Темня Метод сил

Нефтепродукты темные. Метод определения максимальной температуры застывания. [c.172]

ГОСТ 20287—74. Нефтепродукты темные. Метод определения максимальной те.мпературы застывания . [c.185]

Отт( нение точками. При точечном методе оттенения светотень наносят точками. На темные части предмета точки наносят близко друг к другу, с увеличением освещенности поверхности расстояние между ними увеличивается (см. рис. 196). [c.108]

Существует метод муаровых полос, при использовании которого на исследуемую поверхность наносят каким-либо способом систему периодически повторяющихся линий, точек или иных элементов, расположенных в одной плоскости (такие структуры называют растрами). Растр, нанесенный на исследуемую поверхность детали или образца, деформируется вместе с поверхностью в процессе нагружения. При наложении деформированного и эталонного растров светлые промежутки одного растра перекрываются темными линиями другого, что приводит к изменениям интенсивности отраженного или проходящего через совмещенные растры света и образованию черных и белых [c.142]

Рис. 15.9. Разрез специального конденсора для осуществления метода темного поля.

Как уже указывалось в 48, рефракционные структуры, вносящие изменение не в амплитуду, а в фазу проходящей волны, дают прекрасно выраженную дифракцию (например, фазовые дифракционные решетки). Однако такие структуры нельзя непосредственно рассматривать или сфотографировать, ибо наши приемники реагируют не на фазу, а на амплитуду (интенсивность), которая остается неизменной при прохождении через разные участки рефракционной структуры. Может показаться, что этот результат опровергает пригодность метода рассмотрения Аббе при одинаковых первичных изображениях (спектрах) мы получаем совершенно различные вторичные изображения. Затруднение объясняется просто дифракционные спектры тех и других структур могут не отличаться по амплитудам, но фаза нулевого спектра в случае рефракционных структур отличается на /. я от фазы спектров остальных порядков. Это и приводит к различию во вторичных изображениях, где происходит суммирование всех спектров. Если, однако, изменить фазу нулевого спектра на /. я, то мы устраним различие между тем, что дают абсорбционные и рефракционные структуры, и сможем увидеть эти последние. Те места структуры, которые дают большее изменение в фазе, можно сделать темными или светлыми в зависимости от того, будет ли добавочная разность фазы в нулевом спектре равна или [c.363]

Микроскоп 329 —. метод темного поля 362 —, — фазового контраста 362 —, разрешающая способность 330, 348—357 [c.923]

Для того чтобы ширина активной области лазера была сравнима с толщиной гетероперехода или не силь но превышала ее, применяют ограничение носителей и излучения в плоскости гетероперехода. Лазеры такой конфигурации называют полосковыми. В простейшем полосковом лазере инжекция носителей заряда производится через полосковый контакт при этом осуществляется только электронное ограничение. В более сложных структурах боковому ограничению подвергаются и распределение носителей, и излучение лазера. Методы ограничения носителей сходны с темн, которые применяются для ограничения носителей и излучения в направлении, перпендикулярном плоскости лазера, т. е. р—п- [c.947]

Описанный метод является одной из разновидностей метода муара ) Муаровые полосы иногда называют механическими интерференционными полосами. Разграфленные линии создают темные полосы в местах сгущения с первоначальной сеткой. [c.177]

Описанным выше приемом просвечивания плоской модели в монохроматическом свете не исчерпываются возможности оптического метода. Часто модели просвечивают в белом свете. На экране в этом случае вместо темных и светлых полос получаются цветные полосы с непрерывными переходами через цвета спектра. [c.560]

Муаровый метод основан на эффекте возникновения темных и светлых полос, получающихся при наложении двух сеток с одинаковыми или мало отличающимися параметрами. Образующаяся картина носит название муара. На рис. 484 показана фотография, иллюстрирующая этот эффект. [c.480]

