Решетка двухмерная

При гидродинамическом расчете решеток лопаточных машин решаются задачи двух видов — прямая и обратная задачи. Прямая задача — определение поля скоростей жидкости в данной решетке при заданных граничных условиях. Обратная задача — построение решеток, удовлетворяющих определенному оптимальному закону распределения скоростей. При решении прямой и обратной задач в общем случае надо рассматривать трехмерный поток, а применительно к плоским решеткам — двухмерный поток. Для решения этих задач приходится выполнять достаточно трудоемкие расчеты. В настоящем разделе будем использовать осредненные по сечению значения скоростей, т. е. будем исходить из теории одномерного течения. Несмотря на очевидное упрощение, теория одно-мерного течения позволяет рассмотреть многие закономерности Лопаточных машин. [c.37]

Как уже отмечалось, приведенные методы расчета не учитывают воздействия поперечных составляющих скорости на решетку при протекании через нее жидкости, что снижает точность расчета. В предлагаемых ниже методах эти составляющие скорости принимаются во внимание. Поскольку решетка испытывает воздействие не только нормальных составляющих скорости, но и поперечных, сила ее сопротивления проявляется в двух направлениях нормально и параллельно поверхности. Соответственно возмущение потока (изменение профиля скорости), вызванное решеткой, носит не одномерный характер, а двухмерный или, при соответствующих условиях, и трехмерный. [c.119]

Аналогично расчету по предлагаемому методу [2.28] рассмотрим двухмерный поток несжимаемой жидкости, в котором плоская решетка [c.119]

Рис. 5.1. Схема прохождения двухмерного потока через решетку

Аналогично расчету по методу Эльдера [177 ] рассмотрим решетку произвольной кривизны, помещенную в прямоугольном канале при установившемся двухмерном течении несжимаемой жидкости. Систему координат выберем так, что положительная ось х направлена от решетки вправо, [c.121]

Рис. 5.13. Двухмерная форма решетки (сетки) [190]

ДИФРАКЦИЯ НА ДВУХМЕРНОЙ РЕШЕТКЕ [c.155]

До сих пор мы рассматривали дифракцию от плоской одномерной решетки (штрихи нанесены перпендикулярно некоторой прямой линии). Представляет интерес рассмотреть также дифракцию от двухмерной решетки (штрихи нанесены во взаимно перпендикулярных направлениях в одной и той же плоскости). [c.155]

Положим, что штрихи нанесены в плоскости ху перпендикулярно осям X и у. Постоянные решетки в соответствующих направлениях обозначим через d] и d . Направим на такую решетку параллельный пучок монохроматического света длиной к. Ось г направим перпендикулярно плоскости двухмерной решетки. Углы между падающими и дифрагированными лучами и осями х, у, г обозначим соответственно [c.155]

Дифракция от двухмерной решетки позволяет определить не только взаимное расположение частиц (постоянных решетки di и d ), составляющих решетку на плоской поверхности, но также вести суждения о размерах самих частиц и о взаимном расположении решеток с постоянными di и [c.156]

Как следует из выражения (6.49), в отличие от одномерной и двухмерной решеток, где максимумы наблюдались для любых волн, при освещении белым светом в трехмерной решетке максимумы наблюдаются только для длин волн, удовлетворяющих условию (G.49). [c.163]

Покажем это на примере двухмерной решетки. Допустим, что на двухмерную решетку с известными параметрами а, Ь а углом между ними 7 в направлении So падает плоская монохроматическая волна длиной X. Определив по формулам (1.13) и (1.20) параметры обратной решетки а, Ь и у, построим ее на бумаге в масштабе 1/Х. Выберем произвольный узел А обратной решетки (рис. 1.38). Из узла А в направлении, обратном направлению So, отложим отрезок 1/Я, (в масштабе 1/Х) до точки О. Из этой точки, как из центра, описываем окружность Эвальда радиусом 1/Х. Заметим, что точка О не обязательно попадет в какой-либо узел решетки. [c.40]

Поверхностные (двухмерные) дефекты в двух измерениях имеют размеры, во много раз превышающие параметр решетки, а в третьем— несколько параметров. [c.85]

Рис. В-5. Схематическое двухмерное изображение строения а — решетки кристалла

Для волокнистых композиций с двухмерной периодической решеткой будут только два базисных вектора, расположенных в плоскости, ортогональной к направлению волокон, однако и будет обладать аналогичными свойствами. [c.290]

Наиболее полное объяснение механизму упрочнения дает теория дислокаций. Все процессы, происходящие в металлах и сплавах, как и их свойства, неразрывно связаны с характером и плотностью дефектов кристаллической решетки. Под дефектами кристаллического строения понимают нарушения в периодичности расположения атомов в пространстве, не связанные с тепловыми колебаниями атомов и упругими деформациями. В зависимости от протяженности различают три вида дефектов точечные, к которым относятся вакансии и межузельные атомы одномерные (линейчатые), к которым относятся дислокации, и двухмерные (пространственные), к которым относятся границы блоков, двойников, зерен. [c.96]

Таким образом, трехмерная задача расчета течения в турбомашине разбивается на две значительно более простые двухмерные задачи ]) построения осесимметричных поверхностей тока, 2) расчета обтекания аэродинамической решетки, расположенной на поверхности вращения в слое переменной толщины. Решения, полученные на основе такой постановки, удовлетворяют требованиям практики, так как позволяют найти изменение параметров потока по радиусу, а также установить условия обтекания каждого сечения решетки. [c.250]

Рис. 2.19. Разветвленная молекула ДНК (а) и образование двухмерной решетки (б) из крестообразных структур, соединенных липкими концами X и Y (X, Y — комплементарные концы). Азотистые основания А — аденин, С — цитозин, G — гуанин, Т — тимин. Комбинации четырех нитей ДНК 1—4) образуют четыре ответвления (I —IV). Полярность нитей указана стрелками [25]

Поскольку кристалл подобен трехмерной решетке, а не одно- или двухмерной, то условия, необходимые для возникновения эквивалента главных максимумов в оптической дифракции, удовлетворяются не столь легко. Рассмотрим единичную ячейку кристаллической решетки, изображенную на рис. 2.14, а. Представим, что кристалл пронизывается цугом квазимонохроматических волн с длиной волны к. Каково основное требование, необходимое для получения дифракционного максимума в некотором направлении Оно состоит в том, что рентгеновские лучи, рассеянные в данном направлении (идентичными) ансамблями атомов с центрами в узлах решетки А, В и С, должны совпадать по фазе с лучами, рассеянными ансамблем в точке О. Тогда рассеянные этими центрами волны будут находиться в фазе с рассеянными от соседних узлов и так далее по кристаллу. Совсем не обязательно, чтобы в узле решетки располагался только один атом. Это требование не влияет на возможность существования дифракционного максимума, так как все связано с периодом решетки-расстоянием между соответствующими атомами, расположенными одинаково по отношению к последовательным узлам кристаллической решетки. Разумеется, узел решетки. [c.44]

Точно такие же соображения применяются в случае двухмерной решетки, т. е. решетки в форме двухмерной структуры, каждая точка которой имеет идентичную апертуру (разд. 2.6). В случае сборной решетки каждая апертура может быть, например, малым отверстием или группой отверстий. Дифракционная картина в этом случае представляет собой двухмерную решетку пятен освещенности, причем порядок дифракции каждого пятна определяется двумя целыми числами (сравните три числа в уравнениях (2.18) для трехмерной решетки). Рекомбинация, вторая стадия в формировании изображения, выполняется точно таким же способом, как и в одномерном случае. [c.95]

Пример аналогии между дифракцией рентгеновских лучей на кристаллах и первой стадией формирования оптического изображения решетчатого объекта показан на рис. 5.7. На рис. 5.7, а изображена часть оптической маски, представляющей собой двухмерную проекцию кристаллической структуры фталоцианина на рис. 5.7,6 показана оптическая дифракционная картина, создаваемая ею [10]. Рис. 5.7,6 согласуется с данными рентгеновских исследований не только в отношении геометрии расположения пятен но и по соответствию экспериментально наблюдаемой рентгеновской интенсивности картине на рисунке. Исторически этот метод вначале применялся для определения неизвестной кристаллической структуры путем изготовления пробных масок на основе химических и других соображений. Он был существенно упрощен при дальнейшем развитии техники (см. конец раздела 2), когда было показано, что основная ячейка и только три периода вполне достаточны в качестве маски, поскольку они определяют структуру, на которой основана двухмерная проекция кристалла. Это иллюстрируется рис. 5.6, где в случае в в качестве маски было использовано большое число повторов (намного больше, чем показано на рисунке) основной ячейки, тогда как в случае д было использовано только четыре ячейки, определяющих структуру кристаллической решетки. Сравнение оптических преобразований показывает, что д вполне достаточно в сравнении сев данной выборке преобразования одной ячейки б на узлах взаимной решетки (преобразование) от основной решетки а. [c.99]

В дальнейшем разработкой методов расчета преобразования профилей скорости из одной формы в другую занимались многие исследователи. В частности, задача об изменении в двухмерном потоке равномерного профиля в заданный линейный с помощью прутковой решетки переменного сопротивления, стаповленпон в плоскон ти, перпендикулярной к оси капала, была решена О эноы и Зинкевичем [205], При этс М был применен гидродинамический метод, аналогичный методу Тейлора п Бэтчелора. [c.11]

Более подробным исследованием вопросов преобразования профилей скорости в двухмерном потоке занимался Элдер [177]. В его работе на основе тех же гидродинамических методов найдена линейная связь между неоднородными характеристиками решетки произвольной формы и распределением скоростей перед решеткой и за пей. При этом результаты, полученные Тейлором и Бэтчелором, а также Оуэном и Зенкевичем, являются частными случаями теории Элдера. [c.11]

Изучением двухмерного стратифицированного гютока через криволинейную сетку занимался Лоу 1188], затем Лоу и Бейнс 1189]. Они разработали методы, ио которым может быть определена форма решетки, необходимая для образования требуемого профиля скорости с заданным расслоением илотиости. Для однородной жидкости эти методы получаются более сложными, чем в теории Элдера, Э( зфект выравнивания потока с помощью сдвоенных решеток теми же методами гидродинамики изучался Танакой [130, 227]. Он также решал задачу выравнивания потока с помощью сеток для S-образного распределения скоростей [131], И. С. Риман н В. Г. Черепкова [116] дали методику расчета деформации профиля скорости в каналах, образованных стержнями, расположенными соосно в трубе. [c.12]

Дифракция на трехмерной решетке. Положим, что двухмерные peujeTKH с периодами di и dj расположены перпендикулярно оси г с периодом, равным da- Направим монохроматический параллельный [c.162]

Зпишите дифракцию света на двухмерной и трехмерной структуре. Почему трехмерная решетка является узкополосным фильтром Где используется это явление [c.459]

Подобным образом происходит н переход из трехмерноупорядоченной объемной кристаллической решетки к двухмерной поверхности поликристаллических сплавов как в микро-, так и в макромасштабе. [c.113]

При 52 > 5 кр в жидкости возникает стационарное конвективное движение, периодическое в плоскосги ху. Все пространство между плоскостями разделяется на прилегающие друг к другу одинаковые ячейки, в каждой из которых жидкость движется по замкнутым траекториям, не переходя из одной ячейки в другую. Контуры этих ячеек на граничных плоскостях образуют в них некоторую решетку. Значение ккр определяет периодичность, но не симметрию этой решетки линеаризованные уравнения движения допускают в (57,14) любую функцию ф(х, г/), удовлетворяьэ-щую уравнению (Лг — )ф = 0. Устранение этой неоднозначности в рамках линейной теории невозможно. По-види.мому, должна осуществляться двухмерная структура движения, в которой на плоскости ху имеется лишь одномерная периодичность— система параллельных полос ). [c.317]

Применяемые на практике металлы и сплавы представляют собой твердые растворы с упорядоченным и неупорядоченным аморфным распределениями атомов. Твердые растворы могут содержать несовершенства четырех основных типов точечные (нульмерные), линейные (одномерные), поверхностные (двухмерные) и объемные (трехмерные). К первым относятся вакансии (свободные узлы кристаллической решетки) и межузельные (смещенные) атомы ко вторым — цепочки точечных дефектов, различные типы дислокаций к третьим — дефекты упаковки атомов, границы зерен, блоков, двойников и т. д. к четвертым дефектам относятся поры, включения, выделения, технологические трещины и тому подобные образования, размеры которых намного превосходят межатомные расстояния. [c.321]

В основу профилирования положены опытные данные (см. гл. 3) с последующим поверочным расчетом в рамках двухмерной модели спонтанно конденсирующегося (см. 4.2) и влажного пара капельной структуры (см. 4.3). Сопловые решетки для слабО перегретого или сухого насыщенного пара на входе (по параметрам торможения) и решетки с первичной влагой на входе имеют некоторые отличия. Однако профили и межлопаточные каналы тех и других решеток имеют общие особенности, отличающие их от решеток, работающих в перегретом паре. К числу общих особенностей дозвуковых влажнопаровых решеток относятся 1) малые радиусы скругления входных кромок 2) плоско срезанные выходные кромки 3) увеличенные хорды 4) уменьшенные кривизны спинки и вогнутой поверхности 5) уменьшенные относительные шаги 6) относительно малые скорости расширения в межлопаточ-ных каналах. Дозвуковые решетки для полидисперсной структуры влажнопарового потока выполняются с увеличенными геометрическими углами входных кромок. [c.145]

Расчетный анализ резонансных явлений в проточных частях основывался на одномерной модели. В такой постановке решение задачи о распространении волн, вызванных взаимодействием решеток и другими причинами, дает лишь первое приближение, так как поля скоростей и углов потока за сопловой и рабочей решетками являются существенно неравномерными (см. гл. 3). Использование двухмерной модели без учета пограничного слоя позволяет ввести некоторые уточнения, однако не решает задачи о нестацио-нарности третьего типа, вызываемой процессами в пограничных слоях (прямым и обратным переходами). [c.194]

Видимое отсутствие застойных зон могло быть следствием работы с очень большими скоростями фильтрации По крайней мере проведенная авторами (Л. 535] киносъемка движения частиц над горизонтальной пластинкой шириной всего 50 мм, размещаемой в псевдо-ожиженном слое на разных уровнях, в том числе в плоскости решетки, показала наличие застойных зон. Авторы [Л. 535] закрепляли пластинку на высоте О—200 мм от решетки в двухмерном (9—380 мм) псевдоожижен-ном слое катализатора крекинга нефти (частицы 75— 100 мкм г0п.у=О,б2 см1сек угол естественного откоса 29,4°). Над пластинкой возникала мертвая зона неподвижного материала. Выше мертвой зоны находилась квазистабильная застойная зона , материал (В которой периодически (1 раз в несколько секунд) сменялся за счет пульсаций окружаюш,его слоя. Зависимость высоты мертвой зоны от типа решетки (перфорированной с отверстиями 0 1 мм или пористой — из фильтровальной бумаги) и высоты расположения пластинки была незначительной. Она уменьшалась с увеличением скорости фильтрации до Л/ — 4, после чего оставалась почти неизменной. Впрочем, данных для N, больших 5,35, не указано, а при Л = 5,35 —мала форсировка для слоя столь мелких частиц. [c.75]

Поверхностная диффузия должна быть особенно большой, при высоких скоростях растворения сплава. Если атомы В не успевают занять вакантные места, в кристаллической решетке поверхностных слоев может происходить ковденса ция вакансий, а затем и образование- трещин. Это явление наблюдается, например, в анодном растворении Ag,Au- плa-, ВОВ при потенциалах, выше критических [82, 83]. В том слу- чае, когда концентрация компонента А в сплаве очень вы сока, атомы В не способны к образованию сплошного поверхностного слоя диффундируя по поверхности, они вначале агрегатируются в двухмерные, а затем и в трехмерные зародыши новой фазы В°. В результате на поверхности растворяющегося сплава формируются отдельные кристаллы собственной фазы положительного компонента — имеет мес- то СР с фазовым превращением [15, 91, 101, 121]. - [c.133]

Кроме того, непосредственный анализ дифракционных картин с поверхности исследуемых кристаллов, полученных методом ДМЭ, показал [381 384], что атомы в поверхностных слоях из-за отсутствия сил межатомной связи с одной стороны существенно смещены от своих нормальных положений в кристаллической решетке. При этом на поверхности кристалла образуются сложные двухмерные структуры с иной симметрией решетки, а также с другой плотностью, длиной и типом атомных связей [381—384, 410—412] (рис. 71). Например, Ханеман [410] получил данные об искажении тетраэдрической симметрии, измеряя дифракцию электронов на чистых поверхностях полупроводников со структурой алмаза и цинковой обманки. Интерпретация дифракционных картин показала, что в этом случае верхний слой атомов плоскости (111) имеет постоянную решетки в два ра- [c.127]

В. И. Архаров [94, с. 26—33] связывает механизм модифицирования с внутренней адсорбцией горофиль-ных компонентов в слитке. Внутренняя адсорбция отличается от внешней тем, что первая осуществляется в трехмерных, а вторая — в двухмерных зонах. Концентрация модификатора в зонах внутренней адсорбции может быть сильно увеличена вследствие наличия дефектов в кристаллической решетке основного металла. Речь идет о малых концентрациях модификатора, рассчитанных на весь объем расплава и значительно меньших предела его растворимости в модифицируемом слит- [c.107]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...