускания четырехзеркальной системы по сравнению с двухзеркальной ограничивает ее применение. Третий случай. Рассмотрим такое соотношение длин воздушных [c.72]

В этом случае наблюдаются кольца равного наклона, подобные тем, что можно видеть в многолучевой двухзеркальной системе, оптическая толщина которой d di — ( 2, а коэффициент отражения каждого зеркала равен RiR2- [c.79]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...