Возбуждение и ионизация

Эта энергия расходуется на возбуждение и ионизацию молекул газа, а также на повышение их кинетической энергии при упругих столкновениях. В конечном итоге баланс мощности для единицы длины столба дуги имеет вид [c.58]

Ионизационное торможение является главным механизмом потерь энергии при прохождении заряженной частицы через вещество. В этом механизме кинетическая энергия заряженной частицы тратится на возбуждение и ионизацию атомов среды, через которую она проходит. Спрашивается, от чего зависит величина ионизационных потерь и каков ионизационный пробег частицы, на котором она теряет всю свою энергию Для ответа на эти вопросы рассмотрим сначала элементарную схему взаимодействия заряженной частицы с одним электроном, а затем просуммируем эффект для всех электронов, мимо которых про летает частица. [c.203]

В процессе ионизационного торможения кинетическая энер- гия заряженной частицы идет на возбуждение и ионизацию атомов среды, через которую она движется. [c.227]

Одним из видов неупругого электромагнитного взаимодействия заряженных частиц с веществом является ионизационное торможение, при котором кинетическая энергия частицы тратится на возбуждение и ионизацию атомов среды. Величина удельной потери энергии на ионизацию не зависит от массы частицы, пропорциональна квадрату ее заряда и концентрации электронов в среде и обратно пропорциональна (в первом приближении) квадрату скорости частицы [c.255]

Основным механизмом возбуждения и ионизации атомов в полом катоде являются неупругие столкновения с электронами. Заметную роль в ионизации, а в ряде случаев и в возбуждении атомов исследуемого вещества, могут также играть соударения с возбужденными атомами инертных газов, находящихся в долгоживущих (метастабильных) состояниях. Гелий обладает наиболее высоким потенциалом возбуждения (19,8 эВ) и потенциалом ионизации (24,6 эВ). Вследствие этого средняя энергия электронов, характеризуемая электронной температурой, в разряде с гелием выше, чем с другими инертными газами. Поэтому в разряде с гелием удается получать спектры трудновозбудимых элементов и их ионов. Наоборот, в случае легковозбудимых элементов лучшие результаты дает использование более тяжелых газов, например аргона, поскольку они вызывают более интенсивное катодное распыление. [c.74]

Для того чтобы выбивание атомов шло с заметной интенсивностью, необходимо, чтобы эффективное сечение выбивания было не очень мало по сравнению с сечениями других конкурирующих процессов. Для нейтронов это сечение имеет порядок нескольких барн (в области энергий, достаточных для выбивания) и вполне сравнимо с сечениями конкурирующих неупругих процессов. Для электронов сечение выбивания имеет порядок десятков барн, но сечения возбуждения и ионизации электронов (в пересчете на один атом) имеют значительно большую величину. Для у-квантов в наиболее интересной для практики области энергий в несколько МэВ наибольшее сечение имеет процесс образования комптоновских электронов (см. гл. VHI, 4). Поэтому при у-облучении атомы выбиваются из решетки в основном комптон-электронами. Но если электронный пучок создает выбитые атомы только в поверхностном слое, то v-излучение выбивает атомы во всем объеме вещества. [c.651]

Длины волн, потенциалы возбуждения и ионизации инертных газов [c.259]

Первичными процессами, протекающими в исходном веществе под действием радиации, являются возбуждение и ионизация молекул, которые приводят к разрыву химических связей с образованием свободных радикалов. Вторичные радиационно-химические процессы представляют собой разнообразные реакции радикалов [Л. 21, 25, 68]. [c.79]

При больших энергиях электронов могут иметь место возбуждения на различные уровни, а также ионизация атомов. Сумма эффективных сечений всех процессов определяет в этом случае полное сечение столкновений Tq. Зависимость величин Ств и < i от энергии электронов определяется соответственно функциями возбуждения и ионизации. Функция возбуждения имеет ярко выраженные максимумы (рис. 18), свидетельствующие о том, что процесс взаимодействия наиболее интенсивен при вполне определенных значениях энергии электронов. [c.34]

Осн. процессами в Н. п. являются элементарные процессы возбуждения и ионизации газа, рекомбинации заряж. частиц и др., процессы переноса заряж. и возбуждённых частиц, а также процессы переноса энергии за счёт теплопроводности, конвекции. Число типов элементарных процессов в Н. п. достигает неск. десятков. На примере плазмы воздуха (табл.) рассмотрим характер элементарных процессов в Н. п. [c.352]

Для характеристики дифференциальных сечений возбуждения и ионизации атомов заряж. частицами вводят обобщённую С. о. Ffi(k) [6, 7], к-рая в одночастичном приближении выражается через формфактор перехода [c.495]

