Освещенность по полю изображения

Фотометрические характеристики включают в себя эффективное относительное отверстие светосилу характер изменения освещенности по полю изображения коэффициенты виньетирования, светорассеяния и светопропускания, а также спектральный коэффициент пропускания. [c.26]

ОСВЕЩЕННОСТЬ ПО ПОЛЮ ИЗОБРАЖЕНИЯ [c.189]

Для заданного поля зрения и относительного отверстия в зависимости от требуемого качества изображения, определяемого разрешающей способностью, состоянием аберрационной коррекции, контрастом изображения, распределением освещенности по полю изображения и т. д., [c.212]

От действия оправ оптических деталей, являющихся диафрагмами, и специальных диафрагм, которые могут иметь изменяющееся отверстие (ирисовые диафрагмы), зависят интегральная освещенность изображения распределение освещенности по полю изображения угловое или линейное поле заграницах удовлетворительного качества изображения разрешающая способность изображения контраст изображения и другие характеристики, относящиеся к качеству изображения. [c.92]

Из рассмотрения рис. 75, а и в следует, что от диаметра апертурной диафрагмы зависят как интегральная освещенность изображения, так и распределение освещенности по полю изображения. [c.92]

Коллективная линза влияет на качество изображения внеосевых точек и на распределение освещенности по полю изображения. [c.217]

Основными оптическими характеристиками объектива являются фокусное расстояние относительное отверстие Д// и угловое поле 2со. Другие важные характеристики объектива — это разрешающая способность, функция передачи модуляции (ФПМ), распределение освещенности по полю изображения, спектральная характеристика пропускания света, интегральный коэффициент пропускания света, светорассеяние и др. [c.240]

Величина зависит от фотографической разрешающей способности, степени падения освещенности по полю изображения, сложности оптической схемы и др. Эту величину можно назвать [c.243]

Центральная часть апертурной диафрагмы 1 зрачным" диском, так что пучок лучей выходит в виде полого конуса и непосредственно в объектив 4 не попадает. Изображение объекта 3 создается только рассеянными (дифрагированными) лучами (штриховые линии). Рассеяние света происходит вследствие того, что элементы структуры отличаются от окружающей среды по показателю преломления. В поле зрения микроскопа на темном фоне получаются светлые изображения мелких деталей. У крупных деталей видны только светлые контуры. Следует отметить, что при этом методе освещения по виду изображения нельзя определить, прозрачны частицы или непрозрачны, больший или меньший показатель преломления они имеют по сравнению с окружающей средой. [c.21]

Предположим, что мы записали голограмму наилучшего качества, обработали ее и с нее восстановили изображение. Рассмотрим теперь, каким образом можно исследовать действительное восстановление изображения с помощью стандартных методов микроскопии. Если линза, применявшаяся в процессе регистрации голограммы, при восстановлении изображения снова помещается на то же самое место, что и при записи, то весь свет, не дифрагировавший на объекте, собирается в фокус (рис. 4). Помещая в фокус линзы непрозрачную заслонку, можно получить освещение по методу темного поля. А помещая в фокус линзы фазосдвигающий элемент, можно получить освещение по методу фазового контраста. [c.630]

Здесь используется тот факт, что свет, рассеянный в фотографическом слое, имеет максимум отражения при средних почернениях. При освещении на темном поле участки небольшой оптической плотности кажутся темными, так как на них нет зерен серебра, рассеивающих свет за счет отражения или дифракции. Участки большой оптической плотности также кажутся темными, поскольку скопления зерен серебра пропускают мало света или вообще ие пропускают. Самыми светлыми кажутся участки определенной плотности, которые соответствуют эквиденсите, для максимума рассеянного света. Таким образом, если растровое изображение рассматривать в темном поле, то каждая точка растра, которую можно считать нейтрально серым микроклином, на участке определенной оптической плотности будет окружена линией. Так, для отдельных точек растра получаются фигуры разного размера, которые при взаимодействии различных точек растра соединяются в узоры. Отдельные почернения выделяются узором по всему изображению. Одинаковому полю почернения повсюду соответствует одинаковая фигура (например, четырехугольник, кольцо, кольцо с точкой). [c.167]

