Полоса оптическая

Фиг. 5.2. Ползучесть диска из Каталина при постоянной нагрузке J Порядок полос (оптическая чувствительность) зависит только от времени пунктир — экстраполяция картина полос для любого момента времени после приложения нагрузки соответствует упругому распределению напряжений.

Рно. 4. Спектральный контур полосы оптического усиления а полупроводниковой лазере. [c.53]

При настройке на полосы конечной ширины зеркала поворачиваются на малые углы, и на экране (при отсутствии неоднородности в просвечиваемой области) образуются прямые чередующиеся полосы (темные и светлые) равной ширины с расстоянием между ними В = /tg а = Х/а (здесь а — угол между сходящимися лучами X — длина волны излучения источника света). Картину фотографируют и нумеруют полосы. Оптическое изображение области течения с неоднородным полем плотности при этом способе настройки представляет собой чередование изогнутых полос, смещенных относительно своего первоначального положения (см. рис. 6.17). По смещению полосы Р х, у) в точке с координатами (д , у) определяется средняя по ходу луча плотность исследуемой среды [c.389]

Координатно-синхронный поляриметр Ленинградского университета (КСП) предназначен для измерений в плоской модели разностей хода методом компенсации (и по методу полос), позволяющим замерять по точкам с помощью слюдяного компенсатора величины т с погрешностями + 0,05 полосы. Оптическая система, установленная на координатнике, позволяет вести визуальное наблюдение и фотографирование. Вращение поляризаторов и анализатора — синхронное, вручную. Ход координатника равен 340 (по горизонтали) и 260 мм (по вертикали) с ошибкой в установке на точку порядка 0,3 мм [27]. [c.168]

Резюмируя все сказанное, можно отметить, что при переходе в пластическую область и в стадии ползучести напряженное и деформированное состояния могут кардинально изменяться. Поэтому судить об этих состояниях по результатам, известным для области упругих деформаций, часто невозможно. Достаточно хорошее представление об этих состояниях дают результаты аналитического анализа, основанного на использовании методов теории ползучести и пластичности, а также экспериментального изучения напряженного и деформированного состояний (метод делительных сеток и муаровых полос, оптический метод и метод оптически активных покрытий, тензометрирование и изучение линий течения, наблюдение за поверхностями касательного и нормального разрушения и т. п.). [c.156]

Шахматный экран 351—353 Шварца неравенство 27, 197 Шелла теорема 216 Шероховатый объект 330 Ширина полосы оптическая 481 [c.521]

Важной проблемой является проблема количественного объяснения интенсивностей и ширин полос оптического поглощения, а также колебательной структуры полос (см. следующую статью настоящего сборника). [c.20]

Как показано в [71], выражение для полуширины полосы оптического поглош,ения примесного центра включает в себя множитель, содержаш ий фактор где — х-е нормальные координаты, соответ- [c.64]

Рис. 9.13. Изменение ширины полосы оптической модуляции при изменении уровня инжекции.

В больщинстве представляющих интерес случаев изменение коэффициента пропускания атмосферы Т (Я, Я ) в спектральной полосе ДЯ,о оптической приемной системы лидара настолько мало, что в уравнении (7.37) его можно не учитывать. Для большинства практических ситуаций можно получить решение с помощью аппроксимации в одном из двух предельных случаев. Если ширину полосы оптической приемной системы лидара по- [c.281]

Это выражение, полученное из уравнения Планка, связывает спектральную яркость L K, Т) черного тела при температуре Т (здесь подразумевается Tes) со спектральной яркостью черного тела при точке золота L X, T u). При применении формулы (7.68) для практических измерений возникает вопрос, как обходиться с конечной шириной полосы АХ, которая для оптического пирометра с исчезающей нитью составляет примерно 0 нм, а для фотоэлектрического пирометра может составлять примерно от 1 до 10 нм. [c.369]

Оптический метод исследования напряжений заключается в том, что прозрачная модель из оптически активного материала (большей частью из специального органического стекла) в нагруженном состоянии просвечивается в поляризованном свете. Изображение модели на экране оказывается при этом покрыты м системой полос, форма и расположение которых определяются напряженным состоянием модели. Путем анализа, полученной картины имеется возможность найти величину возникающих напряжений. [c.516]

Обладая наглядностью поляризационно-оптического метода, метод муаровых полос вследствие своего чисто геометрического характера позволяет исследовать деформации независимо от их физической природы. [c.338]