ТОРМОЗНАЯ СПОСОБНОСТЬ ВЕЩЕСТВА —энергия, теряемая заряж. частицей в слое данного вещества единичной толщины. Энергия теряется за счёт возбуждения и ионизации атомов вещества (см. Ионизационные потери) и тормозного излучения (см. Радиационные потери). [c.148]

Известно, что энтальпия торможения продуктов сгорания высока и распределена по различным степеням свободы молекул в виде поступательного, вращательного и колебательного движений, а также энергии диссоциации молекул (энергию электронного возбуждения и ионизации можно не рассматривать, так как температуры в камере сгорания не настолько высоки). [c.20]

В качестве особенно наглядного примера вычисления Цр рассмотрим опять случай СОг-лазера, На рис. 3,25 представлены результаты численного расчета для двух газовых смесей СО2 N2 Не = 1 2 3 и 1 0,25 3. На рисунке представлена доля полной мощности накачки, идущей в различные каналы возбуждения, как функция отношения S р. Кривые / представляют мощность накачки, затрачиваемой на упругие столкновения, на возбуждение вращательных уровней основного состояния молекул N2 и СО2, а также на возбуждение нижних колебательных уровней СО2. Кривые III к IV определяют мощность, идущую соответственно на электронное возбуждение и ионизацию, а кривые II — мощность накачки соответственно верхнего (001) лазерного уровня молекулы СО2 и первых пяти колебательных уровней молекулы N2, Если передача энергии между молекулами N2 и СО2 происходит с достаточной эффективностью, то всю эту мощность накачки можно рассматривать как полезную. Таким образом, кривая II дает КПД накачки rip. Заметим, что, как упоминалось выше при рассмотрении электронной температуры (которая в данном случае не имеет смысла, поскольку распределение электронов далеко не максвелловское), существует оптимальное значение Sjp. При слишком малых р мощность накачки в большой степени теряется на упругие столкновения и возбуждение нижних колебательных [c.152]

Выше были рассмотрены особенности роста больших совокупностей кристаллов при использовании молекулярных пучков. В настоящее время достаточно широкое распространение получили методы выращивания совокупностей кристаллов в газовых средах в условиях наложения возмущающих полей. Наиболее полно изучено влияние электрических полей, в частности постоянного электрического поля, достаточного для зажигания и поддержания в газовой среде тлеющего разряда. В процессе горения разряда происходит возбуждение и ионизация частиц газа, а образующиеся ионы бомбардируют поверхность катода. В результате бомбардировки катода происходит так называемое катодное распыление [c.44]

Алгоритм численного решения уравнения вида (5.45) заключается в следующем [2]. Стандартным итерационно-интерполяционным методом исходное уравнение сводилось к системе алгебраических конечно-разностных уравнений с трехдиагональной матрицей. Затем полученная система уравнений разрешалась методом прогонки. Сечения упругих соударений, возбуждения и ионизации задавались таблично. [c.164]

Сборник посвящен исследованию различных элементарных процессов, протекающих в низкотемпературной газоразрядной плазме. В статье изложены результаты исследований уширения спектральных линий низкими давлениями собственного и посторонних газов возбуждения и ионизации при атомно-атомных и атомно-молекулярных столкновениях, происходящих с участием возбужденных, частиц, и т. д. Кроме того, сюда включены статьи о применении метода задержанных совпадений в атомной и молекулярной спектроскопии и о процессах формирования сверхтонкой структуры спектральных линий в газоразрядных источниках света. [c.128]

Здесь следует коснуться некоторых новых взглядов на составляющие энергетического баланса дуги. Так, в работе [Л. 4-3] указывается, что при очень больших токах — порядка 10—20 ка — важную роль в энергетическом балансе дуги начинает играть большой объем испаряемого из электродов материала. Возникают струи паров электродов, выходящие из электродов и смешивающиеся с плазмой дуги. Энергия, необходимая для нагревания этих струй до температуры плазмы и их ионизации, составляет значительную долю от полной энергии дуги. При токе 10 ка за 1 полупериод тока частоты 60 гц из анода и катода дуги испаряется 0,75 г меди. Энергия, необходимая для нагревания 0,75 г меди от 3000 до 20 000° (температура на оси дуги), учитывая возбуждение и ионизацию атомов меди, составит 8550 дж. В дуге длиной 5,1 см при токе 10 ка выделяющаяся за полупериод энергия равна приблизительно 10 ООО дж. Таким образом, до 85% энергии дуги Должно быть израсходовано на нагревание и ионизацию паров меди. [c.142]

ЦИЮ. Быстрый электрон претерпевает также и упругие соударения с атомами, однако, ввиду очень малой массы электрона, последний практически не передает почти никакой энергии атому при таком столкновении. Вся энергия электрона теряется, таким образом, либо на возбуждение атомов, либо на ионизацию. Электрические разряды в газах, как, например, тлеющий или коронный разряды, не являются, собственно говоря, излучением, однако механизм передачи энергии в этих явлениях такой же, как и в случае поглощения излучения легкой группы, и связан с возбуждением и ионизацией атомов. Поэтому химические явления, возникающие при электрическом разряде, весьма близки к тем, которые имеют место под действием излучений большой энергии. [c.225]