Для измерения прибор устанавливается на нуль. С этой целью стол опускается, к нему притирается установочная мера. Направив в трубку оптиметра зеркалом свет от какого-либо источника, наблюдают в окуляр. Там должно быть освещенное поле и часть шкалы. Грубая установка трубки оптиметра производится перемещением кронштейна 3, для чего вращают гайку 6 до тех пор, пока измерительный стержень не коснется установочной меры, что будет видно по движению изображения шкалы в поле зрения окуляра. Окончательная установка выполняется при помощи гайки 12 стол перемещается до тех пор, пока нуль отраженной шкалы не будет против указателя. Винтами 7 и 13 стопорится положение кронштейна и стола. [c.200]

Освещенность оптического изображения, определенная по формуле (374), относится к центру поля изображения. В точках, удаленных от оптической оси, она уменьшается. [c.189]

Следовательно, освещенность элемента изображения в точке, удаленной от оптической оси, пропорциональна косинусу четвертой степени угла поля изображения по отношению к освещенности в центре поля изображения 1см. формулу (57)1 [c.190]

Существенным достижением лазерной голографии является разработка методов голографической интерферометрии, в основе которой лежит свойство голограмм точно воспроизводить записанные на них волновые поля. При освещении восстановленной голограммой объектной волны с волновым полем излучения, непосредственно рассеянного объектом, оказывается возможным наблюдать картину интерференции этих волн. Если волновое поле претерпевает изменения по сравнению с записанным па голограмме, то на трехмерном изображении объекта появляются интерференционные полосы, соответствующие этим изменениям. Этот метод получил название голографической интерферометрии в реальном масштабе времени. [c.208]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Метод светлого поля в проходящем свете (см. фиг.5) применяется при исследовании прозрачных препаратов, у которых различные участки структуры по-разному поглощают свет. Таковы, например, тонкие окрашенные срезы животных и растительных тканей, тонкие шлифы минералов и т. п. Пучок лучей из конденсора К проходит препарат АВ и объектив Об и дает равномерно освещенное поле в плоскости изображения А В. Поглощающие элементы структуры препарата частично поглощают и отклоняют падающий на них свет (пунктирные линии), что и обусловливает согласно теории Аббе возникновение изображения. Этот метод может быть полезен и при непоглощающих объектах, но лишь в том слу- [c.12]

Дополнительными характеристиками объектива являются 1) разрешающая способность 2) резкость изображения, определяемая так называемой пограничной кривой 3) частотно-контрастная характеристика 4) интегральный коэффициент пропускания света 5) распределение освещенности по полю изображения 6),спектраль- ная характеристика пропускания света 7) коэффициент светорассеяния 8) ортоскопичность 9) ахроматизация 10) форма изображения. [c.264]

Для объективов характерным является неравномер-ноеть освещенности по полю изображения, вызываемая виньетированием и действием косинуса четвертой степени угла поля изображения. Распределение освещенности по полю изображения принято показывать графиком (рис. 164), по ординате которого откладывают отношение освещенности по полю Е к освещенности в центре поля Во- [c.282]

В одном из лабораторных макетов оптического профилометра использован так называемый механизм Фуко, заключающийся в том, что при изменении положения, точечного осветителя на оптической оси идеального объектива. дифракционное изображение лезвия, находящегося на уровне оптической оси объектива, меняет свое положение на диаметрально противоположное по отношению к оси симметрии поля изображения в зависимости от того, приближается или удаляется светящаяся точка к объективу от нейтрального положения, в котором поле оказывается равномерно освещенным. В приборе использованы фотоэлементы и фотоумножитель, а профилограмма записывается с помощью самописца. При использовании фиолетового, голубого, зеленого и красного (от лазерного источника) света и апертур от 0,50 до 0,95 оказывается возможным воспроизводить неровности поверхности от 0,01 до 60 мкм. Прибор может использоваться лишь в термоконстантном помещении, свободном от вибраций. Для производственных целей он не предназначен. [c.122]

