Ширина линии определение

Однако такой вывод был бы неверным. Дело в том, что переход между уровнями Ei и Е , как и любой другой переход, характеризуется не строго определенной энергией — 1, а спектром энергий, или, иначе говоря, спектральной линией некоторой ширины Г (рис. 8.10, б как видно из рисунка, ширина линии измеряется на половине ее высоты). Ширина линии обусловлена несколькими причинами, из которых укажем лишь две основных. Первая связана с тем, что атом живет на возбужденном уровне конечное время т поэтому, согласно соотношению неопределенностей (4.1.3), энергия уровня имеет неопределенность порядка А/т. Эта неопределенность обусловливает естественную ширину спектральной линии [c.205]

Точность измерений повышается с увеличением концентрации излучающих частиц, которое приводит к росту поглощения йил и ширины линии 61, и с уменьшением спектральной ширины щели ДА,. Выбор спектрального прибора с большой дисперсией также способствует увеличению точности определения температуры. [c.257]

Экспериментально можно менять оптическую плотность в определенное число раз, изменяя либо длину светящегося столба I, либо концентрацию поглощающих атомов Л/" . При этом зависимость измеренной ширины линии Av от относительных значений получится в виде прямой. Опре- [c.519]

Лакокрасочные материалы наносят вручную, валиком или распылением пневматическими пистолетами. Последний способ является наиболее распространенным, им наносят примерно 40% всех покрытий. Это объясняется его универсальностью и высоким качеством получаемого покрытия. Недостатками метода пневматического распыления являются потери лакокрасочного материала из-за распыления за пределами окрашиваемого объекта, необходимость подвода воздуха для фильтрации и обеспечение требований к рабочей среде. В настоящее время начинают применять пистолеты с управляемым распылением, которые позволяют непрерывно регулировать ширину распыляемой струи нажатием кнопки управления пистолета и приспосабливаться к форме окрашиваемого объекта. Выпускается широкий ассортимент пистолетов (от ручных до пистолетов для автоматических лакировочных линий). Определенные трудности представляет обезвреживание органических растворителей, которые выбрасываются в атмосферу в значительных количествах и из-за своей высокой химической стабильности очень медленно разрушаются в природных условиях. [c.85]

Точность определения ширины линий при такой методике 7—8%. Эталоном для нахождения геометрического уширения служили отожженные, лишенные искажений образцы из стали 45, которые затем испытывались на трение. [c.43]

Нужно отметить, что если точность измерения ширины линий 7—8%, то внесение поправок на — а-дублет и геометрическое уширение, связанное с подбором аппроксимирующих функций, вносит дополнительную погрешность в полученные результаты. Анализ возможных ошибок показывает, что точность определения микроискажений и размера блоков зависит не только от точности измерения ширины линии, но и от величины отношения Р(22о)/Р(ио) независимо от того, какой функцией аппроксимируются формы кривых N (х) и М (х) [99]. В связи с этим определение размера блоков и микроискажений проводилось лишь в отдельных случаях для того, чтобы знать порядок этих величин и характер их изменения, а структурные изменения в материале оценивались в основном по изменению ширины линий (110) a-Fe и (220) a-Fe, измеренной с достаточной степенью достоверности. [c.43]

Определение плотности дислокаций в приповерхностном слое является трудной экспериментальной задачей. Применение метода ферромагнитного резонанса (ФМР) может облегчить задачу. Уши-рение линии ФМР в пластически деформированном ферромагнетике определяется присутствием дислокаций в кристаллической решетке. Причина уширения заключается в магнитострикционной связи между спонтанной намагниченностью и упругим полем дислокации. Между шириной линии (АЯ) и плотностью дислокации р наблюдается линейная зависимость до значения р 10 см [8]. Так как электромагнитное поле высокой частоты проникает в глубь металла на величину 10" —10 см, то уширение А Я будет отражать изменение дислокационной структуры в приповерхностном слое. [c.30]

Поскольку в уширение АЯ вносят вклад дислокации и шероховатости поверхности, то при определении плотности дислокаций вклад шероховатостей вычитался из общего уширения. Определение зависимости ширины линии ФМР и коэффициента трения в никеле от времени испытания в поверхностно-активной среде показали, что в период приработки АЯ сначала возрастает от 8,2 X X 10 до 12,2 10 А/м, после чего не изменяется в рамках погрешности опыта. Для коэффициента трения наблюдается обратная 30 [c.30]