Итак, экспериментальные исследования Резерф< )рда по рассеянию а-частиц при их прохождении через тонкие металлические листки показали, что основная масса атома и положительный электрический заряд сосредоточены в небольшой (lO — 10 м) центральной области атома, именуемой атомным ядром. В нейтральном атоме вокруг ядра обращается Z электронов. Такая мОт дель получила название ядерной модели атома. Ядерная модель атома в сочетании с квантовыми закономерностями объясняет возникновение и структуру атомных спектров процессы возбуждения и ионизации атомов, свойства молекул, свойства твердых тел (металлов) и т. д. [c.81]

По величине выхода можно оценить относительную роль ионизации и возбуждения, если учесть, что на 100 эВ ионизационных потерь в веществе образуется в среднем 3—4 пары ионов (ср. гл. VIII, 6, п. 2). Сравнивая это значение с величиной G, мы видим, что механизмы возбуждения и ионизации в среднем примерно в равной степени важны для осуществления радиационно-химических реакций. [c.661]

Экспериментальная проверка потенциалов возбуждения и ионизации водорода затруднена из-за того, что водород при обычных условиях двухатомен. Таким образом, нужно сперва разбить молекулу на атомы, а уже затем возбуждать ее до свечения. Это можно сделать, экспериментируя с водородом, диссоциированным очень высокой температурой. Полученные таким способом потенциал возбуждения лаймановской серии и потенциал ионизации хорошо совпадают с теоретическими. [c.28]

Исследуемое вещество испаряется с анода, температу рако-торого определяется Температурой плавления или возгонки материала анода. Возбуждение и ионизация в дуге носят термический характер. [c.118]

В дуговом режиме работы ТЭП часть энергии электронов, эмиттнруемых катодом в плазму, тратится на возбуждение и ионизацию плазмы [7в]. В дальнейшем эта энергия в результате различных процессов (нониого тока, диффузии возбужденных атомов, излучение из ллазмы и др.) возвращается на электроды. Учитывая это, можно записать [c.199]

Классический пример применения В. в, м. для вычисления вероятностей квантовых переходов во встряске типа включения — расчёты возбуждения и ионизации атомов при бета-распаде ядер. В теории атомтгых столкновений он используется при исследовании двух-электронных радиационных, а также трёх-, четырёх- (и более) частичных Ожо-переходов в сложных атомах [5]. [c.287]

Эфф. сечения столкновит. процессов также зависят от S. Эти процессы можно характеризовать масштабным фактором г , причём для процессов возбуждения и ионизации электронами а = —4, для фотоионизации а = —2, перезарядки при столкновениях с нейтральными атомами сс = 1, ионизации нейтральных атомов а = 2 и т. д. Т. о., эфф. сечения элементарных процессов с участием М. в. сильно зависят от партнёра по столкновениям и параметра z. [c.159]

Изменение свойств органич. веществ связано гл. обр. с процессами возбуждения и ионизации молекул. При этом образуются вераввовесные электроны, ионы, ионные радикалы, молекулы в возбуждённом состоянии. Взаимодействие излучения с органич, веществами сопровождается газовыделением. Радиац. стойкость органич. веществ зависит от кол-ва растворённого в них О, и скорости его поступления из окружающей среды. В присутствии Оз происходит радиац.-хим. окисление вещества, В результате изменяется хим. и термин, стойкость вещества, может возрасти его хим. агрессивность по отношению к конструкц, материалам. Сшивание и деструкция полимеров — необратимые процессы, к-рые приводят к наиб, значит, изменениям структуры. [c.202]

Различают неск. видов Р., отличающихся механизмом процесса Р. стопкновительвое (физ., или ионное, Р.), к-рое доминирует в той области энергий бомбардирующих частиц, где преобладают упругие процессы (ядерное торможение) Р. за счёт неупругих процессов — в результате возбуждения и ионизации атонш твёрдого тела хим. Р., к-рое возникает, если падающие частицы вступают в реакцию с атомами твёрдого тела, в результате чего на поверхности образуются летучие соединения. Возможны сочетания неск. механизмов Р. [c.264]

С, с. определяет масштаб величины разл. характеристик ионов. Так, расстояние между уровнями анергии и потенциал ионизации для ионов с одинаковым числом злектровов oZ , длина волны излучения вероятность излучат, переходов Z, характерный радиус иона сечения возбуждения и ионизации [c.625]