Колебания кристаллической решетки в случае идеального кристалла распределены на различные группы, каждая из которых занимает определенную полосу частот. Так как нижний предел оптических колебаний составляет 6-10 2 Гц, то эта частота будет нижней границей интересующей нас области электромагнитного спек-44 [c.44]

В свою очередь, измерение кругового двулучепреломления имеет то преимущество, что позволяет исследовать оптическую активность веществ, ие имеющих полос поглощения в доступной для эксперимента области спектра. [c.299]

Физикам давно были известны многие оптические явления, непонятные с позиций геометрической ("лучевой") оптики. К их числу относят чередующиеся полосы максимальной и минимальной освещенности (интерференционные полосы), происхождение которых связано с возникающим в ряде опытов перераспределением потока световой энергии в пространстве. [c.175]

Наибольший интерес представляют собой случаи локализации интерференционных полос на поверхности какой-либо пластинки, используемой для создания разности хода (полосы равной толщины), и локализация их в бесконечности (полосы равного наклона). Удобно начать изучение этих явлений с исследования интерференции в тонких пластинах при освещении протяженными источниками света, которую часто называют цветами тонких пластин. Все наблюдали чрезвычайно красивые цвета тонких пленок (например, пленок нефти на поверхности воды) при освещении их солнечным светом. Рассмотрим физику этих явлений, так как она окажется очень полезной для понимания более сложных процессов, происходящих в интерферометрах, интерференционных фильтрах и других оптических устройствах. [c.210]

Наблюдение полос равной толщины широко используется в различных задачах техники. В частности, на этом эффекте основан очень простой и удобный способ определения качества полировки оптических поверхностей. Исследуемую оптическую пластинку обычно накладывают на контрольную с плоскостью [c.215]

Хотя стохастический метод дает сравнительно простую теорию уширения оптических линий, он не пригоден для описания формы сложной оптической полосы. Оптическая полоса хромофора обычно состоит из узкой бесфононной линии, сопровождающего ее широкого фононного крыла, иногда имеющего собственную структуру, а также вибронных линий, если речь идет о молекулярных примесных центрах. Все эти важные детали спеюра примесного центра, равно как и уширение бесфононной линии, прекрасно объясняет динамическая теория формы оптических полос (см. гл. 4). [c.269]

Кроме того, в сплавах с большим содержанием селена графики зависимости 5 от 1/Г при высоких температурах обнаруживают уменьшение наклона. Хорст и Дэвис считают, что такое изменение наклона может быть связано со структурными изменениями в жидкости, на что указывают изменение наклона кривой зависимости к) (вязкости) от 1/Г и исчезновение колебательной полосы оптического поглощения в жидком АзгЗез [236], упоминавшееся в гл. 6, 5, которое происходит в той же области температур. Почему структурные изменения должны влиять на 5 и не влиять на а, не ясно, но одной из возможных причин такого влияния, которую предположили Хорст и Дэвис, является перенос тепла Я, который может давать вклад еЯ/Г в термо- [c.229]

Физический смысл установленного критерия оценки ширины полос оптического поглощения в терминах приближения сильного поля может быть выражен следующим образом нри переходах между уровнями одной и той же конфигурации симметрия электронного облака сохраняется, в то время как при переходах между уровнями, нринадлежащими различным конфигурациям, указанная симметрия будет меняться (ввиду переориентации орбит одного или нескольких электронов). В нервом случае это мало меняет равновесные положения окружающих ионов, что приводит, как мы видели выше, к узким линиям. Во втором случае из-за значт ельного изменения сил электростатического взаимодействия с примесным ионом, в котором произошел оптический переход, окружающие ионы значительно меняют положения равновесия, что приводит к возникновению широких полос. [c.65]

Остановимся вкратце на иитерпретации широких полос оптического спектра для других ионов группы железа (кроме Сг " ) в некоторых кристаллах. Ионы ТР (Зс11), Си + (За ), Мп" " (3(14), (3d4), Со "(3(1в) и Ре (Зс1 ) в различных кристаллах с кубической симметрией в видимой или ближней инфракрасной области спектра дают одну широкую полосу но1 лощения, которая объясняется переходом между компонентами Тз и Е основного уровня и, расщеилоиного в кубическом поле. Например, у корунда с примесью ионов ТР (3(3 ) в видимой области спектра имеется только одна широкая полоса иоглощения с максимумом при 20 500 см [173, 177], которая объясняется переходом Т2(12) Е(е) при Вд — = 2050 с,лГЧ [c.65]

Выявление и исследование тонкой структуры узких полос оптического поглош,ения, обязанного 1шрам и группам обменно-связанных парамагнитных иопов, имеющее большое значение для изучепия обменного взаимодействия этих иопов в кристалле. [c.67]

В случае адсорбции молекул воды образование АПЭС обязано переходу ЭА центра в ЯД центр [(НгО) , при котором увеличивается координационное число центра (Ое) от 4 до 5. Это соответствует расширению поверхности, что и было подтверждено экспериментом (п.7.2.3). На ряде оксидов, в том числе и ОеОг, наблюдался сдвиг полосы оптических фононов при возникновении ДАС. Указанные возмущения распространяются на некоторый конечный фрагмент поверхностной фазы. Этому способствует значительный ангармонизм поверхностных связей (см. п.5.2,1). [c.259]

Plie. 18.36. Край полосы оптического поглощения и экситонный пик поглощения в GaAs при 21 °К [12]. Наблюдаемый экситонный пик обусловлен наличием экситонного уровня у дна зоны проводимости и поглощением фотонов с энергиями, близкими к Eg — ширине запрещенной зоны. По вертикальной оси отложены значения коэффициента поглощения а, который входит в выражение для интенсивности поглощаемой волны /(x)=/oexp(—ах). По форме кривой поглощения можно найти ширину запрещенной зоны и энергию связи экситона. В данном случае Eg = 1,521 эВ, энергия связи равна 0,0034 эВ. [c.634]

Выше мы отмечали, что для определения качества нелинейных материалов недостаточно обычных методов контроля оптического качества, например, с помощью интерферометра Твай-мана — Грина. Предположим, что используемый нами нелинейный материал обладает самым высоким с точки зрения линейной оптики оптическим качеством, т. е. имеет менее чем одну полосу оптической дисторсии на сантиметр апертуры и длины. Кроме того, считаем, что в данном материале полностью отсутствует поглощение на всех рабочих частотах. Посмотрим теперь, какими другими качествами должен обладать нелинейный материал. [c.99]

ПОЛОСЫ. Оптический эквивалент согласованного входа — это черное тело при Т К. Такое тело излучает мощность Ш = = 6соВ[ехр(йсо//г7 )—1]- на одну пространственную моду (й =/г/2л , к — постоянная Планка). Отметим, что при кТ Ъ(л эта формула сводится к = кТВ-, этот случай соответствует СВЧ устройствам при комнатной температуре. (Здесь В — число частотных мод поля излучения в полосе усилителя.) [c.212]

На рис. 7.1 приведены величины ДHv для значений 2Ь1к в области от 1 до 100. Наиболее поразительным на рис. 7.1 является наложение больших флуктуаций Ai/v на плавно меняющуюся функцию АПу. Величина этих флуктуаций обратно пропорциональна ширине полосы V, и поэтому флуктуации с увеличением частоты уменьшаются значительно медленнее, чем уменьшается Ai/v. Из рис. 7.1 ясно, что для встречающихся в практике оптической термометрии размеров полостей, длин волн и температур отличия от закона Планка малы. Например, для длины волны 1 мкм и размера полости 1 мм получаем Ai/v = 2,5 10 , что пренебрежимо мало. Однако, если используется очень малая ширина полосы, среднеквадратичная флуктуация (бi/v) перестает быть незначительной. В современной высокоточной оптической пирометрии использование ширины полосы в 1 нм и менее является обычным. Это приводит к значениям (6Н ) = 5 10 или 10 , которыми пренебречь [c.316]

Цену полос (разность 01 - соответствующую данному цвету) определяют расчетом на основании оптических характеристик материала образца НЛП с помощью тарпровочных образцов, в которых создают напряжения строго определенной величины. [c.156]

Удобнее и точнее исследование в монохроматическом свете, при котором на изображении возникают темные полосы пзохро.м (название в данио.м случае условное) и изоклин. Последние можно исключить, применяя круговую поляризацию. Для этого перед и за моделью устанавливают пластинки из оптически активного материала (чаще всего слюды), толщину которых выбирают так, чтобы вызвать в проходящем [c.156]

Лля исследования напряженного состояния на деталях плавных форм, в частности листовых, применяют метод полос муара. Он основан на оптическом совмещении мелкой сетки (растра) на деформированной детали с недсформированшам растром и получением в результате полос муара.- [c.478]

Описанным выше приемом просвечивания, плоской модели в монохроматическом свете не исчерпываются возможности оптическо10 метода. Часто просвечивание модели проводится в белом свете. На экране в этом случае вместо темных и светлых полос получаются цветные полосы с непрерывными переходами через цвета спектра. Существуют способы просвечивания моделей с погашением изоклин. Известны приемы исследования напряженного состояния в пространственных моделях путем замораживания оптической анизотропии с последующим разрезанием модели на плоские образцы. [c.520]

В поляри.зационно оптическом методе дело обстоит иначе. Здесь полоса возникает не как следствие перемещения, а как следствие местной деформации. Ра.зреженность или сгущенность полос свидетельствует не о величине деформаций, а о 1 радиенте их измерения, как, это например, было показано на рис. 582. [c.523]

При однородном растяжении пластины, изготовленной из оптически активного материала, мы никаких полос вообще не увидим. Будет происходить лишь периодическое затемнение или просветление изображения, когда возникающая деформация проходит через определепиое значение. В муаровом методе такое просветление следом за затемнением будет происходить тогда, когда задана не деформация, а перемещение одной сетки относительно другой ка]с [c.523]

Для оценки временных сварочных напряжений используют методы оптического моделирования. Образцы изготавливают из оптически активного материала (поликарбонат или эпоксидная смола) и нагревают. В процессе нагрева регистрируют (визуально или фотокиносъемкой) характерные картины светлых и темных полос, возникающих на поверхности пластины при облучении монохроматическим источником света. По этим картинам [c.419]

Для восприятия лучистой энергии используют различные приемники термобатареи, болометры, термисторы II т. д. Спаи термопар, чувствительные элементы болометров и термисторов хорошо зачернены с целью создания неселективности термоприемников в широком диапазоне длин волн. Однако следует заметить, что к данным, полученным радиационным методом, следует относиться с осторожностью. Необходимо учитывать, что для увеличения чувствительности метода применяют линзы и другие фокусирующие устройства кроме того, часто используют радиационные пирометры. Использование оптических элементов приводит к тому, что приемник воспринимает излучение неполно и в ограниченной области спектра. Поэтому, как оправедливо отмечено в [131], использование пределов интегрирования, показанных в формуле (6-69), не правомерно. В этом случае степень черноты интегральна лишь в пределах полосы пропускания оптической системы, т. е. [c.164]

В самом общем случае суперпозиции двух произвольных электромагнитных полей Ej и Е2 (см. 5.1) было установлено, что равенство нулю среднего значения интерференционного члена исключает возможность возникновения интерференции и в этом случае интенсивности (освещенности) просто складываются. Лишь в тех областях пространства, где О, происходит интерференция. Но в 5.3 рассчитывалось наложение независимых интерференционных картин, осуществляемое с помощью простого оптического устройства. Видимость суммарной картины в некоторых случаях приближалась к единице. Это получалось тогда, когда при почти одинаковой ширине интерференционных полос максимумы одной их системы совпадали с максимумами другой. Очевидно, что этот метод пригоден и для случая Е хЕз, к изучению которого мы сейчас и перейдем. [c.203]

Пусть имеются две электромагнитные волны, поляризованные во взаимно перпендикулярных направлениях, не интерферирующие одна с другой. С помощью оптических устройств можно разложить кансдую волну на две и получить две системы интерференционных полос, свести их вместе в какой-то области пространства и зарегистрировать отличную от нуля видимость суммарной картины. Рассмотрим эту возможность подробнее, исследуя наложение интерференционных полос, создаваемых источником неполяризованного света. [c.203]

Диэлектрические интерференционные слои обычно получают испарением соответствующих веществ в вакууме или катодным распылением. Это весьма тонкая операция, при которой фотоэлектрически контролируется интенсивность выделенной интерференционной полосы, достигающей экстремального значения при нанесении нового слоя диэлектрика оптической толщины /-/4. При массовой обработке оптических деталей эффективным оказывается также химический метод, позволяющий получать очень прочные стойкие диэлектрические слои при последовательном нанесении на стекло дозированных количеств растворов легко гидролизующихся соединений, что и используется для просветления оптики. [c.221]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...