По методу Таллинско й ювелирной фабрики в электролит вводят 10 % -ный раствор щелочи, раствор подогревают до 50—60 С и золото осаждают контактным путем, постепенно вводя полоски листового алюминия толщиной 1 мм полноту осаждения проверяют по свежей алюминиевой полоске, которая не должна темнеть. [c.52]

Все изменения в распределении напряжений можно наблюдать при помощи оптического метода, помещая образцы указанного вида, изготовленные из оптически активного материала,, в пучок поляризованного света. При наблюдении за нагруженным образцом в монохроматическом свете в областях неравномерного распределения напряжений можно заметить чередующиеся светлые и темные полосы. В белом свете в этих областях будет наблюдаться картина цветных полос (изохром), каждая из которых соответствует напряжениям одинаковой величины. [c.249]

При переходе от светлого поля к темному создается разница в соотношении освещения. Метод темнопольного освещения используют для проверки полированной поверхности шлифа на [c.11]

У вышеназванных металлов окисление вызывает тепловое окрашивание , которое создается интерференцией света в окисной пленке толщиной (150 -7- 300) 10 м. В соответствии с изменением толщины окисной пленки изменяется ее цвет. На этом основан метод оценки температуры отпуска стали. Порядок распределения цветов совпадает с окраской колец Ньютона. Для полированных образцов нелегированной стали в зависимости от температуры получены следующие цвета светло-желтый (220—230° С) темно-желтый (240) желто-коричневый (255) пурпурно-красный (265) красно-коричневый (275) фиолетовый (285) [c.18]

Методами отпечатков выявляют наличие не только серы и кислорода, но также различных металлов, которые вытравливаются при растворении. При этом на контактном материале остается только пестрый осадок металлов. При электрохимических методах получения отпечатков на обогащенных участках поверхности образцов под действием тока образуются ионы, и на соответствующих местах контактного материала возникает окрашенный осадок. При этом область ликвации выглядит более темной, включения проявляются как светлые точки. [c.105]

Описанным выше приемом просвечивания, плоской модели в монохроматическом свете не исчерпываются возможности оптическо10 метода. Часто просвечивание модели проводится в белом свете. На экране в этом случае вместо темных и светлых полос получаются цветные полосы с непрерывными переходами через цвета спектра. Существуют способы просвечивания моделей с погашением изоклин. Известны приемы исследования напряженного состояния в пространственных моделях путем замораживания оптической анизотропии с последующим разрезанием модели на плоские образцы. [c.520]

Для оценки временных сварочных напряжений используют методы оптического моделирования. Образцы изготавливают из оптически активного материала (поликарбонат или эпоксидная смола) и нагревают. В процессе нагрева регистрируют (визуально или фотокиносъемкой) характерные картины светлых и темных полос, возникающих на поверхности пластины при облучении монохроматическим источником света. По этим картинам [c.419]

Развитие современной техники характеризуется всемерной интенсификацией процессов, протекающих в различных уста1НОвках и аппаратах, что влечет за собой необходимость создания качественно новых конструкций с применением материалов, которые 1подчас должны сочетать в себе разнородные свойства и обладать высокими физико-техническими характеристиками. В первую очередь это относится к энергетическим установкам, поскольку ежегодные темны роста мировой потребности в энергетике значительно превышают темпы роста в других отраслях техники, что настоятельно требует как совершенствования существующих методов, так и развития новых путей получения энергии. [c.5]

Значение предложенного Аббе метода оценки разрешающей силы микроскопа заключается также в том, что он открывает дополнительную возможность его применения любой волнистый рельеф можно рассматривать как некоторую фа.ювую решетку. Для наблюдения ее изображения нужно превратить такую фазовую решетку з амплитудную, т.е п систему светлых и темных полос. В теории фазовой решетки доказывается, что это можно сделать, если уменьшить или увеличить на п/2 разность фаз между волнами, ответственными за нулевой спектр и спектры высших порядков. Цернике указал, что для этого достаточно внести тонкую стеклянную пластинку в фокальную плоскость объектива микроскопа. На область в центре такой пластинки, где локализован максимум нулевого порядка, наносится тонкий прозрачный слой, который изменяет на п/2 фазу волны, распространяющейся в направлении только этого спектра. Для осуществления такого изменения фазы глой вещества с показателем преломления п должен иметь толщину ./4(п — 1). Этот метод, получивший название фазового контраста, позволяет исследовать очень нечеткие структуры и играет большую роль в различных приложениях. [c.344]

В методе двухэкспозиционной голографической интерферометрии для регистрации деформации подложек во время первой экспозиции на фотопластинке фиксируется исходное состояние их поверхности с той стороны, где нет пленки. После удаления пленки, например с помощью химического травления, производится временная выдержка для установления термодинамического равновесия и осуществляется вторая экспозиция той же поверхности подложки. В результате, при восстановлении интерферограммы наблюдается интерференционная картина, которая характеризует прогиб образца W (х) в зависимости от координаты X N-v темной полосы [c.116]

Если несколько явлений, различных по своей физической природе, могут быть выражены одними и темн же дифференциальными уравнениями при одних и тех же условиях однозначности, то такие явления называются аналогичными, а метод их исследования — аналогией. В технической механике жидкости часто используются электрогидродинамическая аналогия (ЭГДА), газогидравлическая аналогия (ГАГА), гидромагнитная аналогия (МАГА) и другие аналогии. Приведенные аналогии относятся к безвихревому (потенциальному) движению невязкой несжимаемой жидкости, которое, как известно, оп-исывается уравнениями Лапласа для потенциала скорости и функции тока д Ф 3 ф [c.395]

Более четкое изображение обеспечивается применением так называемого оптического ножа (методТеплера).Принципиальная схема этого метода показана на рис. 3.8. Параллельный пучок света от источника 1 проходит через исследуемый объем. В фокусе объектива 2 располагается ческий нож 3. Объективы 2 м 4 создают изображс экране 5. Если на пути луча в измерительном обт еме ВС1 тится оптическая неоднородность и, то луч отклонится в сторону, будет отсечен оптическим ножом 5 и не попадет на экран 5. Освещенность в соответствующем месте экрана уменьшится, возникнут характерные светлые и темные полосы, отражающее в конечном счете распределение плотности в исследуемом потоке. [c.122]

Другой метод регенерации основан на восстановлении палладия до металла. После осаждения из электролита соляной кислотой диами1Юхлорнда палладия и промывания его до отсутствия кислой реакции осадок переносят в фарфоровый тигель и нагревают до разрушения комплекса. Образовавшуюся окись палладия прокаливают при 1000 °С в течение 20—30 мин полученный металлический палладий переводят в хлористый. Такая регенерация обеспечивает более эффективную очистку от примесей, особенно органических, так как рни способствуют получению напряженных покрытий. От органических примесей можно освободиться обработкой электролита активированным углем, если же такая обработка це дает хороших результатов, то тогда надо провести полную регенерацию электролита, Неполадки в работе амннохлоридного электролита бывают в виде отслаивания покрытия (это может быть вызвано накоплением в электролите примесей Си, Zn, Sn и органических соединений), тогда электролит подвергают регенерации. Если же на аноде выделяется желтая соль, то это свидетельствует о недостатке свободного аммиака или высокой плотности тока. Интенсивное выделение на катоде водорода происходит из-за высокой концентрации NH3. Темные полосы на покрытии могут быть вызваны избытком хлоридов и это устраняется корректированием электролита. Аминохлорндный электролит дает возможность получать более толстые покрытия за меньшее время, чем фосфатный электролит, в этом электролите целесообразно покрывать контактные детали. [c.58]

Своеобразной разновидностью рефлексометрического метода является метод фотометра темного поля, успешно [c.73]

Источник 1 через конденсор осве-щаш сетку 3 (например, прозрачный штрих на темном фоне), которая зеркалом 4, линзой 5 и объективом 7 фокусируется на объект 8. Автокол-лнмационное отражение маски в плоскости сетки 9 наблюдается в окуляр /О, в случае неточной фокусиропки раздваивается. Это позволяет в качестве критерия фокусировки использовать кониальное или биссекторное совмещение штрихов. Точность метода по- [c.76]

ОГ-40 СССР, НИНИН 9 — 20 0,1-0,4 5,0-1,0 3—0,5 10-2 Освещение по методу сьетлою н темного полей. Индикатор часового типа (ИГМ) фиксирует перемещение микрообъектива [c.76]

Обнаружение дислокаций и включений в монокристаллах кремния методом визуального наблюдения на экране ЭОП или фоторегистрации на инфрахрома-тической пленке. Контроль в проходящем и отраженном свете, в темном и светлом поле в видимых и ИК-лучах [c.107]

В качестве квазиоптическон системы в интросконе используют специально разработанные объективы миллиметрового диапазона. Прибор может работать по методам светового поля, темного поля и фазового контраста. [c.242]

В настоящее время накоплен большой опыт по испытанию композиционных материалов. Созданы различные разрушающие [78] и неразрушающие 46] методы определения механических свойств. При корректной постановке эксперимента и иравилышм выборе геометрических размеров образцов разрушающие м неразрушающие методы позволяют получать весьма близкие ио значениям механические характеристики на некоторых тниах анизотропных материалов 46]. Необоснованный выбор схемы нагружения и параметров образца может привести к несопоставимым значениям характеристик, полученных на одних и тех же материалах одними и темн же разрушающими методами 112, 26, 84, 93]. Это объясняется прежде всего тем, что не все разрушающие методы достаточно изучены . многие методы разработаны для изучения свойств изотропных материалов, позже перенесены на исследования пластмасс, а затем распространены на композиционные материалы. Естественно, они не учитывают особенностей структуры и свойств композиционных материалов, что приводит к результатам, которые невозможно повторить, а часто соио-ставнть даже при таких видах нагружения, как испытание на растяжение, сжатие п изгиб. Испытание на сдвиг композиционных материалов изучено мало [78, 119]. [c.26]

К недостаткам метода следует отнести малую скорость утонения, нагрев образца и повреждение образца ионами. Исходную заготовку нужно сделать как можно более тонкой, используя механические или другие подходящие обработки. Малая скорость утонения приводит к низкой производительности препарирования. Если исходная заготовка имеет толщину 30 мкм, то потребуется 10—30 ч, чтобы получить достаточно тонкие образцы [253]. Температура нагрева образца невелика и вряд ли повлияет на тонкую структуру газотермических покрытий. Однако эффект нагрева нужно учитывать при анализе основного металла после упрочняющих обработок. Радиационные повреждения распространяются на малую глубину образца и внещне проявляются в виДе множества светлых и темных точек, которые фиксируются на снимках структур. [c.179]

Микроскопические методы обычно применимы для исследования состояния поверхности металла. С этой целью используется бинокулярный микроскоп, воспроизводящий объемную картину поверхности. При этом применяются светло-, темно- и косопольное освещение, фазовый контраст, а также поляризованный свет и ультрафиолетовые лучи. [c.223]

Сегрегации, обогащенные фосфором и серой области, выглядят более темными, чем обедненные этими элементами участки. Как правило, сегрегации выявляют не глубоким травлением, а специальными методами. Встречающаяся в кованых или катаных сталях феррито-перлитная строчечная структура совпадает со строчками сегрегаций фосфора и серы. Поэтому с помощью глубокого травления можно также изучать образование строчечной структуры. Шлиф, перпендикулярный к направлению деформации, после глубокого травления при одинаковых условиях выглядит темнее, чем продольный шлиф. Гудремон и Шредер [1] установили, что время травления (реактив 10—20 мл H2SO4 + 90 — 80 мл HjO) поперечных образцов вдвое меньше, чем продольных. На продольном шлифе лучше выявляются строчки сегрегаций, в то время как исследование поперечных образцов позволяет сделать общее заключение о металлургическом способе получения материала. При глубоком травлении электростали и спокойной мартеновской стали вследствие незначительного развития сегрегаций получают лишь слабые признаки ячеистой структуры. [c.41]

