Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Покрытия интерференционные

Если выделить одно из изображений, то поверхность второй решетки будет видна покрытой интерференционными полосами. Структура и число наблюдаемых полос зависят от номера выбранной группы, от взаимного наклона решеток относительно друг друга и от соотношения постоянных решеток. Если решетки параллельны друг другу, а постоянные й равны, то вторая решетка будем равномерно освещена. Интенсивность освещения зависит от амплитуды и фазы результирующей волны, распространяющейся в направлении к-Ъ. группы, которые в свою очередь зависят от амплитуд и фаз составляющих ее компонентов.  [c.144]


Рис. 34 схематически иллюстрирует влияние интерференционной пленки и условия, которым она должна удовлетворять. Поверхность металлографического образца, покрытая интерференционной пленкой, освещается монохроматическим световым пучком длиной волны к. Волны, отраженные от верхней и нижней поверхностей пленки, интерферируют, образуя пучок Я. Часть первичных волн, падающих на образец под углом ф,  [c.45]

В своем исходном положении, то трехмерное изображение накладывается точно на объект и при наблюдении сквозь голо- грамму объект и изображение будут казаться единым целым. Предположим теперь, что объект слегка сдвигается или несколько деформируется. В случае, изображенном на фиг. 6.1, это может быть сделано путем зажатия одного из кулачков патрона. Тогда наблюдатель увидит изображение, аналогичное показанному на фиг. 6.4. Поверхность объекта оказывается покрытой интерференционными полосами, количество и расположение которых зависят от того, насколько сильно объект деформирован. Оптически наблюдаемый эффект аналогичен эффекту в обычном интерферометре, используемом для контроля линз и зеркал только здесь интерференция происходит на поверхностях, которые никоим образом не являются оптически плоскими. В рассматриваемом случае явление интерференции не зависит от степени шероховатости поверхности, поскольку в голографической интерферометрии осуществляется эффективное вычитание точной формы поверхности из самой себя таким образом, остается только эффект изменения положения или формы объекта. Этот эффект можно рассматривать как определенный вид дифференциальной интерферометрии.  [c.184]

Резкость интерференционной картины будет тем значительнее, чем больше коэффициент отражения от металлического слоя (рис. 7.6). Значение = 0,04 соответствует поверхности стекла, не покрытой металлом. При современных способах металлического покрытия коэффициент отражения удается довести до / = 0,90 —  [c.139]

Если смотреть на поверхность зеркала, покрытого мелкой пылью, то отчетливо видны интерференционные кольца в результата интерференции между лучами, рассеянными пылинкой, и ее отражением в зеркале. Каким образом возникает необходимая незначительная разность хода, несмотря на большую толщину  [c.873]

При иммерсионном методе объект помещают в кювету с жидкостью или газом с показателем преломления /tj и делают первую, экспозицию голограммы. Затем кювету наполняют другим, веществом с показателем преломления Па и второй раз экспонируют голограмму. При восстановлении изображения. поверхность объекта будет покрыта сеткой интерференционных полос расстояние между которыми  [c.79]


Более яркой получается картина полос при освещении модели белым светом. Из формул (IV, 26) и (IV, 27) видно, что положение темных и светлых интерференционных полос ненулевого порядка зависит от Я. Поэтому при освещении модели белым светом отдельные составляющие его спектра, для которых 6 = тХ, гасятся, а прочие в той или иной мере пропускаются. Вследствие этого поверхность модели оказывается покрытой совокупностью цветных полос, чередующихся в строго определенном порядке.  [c.240]

В технической литературе и некоторых РТМ упоминаются следующие оптические методы, пригодные для контроля толщины покрытий 1) поляризационный метод 2) метод определения толщины по цвету окраски покрытия 3) интерференционный метод 4) метод светового сечения 5) метод теневого сечения.  [c.86]

Измерение тонких покрытий, имеющих толщину менее 2 мкм, т. е. когда метод должен быть чрезвычайно чувствительным, может осуществляться при помощи интерференционных приборов. Для этого пригоден выпускаемый нашей промышленностью серийно двухлучевой микроинтерферометр МИИ-4 (рис. 78).  [c.88]

Кроме того, высоту уступа или глубину риски можно определить путем наводки на резкость интерференционных полос. Измерения выполняются с белым источником излучения. При этом нить перекрестия окуляра сначала совмещается с черной полосой, полученной с поверхности покрытия (рис. 80, а), а затем —с поверхности подложки или дна риски (рис. 80, б). Толщина покрытия определяется как  [c.89]

