Коэффициент пропускания световой

Подвесной потолок может быть создан с применением гофрированной светорассеивающей пленки из синтетического материала. Во время очистки и смены ламп пленку можно легко сдвинуть. Коэффициент пропускания световых лучей светорассеивающей пленки равен 87%, ширина ее полосы составляет 915 мм, а расстояние от ламп равно 305 мм.. [c.78]

Предполагается, что световые волны не могут проходить сквозь площадку 6S. Коэффициент пропускания для нее равен нулю. [c.402]

Существуют разные оптические схемы параметрических генераторов света. Одна из них показана на рис. 9.13, а. Оба зеркала резонатора (/ и 2) прозрачны на частоте накачки W. Для более низких частот зеркало 1 является полностью отражающим, а зеркало 2 характеризуется некоторым коэффициентом пропускания. Существуют параметрические генераторы света, где генерируется только одна световая волна, например волна на частоте Wi. Чтобы [c.237]

Световые коэффициенты. При падении светового потока на поверхность какого-либо тела часть этого светового потока непосредственно отражается (по закону отражения), часть более или менее равномерно рассеивается во все стороны, часть поглощается и часть проходит насквозь. Отношения этих световых потоков ко всему падающему световому потоку носят названия соответственно коэффициента отражения р, коэффициента рассеяния х, коэффициента поглощения к и коэффициента пропускания т [c.304]

Марки цветного оптического стекла (ГОСТ 9411—75) следующие ультрафиолетовые стекла (УФС), фиолетовые (ФС), синие (СС), сине-зеленые (СЗС), зеленые (ЗС), желто-зеленые (ЖЗС), желтые (ЖС), оранжевые (ОС), красные (КС), инфракрасные (ИКС), пурпурные (ПС), нейтральные (НС), темные (ТС) и бесцветные (БС). Название цветного стекла соответствует участку спектра, в котором коэффициент пропускания имеет наибольшее значение. Светофильтры из нейтрального стекла почти равномерно ослабляют световой поток, из бесцветного стекла — пропускают не только видимое, но ультрафиолетовое и инфракрасное излучение. [c.513]

ФОТОМЕТРИЯ ИМПУЛЬСНАЯ—направление фото.иет-рии, изучающее импульсные световые потоки (длительность излучаемых импульсов меньше периода их повторения) и их применение для получения оптич, характеристик тел отражения коэффициент, пропускания коэффициент и др.). [c.353]

Устройства оптической обработки выполняют все необходимые вычислительные операции (свертка функций, дифференцирование, интегрирование и т. д.) на основе двух базовых — комплексного умножения и преобразования Фурье. В основе комплексного умножения лежит модуляция световой волны, проходящей через объект в виде транспаранта с заданным амплитудным коэффициентом пропускания. (Напомним, что именно на основе представления об амплитудном коэффициенте пропускания в гл. 1 был развит волновой подход в теории ДОЭ.) Операцию преобразования Фурье выполняет оптический фурье-анализатор, состоящий в простейшем случае из транспаранта с входным изображением и линзы (объектива) с положительной оптической силой [24]. Если транспарант освещает плоская монохроматическая волна, то его фурье-об-раз (спектр пространственных частот) формируется в дальней зоне в результате дифракции света на структуре транспаранта. Линза переносит спектр из бесконечности в свою фокальную плоскость, где он представляется в виде комплексной амплитуды волнового поля. [c.150]

Как уже отмечалось в разд. 2.3, комплексную амплитуду ео(р) можно рассматривать как комплексную амплитуду сигнала, прошедшего через светофильтр, который настроен на частоту о и имеет предельно узкую полосу пропускания. С учетом этого замечания первая величина может быть сформирована с помощью схемы, изображенной на рис. 3.1. Основной особенностью этой схемы является наличие транспаранта, коэффициент пропускания которого является комплексным и равным е (р). При этом условии в окрестности фокуса линзы значение световой интенсивности Jq в мо- [c.104]

