Поляризация при зеркальном отражении

Поляризация при зеркальном отражении. Угол Брюстера. Посмотрите на отражение какого-либо предмета в обычном стекле или в гладкой поверхности воды. Воспользуйтесь поляроидом для определения поляризации отраженного света. Вы обнаружите, что при углах падения, близких к 56° для стекла и к 53° для воды, отраженный свет полностью линейно поляризован в направлении, параллельном поверхности. Такой угол падения называется углом Брюстера. Вращая поляроид, вы можете полностью погасить отраженный свет при условии, что угол падения света на отражающую поверхность равен углу Брюстера. [c.372]

Опыт. Фазовые соотношения при зеркальном отражении света от стекла. Попытаемся проверить соотношения, показанные на рис. 8.8. Кроме предметов, использованных в опыте 8.25, нам нужен еще один поляроид, который мы поместим между источником света и лежащим на столе стеклом. Ось пропускания этого поляроида должна составлять угол 45° с горизонталью. (Совет. Удобно сделать так воткните угол поляроида в пластилин или просто замазку, положив ее на предметное стекло микроскопа, поверхность которого и будет отражающей поверхностью.) Будем смотреть на поверхность стекла так, чтобы видеть источник света через первый поляроид. Предположим, что ось пропускания поляроида направлена от направо вверх к налево вниз . Будем менять угол падения света (передвигая по столу стекло с поляроидом или лампу) и для каждого угла произведем с помощью второго поляроида анализ поляризации отраженного света. Вы обнаружите, что, когда угол падения близок к нулю (почти нормальное падение), отраженный свет поляризован в направлении от налево вверх к направо вниз . По мере перемещения стекла и приближения угла падения к углу Брюстера поляризация остается линейной, но ее направление поворачивается к горизонтальному. Оно становится горизонтальным при угле Брюстера и продолжает свой поворот при переходе от угла Брюстера к скользящему падению, приобретая направление от вниз налево к вверх направо . Таким образом, при переходе от нормального к скользяще.му падению направление поляризации поворачивается на 90 , как предсказывает рис. 8.8. (При нормальном падении условия отражения обеих компонент, вследствие симметрии, почти совпадают, и поэтому направление поляризации соответствует 45 . При скользящем падении обе компоненты отражаются почти полностью и опять находятся в равных условиях. Поэтому поляризация снова отвечает углу в 45°.) Интересно отметить, что поляризация при всех углах падения остается линейной. Это значит, что между компонентами поля, лежащими в плоскости падения и перпендикулярными к ней, нет других сдвигов фаз, кроме 0° и 180°. Таким образом, при отражении падающей волны импеданс оказывается чисто активным. Этого и следует ожидать при отражении от прозрачной поверхности. [c.400]

Если световой поток вступает во взаимодействие с веществом, то интенсивность и поляризация его после взаимодействия зависят от интенсивности и поляризации первичного потока и от характера взаимодействия. Процессы взаимодействия можно разделить на когерентные (например, зеркальное отражение) и статистические (рассеяние, диффузное отражение), хотя это разделение— несколько условное. Ранее (стр. 145) упоминалось, что частично когерентный пучок при наклонном падении даже при зеркальном отражении меняет свойства когерентности. [c.298]

Измеряя расстояния между узлами (или пучностями) электрической напряженности, находят значения длины волны. При наличии второй границы раздела сред, т. е. появлении промежуточного слоя, отражения наклонно падающей волны количественно характеризуют коэффициентом зеркального отражения от слоя, рис. 7, а. Если вектор Е лежит в плоскости падения, то поляризация падающей волны называется вертикальной, а когда вектор Е перпендикулярен плоскости падения — горизонтальной. [c.208]

О. 3., распространяющегося в твёрдом теле [5,6]. При распространении звука в изотропном твёрдом теле наиб, простой характер носит отражение сдвиговых волн, направление колебаний в к-рых параллельно плоскости раздела. Конверсия мод при отражении или преломлении таких волн отсутствует. При падении на свободную границу или границу раздела с жидкостью такая волна отражается полностью (Л = 1) по закону зеркального отражения. На границе раздела двух изотропных твёрдых тел наряду с зеркально отражённой волной в среде 2 образуется преломлённая волна с поляризацией, также параллельной границе раздела. [c.506]