Интерференционные и дифракционные покрытия находят применение в различных видах фильтров, функциональной и компьютерной оптике, рентгеновских зеркалах и других оптических элементах.  [c.488]

НО не входят в элементарные учебники по оптике, но которые составили бы весьма полезный фундамент для данной главы. Таким образом, в разд. 4.2.1 мы дадим введение в матричную формулировку геометрической оптики в рамках приближения параксиальных лучей. В разд. 4.2.2 и 4.2.3 рассмотрим многочисленные интерференционные явления, которые имеют место соответственно в интерферометре Фабри — Перо и многослойном диэлектрическом покрытии.  [c.165]

Выражение (3.3) показывает, что в случае нормального падения (ф = 0) рентгеновское многослойное зеркало должно состоять из пленок вещества толщиной в единицы или даже в десятые доли нанометров, что сравнимо с толщиной атомного монослоя. В этом смысле рентгеновские зеркала занимают промежуточное положение между интерференционными покрытиями видимого диапазона и кристаллами для жесткого рентгеновского излучения.  [c.76]

В последнее время наряду с системами скользящего падения в рентгеновской области спектра начинают широко применять зеркальные системы нормального падения с многослойным интерференционным покрытием. Их преимуществами являются меньшие аберрации, что характерно для нормального падения, и возможность достижения большей точности изготовления на существующем оборудовании. Однако зеркала с многослойным по-  [c.158]

В плоскость препарата 4. При освещении препарата сверху апертурной диафрагмой служит диафрагма 5, а полевой — диафрагма 6. В этом случае для освещения используется светоделительная пластинка 7. На пластинку нанесено интерференционное покрытие, которое почти полностью отражает лучи с длинами волн 360—440 ммк и почти полностью пропускает лучи с длинами волн 440—700 ммк. Таким образом осуществляется предварительное разделение света люминесценции и возбуждающего света. При  [c.67]

И. Дюфур Ш. Исследование интерференционных систем со сложным покрытием.— В кн. Спектроскопия высокой разрешающей силы. М. Изд-во иностр. лит., 1955, с. 354—431.  [c.172]

Высокоотражающие интерференционные покрытия (интерференционные зеркала). Наряду с необходимостью уменьшать коэффициент отражения на практике часто приходится решать противоположную задачу — получать высокоотражающие поверхности. При решении также и этой задачи па помош,ь приходит явление интерференции. Легко убедиться, что если в системе, изображенной на рис. 5.14, показатель преломления диэлектрического слоя взять больше показателя преломления стекла п > п ), то произойдет увеличение коэффициента отражения. Вследспзие того, что потеря полуволны будет происходить теперь только на пиеш-ней поверхности пленки, оптическая разность хода между отраженными когерентными волнами I и 2 будет равна Л/4 + Х/4 + к/2 = = X, что соответствует разности фаз, равной 2я. Таким образом,  [c.108]


В данной области применения наноструктурных покрытий можно вьщелить следующие основные группы многослойных пленок энергосберегающие (поглощающие тепло) покрытия теплоотражающие покрытия интерференционные и дифракционные тонкопленочные системы светопропускающие и радиационностойкие покрытия защитные покрытия с высокими механическими свойствами.  [c.488]

Описанная выше техника представляет собой живой метод измерения малых изменений формы объекта, испытывающего некоторое механическое или другое воздействие, и обеспечивает непрерывное наблюдение этих изменений. Другая методика, которая может рассматриваться как дополнительная и позволяет регистрировать только изменение формы, происходящее за фиксированный промежуток времени, заключается в получении дважды экспонированной голограммы. Если иллюстрировать эту методику на примере токарного патрона, то одна экспозиция (в половину нормальной длительности) делается перед за жатием кулачка, а вторая (такой же длительности) после деформации. После обработки голограммы восстановленное изображение оказывается покрытым интерференционными полосами, аналогичными полосам, получаемым в эксперименте с живой интерферограммой. Они часто называются замороженными полосами, поскольку информация об изменении формы, имеющем место в промежутке времени между экспозициями, оказывается зарегистрированной на голограмме в неизменном виде. Прежде чем рассмотреть некоторые метрологические задачи, для решения которых может быть успешно применена голографическая интерферометрия, необходимо кратко остановиться на принципе интерпретации интерферограмм, поскольку этим определяется область применения и ограничения метода. Обращаясь к фиг. 6.5, которая представляет собой сечение некоторой области типичной шероховатой поверхности, предположим, что  [c.185]

