Параметр решетки, методы

Парамагнитные сплавы 312 Параметр решетки, кривые в зависимости от Состава 12, 216, 270 Параметр решетки, методы 27 0 [c.395]

Выделение из твердого раствора меди должно сопровождаться увеличением параметра, тогда как старение и вызванное им упрочнение не изменяют параметра решетки. Только выше 200°С наблюдается увеличение параметров, что связано с выделением из раствора второй фазы, и это обнаруживается также другими методами (например, металлографическими). [c.573]

Параметр решетки - чрезвычайно важная характеристика. Современные методы рентгеновского исследования позволяют измерить параметр с точностью до 4-го или даже 5-го знака после запятой, т.е. до одной десятитысячной - одной стотысячной доли Ангстрема. [c.17]

А, а у алюминия 4,041 А. Современные методы позволяют измерять параметры решетки с точностью до четвертого или даже пятого знака. Многие свойства металлов связаны с координационным числом. В простой кубической решетке координационное число равно 6. В кубической гранецентрированной решетке атомы располагаются по вершинам элементарной ячейки и в центрах ее граней. Каждый атом в этой решетке окружен 12 ближайшими соседями. Координационное число в этой решетке равно 12. Почти все металлы — цинк, кадмий, ртуть и далее левее в периодической таблице, имеют простые решетки с координационными числами 8 и 12. Для неметаллов, наоборот, характерно малое значение координационного числа. [c.31]

Влияние геометрических параметров. Изложенные методы расчета коэффициента профильных потерь и угла выхода потока из решетки позволяют определить расчетным путем влияние изменения того или иного геометрического параметра решетки ( , Р -на ее аэродинамические характеристики. Порядок выполнения таких расчетов изложен в монографии [19]. [c.90]

Профили направляющих и рабочих решеток строятся с помощью теоретических методов расчета потенциального потока газа. Исходя из выбранного распределения давлений по профилю, обеспечивающего минимальные потери энергии при заданных углах входа U выхода потока, определяются форма профиля и геометрические параметры решетки (шаг лопаток, угол установки профиля и др.). [c.163]

Упомянутые методы успешно применяются, например, для расчета профильного сопротивления Kpi ла или для расчета смешения струй. В теории решеток упомянутые методы позволяют определить основные оценочные параметры решетки и поле скоростей потока [c.372]

Полагая, что зависимость уХТ) аналогична Е(Т), уравнение (3.30) можно решить методом итераций. Например, для меди, у которой при Го = 300 К параметр решетки д=3,62-10 м, предел текучести а о = 70 МПа, а при Г 1100 К у , = 0,1 Дж/м , получим АГ=885 К. Таким образом восстановление границ в меди произойдет при ее нагреве до Г - (900- -950) °С, т. е. при температурах (0,85- 0,9) Г л. [c.115]

Параметры решетки гексагонального селена а=4337 А, с-=4,944 А. Метод измерения С1, погрешность 2% при Г<20 К и 0,1% при Г>40 К. [c.161]

Одним из методов определения параметров решетки наночастиц является электронная дифракция. Анализ систематических ошибок этого метода показал, что для точного определения периода решетки наночастиц пригодны лишь некоторые дифракционные линии например, для кубических нанокристаллов рекомендуется использовать линию (220) [242]. Учет уширения этого дифракционного отражения показал, что в частицах Ag диаметром 3,1 нм и частицах Pt диаметром 3,8 нм параметр решетки сокращается на 0,7 и 0,5 % соответственно по сравнению с массивными серебром и платиной [242]. В [194, 243, 244] методом электронографии с использованием картин муара показано, что изменение диаметра частиц AI от 20 до 6 нм приводит к снижению периода решетки на 1,5 % (рис. 3.6), хотя ранее [245] для частиц AI диаметром >3 нм этого не отмечено. Уменьшение периода решетки от 0,405 нм для массивного образца AI до 0,402 нм для наночастицы А1 диаметром 40 нм обнаружено методом нейтронографии [8]. [c.73]

Влияние размера наночастиц на параметр решетки отмечено не только для металлов, но и для соединений. Уменьшение периода решетки ультрадисперсных нитридов титана, циркония и ниобия в зависимости от размера частиц описано в [49—51, 253]. Порошки нитридов получены плазмохимическим методом. В [253] для ультрадисперсного порошка нитрида титана приведена зависимость периода решетки а от величины удельной поверхности S,p порошка а(нм) = 0,42413 - 0,384-10 (при 5,,,от 4-10 до МО м /кг). Вместе с тем в установленной в [253] зависимости периода решетки от дисперсности частиц нитрида титана не учитывается, что порошки разной дисперсности имели различный состав чем мельче был порошок, тем меньше было в нем содержание азота. К сожалению, авторы [253] не попытались разде-. лить влияние состава нитрида титана и размера его частиц на период решетки. Сокращение параметра решетки кубического нитрида циркония, объясняемое уменьшением размера частиц порошка [50], происходило при одновременном значительном изменении состава нитрида. Для нитрида ниобия с размером частиц около 40 нм также обнаружено значительное уменьшение периода решетки — от 0,4395 нм для массивного образца до 0,4382 нм для порошка [51]. [c.74]

Понижение температуры Дебая 0 , связанное с уменьшением размера частиц, наблюдали многие исследователи (табл. 3.3). Относительную величину 0ц(г)/0ц определяли калориметрическим и дифракционными методами. Однако изучение малых частиц Аи и Fe ((i = 5—7 нм) с помощью эффекта Мессбауэра показало, что они имеют такую же температуру Дебая, как и массивные кристаллы [304, 305]. Сопоставление параметра решетки Малых частиц Аи и Fe с относительной интенсивностью рассеянного ими рентгеновского излучения [306] также показало, что Наблюдаемые эффекты нельзя объяснить только понижением дебаевской температуры. Согласно [И], отмеченная противоречивость экспериментальных данных по температуре Дебая малых частиц указывает на необходимость учета колебаний кластеров (метастабильных атомных группировок с повышенной локальной устойчивостью), образующих наночастицу и имеющих [c.89]

При исследовании твердого раствора Н в (Lu) методами электросопротивления и рентгеноструктурного анализа уточнены границы )той фазы и обнаружено существование двух ее модификаций а и а. Превращение а а идет при нагреве в интервале температур 170—380 °С и сопровождается сильным (в 1,5 раза) изменением электросопротивления и параметра решетки [3, 4]. [c.834]

Диаграмма состояния Hg—Zn (рис. 527) построена на основании ряда исследований, проведенных методами дифференциального термического, микро- и рентгеноструктурного анализов, измерения свойств жидких и твердых сплавов, и приведена по данным работы [1]. Hg и Zn неограниченно растворимы в жидком состоянии. При комнатной температуре (-20 °С) растворимость Zn в Hg составляет 5,83 % (ат.). Значения растворимости Hg в твердом Zn, определенные различными методами, сильно различаются и составляют по данным микроскопического анализа 13 % (ат.), измерения ЭДС 0,5—1,5 %, измерения параметра решетки 0,08 % (ат.). Эвтектическая реакция Ж (Hg) + р протекает при температуре —41,6 °С и концентрации 1,7 % (ат.) Zn. Границы промежуточных фаз р и у [c.970]

Диаграмма состояния системы, представленная на рис. 651, взята из работ [1,2]. Сплавы исследовали методами металлографии, рентгеновского и термического анализов. Кривые ликвидуса и солидуса имеют минимум при температуре 1350 °С и концентрации -50 % (ат.) Zr [2] (54 % (ат.) Zr Р]). Между высокотемпературными модификациями pTh и pZr образуется непрерывный ряд твердых растворов. Согласно данным высокотемпературного рентгеновского анализа параметр решетки а этого раствора линейно изменяется с концентрацией Р]. [c.395]

На диаграмме рис. 117 граница областей (т + 8)/8 бЬша успешно установлена одним из этих методов. Теперь нам осталось определить ожидаемое превращение т-фазы и его границы. Для установления границ (а + 7)/ и 7/(7 + 3) з области высоких температур подходит метод микроанализа. Если 7-фаза имеет кубическую структуру, то можно считать, что в области низких температур более подходит рентгеновский метод определения периода решетки. Для некубических решеток изменения в составе обычно вызывают изменения отношения параметров элементарной ячейки, поэтому вычисление параметров решетки по данным измерения рентгенограмм становится затруднительным. Параметры решетки могут быть определены, конечно, только в том случае, если линии на рентгенограммах достаточно резкие. Однако, когда это условие не выполняется, можно определить положение границ фаз, изме- [c.217]

Из таблицы 6 видно, что при нагреве покрытия до 300°С параметр кристаллической решетки остается постоянным (в пределах точности метода измерения), дальнейший нагрев до 700°С уменьшает параметр решетки, который затем остается постоянным при повышении температуры до 900°С. [c.86]

Структура и строение пленок могут быть определены с помощью рентгеновского и электронографического метода исследования, а также с помощью электронного микроскопа. Метод рентгеновского исследования позволяет установить кристаллическую структуру пленок и определить параметры решетки. [c.639]

Параметр решетки — чрезвычайно важная характеристика Современные методы рентгеновского исследования позволяю измерить параметр с точностью до четвертого или даже пято го знака после запятой, т. е. одной десятитысячной — одно1 стотысячной доли ангстрема. [c.24]

Прпмепенио рассматриваемого метода значительно упрощается, если ограничиться определением смещений атомов па больших расстояниях от дефекта, когда можно не учитывать явно атомпох структуры кристалла и пользоваться формулами теории упругости анизотропного континуума, условия равновесия которого теперь являются исходными вместо уравнений (3,07). В этом случае [43] в (3,73) мо кно ограничиться областью малых 1с и найти смещения и на больших расстояниях от точечного дефекта, поле смещений вокруг которого характеризуется известными значениями модулей упругости и зависимостью параметров решетки от концентрации дефектов. [c.85]

Результаты работ [266, 267, 288], касающихся рентгенографического определения напряжений I и II родов в разнообразных покрытиях позволяют считать, что предлагаемая авторами методика съемок удобна и доступна для исследовательских лабораторий. Расчет макронапряжений по стандартной методике усложняется по крайней мере двумя факторами наличием фазовых превращений и изменением химического состава при напылении. При перпендикулярной съемке расчет макронапряжений по относительному изменению параметра решетки материала покрытий недостаточно точен, так как в этом случае не учитываются изменения химического состава покрытия. Т. П. Шмырева и Г. М. Воробьев [266] предлагают применять метод наклонных съемок и оценивать величину макронапряжений по формуле [c.189]

Плотность чистого титана, вычисленная по параметрам решетк) при 20°С и определенная пикнометрическими методами, составляет р = 4505-г4507 кг/м . В присутствии кислорода она несколько повышается, у технически чистого титана р = = 4510 кг/м . С повышением температуры плотность титана снижается и при 870°С составляет 4350 кг/м . Плотность большинства промышленных а- и a jЗ- плaвoв мало отличается от плотности титана и находится в пределах 4400 — 4600 кг/м . [c.8]

Весьма важная информация об эволюции структуры в процессе интенсивной деформации может быть получена методом РСА. Этот метод позволяет получать статистически надежную информацию о параметре решетки, фазовом составе, размере зерен-кристаллитов (областей когерентного рассеяния — ОКР), микроискажениях решетки, статических и динамических атомных смещениях, кристаллографической текатуре и т. д. [79-82]. [c.32]

Методом РСА установлено, что фазовый состав сконсолидиро-ванного массивного образца и исходного порошка различаются. Уменьшение интенсивности пиков, соответствующих Рез04 и FeO, так же как и увеличение параметра решетки Fe от 2,860 А до 2,865А, свидетельствуют о частичном растворении окислов. Микротвердость полученного образца Fe чрезвычайно высока (4500 МПа). Эти и многие другие результаты [66] показывают, что во время консолидации ИПД может происходить полное или частичное растворение частиц второй фазы. В результате формируется пересыщенный твердый раствор, что приводит к очень высокой твердости. [c.49]

В работе [69] методом РСА исследовано влияние степени ИПД кручением на формирование твердого раствора в несмешиваемых системах Fe- u и Fe-Bi при консолидации интенсивной деформацией порошков Fe, Си и Bi. Исследование фазового состояния и параметров решетки позволило установить, что при степенях ИПД вплоть до 6,4 в сплаве Fe-20 ат. %Си формируется смесь двух неравновесных неоднородных твердых растворов на основе ОЦК Fe и ГЦК Си. Методом просвечивающей электронной микроскопии установлено, что распределение зерен по размерам носит бимодальный характер с максимумами, соответствующими 15 нм и 40 нм. Увеличение степени ИПД до значения 7,2 в данном сплаве привело к формированию пересыщенного неоднородного твердого раствора Си в Fe с одномодальным распределением зерен по размерам. Средний размер зерен составил 10 нм. [c.49]

