Пленки измерение толщины

Толщина пленки. Если продукты коррозии представляют хорошо пристающую к металлу пленку, измерение толщины [c.796]

ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ЖИДКИХ ПЛЕНОК [c.252]

В исследовательской практике при изучении гидродинамики пленочных течений и процессов тепло- и массопереноса, происходящих в них, а также в промышленности при контроле и управлении работой пленочных аппаратов возникает необходимость в измерении толщины жидкостных пленок. Так как пленочное течение в общем случае может характеризоваться наличием волн на поверхности пленки и неравномерным распределением жидкости по периметру слоя, то различают локальную б и среднюю б толщину пленки. Средняя толщина пленки служит для интегральной оценки течения. Локальные значения толщины пленки позволяют оценить структуру течения и тепломассообменные процессы, происходящие в конкретных условиях. Измерение толщины пленки может быть произведено различными методами. [c.252]

Метод касания основан на непосредственном измерении толщины пленки с помощью зонда. Установив острие зонда на поверхность стенки, на координатной шкале прибора фиксируют нулевую отметку. Перемещая зонд к поверхности пленки со стороны газовой среды, фиксируют момент касания и определяют по шкале прибора толщину пленки. Момент соприкосновения острия зонда с поверхностями стенки и пленки определяется электрическим способом по падению напряжения в цепи зонд — пленка — стенка или изменению сопротивления в момент контакта. Применение усилителей в сочетании с малоинерционными регистрирующими приборами (шлейфовые и электронные осциллографы) позволяет методом касания определять не только локальную толщину пленки, но и некоторые волновые характеристики течения. Основные недостатки метода касания связаны с возмущениями, вносимыми зондом в исследуемую среду, и трудоемкостью получения информации о состоянии обширной поверхности пленочного течения. [c.252]

Рис. 12.8. Измерение толщины пленки радиационным методом

При измерении толщины пленки, движущейся по внутренней поверхности трубопровода, сквозное просвечивание всего канала может быть рекомендовано только в том случае, если газовый поток не содержит влаги или содержание ее известно. При выполнении этого условия толщина пленки легко определяется из уравнения (12.24) по измеренному в опытах ослаблению излучения. Метод ослабления, когда источник излучения и детектор расположены по разные стороны канала, удобен тем, что не вносит возмущений ни в пленку жидкости, ни в газовый поток. Применение координатных устройств позволяет легко перемещать источник и детектор по трубопроводу и проводить измерения в любом сечении. Недостатком сквозного просвечивания является то, что с его помощью измеряется суммарная толщина пленки 2 б на стенках трубопровода и на показания прибора существенное влияние оказывает влажность газа. [c.254]

Приборы, приведенные в табл. 8,. предназначены для контроля высококачественных поверхностей и измерения толщины тонких прозрачных пленок в диапазоне 160—320 мкм. Схема измерения методом светового сечения [c.71]

Для электрохимических измерений толщин пленок составляют обычно гальванический элемент (поляризованный элемент) с испытываемым электродом, имеющим поверхностную пленку, и вспомогательным электродом (платиновый электрод). Затем для измерения потенциала электрода с поверхностной пленкой вводят обратимый электрод (насыщенный каломельный электрод) и составляют элемент для измерения потенциала. Таким образом, измерения производят трехэлектродной системой, объединяющей два гальванических элемента. [c.190]

Если при электрохимических измерениях возможны одновременно химический анализ и оптические -измерения, то желательно производить совместные измерения. Это позволяет устранить неясности, которые часто возникают при электрохимических способах измерения толщины поверхностной пленки. [c.191]

Существует два метода измерения толщины оксидной пленки на поверхности металла. [c.192]

Одним из основных вопросов, возникающих при измерении толщины пленки тремя рассмотренными выше методами анодного окисления, является эффективность использования тока на образование пленки. Когда эффективность тока не составляет 100 %, необходимо любым способом определить эту эффективность. В том случае, когда происходит частичное растворение металла или поверхностной пленки, эффективность использования тока менее 100 %. Эту эффективность определяют по количеству выделившихся в раствор ионов металла. [c.194]

В том случае, когда пленка не однослойная, а имеет многослойную структуру, потенциал восстановления каждого слоя различный, поэтому производят измерение толщины каждого слоя в отдельности. [c.196]

