Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Спектр ширина линий

Общий вид спектров, ширины линий и изомерные сдвиги позволяют сделать некоторые конкретные выводы о протекании процесса формирования кристаллической структуры феррита.  [c.19]

Если наблюдать интерференцию при излучении высокой монохроматичности, например освещать пластину светом одной линии линейчатого спектра, ширина которой обычно не превышает = 0.01 А, то допустимая толщина пластины возрастет в 10 раз. В оптических экспериментах часто применяют яркую зеленую линию ртути, которую легко выделить из спектра ртути соответствующим фильтром. В этих условиях не представляет труда наблюдать интерференционную картину со стеклянными пластинами толщиной в несколько сантиметров, которые и используются в различных интерферометрах.  [c.213]


Для дифракционной решетки обычно наблюдают спектры второго или третьего порядков, т. е. т = 2 или 3. В соответствии с этим дисперсионная область ДА, = Х/2 или А./3 очень велика. В этом — огромное преимущество дифракционной решетки, которая позволяет анализировать даже белый свет, т. е. очень обширный спектральный интервал (в тысячи ангстремов), тогда как пластинка Люммера—Герке, например, не дает уже отчетливых максимумов, если падающий на нее свет представляет спектральный интервал, превышающий один ангстрем. Поэтому интерференционные спектроскопы пригодны только для анализа очень однородного света, например для спектральных линий, испускаемых разреженными газами. Они оказывают неоценимые услуги при анализе таких линий, позволяя устанавливать наличие нескольких компонент в этой линии (тонкая структура), оценивать ширину линии, наличие изменений (расщеплений) под действием внешних причин (например, эффект Зеемана) и т. д.  [c.218]

Поэтому даже в ограниченном участке спектра число собственных частот резонатора может быть значительным. В случае, например, гелий-неонового лазера (X = 632,8 нм) число собственных частот, расположенных в пределах ширины линии усиления, равно примерно 5—10, в рубиновом лазере оно достигает сотен, а в некоторых лазерах — десятков и сотен тысяч (лазеры на красителях, см. 230).  [c.798]

Однако такой вывод был бы неверным. Дело в том, что переход между уровнями Ei и Е , как и любой другой переход, характеризуется не строго определенной энергией — 1, а спектром энергий, или, иначе говоря, спектральной линией некоторой ширины Г (рис. 8.10, б как видно из рисунка, ширина линии измеряется на половине ее высоты). Ширина линии обусловлена несколькими причинами, из которых укажем лишь две основных. Первая связана с тем, что атом живет на возбужденном уровне конечное время т поэтому, согласно соотношению неопределенностей (4.1.3), энергия уровня имеет неопределенность порядка А/т. Эта неопределенность обусловливает естественную ширину спектральной линии  [c.205]

Если в пределах ширины линии активного вещества укладывается три собственных частоты резонатора, то возможен трех-модовый режим генерации. Поскольку спектр собственных частот резонатора эквидистантен, т. е. — П1 == Пд — 2. и для генерируемых частот справедливо следующее приближенное соотношение  [c.367]

При квантовом описании возможность преобладания в ЛСЭ вынужденного излучения над поглощением объясняется небольшим различием частот волн, к-рые электрон способен излучить (сОц) и поглотить ((Оп)- Эго различие обусловлено отдачей, испытываемой электроном при излучении или поглощении кванта, а в ряде случаев также отклонением от эквидистантности спектра колебат. уровней электрона (напр., уровней электрона в однородном магн. поле, см. Ландау уровни). Т. к. в реальных условиях уширение спектральных линий, обусловленное конечностью времени пребывания в пространстве взаимодействия с волной (естеств. ширина линии), существенно больше разности частот (<йц—(о ), то вынужденное излучение и поглощение  [c.565]


Приборы, с помощью к-рых из реального излучения выделяют узкие спектральные интервалы, наз. монохроматорами. Чрезвычайно высокая монохроматичность характерна для излучения нек-рых типов лазеров (ширина спектрального интервала излучения достигает величины 10 нм, что значительно уже, чем ширина линий атомных спектров).  [c.210]

Эта так называемая естественная ширина линии является минимально возможной. Естественная ширина линии резко растет с ростом v(oov ) и становится заметной в коротковолновой части спектра. В оптическом и инфракрасном диапазоне спектра, где работает большинство лазеров, эта ширина, как правило, незначительна. Так, например, для основного лазерного перехода молекулы СОг время жизни частицы с и Avo 3-10 Гц.  [c.18]

Из общих соображений ясно, что параметр, характеризующий эффективность использования лазера в селективных процессах с характерной шириной линии поглощения Avr, должен содержать также ширину спектра генерации и I. Конкретный вид параметра для сравнения лазеров должен учитывать особенности конкретного процесса.  [c.74]

В 1958 г. Р. Мессбауэр показал, что при некоторых условиях (достаточно низкая температура, мягкое у-излучение, жесткая связь ядер в кристалле) в спектре поглощения у-квантов появляется узкая линия (сплошная на рис. 203), максимум которой соответствует энергии ядерного перехода Е = Ео. Если по каким-либо причинам (под действием любого поля) энергия перехода, т. е. разница возбужденного и основного уровней, изменяется в источнике или в поглотителе на АЕ, причем АЕ > Г (здесь Г — естественная ширина линии резонансного поглощения, Г — Й/т h — h/2n, h — постоянная Планка, а т — среднее время жизни возбужденного состояния ядра), то линия резонансного поглощения исчезает. Однако ее можно получить вновь, используя  [c.460]

В общем случае ЯГР-спектр поглощения может быть сложным. Ниже рассмотрены основные параметры спектра число линий (сверхтонкая структура) спектра, положение центра каждой линии, ширина линии и ее высота, характеризующая интегральную интенсивность резонанса.  [c.163]

Ширина линии спектра ЯМР и времена релаксации  [c.173]

Линия ЯМР симметрична относительно частоты = 01о, когда величина (м) максимальна. Частотный интервал между точками спектра ЯМР, в которых величина поглощения становится равной половине максимального значения [ (га)]тах/2, называется шириной линии ЯМР (био)- Функция (и) имеет размерность времени, поэтому можно записать Г2= [ (га)]тах/2, где Тг —время спин-спиновой релаксации, определяется диполь-дипольным взаимодействием и связано непосредственно с шириной линии ЯМР, как бюо Тз (рис. 9.3).  [c.174]

Основу активной среды 3. л. составляют обычно двухатомные эксимерные молекулы—короткоживущие соединения атомов инертных газов друг с другом, с галогенами или с кислородом. Длина волны излучения Э. л. лежит в видимой или ближней УФ-области спектра. Ширина линии усиления лазерного перехода Э. л. аномально велика, что связано с разлётным характером нижнего терма перехода. Характерные значения параметров лазерных переходов для наиб, распространённых Э. л. представлены в таблице.  [c.500]

ВОЛН. В ВИДИМОЙ части спектра ширина линии люминесценции обычно больше расстояния между модами, так что обычно генерируется несколько мод одновременно. В этом случае ширину линии излучения лазера удобно определить (неточно) как ширину огибающей генерируемых мод. При таком определении ширина линии лазера зависит от усиления и, следовательно, от активной среды и степени превышения накачки лазера над порогом. Ширина линии лазера зависит также и от лазерной срельП). Например ), ширина линии излучения лазера на неодимовом стекле может достигать 20 А в то же время ширина линии одномодового рубинового лазера может составлять всего лишь 0,001 А.  [c.383]

Если бы уровни энергии в действительности являлись геометрическими линиями, то атомы излучали бы строго монохроматическую волну и спектр был бы строго линейчатым (дискретным). Одиако, как показывают опыты, атомы излучают спектр частот определенной ширины. Уширение спектральной линии, согласно квантовой теории, объясняется тем, что сами энергетические уровни обладают некоторой шириной Дт, величина которой определяется так называемым соотношением неопределенностей Гейзенберга AojT h, где т — время жизни атома на энергетическом уровне шириной А(о, h — постоянная Планка. Из этого соотношения вытекает, что Асо /г/т, т. е. естественная ширина линий, согласно квантовой теории, обратно пропорциональна времени жизни атома в начальном состоянии.  [c.41]


Оптические квантовые генераторы с плавной перестройкой частоты служат основой для спектральных приборов с исключительно высокой разрешающей силой. Пусть, например, требуется исследовать спектр поглощения какого-либо вещества. Измерив величину лазерного потока, падающего на изучаемый объект и прощедшего через него, можно вычислить значение коэффициента поглощения. Перестраивая частоту лазерного излучения, можно, следовательно, определить коэффициент поглощения как функцию длины волны. Разрешающая способность этого метода совпадает, очевидно, с шириной линии лазерного излучения, которую можно сделать очень малой. Ширина линии, равная, например, 10 см" , обеспечивает такую же разрешающую способность, как дифракционная рещетка с рабочей поверхностью длиной 5 м, а изготовление таких больших решеток представляет почти неразрешимую задачу.  [c.819]

Ширина спектра излучения лазера определяется главным образом числом генерирующих мод. В оптических резонаторах может одновременно возбуждаться большое число мод (так называемый многомодовый режим генерации). Вследствие этого лазер обычно излучает набор различных частот, которые лежат внутри линии люминесценции активного вещества. Например, для твердотельных лазеров, работающих в многомодовом режиме, ширина линии излучения Атгсч может быть порядка 1 ГГц. Следует отметить, что многомодовый режим работы генератора ухудшает когерентность и направленность излучения.  [c.281]

Исследование сверхтошсой структуры и изотопического сдвига в оптических спектрах требует применения спектральных приборов высокой разрешающей силы, таких, как интерферометр Фабри— Перо, а также специальных источников света, дающих узкие линии. Важное место среди них занимают разрядные трубки с охлаждаемым полым катодом. В этих трубках, особенно при охлаждении катода жидким азотом, достигается существенное снижение доплеровской ширины линий (см. задачу 17, 1).  [c.72]

При фотографической регистрации спектра для получения почернений линий, соответствующих их интегральным интенсивностям, ширина щели спектрографа должна быть также в несколько раз больше ширины линий. Роль выходной узкой щели спектрометра в данном случае играет щель микрофотометра при фотомет-рировании фотопластинки.  [c.126]

В основе количественного анализа по спектрам комбинационного рассеяния света лежит пропорциональная зависимость между интенсивностью комбинационных линий и количеством молекул в единице объема (см. (3.11), (3.48)). При наличии смеси веществ интенсивность линий каждого из компонентов, как правило, прямо пропорциональна его концентрации. В растворах эта пропорциональность иногда нарушается из-за межмолекулярного взаимодействия, которое изменяет симметрию молекулы и производную ее полшзизуемости dajdQi, что оказывает влияние на интенсивность комбинационных линий. Сильное изменение частоты, интенсивности и ширины линий комбинациО Н НОго рассеяния света (так же как и полос ИК-спектра поглощения) наблюдается, например, при образовании межмолекулярной водородной связи в индивидуальных жидкостях (вода, спирты и др-), а также в растворах.  [c.138]

Для нахождения температуры пламени по (5.32) нужно измерить интенсивность линии при просвечивании /пл+спл, интенсивность линии непосредственно-от пламени /дп, интенсивность непрерывного спектра /спл при той же длине волны или в непосредственной близости от нее и, кроме того, знать яркостную-температуру Гспл источника сплошного спектра. Обобщенный метод обращения-спектральных линий позволяет определять температуру пламени, превосходящую яркостную температуру имеющегося источника сплошного спектра. Он применим и для коптящих пламен, излучающих сплошной спектр. При ширине линии, меньшей спектральной ширины щели, величина ЬХ1АХ< . Если ширина линии превышает спектральную ширину щели, линию можно рассматривать как часть сплошного спектра, из которого входная щель вырезает участок, равный спектральной ширине щели. В этом случае ЬХ=АХ и 6Х/ДХ=1.  [c.255]

Экспериментальные методы. Сказанное выше относилось к рассеянию носителей внутри одной зоны (долины) с энергетич. спектром носителей, вырожденный только по ориентации спина. В более сложных ситуациях (вырожденные зоны, многодолинные полупроводники) трудно определить теоретически, какой механизм рассеяния доминирует в той или иной областн темп-р и энергии носителей. Поэтому осн. источником сведений о механизме Р, н. з. является эксперимент. Механизм рассеяния импульса обычно определяют по измерению подзижности носителей заряда ц - = (е/m)ip и по ширине линии циклотронного резонанса Дшв = 1/тр. Входящее сюда Тр усреднено по энергии. Для невырожденного полупроводника усреднение сводится к замене f на Г. Поэтому, изучая температурные зависимости ц или Дое, можно отличить рассеяние на примесях, когда р Г /, от рассеяния на акустич. фононах, когда р еч для деформационного или  [c.276]

Расстояния до далёких галактик, в к-рых индивидуальные объекты неразличимы (далее 10—15 Мпк), определяются с малой точностью. Наиб, значение имеют ди-намвч. методы, основанные на корреляции между массой и светимостью галактик. Индикатором массы служат макс, скорость вращения галактики п определяемая ею дисперсия наблюдаемых скоростей звёзд (находится по ширине линий поглощения в спектре галактики) или, чаще, нейтрального водорода.  [c.286]


Р. и. на изолиров. атоме по существу есть рэлеевскае рассеяние света, усиленное благодаря резонансу на много порядков величины. Спектр Р, и. неподвижного изрлиров. атома зависит от спектра возбуждающего излучения. При возбуждении его излучением непрерывного спектра шириной Аш Vei Ye — естественная ширина спектральной линии данного атома, линия Р. и, имеет лоренцевский контур с шириной Ye ( И- Контур, спектральной линии), т. е, такой же, что и при возбуждении атома др. способом (напр., столк-новительным). Если атом возбуждается монохроматич. излзшением, то его Р. и. является также монохроматическим и имеет ту же частоту Mq (с точностью до эффектов отдачи). При этом, если осн. состояние атома не вырождено, то падающая волна и волна Р. и. когерентны.  [c.313]

Эксперим. методы С. к. аналогичны применяемым в др. методах спектроскопии (см. Спектральные приборы, Спектрометрия). Характерные ширины спектральных полос (10 м ) связаны с осн. веществом кристалла, спектральные линии поглощения и испускания шириной от неск. сотен до единиц см (при комнатной темп-ре) принадлежат примесям и др. дефектам кристалла. Для исследования тонкой структуры спектров образцы охлаждают до азотных (77 К), гелиевых (4,2 К) и более низких темп-р, при этом ширины линий составляют доли СМ .  [c.625]

Структура электронных спектров кристаллов при обычных условиях сильно размыта под действием тепловых колебаний атомов кристаллич. структуры, и в большинстве случаев наблюдаются широкие размытые спектральные полосы. При гелиевой темп-ре. можно наблюдать дискретные спектральные линии, к-рые возникают при прямых переходах между экситонными зонами, при переходах между дискретными уровнями электронов и дырок, локализованных на дефектах решётки, либо на акцепторных или донорных примесях в гомеополярных полупроводниках (см. Спектроскопия кристаллов). Помимо колебаний атомов на форму и ширину экситонных линий влияют тип связи в кристалле, его зонная структура и микроструктура экситонного возбуждения. В сильнолегир. полупроводниках ширина линии может зависеть от степени легирования. Дискретные линии наблюдаются и при комнатной темп-ре в поглощении и люминесценции кристаллов, содержащих ионы переходных металлов (хром, железо, палладий, платина и др.), лантанидов и трансурановых элементов, имеющих незаполненные d- и /-оболочки. В кристаллах высокого качества линии таких примесных ионов, напр, линия иона в рубине и линия в иттрий-алюминиевом  [c.263]

Наряду с высокими энергетич. характеристиками важной привлекательной особенностью Э. л. является чрезвычайно высокое значение ширины линии усиления активного перехода (табл.). Это открывает возможность создания мощнь[х лазеров УФ- и видимого диапазонов с плавной перестройкой длины волны в достаточно широкой области спектра. Указанная задача решается с помощью инжекционной схемы возбуждения лазера, включающей в себя маломоишый генератор лазерного излучения с длиной волны, перестраиваемой в пределах ширины линии усиления активной среды Э. л., и широкополосный усилитель. Эта схема позволяет получить лазерное излучение с шириной линии 10 нм, перестраиваемое по длине волны в диапазоне шириной 10 нм и более.  [c.501]

Пространственное ограничение волновых ф-ций носителей заряда размерами слоя (квантовой ямы GaAs) для толщин слоев играет гл. роль в процессах излучения и поглощения. Др. фактором, влияющим на спектры излучения и поглощения в гетероструктурах, является наличие резких границ раздела. Ширина линий излучения Э. коррелирует с совершенством поверхностей раздела—чем совершеннее поверхность раздела, тем уже линия.  [c.503]

Поскольку энергия возбуждения экситона Е = /гсо (со — частота падающего света), то из уравнения (3.44) следует, что с уменьшением размера наночастиц линии оптического спектра должны смещаться в высокочастотную область. Такое смещение (до 0,1 эВ) полос поглощения в спектрах наночастиц u l (й( = 31, 10 и 2 нм), диспергированных в стекле, наблюдали в работе [399]. На рис. 116 в качестве примера показаны оптические спектры наночастиц dSe [414] при уменьшении их диаметра полоса поглощения сдвигается в область более высоких энергий, т. е. наблюдается голубое смещение. В первом приближении энергия максимума полосы поглощения обратно пропорциональна квадрату радиуса г- частиц dSe. Большая ширина полос поглощения (примерно 0,15 эВ, или 1200 см ) обусловлена дисперсией размера наночастиц — отклонение диаметра частиц от средней величины составляло 5 %. Выполненный в [414] анализ позволил найти истинную ( гомогенную ) ширину линий поглощения, точно соответствующую данному размеру частиц в результате показано, что уменьшение диаметра наночастиц приводит к увеличению ширины линий поглощения (рис. 3.17, кривая 7).  [c.113]

Гамма-резонансный (ГР) спектр представляет собой зависимость интенсивности у-кван-тов, излученных источником и прошедших через поглотитель или рассеянных им, от относительной скорости источника или поглотителя. Основное достоинство получающегося спектра — чрезвычайно узкая линия поглощения (рассеяния). Отношение ширины линии к энергии излучаемого у-кванта, т. е. разрешающая способность, обычно составляет 10 — что в абсолютных величинах соответствует точности определения энергии 10 — 10 эВ. Возможность измерения столь малых энергетических сдвигов оказалась весьма полезной для изучения различных сверхтонких взаимодействий в твердых телах. Благодаря этому применение эффекта Мессбауэра положило начало развитию метода исследования твердых тел —ядерной гамма-резонансной (иногда просто гамма-резонансной) спектроскопии, метода ЯГРС или ГРС [3, 4].  [c.161]

Однако если излучающее и поглощающее ядра связаны в кристаллической решетке (или во всяком случае конденсированной фазе), то при определенных условиях энергию отдачи воспринимает не отдельное ядро, а кристалл в целом, масса которого на много порядков превосходит массу ядра. Появляется конечная вероятность испускания (поглощения) укван-тов без отдачи. В спектре этому процессу соответствует несмещенная линия естественной ширины. Иначе говоря, максимум испускания и поглощения соответствует энергии Еа, не смещенной на Е (штриховая линия на рис. 8.1), а ширина линии на половине высоты равна 2п./т. Вероятность такого безотдачного процесса и есть вероятность эффекта Мессбауэра.  [c.162]

Ван-Флек [14] предложил формулы расчета второго и четвертого моментов линии спектра ЯМР. В монокристалле, содержащем только один сорт магнитных ядер, выражение для второго момента 5, равного среднему квадрату ширины линии спектра ЯМР, обычно записывают в виде  [c.174]


Смотреть страницы где упоминается термин Спектр ширина линий : [c.221]    [c.254]    [c.492]    [c.335]    [c.337]    [c.421]    [c.616]    [c.358]    [c.451]    [c.54]    [c.483]    [c.262]    [c.431]    [c.163]    [c.174]    [c.180]   
Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов (1961) -- [ c.22 ]



ПОИСК



4 —¦ 794 — Ширины

Спектра ширина

Ширина

Ширина линии

Ширина линии в мулътиплетных спектрах

Ширина линии в мультиплетных спектрах

Ширина линии спектра ЯМР и времена релаксации

Ширина линий характеристического спектра

ЯГР-спектр поглощения ширина линий



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте