Коэффициент пропускания - Измерение

Измерения оптической плотности или коэффициента пропускания раствора. Измерения проводят двумя способами. [c.119]

Принцип действия оптического пирометра с исчезающей нитью прост и иллюстрируется на рис. 7.30 а. Линза объектива формирует изображение источника, температура которого измеряется в плоскости раскаленной нити миниатюрной лампы. Наблюдатель через окуляр и красный стеклянный фильтр видит нить и совмещенное изображение источника. Ток через лампу регулируют до тех пор, пока визуальная яркость нити не станет точно такой же, как яркость изображения источника. Если оптическая система сконструирована правильно, в этот момент нить на изображении источника исчезает. Пирометр градуируется в значениях тока, проходящего через миниатюрную лампу. Так как детектором равенства яркостей является глаз человека, то доступная непосредственно для измерений область температур ограничена с одной стороны границей приемлемой яркости, с другой — яркостью, слишком слабой для наблюдения. Нижний предел зависит от апертуры оптической системы и составляет примерно 700°С, верхний предел равен примерно 1250°С. Для измерения более высоких температур между линзой объектива и нитью помещается нейтральный стеклянный фильтр (С на рис. 7.30а), понижающий яркость изображения источников. Плотность фильтра выбирается такой, чтобы обеспечить небольшое перекрытие областей. Например, току лампы, эквивалентному, скажем 700 °С на шкале без фильтра, на следующей шкале, с фильтром, будет соответствовать температура 1100°С. Таким образом, с помощью одного прибора температурные измерения могут быть расширены до любой желаемой максимальной температуры. Коэффициент пропускания фильтра т, который требуется для того, чтобы понизить яркость источника от температуры Т до температуры, например точки золота Гди, можно найти, используя приближение Вина, по формуле [c.365]

Фотоэлектрический кварцевый спектрофотометр СФ-4 предназначен для измерения коэффициентов пропускания или оптических плотностей жидких и твердых веществ. Измерения проводятся относительно эталонов (или кювет сравнения), пропускание которых принимается за 100%, а оптическая плотность — соответственно равной нулю. [c.195]

Погрещности измерения температуры яркостными оптическими пирометрами обусловлены главным образом неточностью знания степени черноты объекта измерения ех] изменением коэффициента пропускания ослабляющего светофильтра при измерениях в помещениях, температура в которых заметно отличается от 293 К отражением лучей объекта измерения от посторонних источников света поглощением лучей в слое воздуха, содержащего пары воды и углекислоты поглощением и рассеянием лучей в слое запыленного и задымленного воздуха ослаблением излучения стеклами, расположенными между объектом измерения и пирометром неточной наводкой пирометра при небольших размерах объектов измерений. Сведения о возможностях расчетной оценки этих погрешностей и рекомендации по их уменьшению содержатся в [5, 7, 12]. [c.187]

С целью увеличения точности определения электрофизических параметров можно производить обработку оптических сигналов поэтапно и дополнительную информацию получать вторым путем, который заключается в том, что на первом этапе находят зависимость 0=1 Ne) и степень компенсации для конкретного исследуемого образца. Для этого по экспериментально измеренным в нескольких точках образца коэффициентам отражения графически определяют концентрацию свободных носителей заряда (рис. 112). По измеренным в этих же точках коэффициентам пропускания Т и отражения R по формуле (137) находят коэффициент поглощения [c.188]

На рис. 138 показана схема устройства квантового интерферометра для измерения перемещений объекта [18]. Резонатор Не—Ке-лазера образован двумя неподвижными зеркалами 2 и 14, имеющими коэффициенты пропускания соответственно около 0,1 и 1%, а также подвижным зеркалом 6, укрепленным на перемещающейся с помощью микрометра опоре 7. При перемещении зеркала 6 приемная система, включающая в себя фотоприемник 11, [c.235]

Отрицательные линзы 10 и 18 расширяют пучки, благодаря чему облучается вся площадка катода ФЭУ и тем самым исключается влияние зонной чувствительности катода. Монохроматические (интерференционные) фильтры 11 и 19 имеют следующие характеристики максимум пропускания — при А, = 0,635 мк, максимальный коэффициент пропускания — 38%, полуширина полосы пропускания — 10 мк. Использование таких фильтров дает возможность работать в незатемненном помещении, так как часть излучения из спектра дневного света или ламп накаливания, которая может попасть на катод ФЭУ, ничтожна по сравнению с полезным потоком и не сказывается на результатах измерений. [c.33]