Толщину пленки измеряли на профилографе по величине уступа, получающегося в результате экранирования части поверхности подложки во время напыления. Точность измерения составляла 50 А. Эти результаты измерений толщин сопоставляли с измерениями на интерферометре Линника И-10 примерно с той же ошибкой. С удовлетворительной точностью такими способами можно было измерять толщины пленок выше 500 А. Толщины пленок в интервале О—500 А рассчитывали по толщинам более толстых пленок, являющихся стандартом и полученных путем помещения подложки при напылении на более близком расстоянии от источника испарения металла. Предполагалось, что источник испарения точечный, так как испарение происходило из сферической капли диаметром 3—6 мм, а напыляемый образец находился на расстоянии не ближе 50 мм,. и толщина осаждаемых пленок обратно пропорциональна квадрату расстояния от источника. [c.16]

Толщину толстых пленок (более 5000 А) можно определить методами, применяемыми для измерения пленок средней толщины, а также с помощью металлографического микроскопа, микрометром и другими измерительными инструментами. [c.13]

Прибор ИТП-200. Предназначен для измерения толщины немагнитных гальванических покрытий (хром, цинк, кадмий и др.), а также неметаллических пленок (лаки, эмали и пр.) на изделиях, изготовленных из ферромагнитных материалов. [c.59]

На основе проведенных исследований установлены рекомендуемые пределы измерения толщины пленок и покрытий, а также погрешности показаний приборов МИС-11 и ПСС-2 (табл. 11). [c.93]

На рис. 90, а представлен вид поля зрения прибора при измерении толщины пленки последовательным подведением штриха перекрестия окулярного винтового микрометра к верхним краям обоих изображений щели (большой уступ). На рис. 90, б показано поле зрения, когда измерение производится последовательным подведением штриха перекрестия к верхнему и нижнему краям изображения щели (малый уступ). [c.96]

При этом важно отметить, что чем больше при прочих равных условиях (одинаковая продолжительность и интенсивность сдувания и другие условия опыта) крутизна пленки, тем меньше градиент скорости О, а следовательно, согласно формуле Ньютона, тем больше ц. Таким образом, по крутизне пленки, определяемой расстоянием соседних полос интерференции, можно судить о пропорциональной ей вязкости слоев жидкости. Однако существует возможность во много раз повысить точность измерения толщины пленки на разных участках, если применить более тонкие методы исследования отраженного от пленки света. [c.199]

Толщина пленок и листов. Плоские изделия толщиной до 1,0 мм относят к пленкам, толщиной свыше 1,0 мм —к листам. Измерение толщины (ГОСТ 17035—71) производят при 20 2°С и относительной влажности 65+5% стандартными толщиномерами в нескольких местах испытуемого материала. [c.241]

Из рис. 1—3 видно, что толщина пленок различна, поэтому рассмотрим влияние на толщину пленок дистиллята и растворов вышеперечисленных солей природы вещества, его концентрации и нагрузки зеркала испарения. Ввиду отсутствия методики измерения толщины пленок в условиях подлинного кипения любые ее изменения рассматривались по колебаниям толщины следа, оставляемого пленками на смотровом стекле стенда [2]. Каждой толщине пленки соответствует определенной толщины след. Вследствие того что толщина пленки изменяется во времени (рис. 1, 2), критерием для сравнения толщины служил кадр, предшествующий началу разрушения пузыря. Толщина следа от пленки измерялась с помощью отсчетного микроскопа МПБ-2, цена деления которого сопоставлялась с ценой деления на фото, равной 1 мм. [c.187]

ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИН ЖИДКИХ ПЛЕНОК И ХАРАКТЕРИСТИК ДВУХФАЗНОГО ПОГРАНИЧНОГО СЛОЯ [c.61]

Рис. 2.28. Схема прибора для измерения толщины пленки воды емкостным методом (а) и сравнительные характеристики двух типов датчиков (б) (разработаны

Измерение толщин пленок осуществляется электрическими методами с помощью поверхностных датчиков. Электрические методы, основанные на измерении изменений импеданса датчика, разделяются на две группы 1) емкостные 134], с помощью которых производятся измерения малых изменений реактивной составляющей импеданса датчика, обусловленных наличием пленки 2) методы электрической) проводимости, в основе которых лежит измерение активной составляющей сопротивления пленки. Электрические методы выгодно отличаются от других методов измерения тем, что датчик, установленный в стенке канала, не возмущает пленку, а электрическая аппаратура позволяет регистрировать волновые процессы. [c.62]

К сожалению, резистивный метод измерения толщин пленок в отличие от емкостного не позволяет создать защищенную конструкцию датчика с целью пол- [c.64]