Остановимся на пороговых явлениях, характерных для отражательных решеток типа гребенки. Зависимости W o(x) в узком диапазоне частот сразу же за первой точкой скольжения х = 1 представлены на рис. 112, а, б. Как видно, при -поляризации (рис. 112, а) уровень зеркально отраженного сигнала изменяется не так резко, как при Я-поляризации (рис. 112, б). Обращают внимание зависимости с 0 = 0,66 и 0,6 для Я-поляризации. Уже при X = 1,005 зеркально отраженный сигнал настолько мал, что почти вся падающая энергия рассеивается в направлениях, составляющих угол около 5° с плоскостью решетки. В этом случае лучевая диаграмма иллюстрирует распределение потоков энергии в различных направлениях (длина векторов пропорциональна величине энергии соответствующих волн, рис. 112, б). [c.162]

Термин поляризационная голограмма используется в тех случаях, когда особое внимание уделяется состоянию поляризации объектной волны или волны, формирующей изображение. В известном смысле мы всегда имеем дело с поляризационной голограммой, поскольку на голограмме записываются только те компоненты объектной волны, поляризация которых совпадает с опорной. Сначала мы рассмотрим, почему объектная волна имеет особые характеристики поляризации, а затем отметим их влияние на запись голограммы. Первый шаг на пути получения более реалистических восстановленных изображений состоит в записи такого изображения объекта, каким его видел бы наблюдатель. Например, можно потерять зеркальные отражения, если поляризация некоторой части отраженной от объекта волны была ортогональна поляризации опорной. Затем мы исследуем способы, позволяющие сохранить в восстановленном изображении состояния поляризации объектной волны. При сохранении состояния поляризации объекта голографическое изображение можно наблюдать сквозь поляризатор, а также, используя голо-графическое изображение, проводить поляризационные измерения, например, при исследовании фотоупругости. Основы рассмотрения данного вопроса были заложены в 2.3 настоящей книги. [c.220]

Вращение плоскости поляризации. Одним из видов двойного лучепреломления является появление в результате него двух циркулярно поляризованных волн, приводящих к вращению плоскости поляризации. Это явление называют оптической активностью вещества. Оптическая активность в естественных кристаллах определяется как строением молекул вещества, так и расположением молекул в кристаллической решетке. Возникновение оптической активности связано с тем, что электромагнитная волна, проходящая через вещество, имеет различную фазу в разных частях молекулы или кристаллической решетки. В результате колебания электронов, возбужденных световой волной в отдельных частях асимметричной молекулы, они имеют разную фазу, и при интерференции вторичных световых волн происходит поворот плоскости поляризации. Это явление может быть названо внутримолекулярной интерференцией . Оптической активностью обладают только асимметричные молекулы и кристаллы, не имеющие ни плоскости, ни центра симметрии. Вращение плоскости поляризации в жидкостях является следствием так называемой оптической изометрии. Так как молекулы большинства органических соединений не симметричны, то в простейшем случае у таких соединений возможно наличие двух стереоизомеров, являющихся зеркальным отражением друг [c.95]

В разд. 6.10.1 мы привели общую формулу дифракции на решетке, которая справедлива для произвольной решетки (т.е. независимо от ее профиля). Знак дифракционных углов выбирался таким образом, чтобы для нулевого порядка (зеркальное отражение) мы имели > 0. Амплитуда поля в различных порядках вычисляется с помощью коэффициентов отражения/ , которые определяются профилем решетки, поляризацией, длиной волны и углом падения. Эти коэффициенты отражения можно вычислить, используя либо методы с разложением по плоским волнам (скажем, метод наименьших квадратов или метод Фурье), либо рассмотренный в предыдущем разделе интегральный метод. Вообще говоря, дифракционные решетки применяют в качестве диспергирующих элементов. Следовательно, для них наиболее важными параметрами являются те, которые связаны с их способностью разделять различные длины волн, скажем X и X + rfX. Эта способность зависит от расстояния d между штрихами, от порядка т, в котором наблюдается дифракция, от расстояния между решеткой и точкой наблюдения и от размера всей решетки. Рассматривая параметры решетки d/ и т, мы видим, что при фиксированном угле падения формула решетки дает дисперсионное уравнение [c.447]