Многие авторы применяли метод микротвердости для изучения растворимости металлов или при несущественном изменении параметра решетки. С изменением концентрации твердого раствора В. М. Глазов и В. Н. Вигдарович [26] изучали предельную растворимость ряда переходных металлов Zr, Та, Nb и других в алюминии с применением метода микротвердости. В результате исследований установлена зависимость микротвердости кристаллов твердого раствора от состава сплавов Zr—А1, Та—А1, Nb—А1 и др., закаленных после отжига при различных температурах, и построены кривые предельной растворимости Zr, Та, Nb в алюминии. [c.237]

Рис. 7 иллюстрирует изменение параметра кристаллической решетки меди а по глубине t образцов в пределах до 5 мкм после предварительного отжига в вакууме при 300° С и после работы на трение при давлении порядка 30 МПа [45]. Параметр кристаллической решетки определяли с помощью безэталонного графоаналитического метода, основанного на существовании постоянной линейной зависимости между диаметром дебаевского кольца на рентгенограмме и параметром решетки. Из рис. 7, а видно, что уже после небольшого времени работы параметр кристаллической решетки меди а уменьшается и в слоях, близких к поверхности, составляет всего лишь 3,530 А. Полученный экспериментальный [c.21]

Определение более высокой температуры облучения с помощью алмазных индикаторов можно проводить лишь при достаточно больших флюенсах, что необходимо для получения заметного изменения параметра решетки. Это ограничивает применение метода. Однако, используя алмаз, предварительно облученный при температуре 100° С, можно повысить чувстви- [c.94]

Микрорентген оспектральн ый анализ позволяет изучать химическую микронеоднородность материалов. Он определяет ориентировку монокристаллов и параметры решетки с точносТ1Ю до 0,0002 нм. Чувствительность метода до 10" г. [c.315]

Анализируя изменение параметра решетки наночастиц, следует учитывать отмеченную в разделе 3.1 возможность перехода от менее плотных ОЦК- и ГПУ-структур к более плотной ГЦК-структуре при уменьшении размера частиц. Так, по электронографическим данным [241], при уменьшении диаметра d частиц Gd, ТЬ, Dy, Ег, Ей, Yb от 8 до 5 нм сохранялись гексагональная плотноупакованная структура и параметры решетки, характерные для массивных металлов при дальнейшем уменьшении размера частиц наблюдалось заметное сокраш ение параметров. Однако одновременно с этим менялся вид электроно-грамм, что свидетельствует о структурном превраш ении — переходе от ГПУ- к ГЦК-структуре, а не об уменьшении параметров ГПУ-решетки. Действительно, в наночастицах редкоземельных металлов рентгеновским методом обнаружен структурный [c.72]

Отсутствие размерной зависимости параметра решетки отмечено для частиц РЬ и Bi диаметром >5 и >8 нм соответственно [246], для частиц Аи диаметром —23 нм [247, 248], для кластеров Си диаметром >5 нм [249]. Однако уменьшение размера кластеров меди до 0,7 нм привело к сокраш ению параметра решетки на 2 % по сравнению с массивным металлом [249]. Что касается золота, то в [250] методом электронной дифракции обнаружили небольшое (около 0,3 %) уменьшение параметра решеткв наночастиц Аи диаметром 2,5—14 нм. Сжатие параметра решетки примерно на 0,1 % установлено при изучении наночастиц Ag и Аи диаметром от 40 до 10 нм (рис. 3.7) [251, 252]. [c.74]

Некоторые данные свидетельствуют о том, что родий может существовать в двух аллотропических модификациях. По данным рентгеноструктур ноге анализа параметры кристаллической решетки тонкодисперснот родия, полученного восстановлением солей или электролизом, отличаются от параметров решетки компактного металла, полученного методом плавки [c.492]