В последние годы значительное число исследований было направлено на разработку оптических методов возбуждения и регистрации все более коротких когерентных импульсов деформации [72—801. Во многом это связано с широкими перспективами практического применения этого бесконтактного, дистанционного метода для экспресс-диагностики различных веществ. Возбуждаемые с помощью лазеров акустические импульсы наносекундной длительности эффективно использовались для определения анизотропии модулей упругости [81] и распределения пространственного заряда в диэлектриках [82]. Создание оптических генераторов пикосекундных акустических импульсов открывает возможность измерения поглощения акустических волн гига- и терагерцевого диапазона частот [76—791, изучения упругих свойств [76, 78, 80], распределений дефектов и остаточных напряжений в пленках, измерения толщин тонких пленок [74, 77, 781. Однако у проводимых исследований, несомненно, есть и более фундаментальные цели. С одной стороны, это создание импульсных акустических спектрометров быстрых нестационарных процессов. С другой — исследования распространения когерентных акустических волн в условиях, когда существенно проявляется дискретная структура кристаллов. [c.160]

Кроме расс.мотренных методов испытаний, применяемых при лабораторных исследованиях, в последние годы разработан ряд новых физико-химических методов, к числу которы.х относится применение меченых атомов, оптические методы измерения толщины тонких пленок на металлах, определение структуры окис-ных тенок на металлах и др. Эти методы отличаются большой чувствительностью и пригодны для решения ряда важных теоретических вопросов. [c.351]

Толщина пленки. Первые измерения толщины пленок провели Кикоин и Лазарев [31], Доунт и Мендельсон [135] нутом определения количества гелия, необходимого для покрытия известной площади. Первые авторы использовали цилиндр с большой поверхностью (фпг. 77), который оканчивался двумя тонкими трубками. За одну трубку цилиндр подвешивался сверху, другая погружалась в жидкий гелий. К нижней трубке крепился нагреватель к верхней—термометр До включения нагревателя цилиндр был покрыт гелиевой пленкой и температура верхнего его конца совпадала с температурой ванны. При включении нагревателя пленка испарялась с цилиндра, а затем, когда нагревание прекращалось, часть жидкости из ванны снова покрывала поверхность цилиндра. По наблюдавшемуся [c.855]

Ф И г. 80. Прибор Джексона и Хепшоу для одновременного измерения толщины пленки и скорости переноса. [c.857]

Радиационные методы основаны на взаимодействиии радиоактивного излучения с пленкой жидкости. Чаще всего в качестве таких взаимодействий используют ослабление излучения и изменение коэффициента отражения. Принципиальная схема измерения толщины пленки методом ослабления аналогична схеме измерений концентрации фаз в неоднородном потоке и рассмотрена в 12.3 (см. рис. 12.4). Здесь остановимся только на некоторых особенностях этого метода применительно к определению толщины пленки. [c.254]

Для измерения толщины лакокрасочных покрытий на немагнитных металлах и сплавах (алюминий, свинец, медь и др.) приходится прибегать к мето-дал разрушающего контроля, снятию пленок с подложки. В научных лабораториях применяют более сложный и точный оптический метод с помощью двойного микроскопа МИС-11. [c.117]

ОСН2СНз)з на нержавеющей стали и стекле из разбавленных растворов в 1-хлорнафталине. Результаты [54] определения смачиваемости этих поверхностей показали, что адсорбированная пленка представляет собой ориентированный монослой с хорошо воспроизводимыми свойствами поверхности. Полученная величина 14 дин/см служит доказательством того, что наружный слой адсорбированной пленки обогащен плотноупакованными СРз(Ср2)е-группами. Тем не менее, согласно эллипсометрическим измерениям, осажденная пленка является полимерной и ее толщина приблизительно равна 400 А. Даже после промывания этих пленок очищенным фреоном TF (I I2FG I2F2) оставшаяся адсорбированная пленка имеет толщину приблизительно 230 А. [c.23]

Применение национальных и международных эталонов как эталонов единиц системы не утратило своего значения, так как высокая точность, с которой можно сравнивать между собой разные эталоны одной и той же единицы, оказывается весьма полезной для практики. Дело в том. что относительная погрешность при измерении силы тока с помощью токовых весов, по которым определяется ампер, не меньше 5 Ю . В то же время эталоны электродвижущей силы и сопротивления позволяют производить то же измерение с точностью, па порядок большей. Здесь существенную роль сыграло открытие нового эффекта, теоретически предсказанного английским физиком Б. Джозефсоном в 1962 г.и затем доказанного экспериментально. Сущность эффекта Джозефсона состоит в том, что если. приложить напряжение I к двум сверхпроводникам, Ааежду которыми существует неплотный контакт (например, пленка окисла толщиной около 10" м), то через этот контакт идет сверхпроводящий [c.280]

Прибор ТПО-В. Предназначен для измерения толщины разнообразных покрытий (хромовых, никелевых, медных, цинковых, фосфатно-лаковых, фторопластовых пленок и др.) на металлических изделиях, изготовленных из магнитных и немагнитных сталей и цветных сплавов. [c.61]

Рассчитано по измеренной толщине окисной пленки (15,6 мг дм на 1мкм толщины пленки). [c.250]

Одним из важных и перспективных направлений применения методов эллипсометрии является разработка новых технологических процессов в полупроводниковом и оптическом приборостроении. Высокая чувствительность поляризационно-оптических методов, а также возможность проведения измерений в защитных средах делают эллипсометрию совершенным средством исследования кинетики кристаллизации пленок на различных подложках. Особый интерес для технологии полупроводников эллипсометрия представляет в связи с возможностью исследования процесса эпитаксиального выращивания. Методы эллипсометрии позволяют проводить исследования влияния различных факторов (температуры подложки, качества ее механической обработки и химической чистоты и т. д.) на характер роста пленки, а также на ее толщину и значение показателя преломления. В работах [15, 166] приведены результаты измерения толщины эпитаксиальных слоев с помощью эллипсометров на основе СО 2-лазера и лазера на парах воды. При этом погрешность измерения составляла соответственно 0,01 и 0,1 мкм. [c.208]

Сравнительные характеристики двух типов датчиков показаны на рис, 2.28, б. Они отражают влияние параметра Z)/ f= 1,5- 3,0 и диэлектрического покрытия на центральном электроде. Датчики Д1 Djd=2i) и Д2 (D/d=l,5) с фторопластовым покрытием толщиной 0,8 мм имеют слабый сигнал и узкий интервал линейной зависимости А/(бпл) (бпл=т0,2- -0,4 мм). Открытый датчик ДЗ (DJd=2,5) имеет значительно больший сигнал и линейность характеристики при бпл 0,4 мм.. Влияние проводимости сказывается при дальнейшем увеличении толщины пленки и кривые Д/(бпл) рассеиваются. Рабочий вариант датчика ДЗ в результате доработки показал слабое влияние сквозной проводимости даже в случае открытой конструкции активной зоны, что иллюстрируется его характеристикой Д/(6пл), полученной как на конденсате, так и на водопроводной воде. Кривые Д/(бпл) представляют изменение частоты генератора в зависимости от толщины пленки жидкости, полученные на калибровочном стенде, поэтому возможно построить простые и точные системы измерения толщины пленок, содержащие измерительный генератор и цифровой частотомер. Генератор должен обладать высокой стабильностью частоты, что требует специального выбора схемы и расчета цепей температурной стабилизации частоты. Построение измерительных генераторов на микросхемах и современных радиотехнических индуктивных компонентах позволяет создать миниатюрные конструкции блоков датчик толщины пленки — генератор, а также упростить технологию их установки в исследуемых каналах. [c.63]

Авторы утверждают, что при изменении температуры и химического состава лсидкости сигналы на выходе усилителя будут зависеть только от толщины лленки над соответствующими датчиками. В опытах использовались стержневые датчики в виде двух электродов, расположенных на определенном расстоянии. Как показали исследования резистивных и емкостных датчиков толщины пленки, требование хорошей линейности на нужном диапазоне (1 мм) находится в противоречии с линейными размерами датчиков. Стремление уменьшить датчики приводит к сужению диапазона измерений, и практически как для резистивных, так и для емкостных датчиков расстояние между электродами должно быть примерно равно толщине измеряемой пленки жидкости. Как известно, коаксиальные датчики не нуждаются в ориентировке в зависимости от направления течения. В [117] применялись стержневые датчики, установленные поперек канала. В этом случае, используя сравнительно небольшие по диаметру электроды (0,4—1,2 мм) при умеренных расстояниях между ними (1—4 мм), удалось добиться хорошей локальности измерений толщин пленок. Характеристики подобных стержневых резистивных датчиков толщины пленки приведены на рис. 2.30. Характеристики стержневых датчиков при прохождении скачка толщины пленки, характерного для срывного режима, рассмотрены в [148]. Импульс изменения проводимости передается с искажениями, затягивающими импульс. Проводимость датчика начинает изменяться до появления скачка над центром датчика. [c.64]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...