В работе [91] приведен расчет коэффициента отражения диэлектрического цилиндра с потерями методом зеркальных отражений для случая вертикальной поляризации. Представляет интерес сравнить расчетные данные, полученные разными методами. Такое сравнение приведено на рис. 2.18 при следующих параметрах, заимствованных из [91] е =4,4 е" = 0,13 /)/а = 0,1125. Сплошная линия соответствует методу зеркальных отражений, пунктирная линия — приближенному методу, рассмотренному выше. Можно отметить удовлетворительное совпадение данных, полученных различными методами. Некоторое уменьшение 5ц в методе, использованном здесь, обусловлено тем обстоятельством, [c.55]

Есть величины, сохраняющие числовые значения при преобразовании координат, но при отражении в плоскости, инверсии, зеркальном и инверсионном повороте меняющие знак. Такие величины называют псевдоскалярами (или псевдотензорами нулевого ранга). Примером псевдоскаляра может служить вращение плоскости поляризации света. [c.41]

Зеркальное О. с. характеризуется связью положений падающего и отражённого лучей 1) отражённый, преломлённый и падающий лучи и нормаль к плоскости падения компланарны 2) угол падения равен углу отражения. Совместно с законом прямолинейного распространения света эти законы составляют основу геометрической оптики. Для понимания физ. особенностей, возникающих при о. с., таких, как изменение амплитуды, фазы, поляризации света, используется эл.-магн. теория света, в основе к-рой лежат ур-ния Максвелла. Они устанавливают связь параметров отражённого света с оптич. характеристиками вещества — оптич. постоянными пик, составляющими комплексного показателя преломления п = п — гх п— отношение скорости в вакууме к фазовой скорости волны в веществе, и — гл. безразмерный показатель поглощения. Параметры отражённого света могут быть получены из ур-ния волны, к-рое удовлетворяет решению ур-ний Максвелла [c.510]

Общее представление о зависимости энергии нулевой (зеркальной) волны от частоты при рассеянии поля на гребенке дает рис. 116. Обращает внимание прежде всего наличие частот полного отражения и полного преобразования падающего поля в плоские волны, уносящие энергию от структуры под некоторыми углами. Полное рассеяние (Wo = 0) для обеих поляризаций имеет место при 0 = 0,5. В исследованном диапазоне частот [c.167]

Для гармоник, излучающихся со стороны пологой грани, форма зависимости коэффициента отражения от угла падения близка к полученной в классической геометрооптической теории дифракции (рис. 126—129). В этом случае при п > 2 основополагающим является только один простой зеркальный резонанс. С увеличением номера порядка коэффициент отражения в максимуме практически не изменяется, зависимость вблизи максимума все более приобретает игольчатый характер, а расстояние между максимумами при обеих поляризациях уменьшается. Аналогично интенсивности распределяются при исследовании всех других решеток с освещенной пологой гранью. Однако в некоторых случаях зависимости при Н-поляризации менее плавные, чем при -поляризации. Нерегулярности наблюдаются вблизи аномалий Вуда. [c.188]

Устройство зеркального полярископа системы Белоусова—Зайцева показано схематически на рис. 88 в двух проекциях. Источник света в виде многочисленных электрических ламп помещается под куполом, окрашенным в белый цвет с целью наибольшего отражения света. Лучи, падающие на зеркало 2 (поляризатор) под углом, равным углу полной поляризации (56°55 ), отражаются от него поляризованными в вертикальной плоскости. Другое такое же зеркало 3 (анализатор), расположенное вертикально под тем же углом к лучу, гасит этот луч. Образец помещается по-прежнему между поляризатором и анализатором. При нагружении образца, как и ранее, глаз наблюдателя, находящийся в точке 4, заметит появление света, т. е. изохромы, на изображении образца в зеркале 3. [c.141]