При сравнении близких частот за начало и конец периода повторения фигуры берут прямую линию, в каком-либо одном из двух возможных положений. Наибольшая чувствительность имеет место при равенстве отклонений луча по горизонтали и вертикали [13]. Можно принять, что наблюдатель фиксирует момент совпадения линий изображения с точностью до половины ширины линии (как в начале первого, так и в конце последнего наблюдаемого периода повторения фигуры). Тогда минимальная ширина эллипса, при которой эллипс и прямая линия различаются между собой [ГЗ] составит , bd, где d — ширина линий эллипса. Погрешность Дп определения числа периодов повторения фигуры п составит [c.425]

P-I . 8. График для определения рас-СТОЯНИЯ б между составляющими дублетов -пиний на рентгенограммах мартенсита по ширине линий на рентгенограммах [c.24]

Анализ обезуглероживания и окисления стали. Определение глубины обезуглероживания слоя и степени обезуглероживания основано на зависимости ширины линий мартенсита на рентгенограмме от содержания углерода. Эта зависимость показана на рис. 10 для линий [(ПО) —(011) (101)] углеродистых сталей. [c.33]

Для определения глубины обезуглероженного слоя по указанной методике необходимо в общем случае снять две рентгенограммы с поверхности обезуглероженного слоя и на некоторой глубине обезуглероженного слоя. Определив ширину линии ([110) — (011)(101)] по графикам на рис. 9, 10 находят содержание углерода на поверхности слоя и на некоторой глубине. [c.33]

ПО °С ДО постоянной массы. Однако на практике предпочитают использовать методы определения концентрации грубодисперсных веществ по прозрачности или мутности воды. Прозрачность воды определяют при повышенных концентрациях ГДП в ней при помощи стеклянной трубки, залитой водой, на дне трубки расположен стандартный шрифт или крест с шириной линий 1 мм. Высота столба воды, при которой определяется хорошая видимость шрифта или креста, является количественной оценкой прозрачности воды. Норма прозрачности питьевой воды по шрифту равна 30 см. При малых [c.36]

В противоположность вышеприведенному примеру ширина линии лазерного излучения настолько мала, что может достигать десятков километров, в то же время белый свет от лампы накаливания с вольфрамовой нитью имеет весьма широкий частотный диапазон (рис. 4.7, в), поскольку состоит из импульсов чрезвычайно короткой длительности и ни одна из частот не является доминирующей (условие, использованное некоторыми авторами как определение импульса). [c.79]

По результатам сравнения экспериментально полученной ширины линии и ширины, вычисленной по теоретическим выражениям для данных условий возбуждения, можно судить о степени возмущения соответствующих термов, С этих позиций и были изучены в период между двумя сессиями Консультативного комитета по определению метра излучения Hg , Кг , d . [c.46]

Здесь используется параметр а, встречающийся в выражении (5.118). Однако заметим, что из-за наличия в (5.117) квадратичного по модовому индексу I фазового члена 1 2 функция E t) имеет теперь квадратичный по времени фазовый член Отсюда следует, что у несущей частоты волны ио + 2р/ появилось линейное по времени смещение. Значение величины р и тем самым величина этого смещения зависит от <р2 в (5.117), однако точное выражение для 2р/ мы здесь не будем приводить, поскольку в дальнейшем оно не понадобится. Однако следует подчеркнуть, что импульс с линейно меняющейся во времени частотой, представленный в форме (5.118), может на самом деле быть получен при выполнении определенных условий синхронизации мод, определяемых выражением (5.117). Теперь нетрудно показать, что длительность импульса вида (5.118) не определяется обратной шириной спектра. Чтобы убедиться в этом, вычислим спектральную ширину импульса, применяя преобразование Фурье к выражению (5.118). Оказывается, что в этом случае ширина линии генерации равна [c.312]

Однако, если излучающее и поглощающее ядра связаны в кристаллической решетке (или во всяком случае в конденсированной фазе), то при определенных условиях энергию отдачи воспринимает не отдельное ядро, а кристалл в целом, масса которого на много порядков превосходит массу ядра. Появляется конечная вероятность испускания (поглощения) у-квантов без отдачи. В спектре этому процессу соответствует несмещенная линия естественной ширины. Иначе говоря, максимум испускания (и поглощения) соответствует энергии Е ,, не смещенной на R (пунктирная линия на рис. 11.1), а ширина линии на половине высоты [c.135]

СВЧ-ферриты. Из двух основных характеристик СВЧ-ферри-тов — ширины линий ферромагнитного резонанса и диэлектрических свойств — последние тесно связаны с концентрацией электронных дефектов, которую можно регулировать в широких пределах в процессе термической обработки., В работе [195] показано, что потери в ферритах в широком диапазоне частот обусловлены свободными электронами, концентрация которых может быть существенно снижена дополнительным отжигом при температуре, выбранной на основе универсальной диаграммы. В ОВЧ-ферритах, содержащих никель в качестве активного компонента, изменение температуры обработки при фиксированном давлении кислорода, равно как и изменение давления кислорода при фиксированной температуре, может привести к замене электронной проводимости дырочной. Минимуму потерь будут соответствовать состояния с собственной проводимостью (пхр), достигаемые при строго определенных для каждого состава температуре и давления кислорода. [c.152]

Гц, а ширина линии лазерных переходов в различных активных средах лежит в пределах от Асо/2я 10 Гц (в газах при низком давлении) до Асо/2я 10 —10 Гц (в красителях и твердых телах), то возможен и такой случай, когда в зависимости от типа лазера в лазерном резонаторе может усиливаться лишь малое число аксиальных мод но в других случаях число усиливающихся мод может достигать и нескольких десятков тысяч. При многих применениях бывает необходимо работать лишь с определенным, по возможности малым числом мод или даже с одной-единственной модой. Для поперечных мод это достигается сравнительно просто благодаря различиям в дифракционных потерях. Например, в резонаторе можно поместить дополнительную диафрагму, чем создается большое возрастание дифракционных потерь высших поперечных мод. Селекцию-отдельных аксиальных мод можно выполнить с помощью, например, такого селектора частоты, каким является дополнительный эталон Фабри—Перо. Напротив, для генерации ультракоротких световых импульсов следует всемерно увеличивать число> аксиальных собственных колебаний. Это требует применения материалов, обладающих возможно более широким спектральным контуром усиления, поскольку в этом случае можно избежать подавления аксиальных мод, обусловленного спектральной зависимостью коэффициента усиления. [c.57]

ООО А в зависимости от геометрии резонатора на ширине линии обычно укладывается несколько сотен мод. Экспериментальное определение такого громадного количества мод было бы труднейшей задачей, если бы не то обстоятельство, что только очень немногие моды имеют достаточно малые потери, чтобы генерировать. [c.75]

В данной главе рассматриваются некоторые методы определения ширины линии отдельных спектральных компонент, излучаемых квазимонохроматическим лазером (т. е. при Дсо/ш <С 1). Таких методов немного, поскольку ширина узких спектральных линий, излучаемых лазером, чрезвычайно мала. Во многих случаях это такие методы измерения ширины спектральных линий, которые применяются только в лазерной технике. В этих методах важное значение могут иметь такие особенности лазерного излучения, как высокая спектральная яркость или малая угловая ширина луча. В тех случаях, когда спектральное излучение состоит из большого числа компонент, можно пользоваться обычными спектроскопическими методами для определения полной ширины полосы излучения лазера, а также для того, чтобы выделить и детально изучить одну компоненту. [c.361]

Если бы уровни энергии в действительности являлись геометрическими линиями, то атомы излучали бы строго монохроматическую волну и спектр был бы строго линейчатым (дискретным). Одиако, как показывают опыты, атомы излучают спектр частот определенной ширины. Уширение спектральной линии, согласно квантовой теории, объясняется тем, что сами энергетические уровни обладают некоторой шириной Дт, величина которой определяется так называемым соотношением неопределенностей Гейзенберга AojT h, где т — время жизни атома на энергетическом уровне шириной А(о, h — постоянная Планка. Из этого соотношения вытекает, что Асо /г/т, т. е. естественная ширина линий, согласно квантовой теории, обратно пропорциональна времени жизни атома в начальном состоянии. [c.41]

Другими словами, нельзя выделить какую-либо группу атомов, определяющих заданную часть контура. Так, например, оцененная выше (Avp T -10 Гц) естественная ширина линии полностью удовлетворяет этому определению, так как ее возникновение связано со средней потерей энергии на излучение каждым атомом. Но значительно большее однородное уширение может возникнуть в результате столкновений атомов, приводящих к обрыву колебаний. Очевидно, что и в этом случае мы не можем указать, какая часть контура связана с излучением тех или иных атомов. При исследовании этого уширения оказывается полезным введение коэффициента затухания колебаний у, который может быть оценен в эксперименте. [c.66]