Вращением осветительного зеркальца 3 пучок света от какого-либо источника направляется в осветительную щель. Через окуляр 2 должно быть видно светлое освещенное поле и часть шкалы. Отстопорив винт 11, вращением гайки 12 переводят столик в самое нижнее положение и затем, отстопорив винт 9, вращением гайки 10 опускают кронштейн 4 до соприкосновения измерительного наконечника с верхней плоскостью блока. Момент касания будет заметен по движению изображения шкалы в поле зрения окуляра. Опускание кронштейна следует производить плавно, не допуская удара наконечника о блок. [c.73]

Осветительные устройства и оптические системы, применяемые для микрофотографии, должны удовлетворять самым высоким требованиям. Необходимо иметь яркие источники света, чтобы можно было производить съемку с малыми выдержками. Поле зрения должно быть освещено равномерно, для чего нужно особенно тщательно настраивать освещение по Кёлеру. Это помогает также уменьшить количество рассеянного света в системе и тем самым повысить контраст изображения. Резкость изображения стремятся сделать возможно лучше по всему полю зрения. Поэтому кривизна изображения должна быть значительно меньше допустимой при визуальном наблюдении. [c.55]

Освещение по методу темного поля происходит лучами, диффузно отраженными от предмета. Лучи же, идущие от источника света, в объектив не попадают. Поэтому при освещении по этому методу участки предмета, им<ющие надлежащий наклон по отношению к объективу, кажутся более светлыми, чем участки, от которых ди( узионно отраженные лучи не попадают в объектив. Изображение таких участков и фон остаются темными. [c.334]

Линзовые конденсоры при освещении по методу темного поля благодаря многократному отражению от пре- ломляющих поверхностей не обеспечивают черного фона, что снижает контраст изображения, являющийся преимуществом этого метода освещения. [c.337]

Если диаметр экрана трубки составляет 150 мм (90 X X 120 мм ), а формат просвечиваемого кадра — 30 мм (18 X 24 Л1Л1 ), то Р1 = —0,2. Для объектива принимают такое фокусное расстояние, чтобы для устранения влияния падения освещенности на краях изображения по со8 ау угловое поле зрения не превышало 2оу = 40°. Тогда возможное фокусное расстояние объектива /1 = 200 мм. Расстояние от объектива до кадра определяется выражением а — — РО /1, а расстояние от объектива до кинескопа — а — а1/р1. Чтобы конденсор имел наименьшие размеры, желательно его приближать к диапозитиву 2, т. е. для 6 устанавливать наименьшие величины (например, Ь= = Юн-20 мм). Так как величина —аг = а 1 + Ь известна, то известно и линейное увеличение Рз, тогда фокусное расстояние конденсора [c.430]

Отрицательное влияние косинуса четвертой степени угла поля изображения особенно сказывается в широкоугольных системах. Разработанный проф. М. М. Русиновым метод [31 ] аберрационного виньетирования позволяет уменьшить степень косинуса угла поля изображения и тем самым выровнять освещенность изображения по полю. [c.241]

Если диагональ экрана трубки составляет 150 мм (90 X 120 мм ), а формат просвечиваемого кадра — 30 мм (18x24 мм ), то Pj = = —0,2. Для объектива принимают такое фокусное расстояние, чтобы для устранения влияния падения освещенности на краях изображения по закону os со угловое поле пе превышало 2со = = 40°. Тогда возможное фокусное расстояние от объектива до кадра определяется выражением /j = 200 мм. [c.283]

Следует отметить еще один тип объективов с плоским полем изображения — так называемых контактных микрообъективов [38]. В отличие от планобъективов, у которых кривизна поверхности достаточно хорошо исправлена (5,у = 0), у контактных объективов исправляется астигматизм (5, = 0), а исследуемый предмет располагается на искривленной поверхности, по своей форме приближающейся к поверхности Петцваля. Конструктивно это выполняется следующим образом. Первая поверхность фронтальной линзы имеет выпуклую поверхность, радиус которой равен радиусу кривизны Петцваля всего объектива. При работе с такими объективами фронтальная линза приводится в соприкосновение с исследуемым объектом. В результате контакта поверхность объектива принимает форму первой поверхности фронтальной линзы, благодаря чему изображение получается плоским. Освещение объекта производится через объектив. [c.104]

Описанные выше методы связаны лишь с некоторыми вопросами преобразования и обработки видеоинформации. При решении практических задач распознавания возникает необходимость применения дополнительных мер для повышения достоверности преобразования светового поля изображения в электрический сигнал. К ним относятся рациональный выбор освещения применение светофильтров и амплитудных корректоров ограничение анализируемой области изображения в пределах линейного участка растра телевизионного датчика. При соблюдении этих условий указанные методы позволяют минимизировать аппаратные и программные средства. Кроме того, использование алгоритмов, не требующих сложных и трудоемких вычислений, позволяет создавать распознающие устройства с повышенным быстродействием. Последнее обстоятельство является определяющим требованием при разработке систем распознавания технологических автоматов-роботов для сборки и кассетирования элементов в производстве с ритмом 1,0—1,5 с и менее. С применением рассмотренных схемных решений и алгоритмов созданы устройства автоматического распознавания положения объектов по топологии, меткам и геометрическим микроключам. Пространственная ориентация ряда объектов может быть определена по выделенным характерным элементам топологии, для чего необходим анализ всего поля изображения объекта. Для решения этой задачи целесообразно применение микропроцессора. При определении объектов по расположению геометрического ключа видеосигнал, соответствующий изображению ключа, отличается от видеосигналов, соответствующих другим элементам объекта, и поэтому он может быть выделен с помощью несложного анализирующего устройства. [c.108]

Этот угол 2ф мы назовем апертурой перекрывающихся пучков. Максимальное значение угла 2ф соответствует условию iSjQi и II Saiia". при этом экран расположен в бесконечности. Обычно угол 2ф несколько меньше, ибо экран располагается на конечном расстоянии D, хотя и большом по сравнению с S S - Величина апертуры 2ф определяет собой угловые размеры поля интерференции, средняя освещенность которого зависит от яркости и угловых размеров изображений источника Sj, S . Полный поток, проходящий через поле интерференции, пропорционален площади этого поля и, следовательно, углу 2ф. В интерференционном поле благодаря интерференции происходит перераспределение освещенности — образуются интерференционные полосы. [c.72]

Анализ существующих экспериментальных возможностей 17, 8] показывает, что для измерений полей циклических деформаций в зонах концентрации при повышенных температурах наиболее удобен способ, базирующийся на использовании эффекта возникновения картин муаровых полос и методах автоматизированной цифровой обработки изображений [9]. Разработанная математическая модель, описывающая формирование муаровой картины при наложении эталонного и рабочего растров, устанавливает взаимосвязь между полем смещений нанесенного на исследуемую поверхность растра и полем освещенности результирующей картины муаровых полос. При этом в отличие от традиционного способа измерения перемещений в геометрических местах наибольшего или наименьшего почернения муаровой картины определяют массивы перемещений по дробным порядкам градациям освещенности) муаровых полос, т. е. фактически осуществляют разбиение полосы на множество (до 10 ) подполос. Зто существенно увеличивает чувствительность и точность метода муаровых полос при измерениях деформаций элементов листовых конструкций в услових циклических нагружений при повышенных температурах. Проведенные с применением такого метода измерения полей деформаций (в диапазоне 1-10 — 2-10 с величиной погрешности 3—5%) на образцах из сплава АК4-ГТ1, моделирующих элемент панели планера, показали, что в диапазоне температур I = 120 215° С, номинальных напряжений сг = [c.114]

Особенности температурных измерений. Фотографические пиро метры по своим эксплуатационным возможностям существенно отличаются от обычно используемых оптических визуальных и фотоэлектрических пирометров. В частности, они являются практически единственными оптическими пирометрами, при помощи которых удается регистрировать температурное поле на поверхности объекта в нестационарном режиме. Объясняется это особыми свойствами фотографической пленки как датчика температуры. Фотокамера экспонирует оптически четкое изображение поверхности излучающего объекта (образца) на чернобелую фотографическую пленку. Постороннее освещение объекта не допускается, поэтому плотность почернения изображения объекта на проявленной пленке оказывается однозначно связанной с яркостью исследуемой поверхности. Фотокамеру обычно снабжают светофильтрами и с их помощью монохроматизируют попадающее на пленку излучение объекта при некоторой эффективной длине волны Л. Благодаря этому фотографический пирометр вполне пригоден для измерений яркостной температуры светящихся объектов, от которой всегда можно перейти к интересующей нас истинной (термодинамической) температуре. [c.88]

Анемометрия изображения меток. Наблюдения ведутся за перемещением меток, в отношении которых предполагается, что их скорость совпадает со скоростью несущей их жидкости. В качестве меток обычно используют взвешенные частицы, содержащиеся в потоке или вводимые в него специально. В газовые потоки вводят дым, а в водные — порошок из алюминиевой пудры, мелкие полисти-роловые шарики и т.п. Регистрацию изображения меток в поле течения осуществляют путем видеосъемки их изображения при освещении потока двумя последовательными лазерными импульсами (рис. 6.13) [40]. Далее используют цифровую обработку картин изображения (треков), с помощью которой определяют значение и направление скорости. Скорость частиц w находят по их смещению Д / при известном интервале Дт между импульсами w = Д //Дт. [c.386]

Метод темпопольного освещения. При темнопольном освещении в отличие от светлопольного свет не проходит через объектив. Пройдя через кольцевую диафрагму 1 (рис. 1.5), свет отражается от кольцевого зеркала 2, установленного на месте полупрозрачной пластинки, и попадает на зеркальную отражающую параболическую поверхность специального конденсора темного поля 3, который устанавливается на объектив или монтируется в одной оправе с ним (эпиобъектив). Такая система создает косое освещение объекта, при котором освещающий пучок имеет большую апертуру, чем в случае светлолольного освещения. Темнопольное изображение является обратным по отношению к светлопольному [c.26]

Разделить симметричные компоненты Гипергон можно двумя способами положительными линзами снаружи, как это сделано в только что описанном объективе, н отрицательными линзами снаружи. Этот вариант также был исследован М. М. Русиновым, и его возможности оказались еще больше, чем у первого варианта угол поля оказалось возможным довести до 100 и более прн относительных отверстиях порядка 1 6—5,5. Кроме того, вторая схема обладает серьезным преимуществом по сравнению с первой. В то время как у первой изображение диафрагмы передней (или последней) половинкой объектива из-за комы в зрачках меньше, чем полагалось бы по законам параксиальной оптики, у второй схемы оно больше[10, гл. VI], вследствие чего уменьшение освещенности от центра к краям изображения во втором случае значительно меньше. На краях поля получается выигрыш в четыре шесть раз, что имеет ощутимое практическое значение для широкоугольного объектива. Попытки усложнить первый вариант широкоугольных объективов заменяя две крайние линзы склеенными компонентами не привели к положительным результатам. [c.276]

Плотность почернения должна быть не менее 1,5—3 единиц оптической плотности чувствительность радиографического снимка и уменьшение плотности почернения изображения сварного соединения на любом участке снимка по сравнению с плотностью почернения в месте установки эталона чувствительности должны быть не более значений, приведенных в ГОСТ 7512—75. Просмотр и расшифровку снимков производят после их полного высыхания в затемненном помеш,ении с применением специальных осветителей-негатоскопов с регулируемым освещением поля просмотра. [c.108]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...