Продолжительность экспозиции фотопластинки определяется ее чувствительностью и мощностью лазера. Облучением фотографической пластинки процесс регистрации заканчивается. Записанное на ее поверхности изображение и есть голограмма. Она представляет собой.чрезвычайно сложную картину, состоящую из множества тонких причудливых линий, в которых невозможно усмотреть никакого сходства с реальным предметом. При дневном свете она покажется однородно серой обнаружить хоть малей-щие намеки на изображение, закодированное в ее структуре, не представляется возможным. С первого взгляда голограмму можно принять за обычный, покрытый вуалью фотонегатив. Более пристальное изучение голограммы под микроскопом открывает нашему взору запутанную картину изогнутых темных линий — интерференционных по лос.  [c.19]

Контроль остаточных напряжений в однослойном покрытии. Рассмотрим метод определения остаточных напряжений на примере оптической схемы получения голограмм сфокусированных изображений. Фотообъектив, помещенный между фотопластинкой и образцом, фокусирует изображение поверхности объекта на плоскость фотопластинки. Причем их плоск(К1и должны быть параллельны. В этом случае достигается наибольшая чувствительность к нормальной компоненте вектора перемещения (т. е. к прогибу образца /) Существенным преимуществом голограмм сфокусированных изображений является возможность получения увеличенного изображения объекта, а следовательно и ббльщего оптического разрещения интерференционных полос. Кроме того, при восстановлении интерферограмм можно пользоваться источником естественного света.  [c.116]

В целях предохранения диффузной поверхности подложки от попадания травящего раствора (иначе нарушится принцип интерференции сходственных точек, что приводит к ухудшению или полному исчезновению интерференционной картины) используют специальные покрытия, например парафин, или же устройство, позоляющее плавно опускать образцы, находящиеся в горизонтальном положении, до соприкосновения с поверхностью травящего раствора.  [c.117]

В этом методе необходимо проводить дополнительные измерения толщины снимаемого слоя Л. Их проводят с помощью интерференционного микроскопа МИИ-4 для непрозрачных покрытий и методом злипсометрии для прозрачных покрытий.  [c.118]

Принцип голографической интерферометрии состоит в следующем. После экспонирования и фотообработки голограмму устанавливают на прежнее место, освещают лазерным пучком и. наблюдают сквозь нее объект, также оставшийся на прежнем месте, но получивший какие-либо деформации механические, тепловые и т. д. причем оператор увидит объект, покрытый сетью интерференционных полос. Интерференционная картина в данном случае возникает в результате интерференции двух фронтов световых волн отраженного от объекта в момент наблюдения и восстановленного с голограммы предметного пучка. Интерференционные полосы являются геометрическим местом точек равных перемещений, полученных объектом. Часто метод голографической интерферометрии реализуется другим способом. Об состоит в том, что на одну и ту же пластинку двумя экспозициями Босле-довательно записываются голограммы от объекта, находящегося в исходном в деформированном состоянии. При этом суммарная экспозиция должна находиться в пределах линейного участка характеристической кривой фотоэмульсии.  [c.78]

МОЩЬЮ фотоулругих ИЛИ медных покрытий в) нанесением муаровой решетки или меток г) с помощью травящих реактивов д) с помощью узконаправленного пучка рентгеновских лучей е) интерференционным методом ж) с помощью косых лучей з) с помощью микроскопа и) голографическим весьма точным методом определения деформации. Если интерференционный метод объединить с непосредственным наблюдением деформации с помощью микроскопа, что осуществляется в микроинтерферометре, значительно увеличивается точность получаемых результатов по сравнению с методом косых лучей.  [c.40]

Иитерферометрический метод. В этом оптическом методе применен луч монохроматического света, который направлен на границу между покрытием и основным слоем точно таким же образом, как в микроскопическом методе исследования с помощью светового потока. Но вместо измерения отношения отраженного луча микроскоп используется для установления количества интерференционных колец, создаваемых при рассеивании света под действием уступа на границе покрытия. Число колец, умноженное на половину длины волны использованного светового луча, составляет толщину покрытия.  [c.140]


Во-первых, многие продукты коррозии и защитные покрытия на их основе — это фактически минералы как по составу, так и по названию. Нередко они имеют характерную окраску, самопроизвольную или полученную специально. Металл, помимо собственного цвета, может нести интерференционные цвета побежалости. При точной передаче вся эта гамма цветов и их изменений может служить существенным классификационным прганаком типа и степени продвижения коррозионного процесса.  [c.7]

Абсорбционные О. ф. (окрашенные стёкла, пластмассы, плёнки, поглощающие растворы и т. и.) изготовляются из компонент, полосы селективного поглощения к-рых, накладываясь, перекрывают достаточно широкий спектральный диапазон, оставляя свободным нек-рый заданный участок спектра, к-рый и образует полосу пропускания данного О. ф. Величина для таких фильтров обычно не превышает 10. В интерференционных фильтрах используется интерференция волн, отражённых от двух или более параллельных друг другу поверхностей, в результате чего коэф. пропускания такого О. ф. периодически зависит от длины волны падающего на него излучения. При использовании многослойных диэлектрич. покрытий в качестве отражающих поверхностей оказывается возможным получать О. ф. с шириной полосы менее 1 нм при прозрачности в максимуме до 80%. Действие поляризационных фильтров основано на интерференции поляризованных лучей. Простейший поляризац. фильтр Вуда состоит из двух параллельных поляризаторов и установленной между ними двулучепреломляющей кристаллич. пластинки. При использовапии комбинации таких фильтров (т. и. фильтр Лио) возможно получение весьма узких полос прозрачности (до 10 нм, к Ь к 10 ). В дисперсионных О. ф. используется зависимость показателя преломления от длины волны. Типичные величи-  [c.459]

При сравнении метра с длиной световой волны красной линии кадмия в Международном бюро мер и весов (МБМВ) Фабри и Перо предложили интерферометр, представляющий собой два зеркала, покрытые светоделительными слоями и установленные строго параллельно друг другу на определенном расстоянии, т. е., по существу, воздушную плоскопараллельную пластинку . Эта воздушная плоскопараллельная пластинка названа была ими интерференционным эталоном и известна в курсе физики как интерференционный эталон Фабри и Перо . Это название, конечно, не связано с понятием эталона в метрологическом смысле, оно лишь означает неизменность расстояния между зеркалами.  [c.31]

Поверхности высокоотражающих лазерных зеркал или делителей пучка обычно изготавливают методом нанесения многослойного диэлектрического покрытия на плоскую или сферическую оптическую поверхность материала подложки, например стекла. Тот же прием может быть использован и для того, чтобы сильно ослабить отражение от поверхности оптических элементов (просветляющее покрытие) или изготовить другие оптические элементы, такие, как интерференционные фильтры или поляризаторы. Покрытие обычно наносится в вакуумной камере  [c.179]

Для сравнения на рис. 3.23 показаны значения коэффициентов преобразования V для параболоидов скользящего падения,которые оказываются больше, чем у МИС с постоянным периодом. Тем не менее параболоид с интерференционным покрытием имеет существенное преимущество — гораздо меньщие размеры. Расчеты показывают, что характерные значения углов падения составляют для многослойных параболоидов с постоянным периодом ф 10- -20°.  [c.116]

Простота реализации, отсутствие необходимости покрытия поверхностей и чувствительность метода к высоте шероховатости до единиц ангстрем делают дифференциальный интерференционный контрастный микроскоп очень удобным инструментом для контроля качества сверхгладких поверхностей в процессе их изготовления. В работе [18] этот микроскоп был использован для визуального контроля поверхности специальных лазерных зеркал перед нанесением на них многослойного покрытия. При этом авторы пользовались очень простым критерием если на поверхности в дифференциальном интерференционном контрастном микроскопе не было видно сколько-нибудь значительной топографической структуры, то эта поверхность считалась пригодной для нанесения покрытия. Такой визуальный критерий, как впоследствии показали измерения по методу T1S, был эквивалентен отбору поверхностей с параметром а 0,5 нм.  [c.236]

Источник света проектируется в выходной зрачок объектива, а полевая диафрагма осветителя — в плоскость препарата. Светоделительная пластинка 6 покрыта специальным интерференционным покрытием, которое преимущественно отражает лучи с длинами волн от 365 до 440 ммк и пропускает лучи с длинами волн от 440 до 700 ммк. Такое покрытие частично отделяет свет люминесценции от возбуждающего света, полное же их разделение производится с помощью светофильтров. Набор прикладываемых к устройству светофильтров 4 позволяет выделить для возбуждения люминесценции сине-фиолетовую или ультрафиолетовую (с длиной волны до 365 ммк) области спектра. Для отделения света люминесцен-  [c.172]


Смотреть страницы где упоминается термин Покрытия интерференционные : [c.60]    [c.369]    [c.134]    [c.367]    [c.348]    [c.83]    [c.425]    [c.426]    [c.426]    [c.62]    [c.62]    [c.130]    [c.233]    [c.71]    [c.72]    [c.522]    [c.230]   
Температуроустойчивые неорганические покрытия (1976) -- [ c.0 ]



ПОИСК



Покрытия спектрально-селективные интерференционные



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте