Интенсивность линий измеряемая

Ширина спектральной линии, измеряемая как частотное расстояние между точками контура, в которых интенсивность равна половине максимальной, в случае естественного уширения связана с временем жизни т возбужденного состояния следующим образом [c.262]

Существенное значение имеет правильная форма заточки постоянного электрода, его материал и величина дугового промежутка. Форма заточки сказывается на устойчивости разряда и на его направленном действии. Наибольший разброс измеряемых величин толщин покрытий наблюдается при работе с закругленными электродами, заточенными на усеченный конус. При величине дугового промежутка в пределах 0,8—1,0 мм. следы воздействия разряда на покрытие оказываются незначительными и имеют вид кружков диаметром 0,4—0,5 мм с правильным контуром. Также необходимо учитывать, что скорость изменения интенсивностей линий покрытия сильно зависит от летучести элемента покрытия. Например, кадмий выгорает много скорее, чем хром, никель или медь. [c.110]

Коэффициент интенсивности — отношение интенсивности измеряемой линии к интенсивности линии растворителя, приведенное к максимальной концентрации данного раствора. Значение коэффициента интенсивности для раствора максимальной концентрации принято за единицу. [c.326]

При фотоэлектрическом способе анализа линии регистрируют с помощью фотоэлемента. Интенсивность линий при этом определяется силой фототока, измеряемого с помощью электроизмерительных схем. [c.183]

При практическом применении полученных данных следует с помощью фильтра (алюминиевой фольги) ослабить интенсивность очень сильной линии (101) 4-(011) таким образом, чтобы отношение интенсивностей измеряемых линий было близко к единице при размерах блоков, лежащих примерно в середине исследуемого интервала. Соответствующий пересчет приводит к результатам, приведенным на рис. 146. Из рассмотрения кривых видно, что наиболее благоприятным для измерений является отношение интенсивностей линий 101+- 011 и /юо, наиболее сильно изменяющееся в рассматриваемом [c.721]

Погрешность, вызванная комбинационным рассеянием света. Если при измерении А не предпринять специальных мер к устранению света комбинационного рассеяния, то этот свет окажет влияние на величину коэффициента деполяризации. Влияние это особенно значительно, когда коэффициент деполяризации релеевского рассеяния мал, а интенсивные линии спектра комбинационного рассеяния сильно деполяризованы. При такой ситуации даже малая по интенсивности примесь комбинационного рассеяния приводит к значительным ошибкам в измеряемой величине. [c.159]

Упражнение 3. Изотопный анализ лития. Определите процентное содержание изотопов Ы и Ьх в пробе лития по относительным интенсивностям компонент изотопов в линии 670,78 нм, измеряемым методом фотографической фотометрии (см. главу 1 4). Для анализа используйте две крайних компоненты линии. Интенсивности этих компонент сильно отличаются друг от друга. Поэтому, чтобы получить их одновременно в области нормальных почернений, рекомендуется фотографировать интерференционную картину через ступенчатый ослабитель, устанавливаемый на щели спектрографа. При этом сильную компоненту изотопа проектируют на ступеньку с минимальным пропусканием, а слабую компоненту Ы — на соседнюю ступеньку с максимальным пропусканием. Для нанесения марок почернений спектр полого катода фотографируют через ступенчатый ослабитель в отсутствие интерферометра (см. упр. 2). При фотометрическом определении интенсивности слабой компоненты необходимо учитывать фон,, интенсивность которого следует вычитать из измеренной интенсивности компоненты. [c.86]

На основании формул (13) и (14) для измеряемой интенсивности i линии, [c.416]

В работе [183] описан другой вариант устройства, позволяющий избавиться от механических перемещений при измерении, что делает его более перспективным. Исследуемое изделие облучают узким пучком, расширенным в направлении геометрической оси изделия. Получаемое дифракционное распределение образует со щелевым фильтром муаровую картину (рис. 156, б). В положении г/i, в котором образцовый фильтр подходит к дифракционному распределению интенсивности, за фильтром будет наблюдаться прямая линия нулевой интенсивности. Ось у может быть прокалибрована и таким образом получено однозначное соответствие с измеряемым диаметром изделия. Процесс измерения в этом устройстве может быть визуальным или с помощью электронных средств. В последнем случае в одном из вариантов используется телевизионная камера. Изображение плоскости фильтра располагают так, что линии сканирования параллельны направлению х. Число линий, отсчитываемых от верхней части фильтра, дает величину, пропорциональную размеру щели. В другом варианте устройства осуществляют более сложное преобразование функции в плоскости объекта и получают яркую полосу, расположенную вдоль оси X и соответствующую положению темной муаровой линии на уровне г/j. Измерение в этом случае может быть осуществлено рядом фотоэлектрических датчиков. Преимуществом [c.263]

