Измерение освещенности

Чаще проводят кратковременное коррозионное испытание. Листы из меди (электролитической), латуни, стали, алюминия или магния площадью не менее 750 мм обрабатывают шлифовальной шкуркой 400. Круглые материалы обтачивают. Образцы чистят ватой, смоченной бензином и этанолом или ацетоном. Соответственно два одинаковых образца, которые не должны соприкасаться, подвешивают в стеклянный сосуд с данным дефектоскопическим материалом и выдерживают в течение трех часов при температуре 50 °С. После этого образцы следует обмыть, сушить и при 20-кратном увеличении визуально сравнить с необработанными образцами. Образцы не корродировали, если на поверхности нет цветовых изменений. Более точно измеряют состояние поверхности путем измерения освещенности при помощи люксметра с селеновым фотоэлементом, причем обработанный и необработанный образец освещается при определенных условиях лампой в затемненном помещении, например, освещение под углом 30 и измерение под углом 60° к нормали при постоянном расстоянии. [c.158]

При люминесцентном методе капиллярной дефектоскопии с визуальным способом обнаружения дефектов следует использовать ультрафиолетовое излучение с длиной волны 315— 400 нм, а облученность контролируемой поверхности измеряют интегрально в энергетических единицах. Иногда применяют косвенную систему интегральной оценки ультрафиолетовой облученности по измерению освещенности (или яркости), создаваемой люминесцентным экраном, изготовленным согласно изложенному ниже. За относительную единицу интегральной облученности [c.173]

Для количественного анализа проблемы освещения необходимо знать единицы измерения. Освещенность могла бы определяться в ваттах на квадратный метр поверхности, но при этом не учитывалось бы свойство человеческого глаза по-разному воспринимать различную длину волн светового спектра. Для того чтобы учесть это свойство, была введена единица люмен (лм). Световой поток Ф источника света в люменах, имеющего спектр энергии РЩ в ваттах на единицу интервала волнового спектра, равен [c.265]

Во всех случаях для контроля напряжения источников витания в схеме необходимо иметь точный вольтметр. Перед производством измерений следует построить кривую зависимости светимости иоверхности экрана от напряжения источника питания. С этой целью, установив фотоэлемент в фиксированном месте светящегося экрана, измеряют величину даваемого им фототока при различных величинах напряжения, подаваемого на электрический осветитель экрана. Построенная таким способом кривая позволяет судить, какова может быть величина относительной ошибки при измерении освещенности за счет колебания напряжения источника питания в заданных пределах. [c.305]

При проведении фотоэлектрических измерений следует иметь в виду то обстоятельство, что фотоэлемент 4 размещается с внешней стороны стенки, вследствие чего его освещенность отличается от определяемой освещенности внутренней поверхности за счет влияния оптического сопротивления стенки. Поэтому те места поверхности, в которых будут проводиться измерения освещенности, должны быть предварительно исследованы в отношении вносимого оптического искажения с тем, чтобы внести соответствующие коррективы. [c.314]

В качестве регистраторов освещенности могут использоваться оба упомянутых выше метода фотоэлектрический и фотографический. Однако если производить измерения освещенности стенок непосредственно на их внутренней поверхности, соприкасающейся со средой, то фотопленку или фотоэлектрический прибор необходимо помещать в герметическую кассету со светопрозрачным окном. При этом следует также иметь в виду, что присутствие измерительного устройства, обладающего иными оптическими свойствами, чем среда и поверхность, приведет к искажению светового поля и к связанным с этим погрешностям. Поэтому если идти на размещение измерительного устройства внутри модели, то необходимо предусмотреть его миниатюризацию с целью сведения отмеченных ошибок к минимуму. [c.315]

В большинстве случаев измерение освещенности производят на внеш ней стороне прозрачной стенки модели, [c.315]

Использование описанного метода определения коэффициентов облученности в ряде случаев дало позитивные результаты и успешно используется па практике. К сожалению, такой подход наталкивается иногда на сильные затруднения технического характера. Эти затруднения обусловливаются, во-первых, необходимостью создания с помощью светотехнических средств равномерной светимости поверхности излучающего тела, которое может в общем случае иметь весьма сложную геометрическую конфигурацию. Во-вторых, геометрическая форма лучевоспринимающего тела в свою очередь может быть очень сложной, что сильно затруднит измерение освещенности на его поверхности. [c.327]

Фотогальванический эффект. Фотогальванический эффект связан с непосредственным преобразованием света в электрическую энергию. Примером этого являются экспонометры, применяемые для измерения освещенности при фотографировании. Механическое устройство экспонометра описано на стр. 656. [c.651]

Если требуется получить лишь качественную информацию, то обычный фотографический метод дает необходимую точность в освещенности и в геометрическом плане. Если же нужны количественные измерения освещенности полос или их точного положения, то лучше обходиться без промежуточного этапа фотографирования, а измерения следует проводить непосредственно на восстановленном изображении. При этом можно избежать геометрических искажений и ошибок в определении освещенности, вносимых этапом фотографирования. [c.541]

Измерение освещенности (3. 5) проводят люксметром при номинальном напряжении питающей сети. Погрешность средств измерений не более 20%. [c.495]

Сроки и время производства измерений освещенности. Измерения освещенности на территориях станций и на других железнодорожных объектах следует, как правило, приурочивать к основным срокам регулярных весенних и осенних осмотров станций, которые выполняются обычно представителями технического руководства данной станции по индивидуальному графику. Указанные сроки удобны также и потому, что весной и осенью темное время наступает значительно раньше, чем летом. Эти сезоны имеют также ту особенность, что поверхности земли и балластной призмы имеют наименьшие коэффициенты отражения. Зимой плановые измерения выполнять не следует из-за того, что снежный покров резко меняет истинную картину отраженного светового потока. Кроме того, при больших отрицательных температурах зимой люксметры дают большие нелинейные погрешности. Правда, при крайней необходимости производство измерений освещенности возможно и зимой, но с обязательными предосторожностями, которые не дают длительно (более 1 мин) фотоэлементу люксметра подвергаться действию холодного воздуха. [c.178]

Количество контрольных точек и их достаточность для оценки состояния освещения на станциях определяются комиссионно с представительством заинтересованных служб (экспертный метод). Ориентировочно в зависимости от полезной длины и числа путей, а также от конструкции осветительной установки количество контрольных точек в парках приема и отправления должно быть не менее 10, а в сортировочных — не менее 20. Предварительное обсуждение координат, количества и размещения контрольных точек обычно помогает заранее критически подойти к работам по измерению освещенности и последующему анализу. [c.179]

Все намеченные контрольные точки следует последовательно пронумеровать и занести их в рабочий бланк измерений, который обычно прикрепляется к жёсткой подложке для удобства заполнения на территории станции при производстве измерений. Кроме того, на период измерения освещенности можно организовать автоматическую запись напряжения сети, питающей данную осветительную установку с привязкой этой записи к текущему реальному времени. Применяемые при этом вольтметры должны иметь класс точности не менее 1,5. По ленте указанных записей впоследствии может быть установлено напряжение сети в каждый момент измерения освещенности. [c.179]

Таким образом, рабочий бланк измерений в произвольной форме должен содержать следующие обязательные данные номер контрольной точки, тип ближайших от данной точки источников света, значения нескольких измерений освещенности в данной точке, дату и время измерения, значение поправочного коэффициента на тип источника света (см. табл. 11.1), и, если есть возможность, напряжение сети в момент измерения освещенности. Около номера контрольной точки на плане станции и в рабочем протоколе следует указать плоскость нормирования освещенности [17] и высоту этой плоскости от уровня земли. Например, если освещенность нормируется в горизонтальной плоскости на уровне земли (или на уровне головки рельса), то следует записать Г - О если в вертикальной плоскости на уровне 2 м от земли, то В - 2 . Для вертикальных плоскостей, кроме того, необходимо обозначать ориентацию их, т. е. как на данной высоте должен быть ориентирован фотоэлемент. [c.179]

Техника (методика) измерений освещенности. Работы по измерению освещенности должны производиться в следующей приблизительной последовательности. [c.179]

Подготовка люксметра непосредственно перед выходом на территорию включает в себя соединение фотоэлемента с гальванометром, зарядку прибора батарейками, установку указателя на нуль шкалы (при плотно закрытом фотоэлементе) и подготовку штанги (длиной не менее 1 м) с возможностью надежного крепления на ней фотоэлемента для измерения освещенности на высоте и в междувагонных пространствах. [c.179]

При измерении освещенности в каждой контрольной точке необходимо соблюдать следующие обязательные требования [c.180]

Напряжение сети в момент измерения освещенности можно принимать по абсолютному среднему значению [c.181]

Все фотоэлементы, в том числе и селеновые, обладают неодинаковой чувствительностью к излучениям различных по спектру конкретных источников света. Для приведения значений измеренной освещенности к одной спектральной чувствительности фотоэлемента измеренные их значения надо умножать на коэффициент который определяется по табл. 11.1. [c.181]

Люкс (лк) — единица измерения освещенности, т. е. освещенность, создаваемая световым потоком в 1 лм, равномерно распределенным по поверхности, площадь которой равна 1 м , т. е. 1 лк= 1 лм/м . [c.202]

ГОСТ 24940—81. Здания и сооружения. Метод измерения освещенности. [c.218]

Батареи солнечные 196 Безопасность труда 174 Бланк измерения освещенности 179 Блескость 200 [c.219]

Измерение освещенности 176, 180 Изолюксы 104 [c.219]

Сроки и время измерений освещенности 178 [c.221]

Техника измерения освещенности 179 Технико-экономические расчеты 164 Технология проектирования 162 Точка контрольная 178 Точность зрительной работы 60 Требования к осветительным установкам 62 [c.221]

В фотометрии можно выделить в основном две группы измерений. К одной относятся измерения характеристик источников излучения, включающие в себя измерение испускаемого лучистого потока, измерение распределения потока по спектру длин волн, силы света в различных направлениях, яркости излучения в различных точках и по различным направлениям. Вторая группа объединяет измерения фотометрических характеристик различных веществ и тел. К этим характеристикам относятся интегральный и спектральный коэффициенты отражения, поглощения, пропускания и рассеяния излучения поверхностями тел и массой вещества. К этой же группе относятся и измерения освещенности различных поверхностей. [c.10]

Измерение светового потока, падающего на площадку ограниченных размеров, можно произвести по измерениям освещенности в данной точке, произведенным с помощью люксметра Ф = ЕА, где А — площадь площадки. [c.29]

Сила света в различных направлениях измеряется с помощью распределительного фотометра по измерению освещенности в разных участках сферы или полусферы, условно очерчиваемой вокруг источника света. [c.31]

Во внелабораторных условиях измерение силы света в разных направлениях осуществляется по измерениям освещенности, производимым с помощью переносных приборов— люксметров, по формуле ] — ЕР, где Е — измеренная освещенность I — расстояние от источника света до поверхности, на которой измеряется освещенность. [c.31]

Измерение освещенности. Освещенность может быть измерена по результатам сравнения ее с известной освещенностью с помощью различных фотометров, а также люксметров, представляющих собой сочетание фотоэлектрического приемника и присоединенного к нему электроизмерительного прибора, который предварительно должен быть проградуирован в единицах освещенности. [c.31]

При изучении фотографии уд шенной звезды аппаратной функцией в первом приближении является дифракционное пятно, размеры которого определяются диаметром объектива телескопа и длиной волны дифрагирующего света. Однако эта идеализированная картина существенно усложняется влиянием аберраций, полное устранение которых представляется практически невозможным. Поэтому аппаратная функция может быть определена только приближенно. Неизбежны также случайные и систематические ошибки при измерении освещенности суммарной картины. Наличие ошибок в измерении f(x — х) п Ф(х) ограничивает возможность восстановления функции объекта Дл )путем решения обратной задачи. [c.338]

Перед измерением освещенности по отдельным рядам трубного пучка следует убедиться в равномерности распределения светового потока в плоскости светового окна. С этой целью с помощью автотрансформатора подается напряжение на лампы накаливания. Оно не должно быть высоким во избежание сильного нагревания модели,, которое приводит к погрешностям измерения светового потока. Фотоэлемент устанавливается непосредственно перед свр.товым окном, и производится измерение светового потока в нескольких местах вдоль поверхности матового стекла. Среднее значение этой величины принимается за расчетное. После этого измеряется локальная освещенность плоскости а — а за первым рядом. Для этого фотоэлемент с помощью коорди-натника устанавливается непосредственно за трубами, затем он перемещается с шагом примерно 5 мм за трубами первого ряда. По измеренным световым потокам определяются местные значения угловых коэффициентов плоскости, расположенной непосредственно за первым рядом. По этим значениям строится график распределения угловых коэффициентов. Основанием графика является поперечный шаг между трубами. Затем опре- [c.380]

Рассмотренная световая модель позволяет исследовать процесс переноса излучения в каналах произвольной геометрической формы с различными оптическими свойствами поверхностей системы. При этом светящееся основание 3 моделирует нагретую излучающую поверхность образца, а несветящиеся поверхности 2 и Р соответствуют холодным (Гл ОК) поверхностям натуры. Выходное сечение 9 можно также выполнить и в виде поверхности, имеющей определенную. поглощательную способность в видимом свете, аналогично как это делается для боковой поверхности 2. В этом случае для измерения освещенности на поверхности 9 предусматриваются небольшие отверстия для совмещения со светоприемным окном фотоэлемента в тех местах, где необходимо произвести подобные измерения. В случае надобности такие же отверстия могут быть проделаны и в боковой поверхности канала, в результате чего представляется возможным измерять освещенность и на боковой поверхности 2. Все отверстия снабжаются миниатюрными заслонками, покрытыми тем же материалом, что и поверхность, в которой проделаны эти отверстия. При измерениях открывается только то отверстие, в которое устанавливается фотоэлемент. Благодаря малому размеру измерительного отверстия по сравнению с поверхностями модели при измерении не происходит практически заметного искажения светового поля в модели. [c.302]

Средства контроля освещенности. Для контроля освещенности применяются люксметры Ю16, Ю116, Ю117. Люксметр Ю16 — фотоэлектрический переносной прибор с отдельным фотоэлементом предназначен для измерения освещенностей, создаваемых лампами накаливания и естественным светом в производственных, бытовых помещениях и других местах. Люксметр состоит из селенового фотоэлемента с поглотителем и измерителя. Технические данные люксметра следующие [c.168]

Фотометрические приборы Люксметры — для измерения освещенности универсальные фотометры — для измерения коэффициентов пропускания и отражения денситометры — для измерения оптической плотности снектроден-зограф — для определения оптической плотности непрозрачных тел в различных лучах спектра спектрофотометр — для определения оптической плотности прозрачных тел и распределения интенсивности излучения в спектре источников света. [c.8]

Для измерения освещенности на рабочих поверхностях используют приборы, которые показывают фактическую освещенность непосредственно в люксах. Поэтому они и получили назваЛ1ие люксметры. Наиболее распространенными являются люксметры, состоящие из селенового фотоэлемента и электроизмерительного прибора. При измерениях освещенностей на открытых территориях широко используется переносной фотоэлектрический люксметр Ю-17 (рис. 11.3). На некоторых станциях еще сохранились люксметры Ю-16. Вместо указанных приборов для измерения освещенностей используются более современные люксметры Ю-116, а также другие, имеющие ту же точность измерений. Для измерений малых освещенностей выпускается люксметр Ю-117 с выносным селеновым фотоэлементом, магнитоэлектрическим прибором и транзисторным усилителем. [c.176]

Люксметр Ю-16 предназначен для измерения освещенности, создаваемой искусственными источниками света и естественным дневным светом. Он рассчитан на работу при температурах окружающего воздуха + 10-4- + 35° С и относительной влажности до 80 %. Основные части люксметра светоприемник (фотоэлемент типа Ф102 с прилагаемым к нему светофильтром-поглотителем) и измеритель тока. Селеновый фотоэлемент имеет прямоугольную форму размером 50 х 60 мм и рабочую площадь 25 см . С помощью гибкого двухжильного провода фотоэлемент подключается к стрелочному гальванометру, снабженному зеркальной шкалой. На корпусе гальванометра расположены зажимы для подключения фотоэлемента и переключатель пределов измерения. Фотоэлементы на люксметрах Ю-16 не являются взаимозаменяемыми, так как они подбираются и градуируются с определенным измерителем тока. Для хранения и переноски люксметра служит футляр, в гнезда которого укладываются все составные части прибора. Общая масса люксметра с футляром составляет 1,5 кг, а размеры 200 х 195 х [c.177]

Подготовка к измерениям. Перед измерениями освещенности следует выбрать контрольные точки на предполагаемых к обследованию территориях, где фактор освещения играет большую роль в обеспечении безопасности, производительности и качества труда. Особенно это касается территорий путевого развития станций. Обычно контрольные точки обозначаются на проектах осветительных установок. Если таковых нет, то для каждого парка в соответствии со сложившейся технологией его работы определяются такие контрольные точки и наносятся на план станции (парка) или исполнительный чертеж (схему) осветительной установки. Положения контрольных точек должны отвечать требо-178 [c.178]

Показатель ослепленности 61 Подготовка к измерениям освещенности 178 [c.220]

Единицы измерения других световых величин устанавливаются на основании приведенных выше связей этих величин с силой света. Для светового потока установлена единица измерения люмен. На основании соотношения Фн = JvdQ 1 люмен— это световой поток, испускаемый равномерным точечным источником в телесном угле в 1 ср при силе света в 1 кд. Единицей измерения освещенности является люкс 1 лк = = 1 лм/1 м . В табл. 1 приведены все основные величины световой системы и единицы их измерения. [c.17]

Измерение яркости са-мосветящихся поверхностей с равномерным по поверхности распределением яркости производится по измерениям освещенности площадки АЛ, распо- [c.31]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...