Отражение на зеркальных гранях гетеролазеров обеспечивает для излучения обратную связь, необходимую для генерации, и влияет на ряд свойств гетеролазеров. В 8 показано, что отражение на гранях приводит к выбору ТЕ-поляризации как преобладающей для излучения ДГС-лазеров. Коэффициент отражения на гранях входит в выражение для плотности порогового тока ( 8 гл. 3), а также влияет ( 4 гл. 7) на значение толщины активного слоя, при котором наблюдаются моды высшего порядка, определяющие распределение поля в направлении, перпендикулярном плоскости р — -перехода. [c.34]

Из этого рисунка видно, что если ось вращения частицы направлена вдоль импульса, то отдельные точки частицы движутся по винтовым линиям определенной, скажем правой, ориентации. При зеркальном отражении ориентация траекторий частицы меняется. Они становятся левовинтовыми. Это и есть несо-хранение четности. Для квантовых микрочастиц классические представления о траекториях становятся чересчур наивными, но вывод о том, что наличие продольной поляризации свидетельствует о несохранении четности, остается в силе. Действительно, наличие продольной поляризации означает, что для частицы не равно нулю скалярное произведение ее спина Уна импульс р. Но при отражении в зеркале, показанном на рис. 7.81, импульс изменит знак, а момент не изменится. Поэтому знак продольной поляризации изменится, т. е. опыт, рассматриваемый через зеркало, будет отличаться от реального. Например, установлено, что при пионных распадах [c.408]

Каким бы простым ни казалось наблюдаемое явление, все равно в процессе его все более глубокого исследования понадобятся представления о природе света. Казалось бы, что может быть проще и понятнее отражения света от зеркальной поверхности А ведь при таком отражении происходит частичная поляризация света, иначе говоря, изменяется строение света, его структура. Здесь уже не обойтись без рассмотрения природы света. По этому поводу французский физик Араго (начало XIX в.) писал Отражение света занимало наблюдателей еще со времен Платона и Евклида. Но никто не подозревал в нем ничего большего, как средство отклонять лучи, никто не воображал, что изменение пути может быть причиной изменения природы. ОППОНЕНТ. Ваши замечания вполне убедительны. Однако такой талантливый ис- [c.9]

Свойство 1. Если при Я-поляризации эшелеттная решетка с углом блеска а = 90° — г ) освещается под углом падения ф = 90° — г ), ф > О и ф = —Tj при ф < О, то вся дифрагированная энергия концентрируется в — л-м порядке эффективность W-n = 1. все другие Wm = 0, т Ф —п. При этом во всем пространстве существует одна гармоника рассеянного поля. Это известное явление резонансного отражения названо зеркальным резонансом [25, 276]. Дело в том, что при Я-поляризации всегда наблюдается явление резонансного роста того порядка спектра рассеянного поля, направление распространения которого практически точно соответствует направлению зеркального отражения падающего поля от рабочей грани эшелетта. В отмеченном нами случае автоколлимационного отражения это явление имеет геометрический характер (геометрический резонанс П, являющийся частным случаем зеркального резонанса, гл. 3). [c.182]

Возможность получить линейную поляризацию при отражении широко используется в оптическом эксперименте, например в ИК-области спектра. На этом принципе строятся поляризаторы, представляющие собой пластинки из диэлектрика, которые обладают плоской поверхностью, полированной до зеркального блеска. Эти зеркала изготовляются из стекол, непрозрач- [c.64]

Контролировать подобными дефектоскопами можно различные материалы стальные ленты холодно- или горячекатаные, протравленные и не-протравленные, покрытые защитной пленкой олова, цинка или хрома, ленты бумаги, ткани, полимерной пленки, фольги и т. д. Система контроля дефектов выбирается индивидуально для конкретного материала. При 01ражении, близком к диффузному, хорошие результаты обеспечивает метод светового пятна, при отражении, близком к зеркальному, — метод движущегося изображения. Увеличение чувствительности достигают установкой перед фотоэлементами поляризационного фильтра с направлением поляризации 90° к плоскости падения света. [c.94]