Другие типы С. д. Сущест . влияние на световыход сцинтиллятора оказывает электрич, поле. При приложении достаточно сильного поля возникающие при прохождении заряж. частицы электроны могут приобретать энергию, достаточную для возбуждения и ионизации атомов, что в конечном итоге приведёт к увеличению числа фотонов в световой вспышке. Этот принцип лежит в основе сцин-тилляционного пропорционального счётчика. Его преимущество— высокое энергетич. разрешение в области малых энергий. [c.40]

Спектр Т. и. непрерывен и ограничен максимально возможной энергией фотонов Т. и., равной нач. энергии электрона. При движении в веществе электрон с энергией выше нек-рой критич. энергии Sa теряет энергию на Т. и., при меньших энергиях преобладают потери на возбуждение и ионизацию атомов. Значение напр., для свинца 10МэВ, для воздуха 200 МэВ. [c.149]

Пробой газа начинается от случайных или искусственно впрыскиваемых нач. электронов, к-рые набирают в элек-трич. поле энергию, а затем теряют её на возбуждение и ионизацию атомов. В результате ионизации вместо одного энергичного электрона появляются два медленных, они снова набирают энергию и т. д.—развивается лавина электронная. За 10 —10" с ток вырастает на неск. порядков. [c.510]

Анализ энергетич. спектров неупруго рассеянных электронов составляет основу спектроскопии характеристических потерь энергии электронов, исследующей коллективные (плазменные) и одночастичные возбуждения валентных электронов с энергией до < 50эВ, и ионизационной спектроскопии, изучающей возбуждение и ионизацию электронов внутр. оболочек атомов (электронов острова) в диапазоне потерь энергии —5000 эВ. В зависимости от используемой энергии первичных электронов в Э. с. (и в дифракции электронов) различают два случая. Если энергия лежит в интервале от десятков до 100 кэВ, то регистрируются либо электроны, прошедшие сквозь тонкий слой вещества, когда получаемая информация характеризует его объёмные свойства, либо электроны, отражённые от поверхности под скользящими углами. Обычно при этом аппаратуру совмещают в одном приборе с электронным микроскопом [5 ]. В области низких и ср. значений энергии (не превосходящих неск. кэВ) используется геометрия эксперимента на отражение. В этом случае получают информацию о структуре и свойствах приповерхностного слоя, толщина к-рого примерно равна длине свободного (по отношению к неупругому взаимодействию) пробега электрона X. При энергии электронов 50—100 эВ, когда X, составляет неск. моноатомных слоев, достигается наиб, чувствительность метода к свойствам поверхности. При большей и меньшей энергии глубина зондирования возрастает. [c.553]

Как известно [1 2], оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа аналогична схеме обычного светового микроскопа (фиг. 1,а) конденсорная линза освещает узким пучком электронов объект, изображение которого с помощью двух электронных линз — объективной и проекционной — в увеличенном масщтабе переносится на конечный экран. Проходя через объект, расположенный вблизи апертурной диафрагмы объективной линзы, электроны взаимодействуют с атомалш объекта и отклоняются от первоначального направления падения пучка, т. е. рассеиваются , При этом у части электронов скорость меняется только по направлению, не меняясь по величине, что соответствует упругому рассеиванию. Скорость другой части электронов меняется и по направлению, и по величине, при этом часть энергии электронов затрачивается на возбуждение и ионизацию атомных электронов в объекте. Вследствие этого электроны, пройдя через объект, после рассеяния в нем имеют вид расходящегося пучка. При этом электроны, рассеянные на угол, больший апертурного угла объективно линзы, определяемого диаметром апертурной диафрагмы и ее геометрическим положением, поглощаются в толще материала этой диафрагмы, и в дальнейшем в формировании изображения, возникающего на экране электронного микроскопа, принимает участие только та часть рассеянных электронов, которая прошла через диафрагму (фиг. 1,6). [c.5]

Иоиы тяжелой группы также представляют собой быстро. летящие заряженные частицы, вызывающие на своем пути возбуждение и ионизацию атомов вещества. Поэтому эффекты от тяжелых частиц во многом сходны с эффектами от излучений. легкой группы. Тяжелые частицы обладают значительно меньшим пробегом, нежели легкие частицы той же энергии, а потому плотность ионизации вдоль треков тяжелых частиц значительно больше, чем у легких. [c.225]

Смотреть страницы где упоминается термин Возбуждение и ионизация : [c.325] [c.253] [c.259] [c.185] [c.86] [c.189] [c.636] [c.611] [c.79] [c.19] [c.208] [c.208] [c.73] [c.97] [c.225] [c.358]

Смотреть главы в:

Пособие по электротехническим материалам -> Возбуждение и ионизация

ПОИСК

Возбуждения

Ионизация

Ионизация и возбуждение ударами тяжелых частиц

Ионизация и рекомбинация. Электронное возбуждение и дезактивация

Ионизация и электронное возбуждение

Потенциалы ионизации и возбуждения

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...