Множитель решетки

Поскольку дифракционный лепесток имеет конечную ширину, обычно требуется выполнение более жесткого условия, соответствующего отсутствию этого лепестка целиком, а не только его максимума. При максимуме дифракционного лепестка знаменатель (7.6) обращен в нуль, т. е. м = 2л. Ближайшее обращение в нуль множителя решетки, определяющее границу дифракционного лепестка будет при пи/2= (п—1)я, откуда следует условие [c.164]

Введя фиктивные излучатели с нулевыми токами, дополним решетку до прямоугольной (рис. 2.13) при этом множитель решетки будет [c.81]

Подставляя найденные значения множителей решетки (2.49) или (2.50) в выражение для поля (2.42), находим поле излучения АР, зная которое, можно найти все связанные с ним характеристики, например Риал, потенциал П, коэффициент эллиптичности, КНД. [c.83]

Коэффициент расхода через отверстия решетки уменьшается от центра к периферии. Частично это поясняет, почему в выражении (4.71) и других при величине p множитель kiрастекание струи по фронту решетки, что равносильно уменьшению коэффициента сопротивления решетки. Кроме того, радиальное растекание потока за тонкостенной решеткой при р< цр, т. е. до образования перевернутого профиля скорости должно в реальных условиях при Вязкой жидкости происходить медленнее, чем в случае идеальной жидкости. Действительно, пока значения Ср не очень велики, основная масса струи проходит через центральную часть решетки, мало отклоняясь от оси, со скоростью, значительно превышающей скорость отклонившейся [c.168]

Возможны, конечно, решетки амплитудно-фазовые, т. е. воздей-ствуюш,ие одновременно и на амплитуду, и на фазу. Общая теория таких решеток представляет повторение теории, рассмотренной в 45. Только вместо множителя sin Г(я / Д sin <р sin а -(яДД)8Шф = — - представляющего распределение амплитуды при дифракции на одной достаточно широкой щели, войдет множитель более общего вида F b,X, ф), также зависящий от ширины штриха Ь, длины волны Я и угла дифракции ф, но передающий и особенности штриха (его профиль, отражающую или пропускающую способность и т. д.). Таким образом, формула (46.1) заменится на [c.207]

Зависимость амплитуды от времени описывается множителем такого же типа, который фигурировал в теории дифракционной решетки (см. 46), что вполне понятно, так как в обоих случаях [c.812]

Здесь множитель б представляет собой число независимых ориентаций комплекса в решетке. [c.92]

Итак, для нового вектора к смещение в решетке на трансляцию сводится к умножению волновой функции на фазовый множитель. [c.60]

Равенство (8.28) представляет собой теорему Н. Е. Жуковского для решетки, обтекаемой потенциальным потоком с циркуляцией Г в бесконечности. Обычно рассматривается движение, потенциальное всюду вне профилей. Согласно этой формуле имеем, что сила Л перпендикулярна к средней скорости ( 1 -)- У2)/2 и пропорциональна плотности и циркуляции по контуру, охватывающему один раз профили и внутренние вихревые области или каверны в одном периоде. Согласно формуле (8.28) направление силы Л получается поворотом вектора средней скорости на прямой угол против направления циркуляции Г (т. е. в данном случае, при Г О, по ходу часовой стрелки, поворот характеризуется множителем — ). [c.84]

Первое уравнение А. Фика позволяет определить суммарный поток j атомов через единицу поверхности в единицу времени между двумя соседними плоскостями кристаллической решетки, расположенными на расстоянии Д (рис. 6.1). Полагая, что число скачков атомов в двух противоположных направлениях равновероятно, подставим в уравнения встречных потоков атомов множитель 1/2 [c.144]

Карбидообразующие элементы (Si, W, Сг и др.) увеличивают энергию активации Q (рис. 9, а) и предэкспоненциальный множитель и уменьшают эффективный коэффициент диффузии D (рис. 9, б). Энергия активации возрастает тем сильнее, чем больше сила связи элемента и углерода и чем меньше легирующие элементы искажают решетку аустенита [60]. [c.286]

Выражение, стоящее в прямоугольных скобках, называется множителем решетки или множителем композиции. Таким образом, резулылирующая ДН представляется в виде произведения ДН одного излучателя на множитель решетки. Это свойство является общим для антенных решеток, выполненных из одинаковых и одинаково ориентированных излучателей независимо от конкретного ида послед них. В частности, большая антенная (решепка можег быть обрааовагаа из набор,а малых подрешеток , которые при этом могут рассматриваться как некоторые сложные излучатели. [c.133]

Максимум диаграммы направленности 0010тветст1вует ы = 0 и лежит в плоскости, юерпендикулярной оси решетки, проходящей через ее центр. Если фаза токов линейно (изменяется вдоль решетки, так что сдвиг фаз в соседних виб(раторах равен —ио, множитель решетки описывается выражением [c.133]

Таким образом, наличие линейного фазового юдви-га Приводит к повороту ДН. Максимум множителя. решетки соответствует ы = = Оо, т. е. углам 81п0со8ф=[ио/(Р )]. и лежит на поверхности ко- [c.133]

Если распределение токов в антенне таково, что Ьт АрВт, множитель решетки представляется в виде произведения где [c.134]

Первый множитель описывает диаграмму линейки облучателей, ось которой совпадает с осью х, второй — диаграмму направленности линейки, ось которой совпадает с осью у. Этот результат можно было бы получить, рассматривая каждый столбец как некоторый сложщый излучающий элемент, а всю решетку — как линейку таких сложных излучателей. В частном случае, когда токи во всех излучателях равны, множитель решетки имеет вид 1 (Пх Ц/2) sin (Пу р/2) [c.134]

Представление о методах синтеза сверхнаправленной антенной решетки, т. е. методах определения числа излучающих элементов, расстояния между ними закона нх возбуждения, необходимых для получения заданной формы ДН, можио получить из рассмотрения весьма близкой в математическом отношении-задачи синтеза ступенчатого перехода, описанной в гл. 3 Угловая зависимость множителя решетки (7 5) аналогична частотной зависимости коэффициента отражения ступенчатого перехода. Множитель решетки является полиномом ог угловой переменной exp(iu), а прн симметричном законе распределения токов — от OSU, аналогично тому, как коэффициент отражения ступенчатого-перехода является полиномом от частотной переменной os0. Метод решенн и характер получающихся результатов аналогичны методу и результатам синтеза сверхкороткого ступенчатого перехода, описанного в 3.4. [c.166]

А,Ф)=р1 (А.Ф) fn (А,Ф), где Fi—диаграм-ма направленности одной антенны БС2 / —множитель решетки из п излучателей- [c.333]

Отсюда видно, что от тока в излучателях зависит только Множитель решеткй [c.79]

Коэффициент диффузии D, m V , т, е. количество вещества, диффундирующего ч(рез единицу площади (1 см ), в единицу времени (I с) при перепаде концентрации, равном единице, зависит от природы сплава, размеров зерна и особенно сильно от температуры. Температурная зависимость коэффициента диффузии подчиняется экспоненциальному закону D = Do ехр 1—Q/RT], где О,, — предэкспоненциалЬ ный множитель, величина которого определяется типом кристаллической решетки R — газовая постоянная, 8,31 Дж-К МОЛь" Т — температура, К Q — энергия активации, Дж/г-атом. [c.28]

Множитель (sinu/u) характеризует распределение интенсивности в результате дифракции плоской волны на каждой щели, а множитель (siniVti/sinft) учитывает интерференцию между пучками, исходящими от всех щелей. Множитель /о определяет интенсивность света, излучаемого в направлении ф - О, которая зависит от потока энергии, падающего на решетку света. [c.293]

Так, например, следует учитывать тепловое расширение металла [83, 84] ). Вызывающая его ангармоничность колебаний решетки должна приводить к нелинейности температурной зависимости удельного сопротивления [85]. Кроме того, полагают, что, начиная с температуры, лежаш ей на 50—100° ниже точки плавления металла, концентрация дефектов решетки, вызванных тепловым движением, быстро растет последнее также должно оказывать существенное влияние на температурный ход сопротивления [86, 87]. Наконец, у переходных металлов рассеяние, обусловленное переходами между s-и б -зонами, тоже может вносить свой вклад в сопротивление [88—91]. Чтобы учесть отклонения температурно зависимости сопротивления от линейности, появляющиеся по той или иной причине при высоких температурах, Грюнейзен ввел в теоретическую формулу эмпирический множитель -fb, Г ), вследствие которого достоверность данных, приведенных в табл. 4, несколько уменьшается. [c.192]

Поперечная ЭДС Ux, ток У, магнитная индукция В и толш,ина полупроводниковой пластинки h легко могут быть измерены, что позволяет вычислить значение коэффициента Холла X. В системе СИ коэффициент Холла измеряется в кубических метрах на кулон. Значение коэффициента, получаемое по формуле (8-7), справедливо только для вырожденных полупроводников, с очень большой концентрацией примеси, при которой энергия активации ее практически равна нулю и можно не учитывать распределения носителей заряда по скоростям, что и допускалось при выводе формул (8-6). Более точное значение коэффициента Холла для полупроводников с различной концентрацией примеси будегг отличаться от получаемого по формуле (8-7) множителем А. Для полупроводников различных групп (с атомной, ионной решетками) численное значение А изменяется от единицы до двух в зависимости от механизма рассеяния носителей при различных температурах (например, для германия А 1,18). Таким образом, для полупроводников п-типа [c.238]

Тепловое движение атомов в кристаллической решетке приводит к ослаблению интенсивности рассеянных рентгеновских лучей, которое характеризуется с помощью теплового множителя ехр(—2М) [88, 130, 136], называемого фактором Дебая-Уоллера. Величина М прямо пропорпиональна квадрату полного среднеквадратичного смещения (/х ) атомов из положений равновесия и через величину (/Xq) зависит от температуры Т. При этом [c.74]

На рис. В-3 показан второй тип графиков, еще более часто применяемый при изучении гидродинамики плотного и псевдоожиженного слоев — зависимость между скоростью фильтрации и перепадом давлений на весь слой материала, количество которого иа решетке оставляется неизменным. Вид линии ОА фильтрации сквозь неподвижный слой аналогичен иа обоих типах графиков (рис. В-2 и В-3), так как на этой стадии нет расширения слоя (Я=соп81) и АР отличается от АР/Я лишь лосто-янны.м множителем. Но линия псевдоожиженного слоя [c.17]

Первое число (множимое) — ширина решетки, числа в скобках (множитель) — длины решеток. Примечание. Колосниковые решетки для внутренних н внешних топок чугунных секционных, вертикальных и горизонтальных (кроме двухжаротрубных) котлов поставляются обычно заводами — изготовителями котлов. [c.64]

Существование и единственность решения задачи для нелинейных уравнений осесимметричного движения газа в турбомашине в общем виде не доказаны. Однако можно высказать некоторые соображения в пользу положительного решения этого вопроса. Прежде всего существование решения очевидно из физических соображений даже для самой обшей (трехмерной) постановки. Единственность решения линеаризованных (в отношении производных) уравнений очевидна, так как они сводятся к квазилинейному эллиптическому уравнению типа уравнения Пуассона. Нелинейность уравнений существенно связана с множителем р в уравнении неразрывности, а также с производными от р (т. е. с и 7 ) в уравнении вихрей. Для частного случая линейных уравнений с р = onst up — onst, который отвечает течению несжимаемой жидкости только через неподвижные решетки (ш = 0), существование и единственность решения следуют из тех же свойств, доказанных для более общей задачи трехмерного движения. Нелинейность, зависящая от производных от р, вообше очень слабая. Она связана со смещением линий тока (вдоль которых р постоянно или является известной функцией). В предположении непрерывной зависимости формы линий тока от значений р у задаваемых в виде гладкой функции поперек входного сечения, а также от величины угловой скорости ш (такая зависимость, безусловно, должна быть непрерывной в силу эллиптичности уравнений с гладкими коэффициентами) можно определенно утверждать единственность решения нелинейных уравнений, по крайней мере, для достаточно малых областей А или для достаточно малых [c.303]

В случае применения стержневых решеток в гидротехнических сооружениях значения этих рещеток получаются большими, чем по расчету, вследствие загрязнения и конструктивных особенностей решеток. Поэтому В. Б. Дульнев [8-15] рекомендует ввести в формулы (8-4), (8-5) и (8-6) поправочный множитель с, учитывающий род и количество содержащегося в воде мусора, способ очистки решетки, возможность отложения перед решеткой наносов и другие условия. При машинной очистке решеток с = 1,1-г 1,13, при ручной с, = 1,5- 2,0. Конструктивные особенности рекомендуется учитывать поправочным множителем [c.404]

Клоцман [113] развил методику определения параметров диффузии вдоль межзеренных границ и одиночных дислокаций. Исследование с помощью радиометрического послойного анализа объемной (950—770° С), граничной (490—290° С) и дислокационной (190—100° С) самодиффузии серебра показало, что энергии активации двух последних в пределах точности опыта равны друг другу и составляют около одной трети от энергии активации объемной диффузии, а предэкспоненциальные множители на несколько порядков ниже, чем для объемной самодиффузии. По мнению авторов, это указывает на близость структуры ядра дислокации и тех областей межзеренного сочленения, в которых локализуется ускоренная диффузия, и служит подтверждением представления о кооперированном элементарном акте диффузии по структурным дефектам металлов с г. ц. к. решеткой и низкой энергией дефектов упаковки. [c.125]

В выражении для скорости изменения Л имеются и другие сомножители, зависящие от частоты, но для каждой пары фононов 2 и которые могут участвовать в трехфононных процессах с фононом q, их вклад в дЛ1д( содержит множитель (Л — Л ) Г. Это означает, что число фононов Л возвращается к равновесному значению Л со временем релаксации, обратно пропорциональным Т. При высоких температурах существенны фононы с большой величиной q, и условие, что вектор ql + q2 должен превышать половину вектора обратной решетки для П-процессов не налагает серьезных ограничений на такие процессы. Вклад от одной моды в теплоемкость равен по- [c.71]

ЕрЯо/ Т). Под влиянием радиочастотного поля спиновая температура системы непрерывно возрастает и скорость изменения избытка ядер (п) в нижнем энергетическом состояний на единицу объема составляет dn/d = 2N-W- — 2 +1 +. Множитель 2 появляется потому, что п=Я+ —Я- при каждом переходе меняется на два. Совместное решение двух последних уравнений дает окончательный результат dn/dt=2W(no — п), где по= (М]1Но)1кТ — число ядер в единице объема при условии термодинамического равновесия между системой спинов и решеткой Я = =Я+-рЯ — общее число ядер в единице объема. [c.173]

При рассмотрении эффективности дифракционных решеток используются два понятия абсолютная эффективность, равная отношению энергии, дифрагируемой решеткой при длине волны Х в данном порядке, к энергци, падаюш,ей на решетку при той же длине волны, и просто эффективность, равная отношению энергии, дифрагируемой решеткой при длине волны X в данном порядке к световому потоку, отражаемому зеркалом при тех же рабочих условиях (или полному потоку, отраженному решеткой). Абсолютная эффективность всегда меньше эффективности на множитель, характеризующий отражательную способность зеркала. Эффективность решетки существенно зависит от поляризации излучения, длины волны и угла падения. [c.253]

Возможно, что наиболее ранний пример использования комплексных собственных частот в электродинамике относится к 1884 г., когда Томсон рассмотрел свободные колебания поля во внешности идеально проводящей сферы [152]. Типы колебаний, удовлетворяющие условию неприходящего излучения, экспоненциально нарастали в пространстве, что дало повод для критики со стороны Ламба, считавшего задачу физически неправильно поставленной. Явление экспоненциальной катастрофы до сих пор многих отпугивает от решения несамосопряженных спектральных краевых задач, хотя вопрос полностью исчерпывается при переходе на нестационарную точку зрения — с каждым нарастающим колебанием связан экспоненциальный множитель, зависящий от времени, который перекрывает зависимость от координат в любой точке пространства. Иными словами, каждая функция, описывающая свободные колебания, финитна в пространстве и ее носитель растет со временем. Постановка спектральных задач для линий передачи и открытых резонаторов вполне естественна даже без связи с проблемами теории рассеяния. В случае с дифракционными решетками необходимость в построении спектральной теории не столь [c.10]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...