Первичная и периодическая поверка средств измерений представляет собой незаменимый способ обеспечения единства измерений в случае, когда разнообразные средства измерений эксплуатируются для достижения какой-то одной четко ограниченной цели (например, для измерения массы), особенно, если оценка возможной степени достижения этой цели подтверждена государственными испытаниями средства измерений. Возможности поверки уменьшаются применительно к многоцелевым средствам измерений, используемым для аналитического контроля преимущественно на основе экспериментально установленных градуировочных характеристик. Это обстоятельство настолько важно, что на нем следует остановиться более подробно. Остановимся, например, на первичной и периодической поверке фотоэлектрических колориметров (ГОСТ 8.298—78). В соответствии с методикой, изложенной в этом стандарте, поверка должна включать внешний осмотр, опробование, определение нестабильности показаний, основной абсолютной погрешности и размаха показаний. Для проведения последних двух операций используют набор образцовых мер спектрального коэффициента пропускания, состоящий из семи светофильтров с коэффициентом пропускания от 5 до 92 %, которые аттестованы с погрешностью не более 0,5 %. [c.25]

При аналитическом контроле при помощи фотоколориметра контролируемая при поверке физическая величина (спектральный коэффициент пропускания) не используется, так как ее зависимость от содержания компонентов экспонента) неудобна для применения и заменяется оптической плотностью с более приемлемой на практике линейной концентрационной зависимостью. Однако и в этом случае нормирование показателей основной погрешности и размаха показаний не имеет смысла, поскольку их фактические значения перестают быть постоянными зависят от оптической плотности). Кроме того, абсолютные значения оптической плотности для измерений, выполняемых по экспериментально установленной градуировочной характеристике, не требуются. [c.26]

Промежуточное положение области мягкого и ультра-мягкого рентгеновского излучения, лежащей между достаточно хорошо изученными областями — жесткой рентгеновской и вакуумной ультрафиолетовой, делает возможным применение широко известных. методов определения оптических констант, какими являются в области жестких рентгеновских лучей метод пропускания и в областях видимой и ультрафиолетовой измерение угловых зависимостей коэффициента отражения. Причем методы пропускания и измерения спектральных зависимостей коэффициента отражения существенным образом используют соотношения Крамерса—Кронига. [c.20]

В пирометрах с диапазонами измерения от 800 до 1400 °С и от 1200 до 2000 °С одно поглощающее стекло, которое при измерениях по шкале верхнего предела вводят в поле зрения поворотом рукоятки на 90°. В остальных модификациях с более высокими пределами измерения два поглощающих стекла, одно из которых с большим коэффициентом пропускания вводят в поле нижнего предела, а другое — при [c.339]

Здесь предполагается, что постоянный сдвиг фазы Аф ,, возникающий из-за линейного дву лучепреломления, скомпенсирован за счет использования четвертьволновой пластинки, и прохождение малого сигнала блокируется. Экспериментально измеренное значение нелинейного сдвига фазы [26] находится в согласии с (7.2.13). Индуцированное нелинейное двулучепреломление позволяет излучению проходить через поляризатор коэффициент пропускания при этом [21] [c.184]

Рис. 1.3. Измерение коэффициентов пропускания и поглощения. Монохроматический свет с перестраиваемой частотой интенсивностью /о(ш) падает на образец Р длиной /. (В качестве источника квазимонохроматического света можно использовать узкополосный перестраиваемый лазер или излучение с широким спектром, пропущенное для частотной селекции через монохроматор.) Интенсивности /о(со) и /(ш) до и после прохода через образец измеряются с помощью детекторов излучения Dq и D. При помощи схемы сравнения получается отношение /(со)//о(ш). В записывающем устройстве координате у соответствует коэффициент пропускания, а координата л пропорциональна частоте. Коэффициент поглощения определяется по формуле =

Стробоскопический метод представляет по существу специальный случай измерения корреляционной функции. Роль вспомогательной функции H t) здесь играет временная зависимость коэффициента пропускания затвора или временная зависимость интенсивности освещения, создаваемого лампой-вспышкой. Если Я(/) соответствует очень короткому импульсу (и представляется возможным аппроксимировать Н (t) б-функцией), то при условии нормировки интеграла от Н (t) к единице из (3.1) следует, что К (т) =S (т). [c.107]

Примером жидкостного калориметра может служить сосуд, наполненный раствором нитрата меди в ацетонитриле. Концентрация нитрата меди подобрана так, чтобы коэффициент пропускания ячейки длиной 75 мм составлял 10 для падающей энергии излучения на длине волны рубинового лазера (0,694 мк). Сосуд связан с капилляром диаметром 0,1 мм, в который может выходить жидкость при расширении. Приблизительно 2,6 дж вызывают подъем уровня жидкости на 25 мм ). Приспособление с поршнем позволяет регулировать уровень жидкости при изменениях окружающей температуры. Нетрудно рассчитать подобный калориметр и большего объема для измерения больших энергий. [c.117]

В случае, если необходимо проводить нестационарные измерения при наличии сильно неоднородного профиля температуры по толщине пластинки (например, имеется экспоненциальный спад температуры от поверхности), необходимо решать задачу, включающую уравнение теплопроводности и интегральное уравнение для коэффициента пропускания пластинки с неоднородно распределенной температурой. [c.123]

Влияние клиновидности пластинки на измерение коэффициента пропускания или отражения. В случае, когда пластинка имеет высокий показатель преломления, существенны многократные внутренние отражения света, при этом проходящий и отраженный пучки включают несколько пучков разных порядков. Если между поверхностями имеется ненулевой угол, пучки разных порядков выходят из пластинки под разными углами к нормали (в виде веера). При этом фотоприемник может не зарегистрировать часть проходящей или отраженной мощности зондирующего пучка. Если потерянная часть мощности будет приписана поглощению света в пластинке, вычисленная температура окажется завышенной по сравнению с действительной температурой пластинки. Оценим, при каких значениях клиновидности пластинки этот эффект будет иметь влияние на результат измерения. [c.124]

Рис. 5.15. Зависимость вычисленного на основе модели многократных внутренних отражений света в пластине (-/) и модели однократного прохождения (2) коэффициента поглощения от измеренного коэффициента пропускания света монокристаллом кремния

Причина разброса точек связана с флуктуациями мощности лазерного излучения. Эти флуктуации не влияют на положение интерференционных экстремумов и не приводят к появлению или потере полос в интерферограмме, т. е. практически не вносят погрешностей в определение температуры методом ЛИТ. Однако флуктуации мощности падающего излучения являются источником погрешностей для термометрии по сдвигу края поглощения. Для уменьшения случайных погрешностей необходимо применять лазер со стабилизацией мощности или создавать схему с опорным пучком для более точного измерения коэффициента пропускания. [c.175]

В последнее вре.мя для получения спектров поглощения начали применять совершенно новые методы, без использования собственно спектрального прибора, т. е. без разложения излучения в спектр. Речь идет о методах, в которых применяются источники квази-монохроматического излучения с перестраиваемой частотой и производится непосредственное измерение зависимости коэффициента пропускания исследуемых веществ от длины волны [1(1]. Источниками монохроматического излучения служат лазеры с перестраиваемой частотой, а в длинноволновой инфракрасной области — генераторные лампы обратной волны с умножением частоты. Разрешающая способность таких методов определяется спектральной шириной излучения, и в ряде областей спектра она оказывается значительно выше, чем для традиционных спектроскопических методов. К недостаткам нового метода следует отнести пока относительно небольшую область перестройки частоты и значительные экспериментальные трудности в осуществлении самой перестройки. Краткое описание новых спектральных приборов. можно также найти в [12. 13]. [c.15]

Методы измерения коэффициента пропускания [c.404]

На спектрофотометрах измеряется коэффициент пропускания или оптическая плотность образца относительно эталона, пропускание которого принимается за 100%, а оптическая плотность за ноль. В случае измерения растворов эталоном служит растворитель. [c.151]

Пределы измерения коэффициентов пропускания в % [c.154]

Положительный столб тлеющего разряда. В положительном столбе тлеющего разряда при малых плотностях тока возбуждаются только линии атомов. В трубках, наполненных инертными газами, даже в узких капиллярах при давлениях в несколько тор в вакуумной области спектра наблюдаются только резонансные линии атомов. Общее число этих линий очень мало. Для появления линий ионов необходимо снизить давление. При уменьшении давления в чистом аргоне до 0,5 тор возбуждаются линии ионов аргона. Они достигают большей яркости, чем в чистом аргоне, если аргон является примесью к газам с более высокими потенциалами ионизации (Ые и Не). Даже в смесях газов число линий, возбуждаемых в положительном столбе тлеющего разряда, остается недостаточным для проведения абсорбционных измерений или для определения коэффициентов пропускания и отражения. [c.37]