Полярископ зеркальный. Выше рассмотрен полярископ с поляроидами или призмами Николя. Такие полярископы удобны в работе и широко применяются в настоящее время. Но они имеют ограниченное поле просвечивания, определяемое размерами поляроида. Существуют полярископы, основанные на поляризации света при отражении его от зеркала. Поляризатором и анализатором в них являются морблитовые зеркала. Эти полярископы более громоздки, чем поляроидные, но зато они допускают исследование моделей большей величины — до 0,5 м и больше в поперечнике — без перестановки их в полярископе. [c.137]

При падении поперечной волны, поляризованной в плоскости падения, на свободную поверхность тела, на границе возникает как отражённая поперечная волна той же поляризации, так и продольная волна. При углах падения 0 , меньших критического угла G = = ar sin ( f/ ), коэф. отражения Rf и — чисто действительные отражённые волны уходят от границы точно в фазе (или в противофазе) с падающей волной. При 0 >0г , от границы уходит только зеркально отражённая поперечная волна вблизи свободной поверхности образуется неоднородная продольная волна. [c.506]

Бурное развитие теории многослойных покрытий для рентгеновского диапазона и методов их изготовления (см. гл. 4) привело в последние 10—15 лет к созданию нового направления в зеркальной рентгеновской оптике и появлению новых типов приборов для построения изображений. Применение многослойных покрытий (МСП) дает возможность получать высокие значения коэффициента отражения при больших углах скольжения, Вплоть до Нормальни1 0 падения, настраивать прибор на выбранный узкий спектральный диапазон и анализировать состояние поляризации излучения. [c.204]

В самом деле, линейно поляризованный считывающий свет, азимут поляризации которого параллелен или перпендикулярен директору на передней границе слоя ЖК, при прохожде11ии через закрученную структуру останется линейно поляризованным, но его азимут повернется на угол закрутки ЖК фо- Отразившись От зеркального Слоя, свет на обратном пути также будет отслеживать ориентацию молекул ЖК, и его азимут повернется па угол —ifo, т. е. в обратном направлении. В скрещенных поляроидах (в этом случае они располагаются по одну сторону от ячейки) в отсутствие напряжения такая ячейка будет выглядеть темной, если азимут анализатора или поляризатора совпадает с направлением директора на передней границе слоя ЖК- Минимум интенсивности отраженного свега будет также наблюдаться прн напряжениях на ячейке, соответствующих полной переориентации молекул ЖК в гомеотропное состояние. [c.91]

Первую работу по исследованию поляризованных сдвиговых УЗК опубликовали Файрстон и Фредерик [22]. Они установили наличие вращения плоскости поляризации УЗК при отражении от зеркальной поверхности раздела двух сред. [c.68]

При проведений тепловых расчетов (необходимо знать радиационные свойства поверхностей. В настоящее время составлены каталоги этих свойств для большого количества различных типов материалов и паверхностей. В работах [1—3] содержится обзор имеющихся данных ио радиационным свойствам паверхностей, а также подробно обсуждаются методы расчета теплообмена излучением, Как правило, в тех1ническ их приложениях при решении задач о теплообмене излучением между поверхностями принимается ряд yпpoщaющ иx предположений, а именно 1) отражение поверхности предполагается чисто зеркальным или чисто диффузным 2) собственное излучение поверхности предполагается диффузным 3) спектральная или монохроматичеокая излучательная и отражательная способности не зависят от длины ВОЛны 4) при отражении излучения поляризации не происходит. Хотя эти допущения являются весьма общими, они позволяют в большинстве случаев получить приемлемую точность. [c.330]

Важным источником систематической ошибки может служить певыполнение условия (41). В принципе кристалл должен быть полностью погружен в измеряемое изотропное черное излучение. Однако при остронаправленной накачке, малой апертуре ФЭУ, плоскопараллельной форме (с / 1 см) и хорошем оптическом качестве кристалла фотонометр видит лишь узкий конус лучей одной поляризации вдоль направления = — к (исправленного на преломление), а также (за счет отражения на гранях) вдоль направления к . = 2у — 22)1 где ось z перпендикулярна входной и выходной граням. Этот зеркальный лепесток диаграммы направленности можно уменьшить просветлением. Оставшуюся часть нетрудно учесть дополнительным измерением т при перемещении калибруемого источника в зеркальное относительно кристалла положение. Действительно, с учетом отражений [c.203]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...