Иногда требуется, чтобы лазер генерировал только одну моду определенной частоты. В таких случаях принимаются специальные меры подавления нежелательных мод высших порядков (так называемая селекция жо(3). При подавлении колебаний высоких порядков внешняя энергия преобразуется в основную моду и, хотя общая энергия излучения не увеличивается, мощность, сосредоточенная в этой моде, заметно возрастает. Теоретическая оценка монохроматичности в случае, когда лазер работает в одиомодовом режиме, показывает, что ширина линии излучения с выходной мощностью 1 мВт должна быть Атгеп б Гц. На практике же такие эффекты. [c.281]

Ошротивление может быть отрицательным лишь в определенной полосе частот вблизи линии поглощения данной среды. Как правило, в пределах ширины линии активного вещества укладывается несколько собственных частот резонатора. Поэтому лазер генерирует, в общем случае, ряд мод с частотами, близкими к собственным частотам резонатора. [c.360]

Первые, наиболее обширные исследования поверхностных слоев металлов и сплавов при трении в условиях, когда основной причиной разрушения материала является пластическая деформация, проводились под руководством Ю. С. Терминасова [74, 75]. В большинстве случаев характер структурных изменений, определяемых по изменению ширины дифракционных линий и микротвердости, от пути трения имеет вид кривой с насыщением . В качестве примера на рис. 6 [74] приведена такая кривая для отож-женого технического железа, подвергнутого испытанию на износ. Зависимость микротвердости и весового износа имеет такой же вид. Аналогичный характер изменения ширины дифракционных линий наблюдается при изнашивании целого ряда цветных металлов и покрытий в условиях сухого трения и трения со смазкой после определенного числа циклов, тем большего, чем меньше нагрузка, ширина линий, а также микротвердость стабилизируются, причем их максимальные значения тем больше, чем больше нагрузка. Лишь в одном случае, при изнашивании стали У8, про- [c.27]

Поскольку процесс взаимного контактирования микронеровностей двух сопряженных поверхностей носит случайный характер, выявление определенных закономерностей, связанных с изменением состояния поверхностного слоя в процессе фрикционно-контактного воздействия, возможно лишь при обработке достаточного количества экспериментальных данных. Так, было установлено, что частичная релаксация микронапряжений происходит после некоторого (отличного от единицы) числа воздействий, что является подтверждением усталостной природы процесса в смысле необходимости многократного воздействия для нарушения сплошности исследуемого материала — образования микротрещин. Таким образом, среднее для каждой нагрузки расстояние между минимальными значениями ширины линии (220) a-Fe является числом циклов до разрушения по критерию образования микротрещин. Число циклов до разрушения существенно зависит от внешних условий трения. С увеличением нагрузки на иБдентор оно уменьшается (рис. 29). [c.54]

Сравнительная оценка величины пластической деформации проводилась по результатам рентгеновского анализа и измерения микротвердости, приведенным в предыдущем параграфе. Ширина линии (220) a-Fe и микротвердость при нагрузке на пирамиду Р = 50 ГС сопоставлялись с аналогичными характеристиками при простом растяжении. В соответствии с [87, 88] тарировочные графики строились в координатах (АВ/Во) линии (220) a-Fe и (Д//д/Яц ) — (А1/1) /к Для их построения использовались плоские образцы, отожженные в вакууме при 830—850 °С. В рабочей части образцов по их центру на расстоянии 45 мм с помош,ыо прибора Роквелл наносились два отпечатка. Точное (до третьего знака) расстояние между ними измерялось компаратором. Затем образцы растягивались до определенной, заранее заданной степени деформации на пятитонной универсальной машине УМ-5. За относительную деформацию принималось изменение расстояния между отпечатками после растяжения, отнесенное к первоначальному расстоянию. Рентгенографирование и измерение микротвердости проводилось до и после растяжения. Каждое значение ширины линии (220)а-Ге является средним из шести, микротвердости — из десяти значений. Тарировочные графики представлены на рис. 35. Наличие на них точки перегиба свидетельствует о начале разрушения материала. На основании тарировоч-ных графиков и средних максимальных значений и [c.61]

Определение малых содержаний углерода в мартенсите. Метод определения содержания углерода в твердом растворе по изменению din применим лишь при содержании С > (0,6—0,7) %, так как при меньших концентрациях дублет не разделяется и изменение межплоскостных расстояний уловить не удается. Однако на практике в закаленных сталях содержание углерода в мартенсите часто не достигает этой величины. Тогда для определения концентрации углерода можно применять метод, основанный на измерении расширения линии на рентгенограмме. Метод состоит в нахождении междублет-ного расстояния по общей ширине линии на рентгенограмме и вычислению по этой величине содерлсаиия углерода. Большое значение при этом имеет выбор линии на рентгенограмме. Для стали, не содержащей остаточного аустенита, расчет целесообразно проводить по ширине дублета [(ПО) — (101) (011)] при наличии остаточного аустенита на расширение этой линии влияет линия (111) аустенита, расположенная почти под тем же углом. В этом случае расчет целесообразно проводить но линии дублета [(112) — (211)(121)1. [c.23]

В этом случае по измеренной суммарной ширине линии дублета В и ширине линии эталона So находят величину междублетного расстояния б. За эталон принимают образец, отпущенный при такой температуре (обычно 250—275 °С), когда углерод уже выделился из мартенсита, а процесс снятия искажений решетки еще не начался. После определения расстояния б содержание углерода в мартенсите находят по графикам зависимости Дд от содержания углерода. [c.23]

К наибольшему У. с. л. приводит взаимодействие с за-ряж. частицами в плазме—т. и. штарковское уширение. Для водородоподобных линий осн. роль играет квазистатич. уширение ионами за счёт линейного Штарка эффекта. При этом ширина линии ЗшмЛ г (Л , — концентрация ионов), а сдвиг практически отсутствует. В случае неводородоподобных линий определяющим является уширение электронами вследствие квадратичного эффекта Штарка. Штарковское уширение широко используют для определения концентрации заряж. частиц. [c.262]

Частота (о, соответствующая вершине спектральной линии, является опорной точкой (репером) на шкале частот, а соответствующий ей период колебаний принят равным 1/9 192631 777,0 с. Точность определения 0)о порядка неск. % (в лучшем случае — доли %) от ширины линии Дм. Точность тем выше, чем уже спектральная линия. Отсюда стремление устранить или ослабить все причины, приводящие к уширению используемых спектральных линий. В Ц, э. ч. уширение линии обусловлено временем взаимодействия атомов с эл.-магн. полем резонатора чем меньше время, тем шире линия (см. Неопределёпностей соотношения. Ширина спектральной линии). Время взаимодействия совпадает со временем пролёта атома через резонатор оно пропорц. длине резонатора и обратно пропорц. скорости атомов. Уменьшать скорость атомов, понижая темп-ру, невозможно, т.к. при этом падает интенсивность пучка. Длина резонатора также не может быть сделана очень большой из-за рассеяния [c.423]

Гамма-резонансный (ГР) спектр представляет собой зависимость интенсивности у-кван-тов, излученных источником и прошедших через поглотитель или рассеянных им, от относительной скорости источника или поглотителя. Основное достоинство получающегося спектра — чрезвычайно узкая линия поглощения (рассеяния). Отношение ширины линии к энергии излучаемого у-кванта, т. е. разрешающая способность, обычно составляет 10 — что в абсолютных величинах соответствует точности определения энергии 10 — 10 эВ. Возможность измерения столь малых энергетических сдвигов оказалась весьма полезной для изучения различных сверхтонких взаимодействий в твердых телах. Благодаря этому применение эффекта Мессбауэра положило начало развитию метода исследования твердых тел —ядерной гамма-резонансной (иногда просто гамма-резонансной) спектроскопии, метода ЯГРС или ГРС [3, 4]. [c.161]

Еще одним из наиболее перспективных методов создания искусственных источников света с суженными спектральными линиями является применение интерференционного монохроматора. Если призма разлагает белый свет, а затем щель монохроматора выделяет определенную спектральную линию, то эталон Фабри и Перо разлагает излучение в пределах ширины линии, а установленная в плоскости объектива, проектирующего систему интерференционных колец, диафрагма выделяет центральный максимум, отвечающий суженному излучению. Во ВНИИМ с помощью rrzu-ческого сужения линий d и Hg была получена интерференция при разности хода, несколько превышаЮ Щей 2 м. [c.71]

При контроле магнитными методами наиболее уверенно выявля ются плоскостные дефекты. Дефекты округлой формы (поры, шла ковые включения, раковины) не могут создавать достаточного по тока рассеяния и, как правило, при контроле обнаруживаются плохо Практикой установлено, что магнитно-порошковым методом выявля ются поверхностные и подповерхностные (на глубине не более 2 мм) трещины с раскрытием от 0,01 мм, глубиной (высотой дефекта) от 0,05 мм и длиной 0,5 мм и более (см. табл. 4.20). С увеличением глубины залегания дефектов уменьшается скорость скопления магнитного порошка и увеличивается ширина линии порошка, что затрудняет выявление дефектов и определение их характера. Удовлетворительная четкость скопления порошка получается над дефектами, залегающими на глубине не более 5—8 мм. [c.136]

Идея подавления влияния магнитокристаллической анизотропии за счет ее усреднения при быстром броуновском движении вектора Ig суперпарамагнитной частицы недавно использовалась для объяснения роста ширины линии ФМР с понижением температуры у частиц Ni, внедренных в поры силикагеля [1096]. Путем варьирования нескольких подгоночных параметров было достигнуто хорошее согласие расчета с экспериментальными кривыми зависимости от температуры ширины АЯ (рис. 144) и сдвига линии ФМР в области Т == = 50 ч- 300 К. При этом эффективное поле На магнитокристаллической анизотропии частиц оказалось значительно меньше такового На) в массивном кристалле. Например, при Т = 293 К На <С 20 Э, хотя На = 260 Э, а при Г = 51 К Яд = 1200 Э, тогда как На = = 3950 Э. Ориентировочный размер частиц Ni, определенный с по-мош ью данных для На, был равен 4 нм. [c.327]

В заключение отметим, что собственное атомное разупорядо-чение существенным образом влияет на магнитные свойства ферритов и это обстоятельство надо учитывать, когда надо получить материал со строго повторяющимися параметрами. В качестве технологического приема, стабилизирующего магнитную индукцию и квадратность термостабильной петли гистерезиса, иногда рекомендуют дополнительные к основной термообработке отжиги при температурах 700—800°С в течение времени, достаточном для равновесного перераспределения ионов по подрешеткам (продолжительность отжига зависит от природы феррита 2]). Примером значительного влияния собственно атомного разупорядочения на магнитные свойства является поведение феррита никеля, резко закаленного с высоких температур и обладающего определенной концентрацией ионов Ni + в Л-узлах решетки (при 1300°С в формуле Fe " [Ni Fe2ij ]04 JT = 0,9955). Как показали измерения [142], появление Ni + в тетраэдрических узлах шпинельной структуры приводит к изменению анизотропии кристалла и ширины линии ферромагнитного резонанса. [c.116]

Рассмотренный ниже пример гелий-неонового лазера, работающего на длине волны 1,15 мк, показывает, что применение интерферометра Фабри — Перо обеспечивает практически необходимое разрежение мод для возникновения генерации на одной или нескольких оптических частотах, а также оптическую обратную связь, которая необходима в случае переходов с низким усилением. Ширина допплеровской линии для перехода на длине волны 1,15 мк приблизительно равна Avd = 800 Мгц, тогда как естественная ширина, определенная по времени жизни спонтанного излучения с помощью уравнения (5.48), приблизительно равна Avjv = 80 Мгц. Частотный интервал между осевыми модами лазера при расстоянии между зеркалами 1 м ( l2d == = 150 Мгц) превышает естественную ширину линии, что обеспечивает попадание пяти или шести основных мод в полную ширину линии для резонатора без проводящих стенок. Если бы стенки резонатора были металлическими, то, как следует из выражения (5.5), число мод приближалось бы к 10 . [c.300]

ВОЛН. В ВИДИМОЙ части спектра ширина линии люминесценции обычно больше расстояния между модами, так что обычно генерируется несколько мод одновременно. В этом случае ширину линии излучения лазера удобно определить (неточно) как ширину огибающей генерируемых мод. При таком определении ширина линии лазера зависит от усиления и, следовательно, от активной среды и степени превышения накачки лазера над порогом. Ширина линии лазера зависит также и от лазерной срельП). Например ), ширина линии излучения лазера на неодимовом стекле может достигать 20 А в то же время ширина линии одномодового рубинового лазера может составлять всего лишь 0,001 А. [c.383]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...