Измерение отношений методом вращающихся секторных дисков подробно описано Куинном и Фордом [71]. Сами диски сделаны с отверстиями вблизи периферии, образованными радиальными парами ножевых кромок. Ось вращения дисков расположена параллельно пучку излучения, который проходит через отверстия и может прерываться. Средняя яркость источника, наблюдаемая через отверстия вращающегося секторного диска, выражается в соответствии с законом Тальбота произведением яркости источника на коэффициент пропускания диска, т. е. на долю времени, в течение которого излучение может проходить через отверстия. Эта доля равна отношению полного угла, занимаемого центрами всех отверстий, к 2я. Тщательно сделанный диск, имеющий, например, коэффициент пропускания 1,25 /о. позволяет получить погрешность измерения коэффициента пропускания до 0,01 %. Коэффициент пропускания может быть измерен либо механически — прямым измерением положения кромок ножей, либо хронометрированием светового пучка, проходящего через отверстие, когда диск вращается in situ. Для того чтобы выполнялся закон Тальбота и была полностью реализована указанная возможная точность в измерении отношения, жалюзийный фотоумножитель (например, EMI 9558) нуждается в низком уровне освещения катода. Средний анодный ток не должен превышать примерно 0,1 мкА, а потенциалы динодов должны быть стабильными. [c.373]

На рис. 2.12 представлена исследованная зависимость Л и от угла падения ф. Там же приведены кривые для коэффициентов пропускания и , , которые (без учета потерь на поглощение) должны дополнять значения соответственно R ц и (Rx до единицы. Но естественный свет, падающий на границу раздела, представляет сумму двух не скоррелированных по фазе взаимно перпендикулярных волн ц и Е . Тогда для суммарной интенсивности отраженного света, измеренной без учета его поляризации, находим [c.87]

Еще в начале 60-х годов использовался метод фотоэлектрической инфракрасной полярископии и дефектоскопии для измерения и наблюдения картин прозрачности и двупреломления полупроводниковых кристаллов, прозрачных в средней инфракрасной области спектра [40]. Метод заключался в последовательном измерении в отдельных точках исследуемых образцов значений пропускания и двупреломления, характеризующих структурные несовершенства этих образцов. Подобные исследования, проведенные в последнее время на кристаллах n-GaAs [233, 234], -GaP [49, 102, 116], fi-Si [69, 234], fi-Ge [36], позволили качественно оценить степень примесной неоднородности и связать последнюю с условиями роста кристаллов. В этих исследованиях контроль полупроводниковых материалов производился путем измерения коэффициента пропускания. Аналогичную оценку степени неоднородности можно сделать, используя коэффициент отражения образца [65]. [c.180]

При использоьании когерентного излучателя на достоверность результатов исследований полупроводниковых материалов по предлагаемой методике заметное влияние оказывают интерференционные эффекты. Особенно сильно это проявляется в слабопог-лощающих образцах, для которых ad < 1,2 [см. формулу (137)]. Для таких образцов значение коэффициента пропускания, измеренного с помощью интроскопа, обычно не соответствовало степени [c.185]

Первоначально была проведена тарировка без кварцевого стекла, а затем с оптически прозрачным кварцем с полированной поверхностью. В обоих случаях получена была линейная зависимость елуч=/(< о). При работе зонда в слое ввиду интенсивного трения частиц о поверхность стекла происходило матирование его поверхности. Поэтому после окончания работ была проведена вторичная тарировка зонда для трех стекол с полированной поверхностью — точки 2 после 12 ч работы в слое частиц I—1,5 мм MgO и ЗЮг (поверхность с мелкими штрихами) — точки 3 и после 12 ч работы с частицами К( рунда 1,5—2 мм (поверхность с глубокими штрихами)— точки 4. Точки в пределах погрешности опыта легли на одну и ту же прямую, что свидетельствовало о практической неизменности коэффициента пропускания. В работе [Л. 260] была проведена серия экспериментов по измерению собственного лучистого потока внутри слоя для различных материалов, фракций, чисел псевдоожижения и температур. В табл. 3-1 сведены условия этой серии опытов, а на рис. 3-16 нанесены опытные значения теплового лучистого потока дл.оп, как функции лучистого потока для абсолютно черного тела 9л.р, рассчитанного по температуре ядра слоя. Последняя измерялась оголенной платино-платинородиевой термопарой. Прямая под углом 45° соответствует расчетному потоку. Измеренный собственный лучистый поток внутри слоя всегда оказывается ниже, чем расчетный, как для абсолютно черного тела. Точки, соответствующие одному материалу, с отклонениями не более 13% ложатся на одну прямую. По отношению тангенсов углов наклона опытных и расчет- 1ых прямых определены средние значения е слоев. [c.93]

О деталях измерений в оригинальной статье сказано следующее Для практических применений, при отсутствии тумана, пропускание атмосферы является хорошим на участке 0,4—1,1 мкм. Наилучшие участки пропускания в инфракрасной области спектра расположены между полосами поглощения водяного пара, т. е. 1,2 1,5 и 2—2,3мкм. Затем имеются хорошие окна прозрачности 3,2—4,7 и 8—12 мкм. На рис. 23 представлена кривая коэффициента пропускания атмосферы между 0,6 и 10 мкм в присутствии легкого тумана с оптической плотностью 0,14 на километр . [c.48]

Является ли разница в интенсивности падающего света, измеренная с помощью обычных методов, спрашивает Обатон, достаточной для того, чтобы объяснить изменения показателя отражения Средний коэффициент пропускания атмосферы [Л. 179] для длины волны 0,700 мкм составляет 0,839 для высоты 127 м и 0,964 для высоты 4420 м. Но это значение было определено в особенно благоприятных условиях. На равнине эта величина уменьшается из-за присутствия паров воды и взвешенных частиц летом значение коэ4 ициента рассеяния составляет 3,30 на высоте 127 м и 2,13 на высоте 1780 м. Коэффициент отражения, в два раза больший в горах, по-видимому, возрастает не пропорционально увеличению прозрачности атмосферы сказываются продолжительность инсоляции и величина телесного угла, под которым растение получает свет. Измерение излучений в месте произрастания данного растения, производимое на протяжении всего времени его произрастания, дает возможность характеризовать новый сложный фактор, который можно было бы назвать коэффициентом местности. Имеющий значительно большее значение в горах, нежели на равнине, он внесет ясность в наблюдаемые различия. [c.121]

Зависимость коэффициентов пропускания от длины волны по измерениям Эббота в Вашингтоне (1903-1907 гг.) [c.662]

Это приближенное выражение для коэффициента пропускания справедливо при N > I и (X - Х ) <4 Х . Из выражения (5.3.18) следует, что полная ширина полосы пропускания, измеренная на полувысоте главного максимума пропускания, приблизительно равна АГ,у2 = = 1,60tt/N, или в длинах волн [c.150]

Пусть Г (I, т]) — комплексная функция, описывающая результат регистрации волнового поля голограммой. Это может быть либо амплитудный коэффициент пропускания оптической голограммы, зарегистрированной на фотоносителе, либо результат измерения синфазной и ортогональной к опорному сигналу компонент радиополя или акустической волны. В случае регистрации голограммы в дальней зоне распределение комплексной амплитуды поля Ъ (х, у) на объекте может быть найдено с помощью обратного Фурье-преобразования функции Г %, т]) [c.162]

Часто требуется ослабить лазерный пучок до уровня энергии или мощности, соответствующего динамическому диапазону имеющегося приемника. Располагая хорошо откалиброванным ослабителем, можно также определить область, в которой чувствительность приемника следует некоторому предписанному закону, или исследовать характер отклонений от этого закона. При сравнительно низких интенсивностях, с которыми обычно имеют дело в оптике, в качестве ослабителей пользуются нейтральными фильтрами. Такой фильтр представляет собой прозрачную среду, например желатину или стекло, содержащие поглощающий материал подходящей концентрации. Спектральные характеристики такого материала слабо зависят от длины волны, по крайней мере в видимой области спектра, и поэтому они выглядят серыми или черными в зависимости от их общего поглощения. При работе с такими фильтрами в узких интервалах длин волн нужно соблюдать осторожность, ибо коэффициент пропускания типичных фильтров может изменяться в пределах видимого спектра почти в 2 раза. По этой причине, а также в силу того, что из-за взаимодействия излучения в результате поверхностного отражения внутри пачки таких фильтров общие вносимые потери совокупности фильтров могут быть не равными сумме индивидуальных вносимых потерь, следует калибровать каждый фильтр или пачку фильтров на нужной длине волны, когда требуется высокая точность измерений. [c.137]

Пусть свет падает по нормали к поверхности тонкой пластинки, а между двумя поверхностями имеется малый угол ip. Тогда отраженные пучки нулевого, первого и более высоких порядков отклонены от нормали на углы О, 2гир, 4п(р и т. д. Проходящие пучки первого, второго и других порядков отклонены от нормали на углы гир, Ъгир и т.д. В плоскости фотоприемника возникает смещение пучков соседних порядков относительно друг друга на расстояние Аж Htg2n(p. При Я = 50 см, (р = 3-10 4 рад и п = 3,54 (кремний) получаем Ах Ai 0,1 см. Таким образом, пучки высоких порядков могут оказываться за пределами фоточувствительной площадки приемника. Пучки высоких порядков дают вклад в регистрируемый сигнал только при небольших температурах, и при повышении температуры их вклад падает из-за поглощения света при многократном прохождении сквозь пластину. При высоких температурах вклад в отражение R и прохождение Т света дают только пучки нулевого (для R) и первого порядка (для R и Т). Поэтому эффект угловой расходимости пучков может приводить к существенным ошибкам в области температур, где пластинка имеет малые значения ah и большой коэффициент пропускания. Проверить влияние клиновидности пластинки на результат измерения можно, измеряя мощность отраженного или проходящего пучков с помощью фотоприемника, который последовательно устанавливается на разных расстояниях от исследуемого образца. Если регистрируемая мощность не зависит от расстояния, роль клиновидности можно считать пренебрежимо малой. В противном случае необходимо применить другой фотоприемник, у которого больше размер фоточувствительной площадки. [c.124]

В случае больших оптических толш,ин аН 3) таьсая замена не приводит к суш,ественным ошибкам. Однако при меньших оптических толш,инах ошибка может быть весьма велика. На рис. 5.15 показаны зависимости вычисленного коэффициента поглощения а от измеренного коэффициента пропускания, вычисления проведены на основе двух разных приближений для пластинки толщиной 1 мм с До = 0,3. В области небольших коэффициентов поглощения (о < 100 см ) вторая модель дает результат, существенно заниженный по сравнению с действительным значением. [c.125]

Второй метод измерения коэффициента пропускания состоит в последовательной регистрагцш сигналов V к ) и Т"о (к ) (с кюветой и без кюветы) во всей исследуемой области спектра при сканировании с постоянной скоростью. Кроме того, регпстрируется пулевой сигнал, или нулевая линия, при закрытом пучке [c.405]

Несколько лучшую точность измерения имеют двухлучевые регистрирующие приборы без фотометрического клина с так называемым электрическим нуле.ч. В таких приборах сигналы, возникающие в приемнике от рабочего пучка и пучка сравнения, после усиления п детектирования разделяются с помощью синхронного переключателя. Разделенные во временп электрические сигналы заряжают конденсаторы соответствующих фильтров, а возникающие на них напряжения V (л) Ф (Я) и Т ц (/,) Ф (Я) подаются далее на электронный регистрирующий потенциометр, который регистрирует их отношение V (/.), Го (/.) = Ф (Я)/Фо (Я) = Т (Я), т. е. коэффициент пропускания. В таких приборах усилитель и детектор являются частью измерительного тракта, и поэтому они должны обладать линейными характеристиками в широком динамическом диапазоне. [c.414]

Однолучевой нерегистрирующий (неавтоматический) спектрофотометр СФ-16 (его предшествующая модель СФ-4А, а последующая СФ-26) предназначен для измерения коэффициента пропускания или оптической плотности жидких, твердых и газообразных веществ в ультрафиолетовой, видимой и близкой инфракрасной области спектра. Спектрофотометры этой серии являются основными лабораторными приборами для качественных и количественных измерений электронных спектров поглощения. [c.148]

Фотометрические приборы Люксметры — для измерения освещенности универсальные фотометры — для измерения коэффициентов пропускания и отражения денситометры — для измерения оптической плотности снектроден-зограф — для определения оптической плотности непрозрачных тел в различных лучах спектра спектрофотометр — для определения оптической плотности прозрачных тел и распределения интенсивности излучения в спектре источников света. [c.8]

Материалы, непрозрачные для исследуемого излучения, оказываются прозрачными, если они. взяты в виде достаточно тонкого слоя. Выбор веществ, подходящих для получения тонких прозрачных пленок, пригодных для изготовления окон кювет или фильтров, определяется нх коэффициентом поглощения 3 исследуе.мой области, а также механйческимй свойствами материала. Используются пленки толщиной в сотни и тысячи ангстрем. Техника приготовления такого рода пленок и измерения их -коэффициента пропускания достаточно хорошо разработана в ядерной флзпке и электронной микроскопии [31—33]. [c.83]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...