Роджерс [60] в 1912 г. предложил метод получения отпечатков Бауманна с поверхности разрушения. Для отпечатка использовали специально полученную массу вместо бром-серебряной бумаги, которая легко отделяется от основы. Портевин [61 ] испытывал различные массы для отпечатков. Отпечатки поверхности разрушения выглядят значительно темнее, чем отпечатки шлифованных поверхностей. [c.69]

Некоторые виды цементита, например третичный цементит или цементит, распределенный в структуре сталей после закалки, выявляются этим травителем лучше, чем с помощью травителей, после обработки которыми карбид железа выглядит темным на фоне окружающей светлой матрицы. Клемм применял его для выявления цементита и у-фазы в закаленных структурах. Для травления не требуется удалять деформированный слой феррит-ной матрицы. Изображение структуры получается более качественным, если сульфидный осадок на всей поверхности феррита одинаково ориентирован. Очень хорошо выявляли цементит с помощью тиосульфата натрия не только в незакалеиных, но и в закаленных и отпущенных сталях [42]. Этот метод позволяет наблюдать за развитием коагуляции цементита, выделяющегося в процессе отпуска. Естественно, для изучения небольшого числа мельчайших частиц цементита важное значение имеет оптическое разрешение. [c.90]

Трсшитель 88 [раствор NaaSaOal. Метод с примёнёниек тиосульфата натрия, предложенный Клеммом, оказывается пригодным для выявления распределения карбидов в марганцевой стали [10]. Структура основы становится сравнительно темной из-за образования поверхностного сульфидного слоя, при этом нереагирующие (не покрытые слоем) карбиды во всех марганцовистых сталях выглядят очень контрастно. [c.130]

Фазу AlgMn растворяют реактивом 50 при температуре 50° С быстрее, чем фазу А Мп, которая может приобрести темный цвет только после продолжительного травления. Для выявления микроликвации служат растворы 20 и 50. Реактив 34 применяют для травления границ зерен. Тури и Ландерл [24] упоминают, что гомогенизированные и неполностью отожженные сплавы алюминия с марганцем нельзя травить каким-либо известным реактивом для выявления границ зерен. Они рекомендуют следующие методы по данным Жаке [27], при анодной обработке (напряжение 3 В, плотность тока 0,5 А/см ) в 100—300 г хромовой кислоты на литр 85%-ной фосфорной кислоты в течение 40 мин при 20° С на материале, подвергнутом неполному отжигу, слабо выявляются границы зерен. Их можно рассмотреть в микроскоп, но не удается сфотографировать. Травление этих сплавов не всегда получается качественным. [c.271]

Рис. 19. Кривые ползучести и упругого последействия для однонаправленных стеклоэпоксидных волокнистых композитов при 6 = 30°, температуре 73 1 °С и влажности 21 1%. Для случая (1) показаны теоретические результаты, полученные методом суперпозиции (косые крестики) и следующие из нелинейной теории (темные кружки). По оси абсцисс — время в часах, по оси ординат — деформация в процентах, значения напряжений в правой части рисунка указаны в фунт/дюйм . По данным работы [63].

Метод фотоупругости основан на свойстве временного двойного лучепреломления (оптической анизотропии), которое наблюдается у некоторых изотропных прозрачных материалов в напряженном состоянии. Это оптическое свойство приводит к появлению наблюдаемых в поляризованном монохроматическом свете интерференционных полос, или светлых и темных зон. Такие полосы, называемые изохромами, упорядочены согласно числу циклов чередования темноты и света, появляющихся в данной точке по мере увеличения нагрузки от нуля до ее конечного значения. Порядок полосы представляет собой оптическую радность хода, выраженную в длинах волны. Как обнаружил [c.495]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...