В разделе 7.4 было показано, что при считывании линейно поляризованным светом дифрагированный свет имеет линейную поляризацию, отличающуюся от исходной. В частности, поляризация света в дифракционном порядке может быть ортогональна к исходной. В этом случае, если за модулятором располагается анализатор, скрещенный для света исходной поляризации, то он полностью пропускает дифрагировавший свет, Нулевой порядок и ореол имеют в общем случае эллиптическую поляризацию. Степень эллиптичности зависит от средней по сечению считывающего пучка света разности фаз между собственными модами световой волны в кристалле Аф(,., Коэффициент пропускания по интенсивности скрещенного идеального анализатора для нулевого порядка и ореола Т = sin Афо-Если Афо = О, то их поляризация не отличается от исходной, и должно происходить полное подавление шумов рассеяния (ореола). Реальный анализатор осуществляет такое подавление не полностью, для него можно записать 7 = То + sin А/о, где Т — коэффициент пропускания для света скрещенной поляризации. В случае, когда-дифракционный порядок имеет поляризацию, ортогональную к. исходной, по аналогии с (7.73) отношение сигнал/шум при установленном анализаторе, будет [c.157]

Т — абсолютная температура, а также коэффициент пропускания для сигнальной световой волны в схемах двух- и четырехволнового взаимодействия [c.312]

Под светопропусканием т среды понимается отношение светового потока Ф, прошедшего через среду, к Фд падающему. Если световой поток проходит через ряд сред с коэффициентами пропускания Тз,. . то вся система будет иметь коэффициент пропускания [c.69]

Строим для падающего излучения спектральную кривую светового потока, ордината которой г = уКк> и аналогичную кривую для пропущенного излучения, ординаты которой г = т>,уК. Отношение площади, ограничиваемой второй кривой, к площади, ограничиваемой первой кривой, дает коэффициент пропускания Т для рассматриваемого падающего излучения [c.72]

Падение света под углом к нормали. При падении светового пучка под углом i в выражения (2.1), (2.2) вместо толщины h в аргумент косинуса необходимо подставить h[l — (sin г)/гг ] /2 Кроме того, необходимо использовать выражения для Ri и R2, в которых учитывается угол падения и поляризация света (эти выражения приведены в следующем параграфе). Изменение угла падения приводит к осцилляциям коэффициентов отражения и пропускания света пластинкой. На рис. 2.18 приведена экспериментальная зависимость коэффициента пропускания света (Л = 1,15 мкм) монокристаллом арсенида галлия толщиной 0,43 мм от угла падения света на поверхность. Интервал между соседними минимумами пропускания уменьшается с увеличением угла. [c.39]

Оптические свойства вещества зависят только от его природы и геометрической формы. Коэффициенты пропускания, отражения и рассеяния не зависят от интенсивности падающего света. Оптические свойства вещества зависят также от интенсивности излучения. В веществе скорость света зависит от его интенсивности. Происходит отклонение от прямолинейного распространения, в том числе самофокусировка световых пучков. Закон Бугера не выполняется. Наблюдается многофотонное поглощение и генерация гармоник. [c.57]

Коэффициенты пропускания Т и отражения Н при взаимодействии светового пучка с пластинкой в приближении многократных отражений без интерференции описываются выражениями (2.10) и (2.11). Температурно-зависимый параметр вТ и Н (коэффициент поглош,ения а) входит в показатель экспоненты ехр(—а/г), поэтому пропускание и отражение света быстро уменьшаются с температурой. На рис. 5.1 [c.110]

Светосила. Светосила спектрального прибора характеризует освещенность (или световой поток), которую создает оптическая система в плоскости изображения спектра. От светосилы спектрального прибора зависит экспозиция, с которой фотографируется спектр на спектрографе, и ширина щели, когда спектр регистрируется на спектрофотометре. В зависимости от способа регистрации света и источника света (линейчатого или непрерывного) светосила определяется через различные параметры спектрального прибора, но во всех случаях она пропорциональна квадрату относительного отверстия с1Ц объектива камеры (с — диаметр, — фокусное расстояние, см. рис. 11.1) и коэффициенту пропускания т (отношению монохроматического светового потока, прошедшего через прибор, к падающему на входную щель). [c.127]

Коэффициент пропускания — отношение прошедшего через фонограмму светового потока к падающему потоку / пад [c.243]

Световые коэффициенты. При падении светового потока на поверхность какого-либо тела часть этого светового потока непосредственно отражается (по закону отражения), часть более или менее равномерно рассеивается во все стороны, часть поглощается и часть проходит насквозь. Отношения этих световых потоков ко всему падающему световому потоку носят названия соответственно коэффициента отражения Н, коэффициента рассеяния 8, коэффициента поглощения К и коэффициента пропускания % прозрачность). Последние два коэффициента обычно полезно относить к единице толщины слоя. В частности, коэффициент поглощения, отнесенный к единице длины, может быть определен по формуле [c.250]

На рис. 260 кривая 1 характеризует световой поток, падающий на светофильтр (дневной свет), а кривая 2 — прошедший через него. Чтобы получить значение интегрального коэффициента пропускания, согласно вышеприведенному соотношению, следует взять отношение площадей, ограниченных кривыми 1 ж 2. Площади измеряются с помощью либо планиметра, либо простым подсчетом числа квадратиков по миллиметровой бумаге. [c.333]

Измерение отношений методом вращающихся секторных дисков подробно описано Куинном и Фордом [71]. Сами диски сделаны с отверстиями вблизи периферии, образованными радиальными парами ножевых кромок. Ось вращения дисков расположена параллельно пучку излучения, который проходит через отверстия и может прерываться. Средняя яркость источника, наблюдаемая через отверстия вращающегося секторного диска, выражается в соответствии с законом Тальбота произведением яркости источника на коэффициент пропускания диска, т. е. на долю времени, в течение которого излучение может проходить через отверстия. Эта доля равна отношению полного угла, занимаемого центрами всех отверстий, к 2я. Тщательно сделанный диск, имеющий, например, коэффициент пропускания 1,25 /о. позволяет получить погрешность измерения коэффициента пропускания до 0,01 %. Коэффициент пропускания может быть измерен либо механически — прямым измерением положения кромок ножей, либо хронометрированием светового пучка, проходящего через отверстие, когда диск вращается in situ. Для того чтобы выполнялся закон Тальбота и была полностью реализована указанная возможная точность в измерении отношения, жалюзийный фотоумножитель (например, EMI 9558) нуждается в низком уровне освещения катода. Средний анодный ток не должен превышать примерно 0,1 мкА, а потенциалы динодов должны быть стабильными. [c.373]

Гораздо шире распространен случай, когда кoэфq зициeнт пропускания пластинки, располагаемой в световом пучке, меняется не вдоль одного направления, а по всей поверхности нашей пластинки. Примером может служить пластинка беспорядочно запыленного стекла или окно, покрытое узорами мороза. Ясно, что такое изменение коэффициента пропускания можно охарактеризовать как изменение по двум координатам нашей поверхности, так что рассматриваемая структура будет двумерной. В простейшем случае это будет двумерная периодическая структура (двумерная решетка), в общем — совокупность многих двумерных решеток. [c.225]

Из формулы (158) видно, что чувствительность эллипсометра а зависит фактически от трех величин амплитуды раскачки плоскости поляризации а, значения тока г, , причем последний прямо пропорционален величине падающего на ФЭУ светового потока, и коэффициента пропускания призм в скрещенном положении Djl. При идеальных поляризационных призмах (Dx —>0) имеет место предел чувствительности применяемого метода. [c.207]

Непрозрачные твердые тела обладают очень большими коэффициентами ослабления, вследствие чего процесс полного поглощения потоков лучистой энергии завершается iB весьма тонких поверхностных слоях тела. Отмеченное можно проиллюстрировать следующими данными, полученнымн при исследованиях поглощения (пропускания) световых лучей очень тонкими пластинками железа [Л. 172] [c.48]

Для арсенида индия марки ИМЭП-1 коэффициент пропускания, равный с г-ношению прошедшего светового потока [c.580]

Во многих практических схемах голографирования объекта достаточно средств для того, чтобы флуктуации, источником которых является первое и третье звено, сделать малыми по сравнению с флуктуациями, возникающими во втором, записывающем звене системы. Имеется достаточно богатый материал по флуктуациям детекторов светового излучения. Применительно к голографии этого материала оказывается недостаточно в связи с тем, что в нем отражается только анализ флуктуаций отклика на действие света по коэффициенту пропускания или отражения, а также так называемых темновых флуктуаций, имеющих место и при отсутствии света. В связи с тем, что при восстановлении волнового фронта весьма значительную роль играет постоянство разности фаз при прохождении или отражении восстанавливающей волны от голограммы, на потери информации существенно влияют флуктуации фазового сдвига, вызванные флуктуациями оптической длины пути света в записывающем материале. Последняя, в свою очередь, зависит от флуктуаций толщины материала и его показателя преломления при прохождении света через материал или от флуктуаций поверхностного рельефа при отражении восстанавливающей волны от поверхности голограммы. Следует отметить, [c.72]

Действие амплитудных шумов выражается в том, что коэффициент пропускания при одинаковой экспозиции на всех участках материала Е х, у)=1(х, y)i= onst дает отклик S x, г/) 1—т(л , y)=7 = onst, причем каждая конкретная функция (реализация) х х, у) при одной и той же экспозиции Е х, y)= onst отличается от другой реализации, но так, что колебание случайных значений в любой точке х, у) происходит вокруг некоторого среднего значения т(л , у). Будем иметь в виду, что при одинаковом световом воздействии среднее значение данной реализации х х, у) при достаточно большом числе точек X, у равно среднему значению функции х х, у) при достаточно большом числе реализаций. Представим данную реализацию г(х, у) как сумму двух членов [c.73]

Качественная интерпретация этого факта,а именно драматического возрастания коэффициентов пропускания и отражения при Yd -> 4 в данной геометрии достаточно проста. Действительно, противоположность знаков констант взаимодействия и фактически означает, что одна и та же смещенная фазовая решетка оказывается противофазной для световых волн, пересекающих образец ФРК в разных направлениях. Как следует из рассмотрения, проведенного в разделе 6.3, это приводит к тому, что теперь оба двухволновых процесса направлены одинаково. Т. е. при Г >0 они одновременно приводят к усилению слабых сигнальных волн и S , а следовательно, и амплитуды решетки по всей толщине образца. Такой процесс можно назвать четырехволновым взаимодействием с положительной обратной связью, поскольку введение встречной волны накачки приводит к дополнительному усилению голограммы. [c.116]

Если коэффициент поглощения а = О, как было принято ранее, то Oniax 1- т. е. весь световой поток после прохождения интерферометра концентрируется в узких максимумах интерференции. Очевидно, что при а>0 коэффициент пропускания <1. [c.29]

Резонаторное устройство состоит из двух зеркал, расположенных у торцов стержня перпендикулярно его оси, отстоящих друг от друга на величину (10 4-10 ) Я,. Эта система представляет собой многолучевой интерферометр, в котором световые лучи, распространяющиеся вдоль оси резонатора, многократно отражаются зеркалами. После каждого отражения они проходят через активную среду и усиливаются за счет индуцированного изл>чения возбужденных атомов. Одно из зеркал выполняется частично пропускающим (Коэффициент пропускания I—5%) и служиг для вывода генерированпого сишала из резонатора. Резонаторная система выполняется в виде сферического эталона ФабрИ Перо (см. гл. Ill, п. 2), в ко7 ором два одинаковых вогнутых сферических зеркала расположен-ы на расстоянии, равном радиусу кривизны зеркал. Особенность конфокальной системы заключается в более низком уровне дифракционных потерь, а также в возможности менее точной обработки зеркальных поверхностей 159]. Часто в качестве резонатора используют торцы кристалла, нанося на них отражающие слои, при этом наилучшие результаты дают многослойные диэлектрические покрытия. [c.80]

Эти условия в лазере с кольцевым резонатором, показанном схематически на рис. 6.15, а, были реализованы Форком, Грином и Шенком [6.6, 6.32]. В качестве усилителя использовался родамин 6G, а в качестве поглотителя — DOD I, растворенный в этиленгликоле. Для создания возможно более узкого поглотителя применялось сопло специальной формы, создававшее струю, толщина которой в месте прохождения светового пучка составляла примерно 10 мкм. Усилитель накачивался аргоновым лазером непрерывного действия, обеспечивавшим мощность накачки от 3 до 7 Вт на длине волны 5145 А, коэффициент малосигнальных потерь в поглотителе составлял 20%, а коэффициент пропускания выходного зеркала —3%. При помощи этой установки были получены лазерные импульсы длительностью от 65 до 90 фс со спектральной шириной 50+10А. [c.223]

Рде Т — средний коэффициент пропускания зеркал А — nD /4 — площадь зеркала и Q — nDy4 nL) — телесный угол светового пучка внутри интерферометра. [c.436]

Поместим предмет с амплитудным коэффициентом пропускания то(х, у ) непосредственно перед линзой (рис. 184) и направим на него плоскую -монохроматическую волну. На передней плоскости перед линзой образуется световое поле АоТо(х у ) = [c.238]

Фурье преобразование амплитуд между фокальными плоскостями линзы. Изложенные в предыдущем параграфе соображения показывают, что в процессе распространения волны распределение амплитуд в плоскости, перпендикулярной направлению распространения, претерпевает изменение от плоскости к плоскости. Последовательно применяя формулы, описывающие эти изменения, можно найти формулы преобразования распределения амплитуд между двумя любыми плоскостями. Можно также найти распределение интенсивностей в этих плоскостях. Связь между распределениями амплитуд в общем случае получается довольно сложной, а распределение интенсивностей ничем не похожи др>т на друга. Однако в определенных условияк связь между распределениями амплитуд оказывается достаточно. простой и сводится в своей существенной части к преобразованию Фурье. Ясно, что наиболее простые случаи следует рассмотреть в первую очередь. Затем будут рассмогрены условия, при которых распределения интенсивностей в двух плоскостях достаточно хорошо похожи друг на друга. В этом случае говорят о дифракционном образовании -изображения, поскольку все рассмотрение основывается на волновых понятиях без какого-либо обращения к лучам. Поместим плоский предмет с амплитудным коэффициентом пропускания Tq(Xo, > о) перед Линзой на расстоянии L (рис. 185) и направим на него плоскую монохроматическую волну. Па задней плоскости предмета образуется световое поле [c.239]

Двухлучевые спектрофотометры [158—172]. Любой дву. слу-чевой спектрофотометр построен на основе монохроматора,— устройства, расщепляющего световой пучок, и двух детекторов. Они могут применяться для измерения коэффициентов пропускания и коэффициентов отражения. Первый спектрофотометр для вакуумного ультрафиолета был предложен Джемсом [171]. Часть пучка, вышедшего из монохроматора, отразившись от зеркала 1 (рис. 3.39), падает на флуоресцирующий экран 2, [c.173]

Можно избежать применения спектрального прибора для градуировки монохроматора или спе(Ктрографа в том случае, если применяемый источник света является монохроматическим [137—139]. Тогда для определения коэффициента пропускания прибора необходимо произвести два измерения светового потока на его входе и на выходе (за выходной щелью, если это монохроматор, и в кассетной части, если градуируемый прибор-спектрограф). Этот метод применялся Спрегом и др. [137] для определения /коэффициента отражения решетки. Этим же методом определялась эффективность спектрографа ДФС-6 [138] и монохроматора ВМ-70 [139—140]. [c.261]

Запыленность и загрязненность поверхностей источников света и осветительных приборов имеют место в любых условиях эксплуатации осветительной установки. Оба этих фактора уменьшают коэффициенты пропускания прозрачных сред и коэффициенты отражения рабочих поверхностей осветительных приборов, в результате чего излучаемый световой поток падает и изменяется кривая светораспределения их, и, следовательно, уменьшается освещенность на нормируемой поверхности, Наиболее интенсивно запыляются и загрязняются осветительные приборы наружных осветительных установок в районах расположения промышленных предприятий с большими выбросами в атмосферу, а также в районах станций, где работает или обращается большой парк паровозов, тепловозов, дизель-поездов, в районах тормозных позиций и маневровых вытяжек сортировочных и участковых станций. Такие же явления наблюдаются вдоль главных путей всех станций железных дорог, на которых осуществляются массовые перевозки различных пылящих грузов на открытом подвижном составе. [c.171]

Под действием света регистрирующая среда изменяет свои оптические свойства. Эти изменения зависят от интенсивности излучения. В результате облучения после химической обработки в светочувствительной среде может измениться или коэффициент пропускания (отражения), или коэффициент преломления. В первом случае голограмма называется амплитудной, а во втором — фазовой. При прохождении световой волны через голограммы в первом случае возникает амплитудная модуляция излучения, а во втором случае — фазовая модуляция проходящей через голограмму световой волны. Рассмотрим принцип образования голограммы предмета О сложной формы. Осветим его широкой плоской волной W, часть которой одновременно с предметом освещает и прямоугольную призму, предназначенную для изменения хода лучей и образования опорной волны W (рис. 6.1.3). Призма отклоняет световой пучок на некоторый угол 0, который создает в плоскости фотографической эмульсии поле с постоянной амплитудой йо и фазой, меняющейся вдоль голограммы линейно с координатой х Тогда комплексная амплитуда опорной волны записывается в виде Ло = аоехр(—tax), где а — = 2л/Х) sin Q. [c.374]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...