Об измерении аберраций

Все перечисленные выше методы служили в основном для измерений аберраций оптических систем. Вместе с тем на практике часто требовалось измерить такие характеристики оптической системы, как ее фокусное расстояние и увеличение. Конструкции соответствующих приборов для указанных целей были предложены во второй половине XIX в. Э. Аббе. Измерение фокусного расстояния по методу Аббе было основано на определении увеличения для нескольких (не менее чем для двух) различных положений предмета, находящегося на оптической оси испытуемой оптической системы, причем расстояние между положениями предмета должно быть известно. [c.372]

Другой астрономический метод определения скорости света основан на явлении аберрации света (см. 8.2), которое было открыто английским астрономом Брэдли в 1725—1728 гг. Это явление заключается в кажущемся смещении положений звезд, вызываемом движением Земли по орбите. Звезды, расположенные в направлении нормали к плоскости орбиты Земли, описывают в течение года на небесной сфере окружности с угловым диаметром около 41". В соответствии с теорией этот угловой диаметр равен 2и/с, что позволяет определить с. Наиболее точные измерения аберрации дают = 2,999-10 м/с. [c.127]

Отрицательный результат опыта Майкельсона чрезвычайно усложнил решение проблемы в тех рамках, в которых она была поставлена. Теория Лоренца оказалась не соответствующей опыту. Можно было предположить, что эфир полностью увлекается атмосферой Земли при ее орбитальном движении, но это предположение (теория Герца) противоречит результатам более простого (эффект первого порядка) опыта Физо и другим оптическим измерениям, например явлению звездной аберрации (см. 7.3), которые здесь не обсуждаются. [c.371]

Контроль ко.эффициента преломления оптических элементов, выявление неоднородности стекла, включений типа пузырей и свилей являются важными. этапами контроля качества оптических изделий. С конца прошлого столетия основным оптическим инструментом, применяющимся для количественных измерений прозрачных неоднородных материалов, был интерферометр Маха-Цендера, на основе которого разработаны теневые и интерференционные методы контроля. Ограничением ЭТИХ методов являются аберрации оптических систем самого интерферометра. Методы голографической интерферометрии позволяют компенсировать аберрации и тем самым существенно улучшать качество проводимых измерений. [c.105]

При измерениях интенсивностей и ширин ИК-полос поглощения необходимо учитывать искажающее влияние спектрального прибора, связанное с конечной шириной щели. Дифракцией на диафрагмах оптических деталей, неточностями юстировки, аберрациями и др. Влияние прибора на форму полосы поглощения описывается интегральным уравнением [c.163]

Хотя вклад Фуко в развитие практической оптики велик, все же его методы оптических измерений не были безупречны. В 1880 г. Г. Фогель ввел важное усовершенствование измерительного прибора для оценки хроматической аберрации оптических систем. На оси испытуемой оптической системы он предложил установить спектроскоп таким образом, чтобы изображение звезды получалось прямо на щели. Если хроматическая аберрация отсутствовала, то ширина светящегося диска на щели для всех длин волн была одинакова. [c.371]

Исследование аберраций показало, что наиболее существенное влияние на результат измерения оказывает дисторсия [95], действие которой проявляется через изменение размеров дифракционной картины. Следовательно, объектив необходимо рассчитывать, исходя из условия постоянства дисторсии при изменении положения изделия в заданных пределах. Влияние аберраций особенно сильно сказывается при измерении изделий с малыми размерами, т. е. при больших углах дифракции. В приборе ДИД-2 использовался объектив с изменением дисторсии не более 2% при смещении изделия в пределах 5 мм вдоль оси пучка лазера и 1 мм поперек оси для диаметра изделия 10 мкм. [c.267]

Другие методы связаны с детальным расчетом апертурной функции, включая эффекты аберрации. Это распределение комплексной амплитуды по апертуре мы будем обозначать/(х), как и апертурную функцию в предыдущих главах. Его преобразование Фурье F (и) является комплексной амплитудой дифракционной картины изображения точечного источника. Квадрат модуля соответствует ФРТ, а преобразование Фурье от него представляет собой ОПФ. В одном измерении это иллюстрируется на рис. 4.9 на хорошо известном примере f x), являющейся единичной прямоугольной функцией. Схема вычисления записывается в виде а б г в. [c.90]

Рассмотренные передаточные функции обеспечивают более информативную оценку системы линз, чем простое измерение ее предела разрешения. На рис. 5.2,6 это иллюстрируется кривыми МПФ. Кривая Р соответствует линзе, свободной от всех аберраций относительная контрастность уменьшается с увеличением частоты до тех пор, пока не достигнет нулевого значения на пределе разрешения линзы (ср. с рис. 5.1). Кривые Q и R представляют линзы с аберрациями. Они показывают, что пока кривая R имеет частотный предел, превосходящий Q, она дает контраст (модуляцию) изображения меньше, чем на низких частотах. Выбор между двумя кривыми может быть сделан в соответствии с характером применения. Оптические передаточные функции не дают полного ответа на проблему оценки качества системы, особенно если в окончательном формировании изображения участвует глаз, хотя и являются более совершенными по сравнению с устаревшим и даже ошибочным измерением предела разрешения как критерия оптического качества. Глаз является плохой системой формирования изображения, но он связан со сложной обработкой данных в сетчатке и мозге. Это делает очень трудным предсказание и определение полного отклика в какой-либо конкретной ситуации. [c.91]

Те же принципы используются теперь для обработки электронных микрофотографий на ЭВМ. Фотографическое изображение преобразуется в цифровую форму путем измерения оптической плотности, а для выполнения преобразований Фурье и фильтрации используется ЭВМ. При применении этого метода сохраняется информация как о фазах, так и о интенсивностях, и в общем он обеспечивает более широкие возможности, чем оптический метод для коррекции аберраций и других нежелательных эффектов, связанных с электронной оптикой микроскопа. Если рассматривать электронную микрофотографию как апертурную функцию, хотя и очень сложную, то ее преобразование Фурье может быть рассчитано полностью с учетом всех деталей распределения амплитуды и фазы. (Поскольку фазы не видны , то, как правило, в оптической обработке о них с легкостью забывают, хотя в приложениях, подобных описанному, они могут быть столь же или даже более важными, чем амплитуда. Однако, как мы уже отмечали, оптические методы имеют свои преимущества.) [c.112]

Область решений, вытекающих нз габаритных требований, представляет собой пространство четырех измерений переменных I, q>i. Фа и Использование таких условий, как S <Р = 0. сводит число измерений к 3, 2,. .. в зависимости от числа дополнительных условий. Внутри области решений надо выбрать комбинации оставшихся независимыми параметров, возможно равномерно распределенных, и составить условия устранения аберраций для нескольких значений фокусного расстояния. Практически такая задача может быть решена только в том случае, если можно считать компоненты бесконечно тонкими и характеризовать их параметрами Р, W и С как известно, параметр п, по крайней мере в первом приближении, можно принять равным 0,7, [c.307]

Схема с коллиматором на основе многослойных рентгеновских зеркал скользящего падения (рис. 6.2, г). В этом случае (как и в схеме по рис. 6.2, б) объектив может быть освещен целиком широким пучком с малой расходимостью, в то же время размеры камеры существенно уменьшаются. Недостатком являются неизбежные ограничения в диапазоне длин волн, связанные с параметрами покрытия зеркал коллиматора. Точность измерения разрешения определяется весьма низким дифракционным пределом и аберрациями коллиматора, и в случае использования доступных сегодня сферических зеркал на область 10—20 нм может быть доведена до нескольких угловых секунд. Для полного описания свойств объектива в рабочем диапазоне эти измерения легко дополняются измерениями рассеяния при освещении узким пучком в той же установке. [c.230]

Для того, чтобы (3.2.30) имело реальный смысл, необходимо определить Н(г—2о). Эту функцию можно рассчитать, учитывая дифракцию и аберрации системы в третьем измерении. Из сказанного следует, что в голо-графической системе приходится сталкиваться с новыми вопросами и необходимо уточнять старые понятия и представления, касающиеся передачи пространственной информации. [c.95]

Наиболее просто интерференционная картина расшифровывается при двухлучевой интерференции с однократным проходом измерительного пучка через активный элемент параллельно оси резонатора. В этом случае по наблюдениям за смещением интерференционных полос относительно интерференционной картины недеформированного элемента можно непосредственно определять изменения оптической разности хода лучей вдоль оси резонатора в различных точках поперечного сечения, т. е. непосредственно измерять волновые аберрации, вносимые в резонатор термооптическими искажениями активной среды. Если исследуемый образец однороден в направлении наблюдения и характеризуется двумерным распределением температуры и оптических характеристик в поперечном направлении, интерференционная картина непосредственно характеризует поле коэффициентов преломления, от которого при известных термооптических характеристиках образца легко перейти к распределению температур. Это позволяет применять интерференционные методы для изучения тепловых полей и измерений тепловыделения в лазерных активных элементах. С другой стороны, в сочетании с измерениями температуры исследуемых образцов интерферометрические измерения могут применяться для определения термооптических характеристик материалов. [c.174]

Можно предположить, что для имитации параметров электроннооптической системы необходимо сначала тщательно из-мерить As я s и затем по этим данным рассчитать соответствующую оптическую систему. Однако это едва ли подходящий для практики метод. При его использовании, помимо трудностей осуществления измерений с требуемой точностью, обнаруживается еще и такой недостаток, что к тому моменту, когда расчет закончен и оптическая копия системы изготовлена, изменения параметров электроннооптической системы, вероятно, намного превысят допустимую ошибку. По-видимому, более предпочтительно сделать астигматизм и сферическую аберрацию оптической системы, используемой при восстановлении, переменными и регулировать их до тех пор, пока не будет достигнута максимальная резкость изображения определенной части изучаемого предмета, например подложки, или же определенных стандартных тест-объектов. Сферическую аберрацию можно сделать переменной с помощью смещения пластинки четвертого порядка, а астигматизм — с помощью скрещенных цилиндрических линз или наклонных линз. Опытные оптики, несомненно, будут в состоянии установить порядок систематического выполнения трех юстировок фокуса, астигматизма и сферической аберрации. Таким образом, необходима лишь умеренная степень постоянства параметров электронно-оптической системы, достаточная по крайней мере для осуществления серии восстановлений без слишком частых юстировок. [c.262]

Поперечная кома k (рис. 50) определяется расстоянием, измеренным вдоль оси Г от точки О, соответствующей координате главного луча до прямой, соединяющей концы кривой поперечной аберрации. [c.178]

Так как эффективность действия концентратора зависит от его фокусирующих свойств, которые в свою очередь определяются малостью аберраций фазового фронта, то прежде всего было предпринято изучение распределения фазы по фронту вблизи излучающей поверхности. Это измерение производилось при помощи миниатюрного приемника из керамики титаната бария диаметром 0,3 мм, который при помощи специального приспособления перемещался вдоль излучающей поверхности на расстоянии 1 мм от нее. После усиления фаза принятых колебаний сравнивалась с фазой напряжения, питающего кварцевые возбуждающие пластинки. Результаты этого эксперимента приведены на рис. 45, где показано распределение фаз вдоль одной из больших окружностей полусферы + 40°, По осж X отложена угловая координата а в градусах а = О соответствует центральной точке оболочки. По оси ординат — отклонение фазы—Дф, Видно, что фазовая аберрация носит двоякий характер с одной стороны, существует случайный разброс, который укладывается в полосу шириной + 25° с другой стороны, средняя линия этой полосы не лежит горизон- [c.195]

Существенно, однако, то обстоятельство, что систематическая линейная аберрация не влияет на структуру фокального пятна, а может лишь вызвать его незначительное смещение (на те же 0,3 мм) в фокальной плоскости. Случайные же отклонения фазы могут повлиять на структуру фокального пятна лишь в том случае, если они превышают я/2. Данные измерений распределения амплитуды показывают, что в пределах + 15% она остается постоянной. [c.196]

Точность измерений на проекторах зависит в первую очередь от качества оптической системы, а также от точности изготовления механических узлов прибора. Погрешности измерений, зависящие от качества оптической системы, обычно превышают погрешности от неточности изготовления механических узлов. Так, при наличии сферической аберрации на экране проектируется изображение, контур которого размыт. Совмещение такого контура со штриховой сеткой или с контуром образцового чертежа представляет большие [c.305]

В применяемом методе согласования приставки с ИК-прибором используют осевой луч пучка, моделируемый обычно с помощью лазера. Лазер устанавливают так. чтобы луч проходил через геометрический центр зеркала 2 и ось угловых поворотов элемента НПВО 3. При этом погрешность прохождения луча через обе указанные точки составляет не менее 0.5 мм, что соответствует угловой погрешности начальной установки луча лазера +40. С учетом обратного хода луча указанная погрешность возрастает до 1,3°. Этой дополнительной погрешности можно избежать путем измерения фактического значения угла с точностью Г. Дополнительная угловая погрешность появляется также вследствие аберраций оптического изображения в фокальной плоскости элемента НПВО,. а также пространственного несовпадения изображения с фокальной плоскостью. [c.209]

Метод Гартмана был основан на геометрическом представлении о луче как о прямой линии. Для осуществления измерений перед испытуемым объективом на hj th хода параллельного пучка лучей, вышедшего из объектива коллиматора, в фокальной плоскости которого помещалась диафрагма с круглыми отверстиями, ставили непрозрачный экран с отверстиями малого диаметра. Точность измерения аберраций при этом методе составляла t0i01 0,02MM. К недостаткам метода Гартмана следует отнести необходимость большого количества измерений для получения требуемых результатов. [c.371]

Для круглого зрачка импульсный отклик, а именно интеграл в (4.15.6), можно вычислить, используя полиномы Цернике [см., например, выражение (4.13.34)]. В частности, при простой дефокусировке этот интеграл можно выразить через функции Ломмеля (см. задачу 23). Для квадратного зрачка при дефокусировке и наличии сферической аберрации К можно выразить через функцию 1 и, V), вычисленную Перси (см. обсуждение в разд. 5.5). При малых аберрациях наблюдается уменьшение интенсивности в центральном пятне, в то время как внешние кольца становятся более яркими. При этом размер центрального пятна существенно не изменяется. Основываясь на этом наблюдении, Стрел в 1902 г. предложил для измерения аберраций использовать отношение максимального значения интенсивности в центральной зоне изображения точечного источника реальной системы к соответствующей величине в оптической системе без аберраций, имеющей ту же апертуру и фокусное расстояние. Это отношение V, называемое отношением интенсивности Стрела, фактически определяет долю света, приходящуюся на центральное пятно. Отношение Стрела нетрудно вычинить с помощью выражения (4.15.6), если положить х = у = х = у = 0, вычесть из величины ее среднее значение по апертуре и использовать для фазового множителя ехр[— /А (Жо - < разл ение 1 — — < о , что допусти- [c.323]

При изучении фотографии уд шенной звезды аппаратной функцией в первом приближении является дифракционное пятно, размеры которого определяются диаметром объектива телескопа и длиной волны дифрагирующего света. Однако эта идеализированная картина существенно усложняется влиянием аберраций, полное устранение которых представляется практически невозможным. Поэтому аппаратная функция может быть определена только приближенно. Неизбежны также случайные и систематические ошибки при измерении освещенности суммарной картины. Наличие ошибок в измерении f(x — х) п Ф(х) ограничивает возможность восстановления функции объекта Дл )путем решения обратной задачи. [c.338]

Заметим, что при вычислс нии поперечного эффекта мы фактически решили еще одну задачу, представляющую интерес для обсуждаемого круга вопросов. Р ечь идет об уже упоминавшемся явлении звездной аберрации, которое давно известно в астрономии и даже может служить одним из методов измерения скорости света. При наблюдении в телескоп неподвижных звезд приходится наклонять его ось относительно истинного направления на угол у, который зависит от модуля и направления скорости орбитального движения Земли в момент измерения и испытывает годичные изменения (рис. 7.12). Выполняя измерения в разное время года, можно найти угол у, под которым должна быть наклонена ось телескопа. Наибольше его значение у = и/с. [c.387]

Величина смещения, измеренная Брадлеем, оказалась значительно больше ожидаемого параллактического смещения. Брадлей объяснил это явление, названное им аберрацией света, конечностью скорости света. За то короткое время, в течение которого свет, упавший на объектив телескопа, распространяется от объектива до окуляра, окуляр в результате движения Земли по орбите успеет сдвинуться на какой-то очень малый отрезок (рис. 30.3). Вследствие этого изображение звезды сместится на отрезок а. Направляя вновь телескоп на звезду, его придется несколько наклонить в направлении движения Земли, чтобы изображение звезды опять попало на перекрестие нитей окуляра. [c.198]

Пусть угол наклона телескопа будет равен а. Обозначим через т время, необходимое свету для прохождения отрезка Ь, равного расстоянию от объектива телескопа до окуляра, тогда из рис. 30.3 следует, что а = ит , Ь = сх и 1р(а = а/й = от/ст=и/с. Из измерений Брадлея было известно, что при двух положениях Земли, лежащих на одном диаметре орбиты, звезда кажется смещенной от истинного положения на один и тот же угол а. Угол между этими направлениями наблюдения 2а = 40,9", откуда, зная скорость о Земли на орбите, можно найти с. Брадлей нашел, что скорость света с = 306 000 км/с. Следует отметить, что явление аберрации света связано с [c.198]

До открытия фотографии телескопы предназначались только для визуальных наблюдений. Телескопы-рефракторы более удобны для точных измерений положений небесных светил из-за отсутствия токов воздуха в трубе, большего поля зрения и меньшей, чем у рефлекторов, сферической аберрации. Поэтому для фотографирования небесных объектов стали использовать рефракторы. Применение фотографии для астрономических целей 1361 изменило не только технику наблюдения, но и вызвало существенные изменения конструкции телескопа [37]. Необходимость длительных экспозиций при фотографировании небесных объектов привела к разработке хороших гидирующих механизмов, обеспечиваюш их синхронное движение телескопа с видимым суточным вращением неба, позволивших держать трубу точно направленной на наблюдаемый объект. Для такого движения телескопов в XIX в. использовали гиревые приводы, которые в первой четверти [c.364]

В 1904 г. Л. Ритчи использовал видоизмененный метод ножа Фуко для оценки величины сферической аберрации. Однако этот способ не получил широкого распространения, потому что в том же 1904 г. И. Гартман опубликовал свой метод, пригодный для точных измерений как сферической, так и хроматической аберраций. [c.371]

Прямое измерение формы волнового фронта. Для него разработаны самые разнообразные и норой весьма оригипальные способы (гл. обр. интерферометриче-ские), обычно применяемые в сочетании с методом компенсации волнового фронта (для приёмных систем) и методом фазового сопряжения (для излучателей). Метод компенсации заключается в восстановлении у волнового фронта излучения, пришедшего от находящегося в поле зрения точечного объекта, идеальной сферич. формы (утраченной им вследствие влияния турбулентности атмосферы и аберраций объектива телескопа). [c.24]

Форма измеренного контура может быть различной. При сужении щелей до размеров дифракц. уширення ( нормальные щели) контур А приближается к виду 81псД = (sin XfX) . В другом крайнем случае при достаточно широких щелях контур А приближается к треугольному это объясняется тем, что контур А соответствует изменению сигнала приёмника при сканировании изображения входной щели поперёк выходной, при этом происходит свёртка двух П-контуров, к-рая и даёт в результате треугольный контур П П = Л. При промежуточных значениях ширин щелей треугольный контур сглаживается, что обычно удовлетворительно аппроксимируется гауссовой ф-цией (если аберрации не вносят асимметрии). Существенно подчеркнуть, что рассматриваемом случае аппаратная ф-ция А имеет v22 ширину Здф в спектральных единицах (в шкале прибо- [c.622]

Астрономические объективы (рефракторы), предназначенные для визу ьного наблюдения небесных объектов, измерения их координат на небесной сфере, а также для съемки тех же объектов, отлнчаются от большинства обычных объективов большим фокусным расстоянием и весьма высокими требованиями к качеству изображения. Вследствие большой величины фокусного расстояния астрономических объективов величина вторичного спектра становится значительной и заметно влияет на качество изображения, создавая радужные кольца вокруг изображения и соответственно уменьшая резкость последнего и разрешающую силу объектива. При больших отиосителйных отверстиях объективов, предназначенных для астрофотограшии, необходимо исправлять и сферохроматическую аберрацию, д1 йствие которой аналогично действию вторичного спектра. [c.111]

Масс-спектрографы — это чаще всего уникальные, сложные приборы с фокусировкой ионных пучков по энергиям в электрическом поле и по направлению в магнитном поле, обладающие разрешающей способностью MJts.ni от 10 000 до 500 000. Высокая разрешающая способность у этих приборов достигается с помощью ионнооптических систем с двойной фокусировкой, позволяющих получить минимальные хроматические и сферические аберрации, а также благодаря применению высокостабильных электронных схем, питающих ионный источник, отклоняющие электростатические системы и катушки диспергирующего электромагнита. Точность определения относительных атомных масс методом измерения дефекта массы изотопных дублетов на лучших [c.6]

Спектральные свойства преобразователя в схел1е КВС проявляются в виде хроматических аберраций (рис. 5.15). Измеренная величина частотной дисперсии преобразователя оказалась [c.136]

Таким образом, идеальная методика измерений сводится к определению контраста olrfI изображения синусоидальной миры и дефазировки (смещения фазы) ф, которая возникает вследствие поперечного сдвига изображения (см. фиг. 37). Эта дефазировка появляется только при наличии несимметричных аберраций (кома), так как если пятно изображения точки симметрично (сферическая аберрация, астигматизм), то величина с/(1/р) будет действительна. Рассмотрим теперь различные возможности для экспериментальных установок. [c.240]

Пять последующих глав посвящены практическим приложениям, в основе которых лежат указанные выше явления гл. 6 — оптической обработке изображений, модулированных спеклами, гл. 7 — регистрации перемещений и деформаций диффузных объектов, гл. 8 — применениям в астрономии, гл. 9 — измерению шероховатости поверхностей. Наконец, в гл. 10 рассматриваются некоторые другие применения оптики спеклов, в частности для исследования прозрачных объектов, определения макрорельефа диффузных поверхностей, аппаратной функции и аберраций оптической системы, а также для исследования движения диффузных объектов. Особо отмечу астрономические приложения, примером которых может служить один из самых красивых экспериментов в оптике, проведенный астрономом Лабейри. Он исследовал двойные звезды, уподобляя атмосферную турбулентность диффузору, и, в частности, измерил замечательным методом, открываю-ихим поистине Е евиданные возможности, их видимый диаметр. [c.8]

Прежде чем перейти к рассмотрению собственно голографической интерферометрии, остановимся в гл. 2 на некоторых основных положениях дифференциальной геометрии и механики сплошных тел, а в гл. 3 — на принципах формирования изображения в голографии. В гл. 2 приводятся сведения, которые являются основой изложения всей книги. В гл. 3 рассматривается с одной стороны, получение исследуемых волновых фронтов, и, с другой стороны, детально. анализируются свойства изображения, в частности, аберрации, которые могут возникать, если оптическая схема, используемая при восстановлении, отлична от х ы регистрации. В этой же главе показано взаимопроникновение понятий механики и оптики. Затем в основной части книги — гл. 4 — исследуется процесс образования интерференционной картины, обусловленной суперпозицией волновых полей, соответствующих двум данным конфигурациям объекта, и обратная задача — измерение деформаций объекта по данной интерференционной картине. В ней, во-первых, показано, как определяют порядок полосы, т. е. оптическую разность хода интерферирующих лучей, и как отсюда находят вектор смещения. Во-вторых, рассмотрены некоторые характеристики интерференционных полос, их частота, ориентация, видность и область локализации, которые зависят от первых производных от оцтйческой разности хода. Затем показано изменение производной от смещения (т. е. относительной деформации и наклона). В-третьих, определено влияние изменений в схеме восстаноэле ния на вид интерференционной картины и методы измерения. Наконец в гл. 5 кратко приведены некоторые возможные примеры использования голографической интерферометрии для определения производных высших порядков от оптической разности хода в механике сплошных сред, [c.9]

Ранее вторые производные оптических величин встречались уже дважды в п. 3.2, когда анализировали аберрации голографически восстановленных изображений, и в п. 4.24, когда рассматривали абсолютную локализацию. В гл. 4 учитывали только первые производные о состоятельности такого приближения см., например, в [4.192, гл. 12]. Теперь сначала подробно рассчитаем вторую производную от оптической разности хода лучей, которая связана с кривизной интерференционных полос при этом будет рассмотрен случай фиксированной позиции наблюдателя. Затем покажем, как на основании информации, полученной на поверхности тела, и с помощью основных соотношений механики сплошных сред, могут быть вычислены механические величины для подповерхности областей тела. В этих соотношениях вторые производные от оптических величин будут присутствовать неявно, поскольку отправной точкой будут являться оптически измеренные механические величины на поверхности, [c.164]

Допуск Ж на общее отклонение поверхности детали рассчитывается из допустимых аберраций системы, иногда его можно задать из условий контроля астигматичности АЖ, которая равна наибольшей разности числа полос, измеренных в главных сечениях поверхности. Измерение этой разности надежнее, когда число N превышает АЖ не более, чем в 3—5, в крайнем случае, в 10 раз. [c.428]

Поперечная кома к (рис. 2.36) определяется расстоянием, измеренным вдоль оси у от точки О, соотЕетствующей координате главного луча до прямой, соединяющей концы кривой поперечной аберрации, к — = (. верх + %ижн)/2 - = (8,75 + 9,05)/2 - 9 = -О, . Тангенс угла наклона ф касательной в точ- ке О определяет величину меридио- нального искривления изображения г , равную величине поперечной меридиональной кривизны Ау, делен-ной на соответствующий апертурный угол, т. е. ф = Дг/7Л10% =5. д [c.123]

Практикуемое в спектрофотометрах перезаполнение входной щели монохроматора путем создания изображения источника излучения с размерами, превышающими максимальные размеры щели, обеспечивает в определенной мере компенсацию потерь энергии, вызванных расфокусировкой пучка вследствие остаточных аберраций приставки, и одновременно снижает требования к точности установки оптических элементов приставки. Однако при повышении требований к точности угловых измерений оценка качества приставки, основанная на энергетической характеристике, становится недостаточной. [c.209]

Интерферометр типа Рэлея можно осуществить на основе зеркальной оптики согласно схеме рис. 150, где все обозначения илгеют прежний смысл. Зеркальный интерферометр такого типа не имеет хроматической аберрации и прозрачен в очень широком спектральном интервале, что позволяет использовать его в лабораторной практике для измерений дисперсии тел в ультрафиолетовой области спектра. На приведенной схеме показано сочленение такого [c.189]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...