Сведения о взаимодействии между Ge и Si обобщены в работах [X, Э, U1J. Диаграмма состояния Ge—Si (рис. 427) построена в работе [1] с использованием методов термического и рентгеновского анализов. Перед измерениями все сплавы были подвергнуты гомогенизации в течение нескольких месяцев. Диаграмма состояния характеризуется образованием непрерывного ряда твердых растворов. Никаких фазовых превращений после отжига сплавов в течение нескольких меся цев при 925, 715, 295 и 177 °С не обнаружено. Параметр решетк ) плавно меняется при изменении состава и характеризуется средним сжатием решетки на 0,0009 нм, т.е. немного меньше, чем на 0,2 % во всем интервале концентраций. Отрицательное отклонение ог правила Вегарда подтверждено в работе [2] максимальное отклон.-ние (около 0,00060—0,00069 нм или чуть более 0,1 %) наблюдали центральной части. Твердые растворы (Ge, Si) имеют разупоряд(1 ченную структуру типа алмаза, в которой атомы компонента, содер жащегося в сплаве в меньшем количестве, вероятнее всего располо жены во второй координационной сфере. Этот вывод сделан иа основании изучения фононного спектра сплавов [3]. [c.798]

Система Re-Th исследована в работах [1-4], в которых установлено существование только одного соединения ThR 2 типа MgZn2 (символ Пирсона hP, пр.гр. Рб /ттс) с параметрами решетки а - 0,5498 нм, с = = 0,9116 нм [1] а - 0,5492 нм, с 0,9097 нм [2, 3]. Диаграмма состояния системы во всем интервале концентраций построена в работах [3, 4] с использованием различных методов приготовления сплавов. Диаграммы подобны, отличаясь лишь трактовкой характера образования соединений. В работе [3] все сплавы приготовляли дуговой плавкой с многократным переплавом в атмосфере Аг брикетов, предварительно приготовленных прессованием и спеченных в вакууме при 1350 °С в течение 1 ч. Кроме того, сплавы с содержанием 50-80 % (ат.) Re приготовляли спеканием в вакууме при 2400 °С с выдержкой 3 ч. [c.133]

Диаграмма состояния S-Sr не построена. Установлено существование двух сульфидов Sr. Методом прямого синтеза из компонентов при нагреве получен сульфид SrS, который имеет структуру типа Na l (символ Пирсона F8, пр. гр. РтЪт) с параметром решетки а = = 0,60199 нм при температуре 20 °С [1]. [c.210]

HM, с = 1,297 нм). Согласно работе [Ш] параметры решетки соединения WSej, полученного в виде монокристаллов осаждением из газовой фазы, составляют д = 0,328 нм, с = 1,295 нм, а для соединения, полученного порошковым методом, а = 0,3286 нм, с = 1,297б нм. [c.286]

Рентгенографический метод определения внутренних напряжений первого рода заключается в прецизионном измерении упругих деформаций, кристаллической решетки. Например, параметр решетки Да в определенном направлении данного участка изменяется на величину Да по сравнению с параметром недеформированной решетки. Величина Да определяется по изменению расстояний между линиями на реБтгенограммах. [c.78]

Относительную пространственную глубину деталей на изображении можно оценить с помощью стереомикроскопии. Для этого получают два снимка с одного и того же участка, повернутых друг относительно друга не менее чем на 5°, и рассматривают полученные картинкт с помощью стереопроектора. В случае, когда исследователь работает с многофазным материалом, который имеет несколько фаз с близкими параметрами решетки, полезным может оказаться применение метода 2-D. Если наблюдать два темнопольных изображения, полученных при различных установках фокуса, через стереопроектор, то можно идентифицировать различные фазовые составляющие на разных [c.503]

В работе М. Нагаяма и М. Коэна [49] электронографическим методом исследована структура пленок, образованных при анодной поляризации на монокристаллическом железе. Определение структуры пленки, полученной при потенциале +0,05 в (выдержка 1 час, толщина 15 А) методом отражения, показало наличие окисла кубической структуры со средним параметром решетки 8,37 0,04 А. Это можно объяснить тем, что нленка состоит из FegOi и ВаОз. Исследование анодной пленки, отделенной от поверхности поликристаллического образца, пассивировавшегося при +1,09 el час, также показывает кубическую структуру с параметром 8,40 + 0,04 А. [c.39]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...