Погрешность аппаратурная

При определении а(р) необходимо в соответствии с (36) учесть радиационную и аппаратурную составляющие погрешности. Аппаратурная погрешность определяется конкретным набором элементов и схемных решений, использованных при разработке устройства, и ее значение стремятся свести к минимуму. В дальнейших оценках предполагается, что аппаратурная погрешность не превосходит радиационную, и для ее учета в расчетах принято Оа=сГр. [c.140]

Погрешности измерения. Определение характеристик собственных колебаний связано с двумя видами погрешностей аппаратурных и методических, Первые носят случайный характер и зависят от класса измерительных приборов, а также от алгоритма обработки измерений, например при определении обобщенных масс. Методические погрешности обусловлены тем, что характер колебаний исследуемой конструкции отличается от предполагаемого, так как, например, на форму колебаний влияет механическая догрузка, обобщенные массы искажаются влиянием ЭДВ и т, п. Эти погрешности являются систематическими, поэтому их влияние может быть скорректировано при получении окончательных результатов. [c.346]

Погрешность аппаратурная Погрешность воспроизведения единицы [c.102]

Аналоговый метод измерения позволяет определить суммарный заряд детектора, вызванный ионизацией регистрируемого излучения. В этом случае возможны погрешности трех видов аппаратурные, статистические и аппаратурно-статистические. [c.373]

Аппаратурные погрешности обусловлены главным образом дрейфом коэффициента усиления детектора и усилителя и порога дискриминации. Аппаратурно-статистические погрешности являются следствием мертвых времен и могут быть учтены при градуировке. Наиболее существенны статистические погрешности. [c.373]

При работе в установившемся режиме, когда детектор в течение длительного времени регистрирует неизменный поток Y-квантов, каждой из рассмотренных выше схем присуща некоторая погрешность измерения потока. Эта погрешность в общем случае может содержать аппаратурную, статистическую радиационную и аппаратурно-статистическую составляющие. [c.134]

Аппаратурная погрешность связана со случайными изменениями параметров элементов, входящих в схему регистрации. Систематическая аппаратурная погрешность не рассматривается, так как она может быть учтена в процессе контроля. Статистическая радиационная составляющая обусловлена природой радиоактивного распада и определяется флуктуациями потока квантов, попадающих на детектор. Аппаратурно-статистическая составляющая возникает в результате того, что некоторые элементы обладают мертвым временем , т. е. после поступления на них импульса тока или напряжения [c.134]

Уравнения (27) позволяют в некоторой мере учесть влияние аппаратурно-статистической погрешности на результаты измерений. Однако такая процедура справедлива лишь для средних значений. При регистрации переменных потоков излучения более целесообразно использовать схемы, мертвое время которых значительно меньше среднего интервала между поступающими импульсами. [c.135]

Как правило, параметры схем подбирают таким образом, что аппаратурно-статистической составляющей можно пренебречь. Тогда если обозначить средние квадратические флуктуации измеряемой величины, обусловленные аппаратурной и радиационной составляющими, через Оа и ffp соответственно, то для полной погрешности будет справедливо [c.138]

Следует отметить также основные ограничения, накладываемые на величины, входящие в выражения для чувствительности канала регистрации радиометрического дефектоскопа. Увеличению средней скорости счета в схемах с формирователями импульсов препятствует ограниченное быстродействие электронных блоков, на которых созданы эти схемы. Как уже отмечалось, первым звеном, ограничивающим быстродействие, является сам сцинтилляционный кристалл. Последующие блоки лишь снижают значение предельно допустимой скорости счета. От этого недостатка свободна схема (см. рис. 79, а), с помощью которой можно регистрировать большие потоки излучения. Однако по мере возрастания скорости счета и снижения радиационной составляющей погрешности возрастает роль аппаратурной составляющей. Эта составляющая начинает преобладать, и дальнейшее увеличение регистрируемого потока теряет смысл. Конечно, еще раньше перестают быть справедливыми выражения (45) и (48), полученные в предположении, что Ор =Оа [c.145]

В описанной схеме уменьшение аппаратурной погрешности измерения достигается тем, что поток излучения, прошедший через пульпу, непрерывно и автоматически сравнивается с эталонным потоком излучения, величина которого не зависит от плотности пульпы. При этом сравнение происходит таким образом, что оба потока попадают на один и тот же детектор излучения (сцинтиллятор и фотоумножитель) и вызванные этими потоками сигналы (импульсы фотоумножителя) проходят через один и тот же радиотехнический тракт. Именно поэтому изменение параметров детектора и коэффициента усиления всего радиотехнического тракта не вносят существенных погрешностей в измерение. [c.162]

Минимальные погрешности, обусловленные аппаратурными ошибками, обеспечиваются при величине внутреннего диаметра, пульпопровода, в два раза меньшей по отношению к вычисленной по формуле [13]. Окончательный выбор d зависит от величины необходимой активности источника и конструктивных возможностей. [c.176]

Дин — инструментальная (аппаратурная) погрешность измерений [c.5]

Доен — основная погрешность средства измерений бии — выход инструментальной (аппаратурной) погрешности измерений за предел основной погрешности средства измерений [c.5]

В теории измерительных устройств и метрологии погрешности разделяются по форме выражения на абсолютные, относительные, приведенные [11], по связи с измеряемой величиной на аддитивные, мультипликативные, степенные, периодические и т. п., по степени определенности на систематические и случайные, по причинам появления на методические и инструментальные или аппаратурные (выделяют иногда также субъективные или личные погрешности), по связи с временными факторами на статические, динамические, смещения настройки (девиация). Выделяются основные погрешности средств измерений, определяемые в нормальных условиях, и дополнительные погрешности от выхода влияющих величин за нормальную область значений. [c.10]

Несмотря на то, что эти понятия стандартизованы, по ряду из них нет четких определений, обеспечивающих однозначное понимание и нормирование. В первую очередь это относится к термину инструментальная (аппаратурная) погрешность . [c.10]

Однако здесь нет прямого указания относительно учета действия условий измерений на средства их выполнения при оценке инструментальной (аппаратурной) погрешности. [c.10]

Однако и в этой работе, использующей понятие нормальные условия измерений , не дается необходимых определений или критериев их выбора. Таким образом, необходимо уточнить понятия инструментальная (аппаратурная), основная и дополнительная погрешность , а также термин нормальные условия измерений . [c.11]

Под инструментальной (аппаратурной) погрешностью измерений в настоящей работе понимается погрешность средств измерений в условиях их применения, откуда следует [c.13]

Инструментальную (аппаратурную) погрешность измерений не следует смешивать с расчетной погрешностью схемы средства измерений, в которой не учитывается действие условий измерений, Инструментальная погрешность должна определяться не с помощью образцовых мер и приборов, а по результатам измерений и разбраковки реальных объектов в реальных условиях при компенсации погрешностей метода и части субъективных погрешностей оператора, не проявляющихся при оценке основной погрешности средства измерений. [c.13]

Вариант Б по приращению основной погрешности. Среднее квадратическое отклонение аду и погрешность Ау влияния условий измерений можно рассматривать как характеристику соотношения между инструментальной (аппаратурной) погрешностью измерения в нормальных условиях и пределом допускаемой основной погрешности средств измерений. Это целесообразно при рабочих измерениях, когда процедура введения поправок малоэффективна, а часто и невыполнима вследствие большого числа неизвестных параметров и недостаточной точности данных по граничным условиям. [c.22]

Методически выход бин инструментальной (аппаратурной) погрешности за предел допускаемой основной погрешности определяется при помощи аттестации объектов измерения. Указанную аттестацию (см. гл. VH, схема 2) можно выполнять следующими методами 1) измерением тем же рабочим средством в унифицированных нормальных условиях 2) измерением арбитражным средством повышенной точности в унифицированных либо в расширенных нормальных условиях 3) измерением в рабочих условиях средствами с аттестованными компенсаторами выхода существенных влияющих величин за стандартную нормальную область их значений, [c.36]

Случайные погрешности. Влияние аппаратурных погрешностей на результаты определяется видом основных соотношений для обобщенных параметров, получае мых при испытаниях. Поскольку погрешности измерительной аппаратуры задаются максимальными значениями для всей области изменения измеряемых величии, так что появление какой-либо погрешности любого знака имеет случайный характер, функциональная связь между среднеквадратичными ошибками ах аргумента и [c.346]

Первая работа, посвященная использованию теплового шума для измерения температуры, опубликована в 1946 г. Аппаратурная реализация идеи, изложенной в этой работе, осуществлена в 1949 г. созданием абсолютного термометра до 1000 °С с погрешностью 0,1 %. [c.21]

НИИ в области температур на 40—60° выше макроскопической точки плавления (см. рис. 83, 88). Этот эффект выходил за пределы погрешности измерения температуры (15—20°) и не был связан с какой-либо аппаратурной ошибкой, поскольку достаточно крупные частицы плавились при нормальной температуре. [c.217]

Схема прямого измерения обладает существенным недостатком — низкой точностью. Всякие аппаратурные и статистические погрешности непосредственно сказываются на точности [c.213]

Экспериментально проверена правильность передачи сигналов электронной аппаратурой. Импульсным методом измерялось эталонное сопротивление. При длительности импульса больше 20 мксек аппаратурная погрешность оказалась не выше 0,05%. Оценено влияние скин-эффекта, паразитных индуктивностей и емкостей схемы. В рабочем диапазоне т оно оказалось совершенно незначительным. Так же пренебрежимо мало изменение давления на поверхности проволочки за счет инерционных сил при резком температурном расширении проволочки. Большинство экспериментальных данных получено из опытов с использованием нескольких проволочек. В худшем случае разброс значений Г не превышал 1%. При определенном выборе на осциллограмме величины возмущения температура Т определяется с точностью 1—3°. [c.120]

Таким образом, методика исследования параметров поля дефекта основывается на искусственной имитации глубины залегания дефекта с помощью стальных накладок. Для того чтобы исключить погрешности, вносимые зазором между накладками, зоны магнитного контакта подгоняются шлифовкой до размеров порядка 0,05 мм на один зазор. При этом условии общая величина магнитного зазора при всех измерениях не превышает 2% общей толщины исследуемого объекта и остается постоянной. Следовательно, погрешность измерения поля дефекта на многослойных составных образцах характеризуется двумя составляющими методической погрешностью, определяемой величиной относительных флуктуаций интенсивности потока рассеяния, и аппаратурой, измеряющей погрешность регистрирующих устройств. Основную аппаратурную погрешность определяют магнитные воспроизводящие головки, регистрирующие не величину магнитного потока, а его производную. Чтобы свести эту погрешность к минимуму, все магнитные измерения выполняются ЛЛД. Поэтому с учетом высокой точности измерительной аппаратуры полная погрешность в основном сводится к методической погрешности, которая оценивается точностью измерения расстояний на фотоотпечатках, определяемой сокращением фотослоев при обработке (0,3—0,6%), и погрешностью, вносимой разбросом эталонных образцов (2—3%). Таким образом, полная методическая погрешность не превышает 5%. [c.156]

Погрешности ИИС в основном определяются погрешностями ее первичных преобразователей — датчиков. На точности ИИС сказывается и то обстоятельство, что компоненты измерительных каналов, разбросанные по большой территории, работают часто в очень разных условиях. Одни из преобразователей находятся в лабораториях с комнатной температурой, другие — под открытым небом, на морозе, укутанные снегом или инеем. Но правильный выбор алгоритмов обработки результатов измерений может сделать то, на что не способны аппаратурные усложнения системы существенно снизить погрешности ИИС. Немалую роль иг- [c.116]

Как правило, в измерительных системах, которые создаются на месте применения как уникальные устройства, отсутствуют специальные аппаратурные и алгоритмические средства встроенного контроля. Поэтому даже при изготовлении не всегда удается оценить погрешность измерительных каналов системы. А потом работает система годами, и никто толком не знает, какова ее точность. [c.152]

Дискретный метод измерения заключается в определении числа импульсов на выходе детектора. В этом случае могут быть погрешности измерения двух видов статистические и аппаратурно-статистические. Первые вызваны отклонением случайных чисел импульсов на выходе детектора от средних знйченин (принимаемых за истинный результат) вторые связаны с наличием мертвых времен детектора, пересчетного устройства или механического счетчика и возрастают с увеличением средней скорости счета. [c.373]

На численный результат измерения вибрации влияют три грунны факторов аппаратурные, связанные с погрешностями датчиков и систем измерения функциональные, определяемые внешними условиями работы и нагружением двигателя методические, зависящие от методов обработки и анализа полученных результатов. Эти факторы приводят к появлению полосы неопределенности результата виброизмерения. Влияние методических и функциональных факторов зачастую не учитывается, хотя они могут быть определяющими. [c.139]

ГШСВ с общим генератором шума несколько проще с позиций аппаратурной реализации, однако неуправляемая взаимная корреляция между канальными сигналами вносит значительные погрешности в формируемый спектр и затрудняет анализ, синтез и настройку аппаратуры. ГШСВ с канальными генераторами шума реализуют простейший способ формирования, основанный на взвешенном суммировании независимых канальных сигналов, однако обладает наиболее ограниченными возможностями. [c.300]

Если флюктуационныо и аппаратурные ошибки примерно равны, формулы для определения абсолютной п относительной погрешностей имеют вид [c.176]

Для определения аппаратурной погрешности Дин следует результаты измерений размеров объекта сопоставить с результатами их аттестации 1атт в нормальных условиях при совпадающих методах измерения и операторами равной квалификации [c.13]

Для анализа на соответствие расширенным нормальным условиям следует аттестовать размеры Larr объектов измерения с тем, чтобы определить действительное значение инструментальной (аппаратурной) погрешности их измерения или выхода этой погрешности за предел допускаемой основной погрешности средства измерения. [c.190]

В данном параграфе проведено исследование [294] зависимости а(х) для автокатодов из полиакрилонитрильного углеродного волокна при изменении t на 7 порядков — от 10 до 10 с и средней плотности тока 350—400 А/см . Для устранения аппаратурных погрешностей все измерения проводились с помощью одного аналого-цифрово-го преобразователя (с точностью 0,1% и временем преобразования 8 мкс) по командам от ЭВМ. Результаты вводились в ЭВМ и обрабатывались в реальном времени. Частота измерений равнялась 1 кГц. Рассмотрены непрерывные выборки объемом от 10 до 10 точек (время измерения от 10 мс до 30 час. соответственно), полученные сериями в следующей последовательности 10 точек, затем 10 и 10 точек, затем 10 , 10 и 10, и т. д. вплоть до 10 —10 точек, после чего количество выборок в серии уменьшалось в обратном порядке до 10 точек. Полученные выборочные значения для а усреднялись по 15 выборкам [c.235]

В задаче конформного отображения вместо модели с ванной. можно также применять электропроводящую угольную бумагу. Однако, несмотря на известные аппаратурные удобства, применение бумаги менее целесообразно из-за значительной погрешности отображения (в связи с недостаточно однородной электрической проводимостью тонкого уГО.ЛЬИОГО СЛОЯ). [c.258]

Многие авторы обсуждали возможности электрического моделирования течений газа, особенно целесообразного для уравнений вида (4.6) в области годографа скорости. Примеры осуществления этой аналогии в ванне переменной глубины (обратно пропорциональной У К), выполненные в 1949 г. А. М. Люксембургом, показали, что в реальных условиях аппаратурные погрешности моделирования не ниже принципиальных погрешностей приближенного метода Чаплыгина. Поэтому практическое применение моделирование получило только для конформного отображения - [c.131]

КОМ — низкой точностью. Всякие аппаратурные и статистические погрешности непосредственно сказываются на точности измерения. Изменение геометрических условий также влияет на результаты измерений. Шкала прибора нелинейна. [c.198]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...