С резко уменьшается ширина линий, что указывает на интенсивный распад а -фазы. Начиная с 450° С, на рентгенограммах обнаруживаются линии (3-фазы. При 700° С ширина измеряемых рентгеновских линий соответствует ширине линий а-фазы. [c.231]

Покажем теперь, как меняется форма линии поглощения с увеличением интенсивности I падающего монохроматического излучения. С этой целью рассмотрим идеализированный эксперимент, схема которого изображена на рис. 2.15. В таком эксперименте поглощение измеряется с помощью пробного сигнала переменной частоты V, интенсивность / которого достаточно мала, так что этот сигнал не вызывает в системе заметного возмущения. В реальной ситуации необходимо быть уверенным в том, чтобы пробный сигнал взаимодействовал только с областью насыщения, а для этого он должен распространяться в виде более или менее коллинеарных пучков. При выполнении этих условий коэффициент поглощения, измеряемый с помощью пробного пучка, дается формулой (2.87), где — Vo), а разность населенностей N —N2 = AN определяется выражением (2.138). Следовательно, можно написать следующее выражение [c.74]

В большинстве случаев пламена имеют неоднородное распределе-ь ие температуры по сечению факела. Наружные зоны факела вследствие интенсивной теплоотдачи оказываются более холодными. Прк- меняя метод обращения в этих условиях, получаем некоторую среднюю оптическую температуру в данном сечении факела. При наличии градиента температур по сечению пламени в более холодных областях происходит поглощение излучения данной спектральной линии, испускаемой в горячей зоне, и наблюдается явление, названное само-обращением линии. В результате получаем температуры, заниженные относительно измеряемых. [c.416]

Исходя из максимальной интенсивности ионного тока и требований измерений определенного числа массовых пиков в спектре, нетрудно установить чувствительность и диапазон измеряемых токов для регистрирующих устройств. Допустим, что максимальный ионный ток в неразделенном пучке, выходящем из ионного источника, составляет 10 а. Представим себе, что пучок ионов состоит из сотни сортов, образованных из атомов и молекул различных элементов и соединений, входящих в анализируемую смесь. В этом случае средняя величина тока отдельных линий масс-спектра составит приблизительно 10 " а. Далее, при измерении отдельных линий [c.84]

В двухлучевых масс-спектрометрах на выходе усилителей постоянного тока имеется мостовая компенсационная схема, позволяющая с помощью декадного делителя напряжения и чувствительного гальванометра, включенного по схеме нулевого индикатора, выполнять несколько операций, а именно измерять отношение интенсивности одиночной линии к напряжению дополнительной батареи или определять отношение интенсивностей двух ионных пучков, принимаемых одновременно или, пользуясь специальным прецизионным измерительным прибором, измерять поочередно два ионных пучка на одном и том же канале усилительного тракта, настраивая поочередно с помощью плавного изменения тока электромагнита или ускоряющего напряжения измеряемые ионные пучки на приемную щель одного из усилительных каналов. [c.105]

Для записи масс-спектрограммы вход самописца подключают к выходу одного из усилителей постоянного тока. Развертка масс-спектра осуществляется плавным изменением тока электромагнита или ускоряющего напряжения. Для более точного определения соотнощения интенсивности изотопов запись пары или группы измеряемых изотопов через равные промежутки времени повторяется пять-шесть раз. Многократная последовательная запись измеряемых изотопных линий позволяет при статистической обработке результатов измерений учесть влияние изменения ионного тока во времени из-за нестабильности работы ионного источника. [c.121]

При дуговой сварке других видов параметры дугового процесса имеют значительную случайную составляющую и выделение информации о положении поверхности изделия существенно усложняется. В ряде случаев для получения приемлемой точности оказывается необходимо применение интеграла измеряемого сигнала и методов, основанных на анализе случайных процессов. Следящие системы для наведения электрода на линию соединения, в которых в качестве датчика используется сварочная дуга, стали интенсивно развиваться только после появления микроэлектронной техники и необходимости создания средств адаптации для сварочных промышленных роботов, применительно к которым преимущества использования сварочной дуги в качестве датчика имеют решающее значение при выборе методов и Технических средств адаптации. В большинстве известных систем рассматриваемого типа для сварки плавящимся электродом в качестве информационного параметра используется сила сварочного тока. При сварке неплавящимся электродом с применением источника питания с крутопадающей характеристикой более информативным параметром оказывается напряжение на дуге. [c.111]

К аналогичным заключениям можно прийти на основании так называемой спектроскопии насыщения. В этом методе интенсивная световая волна частоты сох, уменьшает разность населенностей основного и возбужденного уровней атомов, обладающих соответствующей этой частоте компонентой скорости (ср. рис. 1.6, а). Населенности изменяются благодаря процессам поглощения. Для пробного луча переменной частоты со, пропускаемого через образец (рис. 1.6, б), измеряемое поглощение понижено в непосредственной близости от сох,. Таким образом, линия поглощения оказывается насыщенной не равно- [c.27]

При работе с гелий-неоновыми лазерами часто сталкиваются с проблемой, которая заключается в небольшой модуляции звуковыми частотами измеряемой интенсивности выходного светового потока. В системах связи, где требуется постоянная амплитуда сигнала несущей частоты (особенно при малой глубине модуляции), присутствие неконтролируемой изменяющейся во времени модуляции звуковыми частотами нежелательно. Такого рода помехи можно отнести за счет взаимного влияния на коэффициент усиления спектральных линий, которые одновременно присутствуют в излучении. Например, изменяя скорость возбуждения лазера, можно добиться, чтобы наряду с линией 633 нм генерировала линия 640 нм. Если измерять выходное излучение лазера при помощи фотоприемника, усилителя звуковых частот и громкоговорителя, то обнаружим, что звук сильнее всего как эаз в тот момент, когда дополнительная спектральная линия достигает порога генерации. Очевидно, что если источник питания лазера отрегулирован недостаточно хорошо, то периодически будет изменяться сила звука и звук даже может включаться и выключаться при пульсациях тока в источнике питания. Этот вид помех существенно связан с микрофонным эффектом, поскольку порог лазерного действия зависит от ориентации зеркал. [c.475]

Радиоактивный индикатор уровня РИУ-1 работает по принципу радиоактивного просвечивания порошка гамма-лучами и указывает уровень раздела порошок- воздух. Датчик с источником радиоактивного излучения (Со °) и счетчик устанавливают на линии контролируемого уровня по обе стороны бункера. При. нахождении порошка ниже линии источник — счетчик интенсивность потока гамма-лучей, измеряемая счетчиком, возрастает и наоборот. Сигналы от счетчика поступают на электронный блок, срабатывает электронное реле блока, контакты которого используются для сигнализации и управления. Погрешность прибора 20 мм, максимальный размер объекта 6 м при толщине стальной стенки 20 мм. Электронный блок от датчика можно устанавливать на расстоянии до 100 [37]. [c.174]

В качестве независимых переменных может выступать текущее время анализа, параметр развертки (та физическая величина, по которой производится развертка спектра), интенсивности аналитических линий в квантометрах и т. п. Зависимыми переменными являются измеряемые выходные сигналы (при первичной обработке, например, это сигналы на выходе детекторов аналитического прибора). [c.11]

Ошибки измерения, вызванные фотометрическими погрешностями, зависят от порога контрастной чувствительности глаза, ширины входной щели спектроскопа, ширины спектральной линии, интенсивности излучения используемой линии и фона сплошного спектра пламени и значения измеряемой температуры. Соответствующая погрещность может быть весьма значительной, особенно при использовании слабых линий и при интенсивном фоне сплошного спектра в собственном излучении пламени, а также при измерениях в инфракрасной части спектра. [c.373]

Здесь величина — линейная дисперсия в измеряемой области спектра, А/ =5 ,,, где 5 — ширина входной щели, я — линейное увеличение спектрографа для данной длины волны ). Таким образом, экспериментально измеряемое отношение интенсивности данной спектральной линии к интенсивности в сплошном спектре выражается формулой [c.438]

Функция интенсивности I (X), представляющая спектральную линию, умножается на функцию прохождения щелн g(x — X), центр которой находится в точке Х = х интегрирование произведения этих двух функций дает измеряемую интенсивность /набл [c.39]

Монохромное фотометрирование. Сравнение интенсивностей двух длин волн может быть выполнено визуально или с помощью объективных измерений. Рассмотрим объективные методы измерения относительных интенсивностей, предполагая, что характеристическая кривая фотоэмульсии известна. Измерения можно проводить по одной кривой почернений, построенной для данной области спектра. Тогда, если плотности почернений измеряемых линий находятся на прямолинейном участке характеристической кривой, то можно написать для каждой линии следующие выражения. Для первой спектральной линии из [c.487]

Проверка линий на реабсорбцию. Контроль влияния реабсорб-щии на измеряемые интенсивности линий возможен разными спо собами. [c.239]

Интенсивность отд. линий полосы и интегральная интенсивность всей полосы несут информацию о строении молекул и используются в молекулярном спектральном анализе. Относит, интенсивность линий используется обычно для идентификации линий. Интегральная интенсивность осн. полосы зависит гл. обр. от первой производной дипольного момента молекулы по данной нормальной координате. Интегральные интенсивности обертонов и составных полос зависят от более высоких производных дипольного момента по нормальным координатам и от коэф. ангармонизма. Кроме того, интенсивности отд, линий вследствие эффектов колебательно-вращат. взаимодействия зависят от определ. комбинаций дипольного момента и его производных. Поэтому измеряемые величины интенсивности линий и полос дают ценную информацию о функции дипольного момента. [c.204]

В АЭСА применяются в осн. спектральные приборы с фоторегнстрацней (спектрографы) и фотоэлектрич. регистрацией (квантометры). Излучение исследуемого образца направляется на входную щель прибора с помощью системы линз, попадает на диспергирующее устройство (призма или дифракц. решётка) и после моно-хроматизации фокусируется системой линз в фокальной плоскости, где располагается фотопластинка или система выходных щелей (квантометр), за к-рнми установлены фотоэлементы или фотоумножители. При фоторегистрации интенсивности линий определяют по плотности почернения 8, измеряемой микрофотометром [c.617]

Однако при использовании светофильтров возникают некоторые трудности. Например, прп работе в широкой области длин волн необходимо иметь набор светофильтров с различной границей пропускания и заменять пх в процессе сканирования. Кроме того, реальные светофильтры не имеют резкой границы пропускания их коэффициент пропусканпя изменяется относительно медленно с длиной волны. Последнее обстоятельство особенно существенно при исследовании линейчатых спектров и наличии вблизи измеряемых линий небольшой интенсивности очепь интенсивных линий. В этом случае паразитный рассеянный свет может [c.129]

Значения абсолютных интенсивностей линий V (С=С) в транс- и цис-К1ВаС=СНзН4 можно оценить, используя экспериментальные данные Мозера и Вебера и Ри [ ], измерявших интегральные интенсивности [c.312]

В задачах статики более часто рассматриваются нагрузки, распределенные по некоторой длине, где ве..1ш шна равнодействующей силы, которой заменяют нагрузку, зависит от длины участка, на котором действует нагрузка, и от характера распределения нагрузки. Характеризуется такая нагрузка интенсивностью, обозначаемой символом q и измеряемой в ньютонах на единицу длины. На действие таких нагрузок рассчитываются балки зданий, на которые опираются плиты перекрытия. Можно привести и другие примеры. Но здесь необходимо одно уточнение. Дело в том, что здесь нагрузка, действующая на несущую поверхность балки (т.е. распределенная по некоторой поверхности), условно заменяется на нагрузку, действующую на линию, изображающую на расчетной схеме ось балки. Такие упрощения используются систематически. И эти упрощения не последниз. После изображения распределенных по длине нагрузок на расчетной схеме к задаче последние при решении задач статики принято упрощать и 1альше, заменяя действие нагрузок сосредоточенными силами. Наиболее типичные случаи замены сосредоточенной силой равномерно распределенной нагрузки и нагрузки, изменяющейся по линейному закону, представлены на рис. 2.1. [c.44]

В большинстве случаев в качестве высокочастотного генератора используется отражательный клистрон. Энергия генерируемых колебаний чере коаксиальный кабель или волновод подводится к резонансной полости, расположенной между полюсными наконечниками электромагнита. В случае больших длин волн для ввода энергии в криостат используют коаксиальную линию, так как волновод создал бы излишний подвод тепла к охлаждающей ваипе. В случае коротких длин волн используются волноводы. Резонансная полость соединяется вторым коаксиальным кабелем или волноводом с детектором, измеряющим интенсивность выходного сигнала. На фиг. 22 схематически изображен криостат, предназначенный для исследования парамагнитного резонанса. [c.408]

Упражнение 3. Определение относительных вероятностей атомных переходов линий элементов. Сфотографируйте спектры дуги между угольными электродами, в один из которых (нижний) исследуемый элемент введен в виде малой примеси. По максимальным интенсивностям полос СП измерьте температуру дуги. При известной температуре дуги относительные вероятности переходов атомных линий определите по формуле (5.15). Следует иметь в виду, что измеряемые спектральные линии должны быть свободны от реабсорбции. Полученные относительные вероятности переходов сравните с известными, приведенными в таблицах Кор-лисса и Бозмана. [c.251]

Измеряемая при этом длина волны относится к центру тяжести компонент, который оказывается несколько сдвинутым относительно положения, определяемого формулой Бальмера, причем сдвиг для последовательных линий серии различен. Центр тяжести всех компонент линии может быть вычислен по теоретическим данным об пх положении и интенсивностях. По вычислениям Пенни частоты центра тяжести линий лаймановской серии (в общем случае произвольного Z) с достаточной точностью даются формулой [c.128]

Наблюдения велись на линии Lull, — Dj, Х646зА. Так как для обоих термов У < /, то момент ядра / определялся по отношению интенсивностей сверхтонких компонент, измеряемых с помощью фотоэлектрической установки с эталоном Фабри и Перо. На рис. 298 приведена наблюденная сверхтонкая структура линии Х646зА, где а, Ъ, с — компоненты а А, В, С — компоненты [c.532]

Исследование вибраций. Голограмма объекта экспонируется в течение промежутка времени, охватывающего, по крайней мере, неск. периодов колебаний (усреднение во времени). Интенсивность полос при атом быстро спадает с ростом амплитуды колебаний. Наиболее яркая полоса соответствует узловым линиям. По таким интерферограммам можно изучать распределепие амплитуды колебаний по поверхности объекта (рис. 2). Для расширения диапазона измеряемых амплитуд используется т. н. стробоголографич. метод, в к-ром голограмма экспонируется не непрерывно, а лишь в определён- [c.506]

Метод абсолютной интенсивности спектральных линий практически не имеет верхнего предела измеряемых температур. Со стороны очень высоких температур применимость метода ограничивается областью, в которой происходит ионизация основной массы атсмов излучающего металла. Для спектральных линий натрия такой границей будут, по-видимому, температуры 7000....8000 К. Использование излучающего элемента с более высоким потенциалом ионизации позволяет еще больше отодвинуть эту границу. [c.419]

Метод абсолютной интенсивности применим для измерения температур как несветящихся, так и светящихся пламен. Его инструментальная погрешность — около 1 % измеряемой температуры (для спектральной аппаратуры с дифракционной решеткой). При исследовании этим методом пламен с неоднородным температурным полем, так же как и в случае метода обращения, возникают дополнительные погрешности, связанные с самообращением спектральных линий. [c.419]

Постоянство отношения компонент газа в объеме пробы и в источнике можно легко установить по результатам измерений на масс-спектрометре, сняв следующие зависимости 1) отношение интенсивности ионных токов, например аргона и азота, Jat/Jn , в зависимости от давления этой смеси перед капилляром газонапускного устройства при неизменном положении игольчатого вентиля 2) величину ионного тока какой-либо одиночной линии масс-спектра измеряемой смеси от давления в пробе, также при неизменном положении игольчатого вентиля 3) интенсивность ионного тока одной из компонент в зависимости от общего ионного тока при постоянном давлении в объеме пробы и установке величины общего тока в пучке с помощью регулировки натечки газа в ионный источник игольчатым вентилем 4) отношение интенсивности компонент, полученное регулировкой натечки газа в источник при постоянном давлении газа в пробоотборнике. [c.134]

Измеряемая фотометром интенсивность /, при выбранных условиях пропорциональна интенсивности Л монохроматического излучения данной спектральной линпи где — энергетический выход люминесцентного трансформатора, т. е. его коэфф1щиент полезного действия для данной длины волны. Поэтому измеренное фотометром отношение интенсивностей двух спектральных линий равно [c.440]

Следовательно, зная коэффициент контрастности фотоэмульсии и измеряя по шкале микрофотометра >1 и >2, найдем АО и окончательно по (7.5.12) lg( l//2). Если плотности почернения (хотя бы одной линии) не лежат в области нормальных почернений (на прямолинейном участке), то необходимо снимать абсциссы точек на кривой для плотностей почернений О1 и 02 (рис. 7.5.3). Для получения большей точности измерений следует воспользоваться двумя характеристическими кривыми, но при этом важно, чтобы марки интенсивности, необходимые для построения характеристической кривой, находились в исследуемом спектре, т. е. необходимо сфотографировать измеряемые спектральные линии через девятиступенчатый ослабитель. Тогда характеристические кривые будут смещены по шкале интенсивностей (масштаб по оси абсцисс задается градуи- [c.487]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...